JP3166463B2 - 巻線絶縁試験装置 - Google Patents
巻線絶縁試験装置Info
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- JP3166463B2 JP3166463B2 JP33292193A JP33292193A JP3166463B2 JP 3166463 B2 JP3166463 B2 JP 3166463B2 JP 33292193 A JP33292193 A JP 33292193A JP 33292193 A JP33292193 A JP 33292193A JP 3166463 B2 JP3166463 B2 JP 3166463B2
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はモータのロータ巻線の層
間絶縁を検出する方法に関するものである。
間絶縁を検出する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のロータ巻線の層間絶縁不良の検出
方法を図２に示す。図２において、（ａ）は従来の巻線
絶縁試験方法の構成図、図２（ｂ）は従来の巻線絶縁試
験方法の制御信号タイミングチャートである。モデル巻
線１８は静止しており、被試験巻線１９であるロータは
回転させながらインパルス波発生部１７からインパルス
波を一定周期でモデル巻線１８と被試験巻線１９とブリ
ッジインピーダンス２１からなるブリッジ回路に印加
し、その時の振動波形の差分を差動トランス２０で検出
する。測定部２２と判定部２３の測定・判定動作２４と
インパルス波出力２５は測定開始から測定終了まで常に
有効およびＯＮ状態である。したがって、回転している
被試験巻線１９の整流子片を電極が渡っている時と、渡
っていなくてモデル巻線１８と同一回路条件の時の２つ
の状態の検出信号２６を常に測定し、良否判定をしてい
た。
方法を図２に示す。図２において、（ａ）は従来の巻線
絶縁試験方法の構成図、図２（ｂ）は従来の巻線絶縁試
験方法の制御信号タイミングチャートである。モデル巻
線１８は静止しており、被試験巻線１９であるロータは
回転させながらインパルス波発生部１７からインパルス
波を一定周期でモデル巻線１８と被試験巻線１９とブリ
ッジインピーダンス２１からなるブリッジ回路に印加
し、その時の振動波形の差分を差動トランス２０で検出
する。測定部２２と判定部２３の測定・判定動作２４と
インパルス波出力２５は測定開始から測定終了まで常に
有効およびＯＮ状態である。したがって、回転している
被試験巻線１９の整流子片を電極が渡っている時と、渡
っていなくてモデル巻線１８と同一回路条件の時の２つ
の状態の検出信号２６を常に測定し、良否判定をしてい
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の方
法では、電極が整流子片を渡った状態の時に被試験巻線
の回路条件が異なり、モデル巻線と大きく異なるインピ
ーダンスとなるためインパルス波印加による振動波形の
差、つまり検出信号２６は大きく現れる（区間Ｂ）ので
良品判定値を絞り込むことができない。
法では、電極が整流子片を渡った状態の時に被試験巻線
の回路条件が異なり、モデル巻線と大きく異なるインピ
ーダンスとなるためインパルス波印加による振動波形の
差、つまり検出信号２６は大きく現れる（区間Ｂ）ので
良品判定値を絞り込むことができない。
【０００４】ここで、モデル巻線側の２つの電極が各々
１整流子片のみに接触している場合について述べる。被
試験巻線側の２つの電極が、モデル巻線側と同じように
各々１整流子片のみに接触していればモデル巻線側と同
じ回路条件である。被試験巻線が良品であればモデル巻
線側と被試験巻線側はほぼ同じインピーダンスであるの
で、インパルス波印加による振動波形の差である検出信
号２６（区間Ａ）は小さい。しかし、被試験巻線は回転
しているため１つまたは２つの電極が隣合った整流子片
の２つにまたがる場合がある。この時、モデル巻線側と
異なり隣合った整流子片間のコイル１つ分または２つ分
少ない状態となり、モデル巻線側より小さいインピーダ
ンスとなる。この状態は隣合った整流子片間が短絡して
いる不良状態と同じものとなり、インパルス波印加によ
る振動波形の差である検出信号２６（区間Ｂ）は大き
い。そのため、判定値は整流子片間短絡不良の測定値を
ＯＫと判定するように設定しなければならない。したが
って、整流子片間短絡不良による変化コイル分より少な
いターン数間で生じた層間絶縁不良は、整流子片間短絡
不良より小さな振動波形の差である検出波形となるため
測定値は良品判定値内となり層間絶縁不良は捕らえるこ
とができない。
１整流子片のみに接触している場合について述べる。被
試験巻線側の２つの電極が、モデル巻線側と同じように
各々１整流子片のみに接触していればモデル巻線側と同
じ回路条件である。被試験巻線が良品であればモデル巻
線側と被試験巻線側はほぼ同じインピーダンスであるの
で、インパルス波印加による振動波形の差である検出信
号２６（区間Ａ）は小さい。しかし、被試験巻線は回転
