JP3174895B2 - 信号選択回路のテスト方法 - Google Patents
信号選択回路のテスト方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、A/D コンバータ等の信
号処理回路で処理される信号を、複数のスイッチング素
子のうちのいずれかを介して取り込む信号選択回路のテ
スト方法に関する。
号処理回路で処理される信号を、複数のスイッチング素
子のうちのいずれかを介して取り込む信号選択回路のテ
スト方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は信号選択回路の従来のテスト方法
を示す図である。図中、１は外部テスト用のD/A コンバ
ータ、Ａは信号選択回路、2a〜2hは信号選択回路Ａの入
力端子、3a〜3hはスイッチング用トランジスタからなる
アナログスイッチ等のスイッチング素子である。スイッ
チング素子3a〜3hの一端はそれぞれ入力端子2a〜2hに接
続され、他端は共通接続された上で信号処理回路である
A/D コンバータ４に接続されている。
を示す図である。図中、１は外部テスト用のD/A コンバ
ータ、Ａは信号選択回路、2a〜2hは信号選択回路Ａの入
力端子、3a〜3hはスイッチング用トランジスタからなる
アナログスイッチ等のスイッチング素子である。スイッ
チング素子3a〜3hの一端はそれぞれ入力端子2a〜2hに接
続され、他端は共通接続された上で信号処理回路である
A/D コンバータ４に接続されている。
【０００３】信号選択回路Ａでは、入力端子2a〜2hに選
択的に供給されたアナログ信号を、対応するスイッチン
グ素子3a〜3hをオンすることによって、オンしたスイッ
チング素子3a〜3hにより取り込んでA/D コンバータ４に
供給し、アナログ信号はA/Dコンバータ４でデジタル信
号に変換されてマイクロコンピュータ等に入力される。
従って、入力端子2a〜2hからの入力アナログ信号を、正
確にA/D コンバータ４に入力するためには、スイッチン
グ素子3a〜3hが正確に動作しなければならず、動作速度
の遅れ，短絡，オープン状態が存在しないように信号選
択回路Ａを出荷前にテストしている。
択的に供給されたアナログ信号を、対応するスイッチン
グ素子3a〜3hをオンすることによって、オンしたスイッ
チング素子3a〜3hにより取り込んでA/D コンバータ４に
供給し、アナログ信号はA/Dコンバータ４でデジタル信
号に変換されてマイクロコンピュータ等に入力される。
従って、入力端子2a〜2hからの入力アナログ信号を、正
確にA/D コンバータ４に入力するためには、スイッチン
グ素子3a〜3hが正確に動作しなければならず、動作速度
の遅れ，短絡，オープン状態が存在しないように信号選
択回路Ａを出荷前にテストしている。
【０００４】そのテスト方法は以下のとおりである。信
号選択回路Ａの入力端子2a〜2hの１つに外部テスト用の
D/A コンバータ１を接続し、D/A コンバータ１から各入
力端子2a〜2hにアナログ信号を供給してスイッチング素
子3a〜3hを選択的にオンし、A/D コンバータ４の出力を
観察しながらスイッチング素子3a〜3hの性能を評価する
テストを全部の入力端子2a〜2hについて繰り返す。
号選択回路Ａの入力端子2a〜2hの１つに外部テスト用の
D/A コンバータ１を接続し、D/A コンバータ１から各入
力端子2a〜2hにアナログ信号を供給してスイッチング素
子3a〜3hを選択的にオンし、A/D コンバータ４の出力を
観察しながらスイッチング素子3a〜3hの性能を評価する
テストを全部の入力端子2a〜2hについて繰り返す。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】信号選択回路の従来の
テスト方法は以上のように実施されているので、入力端
子ごとに同じテストを繰り返さなけらばならず、テスト
に長時間を要するという問題がある。また、A/D コンバ
ータ４を経たスイッチング素子の出力を観察してスイッ
チング素子の性能を評価しているので、A/D コンバータ
