JP3161943U - 電子部品の検査装置 - Google Patents
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- 内部空間を有する外郭部材であって、当該外郭部材に形成された、前記内部空間に繋がる第1の通孔を塞ぐように電子部品が配置される外郭部材と、
前記外郭部材に配置された前記電子部品の端子と接触して、前記電子部品に通電するプローブと、
前記外郭部材に形成された、前記内部空間に繋がる第2の通孔から前記内部空間に気体を注入する注入器と、
を備えることを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項1に記載の電子部品の検査装置において、
前記電子部品は凸状に突き出た凸状部を有し、前記凸状部が前記第1の通孔に挿入される、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項1に記載の電子部品の検査装置において、
前記電子部品が前記外郭部材に着脱されるように前記電子部品を搬送する部品搬送部をさらに備え、
前記部品搬送部には、前記プローブが挿入される挿入孔が形成される、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項3に記載の電子部品の検査装置において、
前記プローブが前記挿入孔に挿抜されるように前記プローブを搬送するプローブ搬送部をさらに備える、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項4に記載の電子部品の検査装置において、
前記電子部品が前記外郭部材に装着された後に、前記プローブが前記電子部品の端子に接触する、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項1に記載の電子部品の検査装置において、
前記電子部品が発光素子であり、
前記外郭部材の少なくとも一部が、透光性を有する透光部材で構成され、
前記発光素子から発せられる光を受光する受光器であって、当該受光器と前記第1の通孔との間に前記透光部材が位置するように配置される受光器をさらに備える、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項6に記載の電子部品の検査装置において、
前記受光器は、前記透光部材を透過する光が入射される入射窓を有する積分球を含む、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項6に記載の電子部品の検査装置において、
前記発光素子は凸状に突き出たレンズ部を有し、前記レンズ部が前記第1の通孔に挿入される、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 請求項6に記載の電子部品の検査装置において、
前記外郭部材は、前記透光部材と、前記透光部材が取り付けられ、前記第1の通孔及び前記第2の通孔が形成された台部材と、を含む、
ことを特徴とする電子部品の検査装置。 - 一方向に貫通する第1の通孔が形成された台部材であって、当該台部材の前記一方向の第1の側に前記第1の通孔を塞ぐように発光素子が配置される台部材と、
前記台部材の前記一方向の第2の側に取り付けられ、前記台部材との間に前記第1の通孔に繋がる内部空間を形成する、透光性を有する透光部材と、
前記台部材に配置された前記電子部品の端子と接触して、前記電子部品に通電するプローブと、
前記台部材に形成された、前記内部空間に繋がる第2の通孔から前記内部空間に気体を注入する注入器と、
前記発光素子から発せられる光を受光する受光器であって、当該受光器と前記第1の通孔との間に前記透光部材が位置するように配置される受光器と、
を備えることを特徴とする電子部品の検査装置。 - 内部空間を有する外郭部材であって、当該外郭部材に形成された、前記内部空間に繋がる第1の通孔を塞ぐように電子部品が配置される外郭部材と、
前記外郭部材に配置された前記電子部品の端子と接触して、前記電子部品に通電するプローブと、
前記外郭部材に形成された、前記内部空間に繋がる第2の通孔から前記内部空間に気体を注入する注入器と、
前記電子部品に通電する際に、前記電子部品の特性を測定する特性測定部と、
前記電子部品の特性に基づいて、前記電子部品の収容位置を決定する位置決定部と、
前記電子部品を前記収容位置に移動させる分類動作部と、
を備えることを特徴とする電子部品の検査装置。
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