しているため１つまたは２つの電極が隣合った整流子片
の２つにまたがる場合がある。この時、モデル巻線側と
異なり隣合った整流子片間のコイル１つ分または２つ分
少ない状態となり、モデル巻線側より小さいインピーダ
ンスとなる。この状態は隣合った整流子片間が短絡して
いる不良状態と同じものとなり、インパルス波印加によ
る振動波形の差である検出信号２６（区間Ｂ）は大き
い。そのため、判定値は整流子片間短絡不良の測定値を
ＯＫと判定するように設定しなければならない。したが
って、整流子片間短絡不良による変化コイル分より少な
いターン数間で生じた層間絶縁不良は、整流子片間短絡
不良より小さな振動波形の差である検出波形となるため
測定値は良品判定値内となり層間絶縁不良は捕らえるこ
とができない。
【０００５】また、一定周期で被試験物にインパルス波
を印加しているため電極が整流子片を渡る直前、直後に
インパルス波が印加されると放電跡が整流子片上に残
る。
を印加しているため電極が整流子片を渡る直前、直後に
インパルス波が印加されると放電跡が整流子片上に残
る。
【０００６】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、電極が整流子片を渡る時の誤った検出波形の影響を
なくして層間絶縁不良を高精度に検出し、整流子片に放
電跡を残さない方法を提案することを目的とする。
で、電極が整流子片を渡る時の誤った検出波形の影響を
なくして層間絶縁不良を高精度に検出し、整流子片に放
電跡を残さない方法を提案することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の巻線絶縁試験方法は、ロータの整流子片の位
置を検出し、電極が整流子片間を渡る間インパルス波発
生出力を止めて測定・判定を停止させる構成である。
に本発明の巻線絶縁試験方法は、ロータの整流子片の位
置を検出し、電極が整流子片間を渡る間インパルス波発
生出力を止めて測定・判定を停止させる構成である。
【０００８】
【作用】この構成により、電極が整流子片間を渡る時は
測定および判定をしないのでモデル巻線と被試験巻線と
が同じ回路条件の時のみ測定および判定を行うため、い
ままでＯＫ判定していた層間絶縁不良を捕らえることが
でき、不良検出能力を著しく向上させることができる。
測定および判定をしないのでモデル巻線と被試験巻線と
が同じ回路条件の時のみ測定および判定を行うため、い
ままでＯＫ判定していた層間絶縁不良を捕らえることが
でき、不良検出能力を著しく向上させることができる。
【０００９】また、電極が整流子片間を渡る区間でイン
パルス波が印加されないため整流子片に放電跡が残らな
い。
パルス波が印加されないため整流子片に放電跡が残らな
い。
【００１０】
（実施例１）以下本発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。
照しながら説明する。
【００１１】図１において、１はインパルス波発生部、
２はモデル巻線、３は被試験巻線、４は差動トランス、
５はブリッジインピーダンス、６はセンサ、７は整流子
片位置検出部、８はタイミング発生部、９は測定部、１
０は判定部、１１，１２，１４は測定・判定タイミング
信号、１３，１５はインパルス波発生タイミング信号、
１４は差動トランス４による検出波形である。
２はモデル巻線、３は被試験巻線、４は差動トランス、
５はブリッジインピーダンス、６はセンサ、７は整流子
片位置検出部、８はタイミング発生部、９は測定部、１
０は判定部、１１，１２，１４は測定・判定タイミング
信号、１３，１５はインパルス波発生タイミング信号、
１４は差動トランス４による検出波形である。
【００１２】以下その動作について説明する。回転して
いる被試験巻線３の整流子片の位置をセンサ６で検出
し、整流子片位置検出部７の信号からタイミング発生部
８で測定・判定タイミング信号１１，１２および１４と
インパルス波発生タイミング信号１３，１５を発生させ
る。これらの信号は各々電極が整流子片間を渡る区間、
すなわちモデル巻線２と被試験巻線３とが異なる回路条
件の時に測定および判定の動作が無効にインパルス発生
出力がＯＦＦ状態になるようにつくられ、測定部９と判
定部１０とインパルス波発生部１に入力される。
いる被試験巻線３の整流子片の位置をセンサ６で検出
し、整流子片位置検出部７の信号からタイミング発生部
８で測定・判定タイミング信号１１，１２および１４と
インパルス波発生タイミング信号１３，１５を発生させ
る。これらの信号は各々電極が整流子片間を渡る区間、
すなわちモデル巻線２と被試験巻線３とが異なる回路条
件の時に測定および判定の動作が無効にインパルス発生
出力がＯＦＦ状態になるようにつくられ、測定部９と判
定部１０とインパルス波発生部１に入力される。
【００１３】以上のように従来の方法に整流子片位置検
出の信号により、モデル巻線２と被試験巻線３とが同じ
回路条件の時のみにインパルス波を発生し、測定および
判定をするだけで容易に実現できる。
出の信号により、モデル巻線２と被試験巻線３とが同じ