４の誤差がテスト結果に影響を与える危険性を含んでお
り、テスト結果の信頼性が低いという問題がある。
テスト方法は以上のように実施されているので、入力端
子ごとに同じテストを繰り返さなけらばならず、テスト
に長時間を要するという問題がある。また、A/D コンバ
ータ４を経たスイッチング素子の出力を観察してスイッ
チング素子の性能を評価しているので、A/D コンバータ
４の誤差がテスト結果に影響を与える危険性を含んでお
り、テスト結果の信頼性が低いという問題がある。
【０００６】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたものであって、テスト結果の信頼性を向上さ
せるとともにテスト時間を短縮する信号選択回路のテス
ト方法の提供を目的とする。
になされたものであって、テスト結果の信頼性を向上さ
せるとともにテスト時間を短縮する信号選択回路のテス
ト方法の提供を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】第１の発明に係る信号選
択回路のテスト方法は、正常と評価された１個のスイッ
チング素子を常時オンし、このスイッチング素子の入力
端子と他のスイッチング素子の入力端子との間の電気的
特性を観察してスイッチング素子の性能を評価すること
を特徴とする。
択回路のテスト方法は、正常と評価された１個のスイッ
チング素子を常時オンし、このスイッチング素子の入力
端子と他のスイッチング素子の入力端子との間の電気的
特性を観察してスイッチング素子の性能を評価すること
を特徴とする。
【０００８】また、第２の発明に係る信号選択回路のテ
スト方法は、正常と評価された１個のスイッチング素子
の入力端子にカウンタを接続してこのスイッチング素子
を常時オンし、他のスイッチング素子を選択的にオンす
るとともに選択的にオンしたスイッチング素子の入力端
子に信号を供給し、この信号入力がカウンタでカウント
されるか否かにより、選択的にオンしたスイッチング素
子の性能を評価することを特徴とする。
スト方法は、正常と評価された１個のスイッチング素子
の入力端子にカウンタを接続してこのスイッチング素子
を常時オンし、他のスイッチング素子を選択的にオンす
るとともに選択的にオンしたスイッチング素子の入力端
子に信号を供給し、この信号入力がカウンタでカウント
されるか否かにより、選択的にオンしたスイッチング素
子の性能を評価することを特徴とする。
【０００９】
【作用】第１の発明に係る信号選択回路のテスト方法
は、複数のスイッチング素子のうちの１個のスイッチン
グ素子の性能を、例えば信号選択回路に接続されるA/D
コンバータ等の出力によって評価した後、正常と評価さ
れた１個のスイッチング素子を常時オンし、常時オンし
たスイッチング素子の入力端子と他のスイッチング素子
の入力端子との間をDC測定器のプローブ等で接続して他
のスイッチング素子を選択的にオンし、DC測定器のメー
タ等で両端子間の電流の流れを観察し、観察の結果所定
値の電流が両端子間に流れれば選択的にオンした他のス
イッチング素子が正常にオンしてリーク電流も発生して
いないと評価する。
は、複数のスイッチング素子のうちの１個のスイッチン
グ素子の性能を、例えば信号選択回路に接続されるA/D
コンバータ等の出力によって評価した後、正常と評価さ
れた１個のスイッチング素子を常時オンし、常時オンし
たスイッチング素子の入力端子と他のスイッチング素子
の入力端子との間をDC測定器のプローブ等で接続して他
のスイッチング素子を選択的にオンし、DC測定器のメー
タ等で両端子間の電流の流れを観察し、観察の結果所定
値の電流が両端子間に流れれば選択的にオンした他のス
イッチング素子が正常にオンしてリーク電流も発生して
いないと評価する。
【００１０】また、第２の発明に係る信号選択回路のテ
スト方法は、複数のスイッチング素子のうちの１個のス
イッチング素子の性能を、例えば信号選択回路に接続さ
れるA/D コンバータ等の出力によって評価した後、正常
と評価された１個のスイッチング素子の入力端子にカウ
ンタを接続してこのスイッチング素子を常時オンし、他
のスイッチング素子を選択的にオンするとともに選択的
にオンしたスイッチング素子の入力端子にパルス信号等
の信号を供給し、この信号入力が、常時オンしているス
イッチング素子の入力端子に接続されているカウンタに
よりカウントされれば選択的にオンしたスイッチング素
子が正常にオンすると評価する。
スト方法は、複数のスイッチング素子のうちの１個のス
イッチング素子の性能を、例えば信号選択回路に接続さ
れるA/D コンバータ等の出力によって評価した後、正常
と評価された１個のスイッチング素子の入力端子にカウ
ンタを接続してこのスイッチング素子を常時オンし、他
のスイッチング素子を選択的にオンするとともに選択的
にオンしたスイッチング素子の入力端子にパルス信号等
の信号を供給し、この信号入力が、常時オンしているス
イッチング素子の入力端子に接続されているカウンタに
よりカウントされれば選択的にオンしたスイッチング素
子が正常にオンすると評価する。
【００１１】
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図に基づい
て説明する。 実施例１．図１は、本発明に係る信号選択回路のテスト
方法の一実施例を示す図である。図中、従来と同じ部分
には同一符号を付してその説明を省略する。信号選択回
路Ａには、スイッチング素子3a〜3hの１つ、本実施例で
はスイッチング素子3hを常時オンさせる機能（図示せ
ず）が付加されている。例えば、スイッチング素子3a〜
3hに接合形FET を用いたアナログスイッチの場合、常時
オンとなるように接合形FET のゲートに所定の電圧を供
給する電圧供給源を接続する等の方法により簡単に追加
できる。
て説明する。 実施例１．図１は、本発明に係る信号選択回路のテスト
方法の一実施例を示す図である。図中、従来と同じ部分
には同一符号を付してその説明を省略する。信号選択回
路Ａには、スイッチング素子3a〜3hの１つ、本実施例で
はスイッチング素子3hを常時オンさせる機能（図示せ
ず）が付加されている。例えば、スイッチング素子3a〜
3hに接合形FET を用いたアナログスイッチの場合、常時
オンとなるように接合形FET のゲートに所定の電圧を供
給する電圧供給源を接続する等の方法により簡単に追加
できる。
【００１２】そのテスト方法は以下のとおりである。ま
ず、常時オンするスイッチング素子3hの入力端子2hのみ
にD/A コンバータ１を接続してA/D コンバータ４の出力
を観察し、スイッチング素子3hの性能の良否を判定す
る。つまり、A/D コンバータ４の出力観察では１ピンの
みをテストする。
ず、常時オンするスイッチング素子3hの入力端子2hのみ
にD/A コンバータ１を接続してA/D コンバータ４の出力
を観察し、スイッチング素子3hの性能の良否を判定す
る。つまり、A/D コンバータ４の出力観察では１ピンの
みをテストする。
【００１３】A/D コンバータ４の出力を観察した結果、
スイッチング素子3hが正常であれば、A/D コンバータ４
を切り離して市販のDC測定器（メータ付）５の一方のプ
ローブ5aを入力端子2hに接続し、他方のプローブ5bを他
の入力端子2a〜2gに順次接触させ、入力端子2hと他の入
力端子2a〜2gとの間の導通テスト，リークテスト等を行
う。DC測定器５は一方のプローブ5a又は5bから他方のプ
ローブ5b又は5aに直流（DC）が流れると、電流の流れに
応じてメータの針が振れて電流値を示す機器であって、
針の振れによって出力の立ち上がり，立ち下がり，出力
値が判定できるものである。
スイッチング素子3hが正常であれば、A/D コンバータ４
を切り離して市販のDC測定器（メータ付）５の一方のプ
ローブ5aを入力端子2hに接続し、他方のプローブ5bを他
の入力端子2a〜2gに順次接触させ、入力端子2hと他の入
力端子2a〜2gとの間の導通テスト，リークテスト等を行
う。DC測定器５は一方のプローブ5a又は5bから他方のプ
ローブ5b又は5aに直流（DC）が流れると、電流の流れに
応じてメータの針が振れて電流値を示す機器であって、
針の振れによって出力の立ち上がり，立ち下がり，出力
値が判定できるものである。
【００１４】すなわち、スイッチング素子3hを常時オン
して入力端子2hにDC測定器５の一方のプローブ5aを接続
し、他方のプローブ5bを他のスイッチング素子3a〜3gの
入力端子2a〜2gに順次接触してスイッチング素子3a〜3g
にスイッチング素子3hを介してDCを順次供給する一方、
スイッチング素子3a〜3gを順次オンしながらDC測定器５
のメータをチェックする。その際、スイッチング素子3a
〜3gが正常であれば、スイッチング素子3a〜3gをオンす
るタイミングでDC測定器５の針が振れ始め、またオフす
るタイミングで振れがゼロに戻るが、スイッチング素子
3a〜3gをオンするゲート電圧を与えても針が振れなかっ
たり、ゲート電圧を与えていないのに針が振れたり、そ
の電流値が動作電流に十分な値でなかったりした場合は
スイッチング素子3a〜3gに異常があると判定できる。
して入力端子2hにDC測定器５の一方のプローブ5aを接続
し、他方のプローブ5bを他のスイッチング素子3a〜3gの
入力端子2a〜2gに順次接触してスイッチング素子3a〜3g
にスイッチング素子3hを介してDCを順次供給する一方、
スイッチング素子3a〜3gを順次オンしながらDC測定器５
のメータをチェックする。その際、スイッチング素子3a
〜3gが正常であれば、スイッチング素子3a〜3gをオンす
るタイミングでDC測定器５の針が振れ始め、またオフす
るタイミングで振れがゼロに戻るが、スイッチング素子
3a〜3gをオンするゲート電圧を与えても針が振れなかっ
たり、ゲート電圧を与えていないのに針が振れたり、そ
の電流値が動作電流に十分な値でなかったりした場合は
スイッチング素子3a〜3gに異常があると判定できる。
【００１５】以上のように、本実施例のテスト方法によ
れば、A/D コンバータ４の出力によるスイッチング素子
の性能評価は１ピンのみのテストでよく、他のスイッチ
ング素子の評価はDC測定器５によるテストでよいので、
測定結果がA/D コンバータ４の誤差に影響されずにテス
ト結果の信頼性が高まるとともに、プローブ5a，5bを操
作してDC測定器５のメータの針の動きと電流値を観察す
るだけでよいので短時間でテストできる。
れば、A/D コンバータ４の出力によるスイッチング素子
の性能評価は１ピンのみのテストでよく、他のスイッチ
ング素子の評価はDC測定器５によるテストでよいので、
測定結果がA/D コンバータ４の誤差に影響されずにテス
ト結果の信頼性が高まるとともに、プローブ5a，5bを操
作してDC測定器５のメータの針の動きと電流値を観察す
るだけでよいので短時間でテストできる。
【００１６】なお、本実施例ではスイッチング素子の特
性テストについて説明したが、本発明の信号選択回路の
テスト方法はA/D コンバータ４以外の信号処理回路に接
続される信号選択回路の入力テスト，マルチプレクサの
入力テストにも応用可能である。さらに、アナログスイ
ッチの用途拡大も図れる。
性テストについて説明したが、本発明の信号選択回路の
テスト方法はA/D コンバータ４以外の信号処理回路に接
続される信号選択回路の入力テスト，マルチプレクサの
入力テストにも応用可能である。さらに、アナログスイ
ッチの用途拡大も図れる。
【００１７】実施例２．図２は本発明に係る信号選択回
路のテスト方法の他の実施例を示す図である。図中、前
述の実施例と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略する。本実施例のテスト方法では、信号選択回路
Ａ，A/D コンバータ４等を含む回路に内蔵されたパルス
カウンタからなるタイマを測定用タイマ７として利用す
る方法であって、測定用タイマ７として用いるタイマは
入力端子2iに接続されているものとする。また、信号選
択回路Ａには、前述の実施例と同様、１つのスイッチン
グ素子3hを常時オンする機能（図示せず）が付加されて
いる。
路のテスト方法の他の実施例を示す図である。図中、前
述の実施例と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略する。本実施例のテスト方法では、信号選択回路
Ａ，A/D コンバータ４等を含む回路に内蔵されたパルス
カウンタからなるタイマを測定用タイマ７として利用す
る方法であって、測定用タイマ７として用いるタイマは
入力端子2iに接続されているものとする。また、信号選
択回路Ａには、前述の実施例と同様、１つのスイッチン
グ素子3hを常時オンする機能（図示せず）が付加されて
いる。
【００１８】そのテスト方法は以下のとおりである。ま
ず、スイッチング素子3hの入力端子2hに、前述の実施例
と同様、外部テスト用のD/A コンバータ（図示せず）を
接続し、A/D コンバータ４の出力を観察してスイッチン
グ素子3hの性能の良否を判定する。
ず、スイッチング素子3hの入力端子2hに、前述の実施例
と同様、外部テスト用のD/A コンバータ（図示せず）を
接続し、A/D コンバータ４の出力を観察してスイッチン
グ素子3hの性能の良否を判定する。
【００１９】スイッチング素子3hが正常であれば、スイ
ッチング素子3hの入力端子2hと測定用タイマ７の入力端
子2iとをワイヤ等で接続する。次に、スイッチング素子
3hをオンしたまま、外部からパルス信号等のテスト用信
号Ｓを入力端子2a〜2gにそれぞれ順次供給し、テスト用
信号Ｓを供給する都度、スイッチング素子3a〜3gを順次
オンしていく。その際、スイッチング素子3a〜3gが正常
であれば、入力したテスト用信号Ｓは測定用タイマ７に
よってカウントされるが、異常であればカウントされな
い。従って測定用タイマ７の出力を観察すれば各スイッ
チング素子3a〜3gの性能が評価できる。
ッチング素子3hの入力端子2hと測定用タイマ７の入力端
子2iとをワイヤ等で接続する。次に、スイッチング素子
3hをオンしたまま、外部からパルス信号等のテスト用信
号Ｓを入力端子2a〜2gにそれぞれ順次供給し、テスト用
信号Ｓを供給する都度、スイッチング素子3a〜3gを順次
オンしていく。その際、スイッチング素子3a〜3gが正常
であれば、入力したテスト用信号Ｓは測定用タイマ７に
よってカウントされるが、異常であればカウントされな
い。従って測定用タイマ７の出力を観察すれば各スイッ
チング素子3a〜3gの性能が評価できる。
【００２０】以上のように、本実施例のテスト方法は、
前述の実施例と同様、A/D コンバータ４の出力による性
能評価が１ピンのみのテストでよく、他は測定用タイマ
７によるテストでよいので、測定結果がA/D コンバータ
４の誤差に影響されずに信頼性が高まる。さらに、本実
施例では回路内蔵の測定用タイマ７を用いてテストを行
うので、テスト用の器具が削減できる。
前述の実施例と同様、A/D コンバータ４の出力による性
能評価が１ピンのみのテストでよく、他は測定用タイマ
７によるテストでよいので、測定結果がA/D コンバータ
４の誤差に影響されずに信頼性が高まる。さらに、本実
施例では回路内蔵の測定用タイマ７を用いてテストを行
うので、テスト用の器具が削減できる。
【００２１】
【発明の効果】本発明に係る信号選択回路のテスト方法
は、信号選択回路に接続されているA/D コンバータ等の
出力によりいずれか１個のスイッチング素子を正常と判
定した後、このスイッチング素子を常時オンして他を選
択的にオンし、例えば、常時オンしたスイッチング素子
の入力端子と選択的にオンするスイッチング素子の入力
端子とをDC測定器のプローブで接続して両端子間の電気
特性を観察し、スイッチング素子の性能を評価するの
で、性能テストにA/D コンバータ等が介在せずにテスト
結果の信頼性が向上するとともに、プローブの操作等だ
けで性能を評価できるのでテスト時間が短縮されるとい
う優れた効果を奏する。
は、信号選択回路に接続されているA/D コンバータ等の
出力によりいずれか１個のスイッチング素子を正常と判
定した後、このスイッチング素子を常時オンして他を選
択的にオンし、例えば、常時オンしたスイッチング素子
の入力端子と選択的にオンするスイッチング素子の入力
端子とをDC測定器のプローブで接続して両端子間の電気
特性を観察し、スイッチング素子の性能を評価するの
で、性能テストにA/D コンバータ等が介在せずにテスト
結果の信頼性が向上するとともに、プローブの操作等だ
けで性能を評価できるのでテスト時間が短縮されるとい
う優れた効果を奏する。
【図１】本発明に係る信号選択回路のテスト方法の一実
施例の実施態様を示す図である。
施例の実施態様を示す図である。
【図２】本発明に係る信号選択回路のテスト方法の他の
実施例の実施態様を示す図である。
実施例の実施態様を示す図である。
【図３】信号選択回路の従来のテスト方法の実施態様を
示す図である。
示す図である。
１ D/A コンバータ 2a〜2h 入力端子 3a〜3g 選択的にオンするスイッチング素子 3h 常時オンするスイッチング素子 ４ A/D コンバータ ５ DC測定器 5a，5b プローブ ７ 測定用タイマ Ａ 信号選択回路
Claims (2)
- 【請求項１】 複数の入力端子と、一端がそれぞれ前記
入力端子に接続され、他端が共通接続されている複数の
スイッチング素子とから成る信号選択回路のテスト方法
において、前記複数のスイッチング素子のうちの１個の
スイッチング素子の性能を評価し、正常と評価されたス
イッチング素子を常時オンし、他のスイッチング素子を
選択的にオンし、常時オンしているスイッチング素子の
入力端子と選択的にオンした前記スイッチング素子の入
力端子とを接続し、両端子間の電気特性を判定して選択
的にオンした前記スイッチング素子の性能を評価するこ
とを特徴とする信号選択回路のテスト方法。 - 【請求項２】 複数の入力端子と、一端がそれぞれ前記
入力端子に接続され、他端が共通接続されている複数の
スイッチング素子とから成る信号選択回路のテスト方法
において、前記複数のスイッチング素子のうちの１個の
スイッチング素子の性能を評価し、正常と評価されたス
イッチング素子の入力端子にカウンタを接続して該スイ
ッチング素子を常時オンし、他のスイッチング素子を選
択的にオンするとともに該スイッチング素子の入力端子
に信号を供給し、該信号の入力が前記カウンタでカウン
トされるか否かにより、選択的にオンした前記スイッチ
ング素子の性能を評価することを特徴とする信号選択回
路のテスト方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11280593A JP3174895B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | 信号選択回路のテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11280593A JP3174895B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | 信号選択回路のテスト方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06324110A JPH06324110A (ja) | 1994-11-25 |
| JP3174895B2 true JP3174895B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=14595976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11280593A Expired - Fee Related JP3174895B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | 信号選択回路のテスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3174895B2 (ja) |
-
1993
- 1993-05-14 JP JP11280593A patent/JP3174895B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06324110A (ja) | 1994-11-25 |
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