回路条件の時のみにインパルス波を発生し、測定および
判定をするだけで容易に実現できる。
【００１４】（実施例２）以下本発明の第２の実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。
ついて、図面を参照しながら説明する。
【００１５】図３において、２７はインパルス波発生
部、２８はモデル巻線、２９は被試験巻線、３０は差動
トランス、３１はブリッジインピーダンス、３２はセン
サ、３３は整流子片位置検出部、３４はシーケンス制御
部、３５は測定部、３６は判定部、３７は位置決めモー
タ制御部、３８は駆動モータ、３９および４０は測定・
判定タイミング信号、４１はインパルス波発生タイミン
グ信号である。
部、２８はモデル巻線、２９は被試験巻線、３０は差動
トランス、３１はブリッジインピーダンス、３２はセン
サ、３３は整流子片位置検出部、３４はシーケンス制御
部、３５は測定部、３６は判定部、３７は位置決めモー
タ制御部、３８は駆動モータ、３９および４０は測定・
判定タイミング信号、４１はインパルス波発生タイミン
グ信号である。
【００１６】図１と異なるのは、まず最初にセンサ３２
で整流子片の位置を検出し、その位置を起点として位置
決めモータ制御部３７と駆動モータ３８により２回目以
降の整流子片の位置を順次ステップ送りで位置決めして
いく。例えば、今電極に接触している整流子片の隣の整
流子片が電極にモデル巻線２８と同じように接触する位
置になるように回転させては停止させる。この位置決め
の送り量はあらかじめ位置決めモータ制御部３７に設定
しておく。シーケンス制御部３４により整流子片の位置
決めと、インパルス波発生および測定および判定を交互
に行うようインパルス波発生部２７にインパルス波発生
タイミング信号４１を出力し、測定部３５と判定部３６
に測定・判定タイミング信号３９と４０を入力し、位置
決めモータ制御部３７に位置決め指令を送る。
で整流子片の位置を検出し、その位置を起点として位置
決めモータ制御部３７と駆動モータ３８により２回目以
降の整流子片の位置を順次ステップ送りで位置決めして
いく。例えば、今電極に接触している整流子片の隣の整
流子片が電極にモデル巻線２８と同じように接触する位
置になるように回転させては停止させる。この位置決め
の送り量はあらかじめ位置決めモータ制御部３７に設定
しておく。シーケンス制御部３４により整流子片の位置
決めと、インパルス波発生および測定および判定を交互
に行うようインパルス波発生部２７にインパルス波発生
タイミング信号４１を出力し、測定部３５と判定部３６
に測定・判定タイミング信号３９と４０を入力し、位置
決めモータ制御部３７に位置決め指令を送る。
【００１７】このような構成により、整流子片間の溝や
表面の切削不良である整流子片間のバリや巻線ヒュージ
ング不良である巻線かみこみのようなセンサが検出誤り
をしやすい状態でも、最初に任意の整流子片が検出でき
ればその後のセンサ信号には関係なく、測定動作シーケ
ンスと位置決めモータ制御部の位置決めデータにより、
漏れなく整流子片にインパルス波を注入して測定・判定
ができる。
表面の切削不良である整流子片間のバリや巻線ヒュージ
ング不良である巻線かみこみのようなセンサが検出誤り
をしやすい状態でも、最初に任意の整流子片が検出でき
ればその後のセンサ信号には関係なく、測定動作シーケ
ンスと位置決めモータ制御部の位置決めデータにより、
漏れなく整流子片にインパルス波を注入して測定・判定
ができる。
【００１８】なお、第２の実施例において整流子片の位
置を検出はセンサとしたが、被試験巻線の抵抗値変化に
よる整流子片の位置を検出する電極としてもよい。ま
た、第２の実施例においてセンサ検出による最初の整流
子片の位置決めとしたが、機械的に最初の整流子片の位
置決めをしてもよいことはいうまでもない。
置を検出はセンサとしたが、被試験巻線の抵抗値変化に
よる整流子片の位置を検出する電極としてもよい。ま
た、第２の実施例においてセンサ検出による最初の整流
子片の位置決めとしたが、機械的に最初の整流子片の位
置決めをしてもよいことはいうまでもない。
【００１９】
【発明の効果】以上のように本発明はロータの整流子片
の位置を検出し、この検出信号より電極が整流子片間を
渡る間インパルス波発生出力を止め、測定および判定を
停止させることにより、電極が整流子片を渡る時の影響
をなくして層間絶縁不良を高精度に検出し、整流子片に
放電跡を残さないことができる優れた巻線絶縁試験方法
である。
の位置を検出し、この検出信号より電極が整流子片間を
渡る間インパルス波発生出力を止め、測定および判定を
停止させることにより、電極が整流子片を渡る時の影響
をなくして層間絶縁不良を高精度に検出し、整流子片に
放電跡を残さないことができる優れた巻線絶縁試験方法
である。
【図１】（ａ）は本発明の第１の実施例における巻線絶
縁試験方法の構成図 （ｂ）は第１の実施例における制御信号タイミングチャ
ート
縁試験方法の構成図 （ｂ）は第１の実施例における制御信号タイミングチャ
ート
【図２】（ａ）は従来の巻線絶縁試験方法の構成図 （ｂ）は従来の巻線絶縁試験方法における制御信号タイ
ミングチャート
ミングチャート
【図３】本発明の第２の実施例における巻線絶縁試験方
法の構成図
法の構成図
１，１７，２７ インパルス波発生部 ２，１８，２８ モデル巻線 ３，１９，２９ 被試験巻線 ４，２０，３０ 差動トランス ５，２１，３１ ブリッジインピーダンス ６，３２ センサ ７，３３ 整流子片位置検出部 ８ タイミング発生部 ９，２２，３５， 測定部 １０，２３，３６ 判定部 １１，１２，１４，２４，３９，４０ 測定・判定タイ
ミング信号 １３，１５，４１ インパルス波発生タイミング信号 １６，２６ 差動トランスによる検出波形 ２５ 測定・判定動作 ３４ シーケンス制御部 ３７ 位置決めモータ制御部 ３８ 駆動モータ
ミング信号 １３，１５，４１ インパルス波発生タイミング信号 １６，２６ 差動トランスによる検出波形 ２５ 測定・判定動作 ３４ シーケンス制御部 ３７ 位置決めモータ制御部 ３８ 駆動モータ
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−142282（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/12 - 3/14 G01R 31/02 - 31/06 G01R 31/34
Claims (2)
- 【請求項１】 インパルス波発生部と、モデル巻線およ
び被試験巻線がブリッジ回路になるように配したブリッ
ジインピーダンスと、前記ブリッジ回路のアンバランス
量を検出する差動トランスと、この差動トランスより検
出した信号を測定する測定部と、この測定部の結果によ
り良否判定する判定部と、前記被試験巻線の整流子片の
位置を検出するセンサと、このセンサの信号から前記被
試験巻線が前記モデル巻線と同じ回路条件のときのみ前
記測定部と判定部を動作させる信号あるいは前記インパ
ルス波発生部を出力させる信号をつくるタイミング発生
部を備えた巻線絶縁試験装置。 - 【請求項２】 インパルス波発生部と、モデル巻線およ
び被試験巻線がブリッジ回路になるように配したブリッ
ジインピーダンスと、前記ブリッジ回路のアンバランス
量を検出する差動トランスと、この差動トランスより検
出した信号を測定する測定部と、この測定部の結果によ
り良否判定する判定部と、前記被試験巻線の整流子片の
位置を検出するセンサと、前記被試験巻線を回転させる
駆動モータと、このモータを制御する位置決めモータ制
御部と、位置決め動作とインパルス波出力あるいは前記
測定部あるいは前記判定部とを交互に動作させるシーケ
ンス制御部を備えた巻線絶縁試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33292193A JP3166463B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 巻線絶縁試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33292193A JP3166463B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 巻線絶縁試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07191085A JPH07191085A (ja) | 1995-07-28 |
| JP3166463B2 true JP3166463B2 (ja) | 2001-05-14 |
Family
ID=18260301
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33292193A Expired - Fee Related JP3166463B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 巻線絶縁試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3166463B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4561019B2 (ja) * | 2001-09-05 | 2010-10-13 | 株式会社デンソー | 巻線異常検査方法 |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP33292193A patent/JP3166463B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07191085A (ja) | 1995-07-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080309 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090309 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |