JP3132663B2 - X線断層撮影装置用のモジュール型検知器構造 - Google Patents
X線断層撮影装置用のモジュール型検知器構造Info
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- 238000003325 tomography Methods 0.000 title claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000003351 stiffener Substances 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 3
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 3
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- 239000003562 lightweight material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000012779 reinforcing material Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
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Description
【発明の詳細な説明】 関連出願 本件出願は、Bernard M.Gordon,John Dobbs and Davi
d Banksの名前で、本件出願と同時期に出願され、本件
譲受人に譲渡された、本件と同時に係属している米国特
許出願シリアルNo.08/191,428(代理人事件番号ANA−4
4)、及び、John Dobbs,David Banks and Leonhard Kat
zの名前で、本件出願と同時期に出願され、本件譲受人
に譲渡された、米国特許出願シリアルNo.08/191,426
(代理人事件番号ANA−47)に関連するものである。
d Banksの名前で、本件出願と同時期に出願され、本件
譲受人に譲渡された、本件と同時に係属している米国特
許出願シリアルNo.08/191,428(代理人事件番号ANA−4
4)、及び、John Dobbs,David Banks and Leonhard Kat
zの名前で、本件出願と同時期に出願され、本件譲受人
に譲渡された、米国特許出願シリアルNo.08/191,426
(代理人事件番号ANA−47)に関連するものである。
発明の分野 本発明は、一般に、コンピュータ支援型X線断層撮影
法に関し、より詳細には、断層撮影検知器装置に関す
る。
法に関し、より詳細には、断層撮影検知器装置に関す
る。
発明の背景 現在のCAT走査機器は、一般的に、大きく、組み立て
時に非常に重く、且つ高価である。そのような属性によ
り配備に制約があり、従って、有用性が制限される。し
かしながら、現在では、CAT走査プロセスの諸要請か
ら、そのような望ましくない物理的質性は、避けられな
いものであった。
時に非常に重く、且つ高価である。そのような属性によ
り配備に制約があり、従って、有用性が制限される。し
かしながら、現在では、CAT走査プロセスの諸要請か
ら、そのような望ましくない物理的質性は、避けられな
いものであった。
第三世代型のCATスキャナは、環状のディスクの直径
方向に対向する側部にそれぞれ固定された、X線源とX
線検知装置とを備えている。上記ディスクは、ガントリ
ー・サポートの中に回転可能に取り付けられており、走
査すなわちスキャンの間に、回転軸線の周囲を回転す
る。一方、X線は、上記X線源から、上記ディスクの開
口の中に位置する対象物を通って、検知器装置へ通過す
る。
方向に対向する側部にそれぞれ固定された、X線源とX
線検知装置とを備えている。上記ディスクは、ガントリ
ー・サポートの中に回転可能に取り付けられており、走
査すなわちスキャンの間に、回転軸線の周囲を回転す
る。一方、X線は、上記X線源から、上記ディスクの開
口の中に位置する対象物を通って、検知器装置へ通過す
る。
上記検知器装置は一般に、X線源からの放射線が射出
する「焦点」と呼ばれる点に曲率中心を有する円弧の形
状の単一の列として配列された、検知器アレイを備えて
いる。X線源及び検知器アレイは総て、X線源と各々の
検知器との間のX線経路が総て、上記ディスクの回転軸
線に対して直角な同じ平面(以下において、「スライス
平面」、「回転平面」又は「走査平面」と呼ぶ)に存在
するように、位置決めされている。X線経路は、実質的
に点源から出て、異なる角度で各々の検知器まで伸長す
るので、ファンすなわち扇形に類似しており、従って、
「扇形」ビームという用語は、時間的な任意の瞬間にお
ける総てのX線経路を表すために頻繁に使用される。走
査の間のある測定瞬間において単一の検知器にて検知さ
れるX線は、「光線」と考えられる。そのような光線
は、その経路にある総ての質量によって部分的に減衰さ
れ、そのような減衰の関数として、即ち、その経路にあ
る質量の密度の関数として、単一の強度測定値を発生す
る。撮影、すなわち、X線強度測定は、一般的に、上記
ディスクの複数の角度方向の位置の各々において、実行
される。
する「焦点」と呼ばれる点に曲率中心を有する円弧の形
状の単一の列として配列された、検知器アレイを備えて
いる。X線源及び検知器アレイは総て、X線源と各々の
検知器との間のX線経路が総て、上記ディスクの回転軸
線に対して直角な同じ平面(以下において、「スライス
平面」、「回転平面」又は「走査平面」と呼ぶ)に存在
するように、位置決めされている。X線経路は、実質的
に点源から出て、異なる角度で各々の検知器まで伸長す
るので、ファンすなわち扇形に類似しており、従って、
「扇形」ビームという用語は、時間的な任意の瞬間にお
ける総てのX線経路を表すために頻繁に使用される。走
査の間のある測定瞬間において単一の検知器にて検知さ
れるX線は、「光線」と考えられる。そのような光線
は、その経路にある総ての質量によって部分的に減衰さ
れ、そのような減衰の関数として、即ち、その経路にあ
る質量の密度の関数として、単一の強度測定値を発生す
る。撮影、すなわち、X線強度測定は、一般的に、上記
ディスクの複数の角度方向の位置の各々において、実行
される。
走査の間に総ての撮影角度において得たデータから再
構成された像は、走査されている対象物を通る走査平面
に沿うスライスである。決定された回転平面にある対象
物の断面すなわち「スライス」の密度像を「再構成」す
るために、像は一般に、ピクセルアレイにおいて再構成
され、該ピクセルアレイにおいては、そのアレイの各々
のピクセルは、走査の間に該ピクセルを通過する総ての
光線の減衰を表す値に関する属性を有する。X線源及び
検知器が、対象物の周囲を回転すると、光線が、種々の
方向すなわち撮影角度から上記対象物を貫通し、種々の
組み合わせのピクセル位置を通過する。スライス平面に
ある対象物の密度分布は、そのような測定値から数学的
に発生され、各々のピクセルの輝度値が、そのような分
布を表すように設定される。その結果は、スライス平面
の密度像を表す種々の値を有するピクセルのアレイであ
る。
構成された像は、走査されている対象物を通る走査平面
に沿うスライスである。決定された回転平面にある対象
物の断面すなわち「スライス」の密度像を「再構成」す
るために、像は一般に、ピクセルアレイにおいて再構成
され、該ピクセルアレイにおいては、そのアレイの各々
のピクセルは、走査の間に該ピクセルを通過する総ての
光線の減衰を表す値に関する属性を有する。X線源及び
検知器が、対象物の周囲を回転すると、光線が、種々の
方向すなわち撮影角度から上記対象物を貫通し、種々の
組み合わせのピクセル位置を通過する。スライス平面に
ある対象物の密度分布は、そのような測定値から数学的
に発生され、各々のピクセルの輝度値が、そのような分
布を表すように設定される。その結果は、スライス平面
の密度像を表す種々の値を有するピクセルのアレイであ
る。
像再構成プロセスを作動させるために、上記光線の位
置に正確を知る必要がある。回転可能なディスクに検知
器アレイを装着し、該検知器アレイが、走査平面の中の
X線源に対して、隣接する検知器の中心の間の間隔の4
分の1に等価な角度だけ、空間的に変位するようにする
ことが、知られている。そのような変位を用いると、第
2の180゜の測定値が、第1の180゜の検知器から、検知
器の間隔の4分の1だけ離れた位置で得られ、これによ
り、第2の180゜の測定においては、第1の180゜の測定
分の光線の間の中途の半径位置に光線を位置させる。こ
れにより、光線の配置が益々重要になる。
置に正確を知る必要がある。回転可能なディスクに検知
器アレイを装着し、該検知器アレイが、走査平面の中の
X線源に対して、隣接する検知器の中心の間の間隔の4
分の1に等価な角度だけ、空間的に変位するようにする
ことが、知られている。そのような変位を用いると、第
2の180゜の測定値が、第1の180゜の検知器から、検知
器の間隔の4分の1だけ離れた位置で得られ、これによ
り、第2の180゜の測定においては、第1の180゜の測定
分の光線の間の中途の半径位置に光線を位置させる。こ
れにより、光線の配置が益々重要になる。
従って、繁雑なほどの校正及び補正を行うことなく、
光線を正確に位置決めするためには、各々の投影すなわ
ち撮影に関する各々の検知器の角度方向の位置が予め決
定されるように、検知器を正確に位置決めし、また、測
定を正確に調時することが、非常に有用である。
光線を正確に位置決めするためには、各々の投影すなわ
ち撮影に関する各々の検知器の角度方向の位置が予め決
定されるように、検知器を正確に位置決めし、また、測
定を正確に調時することが、非常に有用である。
また、密度の高い物体は、X線を散乱させる傾向があ
るので、X線源から各検知器までの直線を伝わらない放
射線を、そのような各々の検知器による測定から除くこ
とが重要である。上述の散乱光線を除去するために、一
般的には、非常に薄い一連の散乱防止プレートを、検知
器と対象物との間に挿入して、X線源と各検知器との間
の半径方向の直線をほぼ伝わる光線だけを平行にするす
なわち通過させる。不運にして、散乱防止プレートを必
要とすることは、別の困難性を生じさせる。その理由
は、散乱防止プレートが、検知器にX線の「陰」すなわ
ち「シャドウ」を投じた場合には、散乱防止プレート
は、その検知器の測定を阻害する。シャドウを受けた各
々の検知器の出力が減少するだけではなく、X線源、散
乱プレート及び/又は検知器の最小の振動又は横方向の
運動によって、上記出力が変調されることになる。
るので、X線源から各検知器までの直線を伝わらない放
射線を、そのような各々の検知器による測定から除くこ
とが重要である。上述の散乱光線を除去するために、一
般的には、非常に薄い一連の散乱防止プレートを、検知
器と対象物との間に挿入して、X線源と各検知器との間
の半径方向の直線をほぼ伝わる光線だけを平行にするす
なわち通過させる。不運にして、散乱防止プレートを必
要とすることは、別の困難性を生じさせる。その理由
は、散乱防止プレートが、検知器にX線の「陰」すなわ
ち「シャドウ」を投じた場合には、散乱防止プレート
は、その検知器の測定を阻害する。シャドウを受けた各
々の検知器の出力が減少するだけではなく、X線源、散
乱プレート及び/又は検知器の最小の振動又は横方向の
運動によって、上記出力が変調されることになる。
上述の要件を満たすことの困難性は、現在のX線断層
撮影スキャナに期待される解像度すなわち分解能を提供
するために、検知器部が、幾つかの検知器が単一の階層
の光線の扇形のアークの中に位置する数百の検知器から
成り立っていることを考えると、明らかになろう。その
ようにすると、代表的な検知器の幅は、ミリメートルの
オーダーとなり、代表的な散乱防止プレートの半径方向
の長さが、約38mmとなり、その厚みは約0.1mmとなっ
て、極めて正確な検知器及び散乱防止プレートの位置及
び整合が必要となる。困難性を更にひどくするものとし
てアセンブリ全体は、通常は、走査されている対象物の
周囲で、約15乃至約60rpmの速度で回転し、相当の変動
力を発生すると共に、厳格な取り付け技術を必要とす
る。
撮影スキャナに期待される解像度すなわち分解能を提供
するために、検知器部が、幾つかの検知器が単一の階層
の光線の扇形のアークの中に位置する数百の検知器から
成り立っていることを考えると、明らかになろう。その
ようにすると、代表的な検知器の幅は、ミリメートルの
オーダーとなり、代表的な散乱防止プレートの半径方向
の長さが、約38mmとなり、その厚みは約0.1mmとなっ
て、極めて正確な検知器及び散乱防止プレートの位置及
び整合が必要となる。困難性を更にひどくするものとし
てアセンブリ全体は、通常は、走査されている対象物の
周囲で、約15乃至約60rpmの速度で回転し、相当の変動
力を発生すると共に、厳格な取り付け技術を必要とす
る。
上述の困難な要件を満足するための従来の試みは、非
常に質量が大きく、非常に高いコストを必要とし、散乱
防止プレート及び検知器の整合に非常に多くの労力を費
やす、煩雑な組み立て技術を必要とする、機械を必要と
していた。何等かの理由で、1又はそれ以上の要素の変
換又は再調整が必要となった場合には、そのような再組
み立て及び再整合のプロセスは、通常、現場で行うには
複雑過ぎ、工場へ戻されなければならないことが多かっ
た。
常に質量が大きく、非常に高いコストを必要とし、散乱
防止プレート及び検知器の整合に非常に多くの労力を費
やす、煩雑な組み立て技術を必要とする、機械を必要と
していた。何等かの理由で、1又はそれ以上の要素の変
換又は再調整が必要となった場合には、そのような再組
み立て及び再整合のプロセスは、通常、現場で行うには
複雑過ぎ、工場へ戻されなければならないことが多かっ
た。
発明の目的 本発明の目的は、組み立ての労力を大幅に減少し、コ
ストを比較的低くした上で、必要な位置決め及び整合精
度を有する、改善されたX線断層撮影検知器システムを
提供することである。
ストを比較的低くした上で、必要な位置決め及び整合精
度を有する、改善されたX線断層撮影検知器システムを
提供することである。
本発明の別の目的は、現場で容易に交換することので
きる構成部品を備える、断層撮影検知器システムを提供
することである。
きる構成部品を備える、断層撮影検知器システムを提供
することである。
本発明の別の目的は、各構成要素が、標準的な機械工
具で容易に製造することができるように設計され、直交
座標系に従って極めて正確に作動し、且つ、断層撮影ス
キャナの極座標系が必要とする高い位置的な精度をもた
らすように組み立てられた断層撮影用検知器システムを
提供することである。
具で容易に製造することができるように設計され、直交
座標系に従って極めて正確に作動し、且つ、断層撮影ス
キャナの極座標系が必要とする高い位置的な精度をもた
らすように組み立てられた断層撮影用検知器システムを
提供することである。
本発明の別の目的の一部は、以下の記載から自明であ
り、また、その一部は以下に記載される。従って、本発
明は、以下の詳細な開示、並びに、請求の範囲に示され
る本件出願の範囲に例示される、構成、要素の組み合わ
せ、及び、部品の配列を備える装置を含む。
り、また、その一部は以下に記載される。従って、本発
明は、以下の詳細な開示、並びに、請求の範囲に示され
る本件出願の範囲に例示される、構成、要素の組み合わ
せ、及び、部品の配列を備える装置を含む。
発明の概要 本発明によれば、検知器システムは、背骨の形態のベ
ースサポート要素と、複数の散乱防止モジュールと、上
記背骨に取り付けられる複数の検知器モジュールと、上
記背骨をガントリーの回転ディスクに装着するための手
段とを備える。上記背骨は、平坦な基準面を有するのが
好ましく、この基準面は、上記背骨が上記回転ディスク
に適正に取り付けられると、走査平面に対して平行に位
置決めされるようになされている。上記平坦な基準面
は、複数の基準孔を正確に位置決めすることを可能とす
る。散乱防止モジュール及び検知器モジュールは各々、
平坦な基準面を有しており、この基準面は、上記背骨の
基準面と接触して、上記モジュールを上記背骨の基準面
(従って、走査平面)に対して固定するようになされて
いる。各々のモジュールは、背骨及び各々のモジュール
に対して正確に位置決めするための、円形の基準孔と、
上記モジュールの基準面に対して直角な基準スロットと
を備えるのが好ましい。散乱防止モジュールは、上記モ
ジュールの基準孔、基準スロット、及び、基準面に対し
て正確に位置決め及び配向(向きを決める)された、複
数の散乱防止プレートを備えている。各々の検知器モジ
ュールは、上記モジュールの基準孔、基準スロット及び
基準面に対して正確に位置決め及び配向された、複数の
検知器を備えている。上記背骨、並びに、各々のモジュ
ールの基準孔及び基準スロットは、商業的に入手可能な
機械工具の直交座標系を用いて、それぞれの背骨及びモ
ジュールの平坦な基準面に対して、正確に位置決めする
ことができる。背骨の上の、各々の散乱防止モジュー
ル、及び、各々の検知器モジュールの位置は、モジュー
ルの丸い基準孔に挿入されたダウエルピン(位置合わせ
ピン)、及び、背骨の基準面に設けられた背骨の基準孔
によって、正確に決定され、また、各々の散乱防止モジ
ュール及び各々の検知器モジュールの整合は、その基準
スロット及び背骨の基準孔の両方に設けられるダウエル
ピンによって、決定される。組み立てを簡単に行うため
に、散乱防止モジュール及び検知器モジュールの両方の
位置は、共通のダウエルピン及び背骨の基準孔によって
決定することができ、各々の散乱防止モジュールは、基
本的な背骨の基準孔によって位置決めすることができ
る。
ースサポート要素と、複数の散乱防止モジュールと、上
記背骨に取り付けられる複数の検知器モジュールと、上
記背骨をガントリーの回転ディスクに装着するための手
段とを備える。上記背骨は、平坦な基準面を有するのが
好ましく、この基準面は、上記背骨が上記回転ディスク
に適正に取り付けられると、走査平面に対して平行に位
置決めされるようになされている。上記平坦な基準面
は、複数の基準孔を正確に位置決めすることを可能とす
る。散乱防止モジュール及び検知器モジュールは各々、
平坦な基準面を有しており、この基準面は、上記背骨の
基準面と接触して、上記モジュールを上記背骨の基準面
(従って、走査平面)に対して固定するようになされて
いる。各々のモジュールは、背骨及び各々のモジュール
に対して正確に位置決めするための、円形の基準孔と、
上記モジュールの基準面に対して直角な基準スロットと
を備えるのが好ましい。散乱防止モジュールは、上記モ
ジュールの基準孔、基準スロット、及び、基準面に対し
て正確に位置決め及び配向(向きを決める)された、複
数の散乱防止プレートを備えている。各々の検知器モジ
ュールは、上記モジュールの基準孔、基準スロット及び
基準面に対して正確に位置決め及び配向された、複数の
検知器を備えている。上記背骨、並びに、各々のモジュ
ールの基準孔及び基準スロットは、商業的に入手可能な
機械工具の直交座標系を用いて、それぞれの背骨及びモ
ジュールの平坦な基準面に対して、正確に位置決めする
ことができる。背骨の上の、各々の散乱防止モジュー
ル、及び、各々の検知器モジュールの位置は、モジュー
ルの丸い基準孔に挿入されたダウエルピン(位置合わせ
ピン)、及び、背骨の基準面に設けられた背骨の基準孔
によって、正確に決定され、また、各々の散乱防止モジ
ュール及び各々の検知器モジュールの整合は、その基準
スロット及び背骨の基準孔の両方に設けられるダウエル
ピンによって、決定される。組み立てを簡単に行うため
に、散乱防止モジュール及び検知器モジュールの両方の
位置は、共通のダウエルピン及び背骨の基準孔によって
決定することができ、各々の散乱防止モジュールは、基
本的な背骨の基準孔によって位置決めすることができ
る。
図面の簡単な説明 本発明の性質及び目的をより完全に理解するために、
添付の図面に関連して、以下の詳細な説明を参照された
い。図面においては、 図1は、本発明の好ましい構成を具体化した、CATス
キャナの軸方向の図であり、 図2は、本発明の検知器システムの好ましい実施例の
モジュール配列を一部切除して示す、上部分解斜視図で
あり、 図3は、本発明に従って構成された検知器モジュール
の好ましい実施例の下部斜視図であり、 図4は、上記検知器モジュール及び散乱防止モジュー
ルを一定の関係に支持すると共に、上記モジュールがス
キャナの走査平面に対して適正に整合されるように、検
知器アセンブリをガントリーに装着するための背骨の好
ましい実施例の軸方向の図であり、 図5は、検知器アセンブリの好ましい実施例の背骨に
取り付けられた、3つの検知器モジュール及び1つの散
乱防止モジュールの軸方向の図であり、 図6は、図5の切断線6−6に沿って取った、接線方
向の断面図であり、 図7は、背骨を回転ディスクに取り付けるためのポス
トサポートの軸方向の図であり、 図8は、図7に示すポストサポートの接線方向の側面
図であり、 図9は、図7及び図8に示すポストサポートの半径方
向の図であり、 図10は、図7乃至図9に示すポストサポートの接線方
向の部分的な図であり、 図11は、図10の線11−11を通って取った、ほぼ半径方
向の断面図であり、 図12は、図7乃至図11に示すサポートの部分的な分解
斜視図である。
添付の図面に関連して、以下の詳細な説明を参照された
い。図面においては、 図1は、本発明の好ましい構成を具体化した、CATス
キャナの軸方向の図であり、 図2は、本発明の検知器システムの好ましい実施例の
モジュール配列を一部切除して示す、上部分解斜視図で
あり、 図3は、本発明に従って構成された検知器モジュール
の好ましい実施例の下部斜視図であり、 図4は、上記検知器モジュール及び散乱防止モジュー
ルを一定の関係に支持すると共に、上記モジュールがス
キャナの走査平面に対して適正に整合されるように、検
知器アセンブリをガントリーに装着するための背骨の好
ましい実施例の軸方向の図であり、 図5は、検知器アセンブリの好ましい実施例の背骨に
取り付けられた、3つの検知器モジュール及び1つの散
乱防止モジュールの軸方向の図であり、 図6は、図5の切断線6−6に沿って取った、接線方
向の断面図であり、 図7は、背骨を回転ディスクに取り付けるためのポス
トサポートの軸方向の図であり、 図8は、図7に示すポストサポートの接線方向の側面
図であり、 図9は、図7及び図8に示すポストサポートの半径方
向の図であり、 図10は、図7乃至図9に示すポストサポートの接線方
向の部分的な図であり、 図11は、図10の線11−11を通って取った、ほぼ半径方
向の断面図であり、 図12は、図7乃至図11に示すサポートの部分的な分解
斜視図である。
図面の詳細な説明 本発明の構成をより完全に理解するために、図面を参
照すると、図1は、本発明の原理を採用したCATスキャ
ナ8を示している。CATスキャナに関するデータを提供
するために、スキャナ8は、X線源12と、ディスク10に
取り付けられた検知器アセンブリ14とを備えている。X
線源12及び検知器アセンブリ14は、回転軸線16(図1の
紙面に対して直角に伸長している)の周囲で回転し、CA
T走査の間に、ディスクの中央開口を通って伸長する対
象物18の周囲を回転する。対象物18は、頭部又は胴部の
如き患者の一部である。X線源12は、走査平面(回転軸
線16に対して直角な)の中で、連続的に扇形のX線ビー
ム20を放射し、該X線ビームは、対象物18を通過した後
に、検知器アセンブリ14によって検知される。散乱防止
プレート22の列すなわちアレイが、対象物18と検知器ア
センブリ14との間に設けられていて、散乱光線が検知器
によって検知されるのを実質的に防止している。好まし
い実施例においては、検知器の数は384であって、48゜
の円弧をカバーするが、そのような数及び角度は変える
ことができる。アルミニウムの如き軽量の物質から形成
されるのが効果的であるディスク10は、軸線16の周囲で
急速に且つ円滑に回転される。ディスク10は、オープン
フレーム構造であり、従って、対象物18は、ディスクの
開口を介して位置決めすることができる。対象物18は、
例えば、パレット又はテーブル32上に支持することがで
き、上記パレットすなわちテーブルは、勿論、X線に対
して事実上透明でなければならない。ディスク10が回転
すると、検知器アセンブリ14は、周期的なサンプリング
によって、多数の投影角度すなわち撮影角度から対象物
18を通る走査平面を通過するX線の別個の測定値を発生
する。そのような測定値は、次に、周知の数学的な技術
に従って、適正な信号処理装置(図示せず)で電子的に
処理されて、最終的な像情報すなわち画像情報が生成さ
れる。該像情報は次に、メモリに蓄積され、コンピュー
タで分析され、あるいは、適宜に表示される。
照すると、図1は、本発明の原理を採用したCATスキャ
ナ8を示している。CATスキャナに関するデータを提供
するために、スキャナ8は、X線源12と、ディスク10に
取り付けられた検知器アセンブリ14とを備えている。X
線源12及び検知器アセンブリ14は、回転軸線16(図1の
紙面に対して直角に伸長している)の周囲で回転し、CA
T走査の間に、ディスクの中央開口を通って伸長する対
象物18の周囲を回転する。対象物18は、頭部又は胴部の
如き患者の一部である。X線源12は、走査平面(回転軸
線16に対して直角な)の中で、連続的に扇形のX線ビー
ム20を放射し、該X線ビームは、対象物18を通過した後
に、検知器アセンブリ14によって検知される。散乱防止
プレート22の列すなわちアレイが、対象物18と検知器ア
センブリ14との間に設けられていて、散乱光線が検知器
によって検知されるのを実質的に防止している。好まし
い実施例においては、検知器の数は384であって、48゜
の円弧をカバーするが、そのような数及び角度は変える
ことができる。アルミニウムの如き軽量の物質から形成
されるのが効果的であるディスク10は、軸線16の周囲で
急速に且つ円滑に回転される。ディスク10は、オープン
フレーム構造であり、従って、対象物18は、ディスクの
開口を介して位置決めすることができる。対象物18は、
例えば、パレット又はテーブル32上に支持することがで
き、上記パレットすなわちテーブルは、勿論、X線に対
して事実上透明でなければならない。ディスク10が回転
すると、検知器アセンブリ14は、周期的なサンプリング
によって、多数の投影角度すなわち撮影角度から対象物
18を通る走査平面を通過するX線の別個の測定値を発生
する。そのような測定値は、次に、周知の数学的な技術
に従って、適正な信号処理装置(図示せず)で電子的に
処理されて、最終的な像情報すなわち画像情報が生成さ
れる。該像情報は次に、メモリに蓄積され、コンピュー
タで分析され、あるいは、適宜に表示される。
本発明以前には、従来技術に係る断層撮影装置の回転
ディスク上で上述の要素を適正にアライメントするため
に、各々の検知器及び散乱防止プレートを整合させる、
大きな努力が必要とされた。整合が困難である1つの理
由は、X線源に対する検知器の配列が、極座標上になさ
れており、該極座標の中心が、X線源12の焦点に位置し
ているという事実である。一方、取り付け孔をディスク
に形成するための機械工具は、一般に、直交座標系にお
いて作動する。
ディスク上で上述の要素を適正にアライメントするため
に、各々の検知器及び散乱防止プレートを整合させる、
大きな努力が必要とされた。整合が困難である1つの理
由は、X線源に対する検知器の配列が、極座標上になさ
れており、該極座標の中心が、X線源12の焦点に位置し
ているという事実である。一方、取り付け孔をディスク
に形成するための機械工具は、一般に、直交座標系にお
いて作動する。
従って、本発明によれば、検知器アセンンブリは、そ
の要素が、直交座標において作動する標準的な機械工具
で容易に形成され、また、組み立てられて、ディスク10
に固定された時に、断層撮影装置の極座標系においてX
線源と正確に整合するように、設計される。
の要素が、直交座標において作動する標準的な機械工具
で容易に形成され、また、組み立てられて、ディスク10
に固定された時に、断層撮影装置の極座標系においてX
線源と正確に整合するように、設計される。
再度図1を参照して、より詳細に説明すると、本発明
によれば、検知器アセンブリ14は、基準支持背骨28の形
態のベースサポート要素を備えており、上記基準支持背
骨には、機械工具の直交座標系において容易に且つ正確
に機械加工されるように設計された、平坦なデータムす
なわち基準面が設けられている。上記検知器及び散乱防
止プレートは、各々、同一の複数のモジュール24、26と
してそれぞれ組み立てられ、そのようなモジュールは、
標準的な機械工具の直交座標の中でも正確に機械加工さ
れる。次に、上記モジュールを正確に整合させて、背骨
28の基準面に固定する。背骨は、サポート30の如き適宜
なサポートによって、ディスク10により支持されてお
り、これにより、検知器は総て、走査平面に存在し、X
線源12の焦点に対して、等しい角度を形成する。
によれば、検知器アセンブリ14は、基準支持背骨28の形
態のベースサポート要素を備えており、上記基準支持背
骨には、機械工具の直交座標系において容易に且つ正確
に機械加工されるように設計された、平坦なデータムす
なわち基準面が設けられている。上記検知器及び散乱防
止プレートは、各々、同一の複数のモジュール24、26と
してそれぞれ組み立てられ、そのようなモジュールは、
標準的な機械工具の直交座標の中でも正確に機械加工さ
れる。次に、上記モジュールを正確に整合させて、背骨
28の基準面に固定する。背骨は、サポート30の如き適宜
なサポートによって、ディスク10により支持されてお
り、これにより、検知器は総て、走査平面に存在し、X
線源12の焦点に対して、等しい角度を形成する。
散乱防止プレート及び検知器の所望の正確な位置決め
及び整合を容易にする本発明の構成が、図2乃至12に詳
細に示されている。特に図2を参照すると、検知器アセ
ンブリ14は、背骨28と、検知器モジュール24と、散乱防
止モジュール26とを備えている。使用の際には、完成さ
れた検知器アセンブリが、ディスク10に固定される。そ
のような完成された検知器アセンブリは、例えば、1つ
の背骨、8つの散乱防止モジュール、及び、24の検知器
モジュールを備え、各々の検知器モジュールが、16の検
知器を支持することができる。その平面図が図4に示さ
れている背骨28は、円弧状であるのが好ましく、曲率中
心は、ディスク10に適正に固定されたX線源12の焦点に
一致するのが好ましい。図6に最も良く示すように、背
骨は、また、2つの平行な平坦面40、42を備えており、
これら平坦面の中で、面40は、前方のデータムすなわち
基準面と考えることができる。上述の平坦面は、商業的
に入手可能な標準的な機械工具を用いて、基準面40に対
して直角に該基準面から背骨28の中に、基準孔を非常に
正確に穿孔することを許容する。図2及び図4に最も良
く示すように、各々の散乱防止モジュールに関して、一
連の一次基準孔44(図示の実施例においては、8個)
が、所定の曲率を有する円弧46上に設けられており、こ
の円弧は、背骨がディスク10に適正に固定された時に、
上記一次基準孔をX線源12から等しい距離だけ離してい
る。すなわち、X線源は、円弧46の曲率中心にある。孔
44の位置は、円弧の中心に関して、また、互いに関し
て、正確に調節される。各々の一次基準孔44に関連し
て、2つの二次基準孔48が設けられており、これら二次
基準孔は、同じ円弧46上に位置していて、一次基準孔に
関して正確に位置決めされている。また、各々の一次基
準孔44に関連して、3つの追加の二次基準孔50が設けら
れており、これら追加の二次基準孔は、上記円弧46と同
心円状の円弧52上に位置していて、各々の対応する一次
基準孔44に関して、正確に位置決めされている。また、
図2に最も良く示すように、各々の一次基準孔44に関連
して、取り付け穴54、及び、ネジ付きの取り付けめくら
穴56(図2に示す)を設けることができる。一対の貫通
孔58(図4に示す)を用いて、総ての基準孔を穿孔する
ために使用される穿孔機器に対して背骨28をクランプす
なわち保持することができる。背骨28の各々の基準孔4
4、48、50の中にダウエルピン60を挿入するのが好まし
い。総ての基準孔の寸法は、ダウエルピンと僅かに締ま
り嵌めの関係になるようになされ、これにより、上記ピ
ンは、孔の中で固定された状態に保持され、基準面40の
上方に伸長する。従って、ダウエルピン60は、6つの正
確な群(図4の65で示された箱状の破線によって示され
ているように)として設けられ、その中の3つは、円弧
46に沿い、また、3つは、円弧52に沿っており、各群の
中の1つは、一次基準孔44の中にある。円弧46に沿う各
々のダウエルピンは、円弧46、52の曲率中心を通る線64
の如き、共通の半径方向の線に沿うダウエルピンと対に
なされることになる。
及び整合を容易にする本発明の構成が、図2乃至12に詳
細に示されている。特に図2を参照すると、検知器アセ
ンブリ14は、背骨28と、検知器モジュール24と、散乱防
止モジュール26とを備えている。使用の際には、完成さ
れた検知器アセンブリが、ディスク10に固定される。そ
のような完成された検知器アセンブリは、例えば、1つ
の背骨、8つの散乱防止モジュール、及び、24の検知器
モジュールを備え、各々の検知器モジュールが、16の検
知器を支持することができる。その平面図が図4に示さ
れている背骨28は、円弧状であるのが好ましく、曲率中
心は、ディスク10に適正に固定されたX線源12の焦点に
一致するのが好ましい。図6に最も良く示すように、背
骨は、また、2つの平行な平坦面40、42を備えており、
これら平坦面の中で、面40は、前方のデータムすなわち
基準面と考えることができる。上述の平坦面は、商業的
に入手可能な標準的な機械工具を用いて、基準面40に対
して直角に該基準面から背骨28の中に、基準孔を非常に
正確に穿孔することを許容する。図2及び図4に最も良
く示すように、各々の散乱防止モジュールに関して、一
連の一次基準孔44(図示の実施例においては、8個)
が、所定の曲率を有する円弧46上に設けられており、こ
の円弧は、背骨がディスク10に適正に固定された時に、
上記一次基準孔をX線源12から等しい距離だけ離してい
る。すなわち、X線源は、円弧46の曲率中心にある。孔
44の位置は、円弧の中心に関して、また、互いに関し
て、正確に調節される。各々の一次基準孔44に関連し
て、2つの二次基準孔48が設けられており、これら二次
基準孔は、同じ円弧46上に位置していて、一次基準孔に
関して正確に位置決めされている。また、各々の一次基
準孔44に関連して、3つの追加の二次基準孔50が設けら
れており、これら追加の二次基準孔は、上記円弧46と同
心円状の円弧52上に位置していて、各々の対応する一次
基準孔44に関して、正確に位置決めされている。また、
図2に最も良く示すように、各々の一次基準孔44に関連
して、取り付け穴54、及び、ネジ付きの取り付けめくら
穴56(図2に示す)を設けることができる。一対の貫通
孔58(図4に示す)を用いて、総ての基準孔を穿孔する
ために使用される穿孔機器に対して背骨28をクランプす
なわち保持することができる。背骨28の各々の基準孔4
4、48、50の中にダウエルピン60を挿入するのが好まし
い。総ての基準孔の寸法は、ダウエルピンと僅かに締ま
り嵌めの関係になるようになされ、これにより、上記ピ
ンは、孔の中で固定された状態に保持され、基準面40の
上方に伸長する。従って、ダウエルピン60は、6つの正
確な群(図4の65で示された箱状の破線によって示され
ているように)として設けられ、その中の3つは、円弧
46に沿い、また、3つは、円弧52に沿っており、各群の
中の1つは、一次基準孔44の中にある。円弧46に沿う各
々のダウエルピンは、円弧46、52の曲率中心を通る線64
の如き、共通の半径方向の線に沿うダウエルピンと対に
なされることになる。
正確な位置決めを行うために、最初に、散乱防止プレ
ート22が、散乱防止モジュール26に組み込まれる。散乱
防止モジュール26は、例えば、ベースプレート70と頂部
プレート74との間に設けられる、48の散乱防止プレート
22を備えることができ、上記ベースプレートは、図2及
び図6に示すように、基準面と考えられる、外側の平坦
面72を有している。ベースプレート70及び頂部プレート
74の互いに向かい合う表面は各々、検知器アセンブリが
適正に組み立てられてディスクに固定された時に、各々
のプレートが焦点と半径方向において整合するように、
プレート22を支持するための手段を備えるのが好まし
い。この手段は、非常に薄い隆起した棚状部76であるの
が好ましく、そのような棚状部には、散乱防止プレート
22を収容するための位置決めスロットが設けられてい
る。ベース70には、また、リップ部78が設けられてお
り、これにより、位置決め孔80、82及び位置決めスロッ
ト84のためのスペースを与えている。孔80、82、及び、
スロット84の中心は、X線源の焦点に中心がある円弧に
沿って存在しており、上記スロットの長さ方向の寸法
は、孔80、84から伸長する線に沿う寸法である。孔80、
82、及び、スロット84は、背骨の一次基準孔44、及び、
2つの隣接する孔48にそれぞれ整合するように、位置決
めされており、これにより、散乱プレートは、背骨がデ
ィスクに固定されると、焦点に対して適正に位置決めさ
れることになる。孔80の寸法は、ダウエルピン60Aをぴ
ったりと収容するようになされており、一次基準孔と考
えることができる。スロット84の狭い方の幅の寸法は、
ダウエルピン60Cをぴったりと収容して、焦点まで伸長
する半径方向の線に沿って、散乱防止モジュールをしっ
かりと位置決めするように、なされているが、スロット
の細長い長さは、2つのダウエルピンの間の間隔の寸法
公差を許容する。中央孔82は、円弧46に沿う二次基準孔
48の中に位置する第3の中央ダウエルピン60Bに触れる
ことなく、該中央ダウエルピンを収容するように、過大
寸法になされている。ベースプレート70、及び、プレー
ト74は、安定性、軽量、及び、高い熱伝導率の観点か
ら、アルミニウムとすることができるが、他の材料を用
いることもできる。散乱防止プレート22は、通常は、タ
ングステンで形成されるが、他の材料を用いることもで
き、素材すなわちストック材料から形成することができ
る。
ート22が、散乱防止モジュール26に組み込まれる。散乱
防止モジュール26は、例えば、ベースプレート70と頂部
プレート74との間に設けられる、48の散乱防止プレート
22を備えることができ、上記ベースプレートは、図2及
び図6に示すように、基準面と考えられる、外側の平坦
面72を有している。ベースプレート70及び頂部プレート
74の互いに向かい合う表面は各々、検知器アセンブリが
適正に組み立てられてディスクに固定された時に、各々
のプレートが焦点と半径方向において整合するように、
プレート22を支持するための手段を備えるのが好まし
い。この手段は、非常に薄い隆起した棚状部76であるの
が好ましく、そのような棚状部には、散乱防止プレート
22を収容するための位置決めスロットが設けられてい
る。ベース70には、また、リップ部78が設けられてお
り、これにより、位置決め孔80、82及び位置決めスロッ
ト84のためのスペースを与えている。孔80、82、及び、
スロット84の中心は、X線源の焦点に中心がある円弧に
沿って存在しており、上記スロットの長さ方向の寸法
は、孔80、84から伸長する線に沿う寸法である。孔80、
82、及び、スロット84は、背骨の一次基準孔44、及び、
2つの隣接する孔48にそれぞれ整合するように、位置決
めされており、これにより、散乱プレートは、背骨がデ
ィスクに固定されると、焦点に対して適正に位置決めさ
れることになる。孔80の寸法は、ダウエルピン60Aをぴ
ったりと収容するようになされており、一次基準孔と考
えることができる。スロット84の狭い方の幅の寸法は、
ダウエルピン60Cをぴったりと収容して、焦点まで伸長
する半径方向の線に沿って、散乱防止モジュールをしっ
かりと位置決めするように、なされているが、スロット
の細長い長さは、2つのダウエルピンの間の間隔の寸法
公差を許容する。中央孔82は、円弧46に沿う二次基準孔
48の中に位置する第3の中央ダウエルピン60Bに触れる
ことなく、該中央ダウエルピンを収容するように、過大
寸法になされている。ベースプレート70、及び、プレー
ト74は、安定性、軽量、及び、高い熱伝導率の観点か
ら、アルミニウムとすることができるが、他の材料を用
いることもできる。散乱防止プレート22は、通常は、タ
ングステンで形成されるが、他の材料を用いることもで
き、素材すなわちストック材料から形成することができ
る。
好ましい検知器モジュール24が、図3に更に詳細に示
されている。このモジュールは、金属ブロック90を備え
ており、該金属ブロックは、半導体検知器92のアレイ
と、上記金属ブロックの1つの面に取り付けられた、複
数導体リボンケーブル94、又は、他の可撓性の接続体と
を有している。ブロック90は、押し出し成形されたアル
ミニウムであるのが効果的であるが、他の材料も使用す
ることができる。検知器92は各々、X線エネルギを光線
に変換するためのシンチレーション結晶と、光線を電流
に変換するためのフォトダイオードとを備えることがで
きる。上記ダイオードは、周知の技術によって、基板96
の上に形成し、上記結晶を上記ダイオードの頂部に直接
接合することができる。上記複数導体リボン94は、ハン
ダあるいは他の手段によって、基板96に取り付け、これ
により、各々の検知器の出力を個々に、リボンの対応す
る導体を通して、スキャナの信号処理要素に供給するこ
とができる。完成された基板アセンブリは、ブロック90
に接合することができる。モジュール24は、例えば、16
の検知器を含むことができる。これら検知器が、1/8゜
の円弧間隔で取り付けられる場合には、それぞれの検知
器の中心は、2mmよりも小さい距離だけ離れることにな
る。検知器の間隔の均一性は、上述のように、再構成さ
れた像の適正なピクセルに測定を割り当てるために、重
要なことである。検知器の特性の均一性は望ましいが、
実際には、各々の検知器は、予測される温度範囲にわた
って、校正されるのが好ましい。従って、検知器の温度
を均一にするための良好な熱接合が望ましい。
されている。このモジュールは、金属ブロック90を備え
ており、該金属ブロックは、半導体検知器92のアレイ
と、上記金属ブロックの1つの面に取り付けられた、複
数導体リボンケーブル94、又は、他の可撓性の接続体と
を有している。ブロック90は、押し出し成形されたアル
ミニウムであるのが効果的であるが、他の材料も使用す
ることができる。検知器92は各々、X線エネルギを光線
に変換するためのシンチレーション結晶と、光線を電流
に変換するためのフォトダイオードとを備えることがで
きる。上記ダイオードは、周知の技術によって、基板96
の上に形成し、上記結晶を上記ダイオードの頂部に直接
接合することができる。上記複数導体リボン94は、ハン
ダあるいは他の手段によって、基板96に取り付け、これ
により、各々の検知器の出力を個々に、リボンの対応す
る導体を通して、スキャナの信号処理要素に供給するこ
とができる。完成された基板アセンブリは、ブロック90
に接合することができる。モジュール24は、例えば、16
の検知器を含むことができる。これら検知器が、1/8゜
の円弧間隔で取り付けられる場合には、それぞれの検知
器の中心は、2mmよりも小さい距離だけ離れることにな
る。検知器の間隔の均一性は、上述のように、再構成さ
れた像の適正なピクセルに測定を割り当てるために、重
要なことである。検知器の特性の均一性は望ましいが、
実際には、各々の検知器は、予測される温度範囲にわた
って、校正されるのが好ましい。従って、検知器の温度
を均一にするための良好な熱接合が望ましい。
ブロック90は、背骨の面40に取り付けるための、平坦
面98を有している。面98は、基準面と考えることができ
る。検知器に近い方のブロックの一部を凹陥させて、面
98と平行な別の平坦面100を形成する。上記凹陥させる
量は、モジュール26のリップ部78の厚みを越え、これに
より、検知器モジュール及び散乱防止モジュールの両方
の面98、72がそれぞれ背骨28の基準面40に接すると、面
100は、上記リップ部の頂部に干渉されない。検知器モ
ジュール24を正確に定置するために、丸い基準孔102
が、面100において該面に対して直角に設けられ、背骨2
8に設けられていてリップ部78の対応する孔80、82又は
スロット84を貫通している、ダウエルピン60A、60B又は
60Cをきっちりと収容するような寸法になされている。
面98の基準スロット104の長さ寸法は、検知器アレイに
対して直交する、孔102を有する線上に位置する。検知
器アレイに対して平行な方向のスロット104の幅は、ダ
ウエルピン60Dにぴったりと嵌合するが、その長さ方向
においてはクリアランスすなわち空隙を与えて、ピン60
Dが対をなす対応するピン60A、60B又は60Cの間の間隔の
寸法誤差を許容するような、寸法になされている。ブロ
ック90を貫通する孔106の位置及び寸法は、取り付けボ
ルト110(図6参照)を収容することができるようにな
されており、また、ネジ付きのめくら取り付け孔56に対
して過大寸法になされていて、検知器が固定されている
半径方向の線に沿う背骨28の孔48、56、50の間の寸法誤
差を許容するようになされている。検知器92は、基準孔
102及び基準スロット104に関して、極めて正確に位置決
めされている。
面98を有している。面98は、基準面と考えることができ
る。検知器に近い方のブロックの一部を凹陥させて、面
98と平行な別の平坦面100を形成する。上記凹陥させる
量は、モジュール26のリップ部78の厚みを越え、これに
より、検知器モジュール及び散乱防止モジュールの両方
の面98、72がそれぞれ背骨28の基準面40に接すると、面
100は、上記リップ部の頂部に干渉されない。検知器モ
ジュール24を正確に定置するために、丸い基準孔102
が、面100において該面に対して直角に設けられ、背骨2
8に設けられていてリップ部78の対応する孔80、82又は
スロット84を貫通している、ダウエルピン60A、60B又は
60Cをきっちりと収容するような寸法になされている。
面98の基準スロット104の長さ寸法は、検知器アレイに
対して直交する、孔102を有する線上に位置する。検知
器アレイに対して平行な方向のスロット104の幅は、ダ
ウエルピン60Dにぴったりと嵌合するが、その長さ方向
においてはクリアランスすなわち空隙を与えて、ピン60
Dが対をなす対応するピン60A、60B又は60Cの間の間隔の
寸法誤差を許容するような、寸法になされている。ブロ
ック90を貫通する孔106の位置及び寸法は、取り付けボ
ルト110(図6参照)を収容することができるようにな
されており、また、ネジ付きのめくら取り付け孔56に対
して過大寸法になされていて、検知器が固定されている
半径方向の線に沿う背骨28の孔48、56、50の間の寸法誤
差を許容するようになされている。検知器92は、基準孔
102及び基準スロット104に関して、極めて正確に位置決
めされている。
本発明の構造が、図2に示したように組み立てられる
と、各々の散乱防止モジュール26の平坦面72、及び、各
々の検知器24の平坦面98が、背骨の基準面40に着座す
る。各々の散乱防止モジュールは、その基準孔80を通っ
て一次基準孔44の中に伸長している、ダウエルピン60A
によって位置決めされ、また、その基準スロット84を通
って背骨の基準孔48の中に伸長している、ダウエルピン
60Cによって整合される。拡大された孔82を貫通するダ
ウエルピン60Bは、モジュール26に接触しない。各々の
検知器モジュール24は、その対応する基準孔102から、
散乱防止モジュール26のリップ部78の孔を通って、背骨
28のそれぞれの基準孔44又は48の中に伸長している、ダ
ウエルピン60A、60B又は60Cによって、位置決めされて
いる。検知器モジュールは、同様に、基準スロット104
から背骨28の基準孔50の中へ伸長している、ダウエルピ
ン60Dによって整合されている。検知器モジュールの孔1
06を通って背骨28のネジ付き孔56の中に伸長しているボ
ルト110が、各々のモジュール24を背骨28に確実に固定
しており、一方、散乱防止モジュールは、4つのボルト
(図示せず)によって、背骨に固定されている。このモ
ジュール型のアセンブリは、図5及び図6に示されてい
る。
と、各々の散乱防止モジュール26の平坦面72、及び、各
々の検知器24の平坦面98が、背骨の基準面40に着座す
る。各々の散乱防止モジュールは、その基準孔80を通っ
て一次基準孔44の中に伸長している、ダウエルピン60A
によって位置決めされ、また、その基準スロット84を通
って背骨の基準孔48の中に伸長している、ダウエルピン
60Cによって整合される。拡大された孔82を貫通するダ
ウエルピン60Bは、モジュール26に接触しない。各々の
検知器モジュール24は、その対応する基準孔102から、
散乱防止モジュール26のリップ部78の孔を通って、背骨
28のそれぞれの基準孔44又は48の中に伸長している、ダ
ウエルピン60A、60B又は60Cによって、位置決めされて
いる。検知器モジュールは、同様に、基準スロット104
から背骨28の基準孔50の中へ伸長している、ダウエルピ
ン60Dによって整合されている。検知器モジュールの孔1
06を通って背骨28のネジ付き孔56の中に伸長しているボ
ルト110が、各々のモジュール24を背骨28に確実に固定
しており、一方、散乱防止モジュールは、4つのボルト
(図示せず)によって、背骨に固定されている。このモ
ジュール型のアセンブリは、図5及び図6に示されてい
る。
本発明の上記構造においては、検知器をX線源から均
一に且つ等間隔に離隔して配置し、散乱防止プレートを
各検知器の間に位置させてこれら検知器を隠さないよう
に整列させるという目的は、以下の各要素によって達成
される。すなわち、第一に、従来技術のように、取り付
け孔をディスクの取り付け構造の半径方向に位置決めす
るのではなく、円弧状の背骨に、該円弧の軸線に対して
直交する平坦面を設ける。これにより、円弧の軸線に対
して平行な孔を設けることのできる、データム面すなわ
ち基準面が提供される。上述の平坦面は、基準孔をかな
り正確に位置決めすることができる。
一に且つ等間隔に離隔して配置し、散乱防止プレートを
各検知器の間に位置させてこれら検知器を隠さないよう
に整列させるという目的は、以下の各要素によって達成
される。すなわち、第一に、従来技術のように、取り付
け孔をディスクの取り付け構造の半径方向に位置決めす
るのではなく、円弧状の背骨に、該円弧の軸線に対して
直交する平坦面を設ける。これにより、円弧の軸線に対
して平行な孔を設けることのできる、データム面すなわ
ち基準面が提供される。上述の平坦面は、基準孔をかな
り正確に位置決めすることができる。
第二に、各々のモジュールは、穿孔された基準孔の中
に挿入された2つのピンによって適正な位置に保持され
る。一方のピンだけが、モジュールの円形孔の中に入っ
ており、他方のピンは、上記円形孔に整合する細長いス
ロットの中に入っている。機械設計の技術分野では、上
記孔及びスロットの配置は、2つの円形孔の配置の代わ
りとして許容されている。
に挿入された2つのピンによって適正な位置に保持され
る。一方のピンだけが、モジュールの円形孔の中に入っ
ており、他方のピンは、上記円形孔に整合する細長いス
ロットの中に入っている。機械設計の技術分野では、上
記孔及びスロットの配置は、2つの円形孔の配置の代わ
りとして許容されている。
最後に、散乱防止モジュールを位置決めするピンはま
た、3つの関連する検知器モジュールの中の2つをも位
置決めする。従って、関連する検知器及び散乱防止プレ
ートは、同じ一次基準位置にキー止めされ、各々の散乱
防止モジュールは、背骨の一次基準孔にキー止めされ
る。従って、穿孔された基準孔の精度は、公差が蓄積す
ることなく、モジュールの定置に伝達される。その結
果、個々のモジュールが製造される精度は、背骨の上に
8つの散乱防止モジュール及び24の検知器モジュールを
組み立てる際に、極めて小さくなる。従って、1又はそ
れ以上のモジュールの現場での交換が、可能となり、そ
の際に、アレイ全体を再整合させる必要はない。最後
に、両方のモジュール24、26は、ストック材料から容易
に形成することができ、散乱防止プレート及び孔の位置
決めは、標準的な機械工具の直交座標系を用いて、容易
に行うことができる。
た、3つの関連する検知器モジュールの中の2つをも位
置決めする。従って、関連する検知器及び散乱防止プレ
ートは、同じ一次基準位置にキー止めされ、各々の散乱
防止モジュールは、背骨の一次基準孔にキー止めされ
る。従って、穿孔された基準孔の精度は、公差が蓄積す
ることなく、モジュールの定置に伝達される。その結
果、個々のモジュールが製造される精度は、背骨の上に
8つの散乱防止モジュール及び24の検知器モジュールを
組み立てる際に、極めて小さくなる。従って、1又はそ
れ以上のモジュールの現場での交換が、可能となり、そ
の際に、アレイ全体を再整合させる必要はない。最後
に、両方のモジュール24、26は、ストック材料から容易
に形成することができ、散乱防止プレート及び孔の位置
決めは、標準的な機械工具の直交座標系を用いて、容易
に行うことができる。
背骨28の両端部をディスク10に取り付けるためのサポ
ート30の適宜な構造が、図7乃至図11、並びに、図12の
一部分解された組立図に示されている。X線源に最も近
いサポート30の端部は、上述の図において、上部すなわ
ち上方に示されている。サポート30の主要な要素は、図
7に示すように、ディスク10にボルト止めされる、サポ
ート本体120、及び、その両端部が本体120及び背骨28に
ボルト止めされる、薄い可撓性の取付プレート122であ
る。
ート30の適宜な構造が、図7乃至図11、並びに、図12の
一部分解された組立図に示されている。X線源に最も近
いサポート30の端部は、上述の図において、上部すなわ
ち上方に示されている。サポート30の主要な要素は、図
7に示すように、ディスク10にボルト止めされる、サポ
ート本体120、及び、その両端部が本体120及び背骨28に
ボルト止めされる、薄い可撓性の取付プレート122であ
る。
Bernard M.Gordon,John Dbbs and David Banksの名前
で、本件出願と同時期に出願され、本件譲受人に譲渡さ
れた、本件と同時に係属している米国特許出願(シリア
ルNo.不明:代理人事件番号ANA−44)に記載の理由か
ら、可撓性のプレート122が、3対の剛性面の間に挟ま
れており、これら剛性面の中の5つは、別個のスチフナ
ーすなわち補強材126、128、130、132、134の上にあ
る。図8に最も良く示すように、第1の補強材126は、
プレート122の上方部分をボルト125によって本体120に
対して保持している。一対の補強材128、130を、補強材
128、及び、プレート122を通って補強材130の中に伸長
するボルト129によって、プレート122の中間部分の両側
部に取り付けることができる。同様に、一対の補強材13
2、134を、ボルト133によって、プレート122の下方部分
の両側部に固定することができる。図7及び図8に最も
良く示すように、補強材132、134及びプレート122の中
心を通って背骨28のネジ付き孔の中に伸長している追加
のボルト135が、背骨28を補強部材134に、従って、サポ
ート30に堅固に固定している。
で、本件出願と同時期に出願され、本件譲受人に譲渡さ
れた、本件と同時に係属している米国特許出願(シリア
ルNo.不明:代理人事件番号ANA−44)に記載の理由か
ら、可撓性のプレート122が、3対の剛性面の間に挟ま
れており、これら剛性面の中の5つは、別個のスチフナ
ーすなわち補強材126、128、130、132、134の上にあ
る。図8に最も良く示すように、第1の補強材126は、
プレート122の上方部分をボルト125によって本体120に
対して保持している。一対の補強材128、130を、補強材
128、及び、プレート122を通って補強材130の中に伸長
するボルト129によって、プレート122の中間部分の両側
部に取り付けることができる。同様に、一対の補強材13
2、134を、ボルト133によって、プレート122の下方部分
の両側部に固定することができる。図7及び図8に最も
良く示すように、補強材132、134及びプレート122の中
心を通って背骨28のネジ付き孔の中に伸長している追加
のボルト135が、背骨28を補強部材134に、従って、サポ
ート30に堅固に固定している。
図7及び図12に示すように、総ての検知器が焦点から
同じ距離にあるように、X線源12に向かってあるいはこ
れから離れる方向への、背骨28の半径方向における微調
整は、各々のサポート120の頂部に位置する、レバー14
0、枢動ボール142、及び、ネジ144によって行うことが
できる。レバー140の一端部は、プレート122の矩形孔14
6(図12参照)を通って突出している。ネジ144は、レバ
ー140の他端部を貫通して、本体120の頂部にねじ込まれ
ている。本体120及びレバー140の中に部分的に凹陥して
いるボール142は、支点として作用し、これにより、ネ
ジ144が本体120の中にねじ込まれると、プレート122は
上昇する。反対に、ネジが本体から出ると、プレートは
下降する。ボルト125が貫通しているプレート122の細長
い孔148は、補強材122を確実に固定する前に行われる、
上述のプレートの上下方向の調節を許容する。本体120
の一付のダウエルピン147、並びに、プレート122及び補
強材126の関連するスロット149は、半径方向の整合を確
実にし、各々のスロットの幅は、対応するピンをきっち
りと収容するような寸法になされている。
同じ距離にあるように、X線源12に向かってあるいはこ
れから離れる方向への、背骨28の半径方向における微調
整は、各々のサポート120の頂部に位置する、レバー14
0、枢動ボール142、及び、ネジ144によって行うことが
できる。レバー140の一端部は、プレート122の矩形孔14
6(図12参照)を通って突出している。ネジ144は、レバ
ー140の他端部を貫通して、本体120の頂部にねじ込まれ
ている。本体120及びレバー140の中に部分的に凹陥して
いるボール142は、支点として作用し、これにより、ネ
ジ144が本体120の中にねじ込まれると、プレート122は
上昇する。反対に、ネジが本体から出ると、プレートは
下降する。ボルト125が貫通しているプレート122の細長
い孔148は、補強材122を確実に固定する前に行われる、
上述のプレートの上下方向の調節を許容する。本体120
の一付のダウエルピン147、並びに、プレート122及び補
強材126の関連するスロット149は、半径方向の整合を確
実にし、各々のスロットの幅は、対応するピンをきっち
りと収容するような寸法になされている。
プレート122は、一定の張力すなわちテンションで保
持され、本体121に設けられたスロット151を通ってプレ
ート122の孔152の中に突出している、一対のテンション
レバー150によって作動力を受けた場合に、運動を防止
するようになされている。両方のレバー150は、本体120
及びレバー150を通る共通の枢動ロッド154の上で、スロ
ットの中を上下に枢動する。図10に最も良く示すよう
に、各々のテンションレバー150を駆動するものは、プ
ッシュロッド156と、適宜な数の圧縮ワッシャ158のスタ
ックと、テンションネジ160である。上記圧縮ワッシャ
は、プッシュロッド156に一定の圧力を保持し、従っ
て、限定された運動範囲にわたって、プレート122に一
定のテンションを与える。上記ワッシャの寸法は、必要
とされるテンションの大きさに従って選択され、また、
ワッシャの積み重ねの数は、最終的な調節に必要な運動
範囲を許容するように選択される。
持され、本体121に設けられたスロット151を通ってプレ
ート122の孔152の中に突出している、一対のテンション
レバー150によって作動力を受けた場合に、運動を防止
するようになされている。両方のレバー150は、本体120
及びレバー150を通る共通の枢動ロッド154の上で、スロ
ットの中を上下に枢動する。図10に最も良く示すよう
に、各々のテンションレバー150を駆動するものは、プ
ッシュロッド156と、適宜な数の圧縮ワッシャ158のスタ
ックと、テンションネジ160である。上記圧縮ワッシャ
は、プッシュロッド156に一定の圧力を保持し、従っ
て、限定された運動範囲にわたって、プレート122に一
定のテンションを与える。上記ワッシャの寸法は、必要
とされるテンションの大きさに従って選択され、また、
ワッシャの積み重ねの数は、最終的な調節に必要な運動
範囲を許容するように選択される。
最後に、背骨28の接線方向の非常に細かい調節、従っ
て、検知器アセンブリの接線方向の非常に細かい調節を
行うために、本体120の中心線に沿うネジ付き孔の中の
調節ボルト162を補強材132に向かって押し付ける。補強
材132の位置を安定化するために、一対のテンションボ
ルト164(図7及び図10参照)を補強材132、134の中に
ねじ込む。各々のボルト164の頭部と胴部すなわち本体1
20との間に設けられる圧縮ワッシャ166のスタック(集
合体)が、ボルト162によって調節された背骨28の位置
を、その微細調節範囲にわたって、一定のテンションで
保持する役割を果たす。従って、サポート30は、必要と
される調節機能で、背骨28を堅固に確実に位置決めす
る。
て、検知器アセンブリの接線方向の非常に細かい調節を
行うために、本体120の中心線に沿うネジ付き孔の中の
調節ボルト162を補強材132に向かって押し付ける。補強
材132の位置を安定化するために、一対のテンションボ
ルト164(図7及び図10参照)を補強材132、134の中に
ねじ込む。各々のボルト164の頭部と胴部すなわち本体1
20との間に設けられる圧縮ワッシャ166のスタック(集
合体)が、ボルト162によって調節された背骨28の位置
を、その微細調節範囲にわたって、一定のテンションで
保持する役割を果たす。従って、サポート30は、必要と
される調節機能で、背骨28を堅固に確実に位置決めす
る。
断層撮影装置用の検知器アセンブリのモジュール構造
を上に説明し、そのような構造は、検知器及び散乱防止
プレートの位置決め及び整合を、安い製造コスト及び組
み立てコストで、正確に行うことができ、また、検知器
及び散乱防止プレートを共に、現場で容易に交換するこ
とをサポートすることを述べた。そのような構造の1つ
だけを説明したが、当業者は、添付の請求の範囲に記載
の本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、他の構
造を考えることができよう。
を上に説明し、そのような構造は、検知器及び散乱防止
プレートの位置決め及び整合を、安い製造コスト及び組
み立てコストで、正確に行うことができ、また、検知器
及び散乱防止プレートを共に、現場で容易に交換するこ
とをサポートすることを述べた。そのような構造の1つ
だけを説明したが、当業者は、添付の請求の範囲に記載
の本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、他の構
造を考えることができよう。
本発明の範囲から逸脱することなく、幾つかの変更を
上述の装置に加えることができるので、上述の記載並び
に添付の図面に示す総ての事項は、例示的なものであっ
て、制限的なものではないことを理解する必要がある。
上述の装置に加えることができるので、上述の記載並び
に添付の図面に示す総ての事項は、例示的なものであっ
て、制限的なものではないことを理解する必要がある。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 米国特許4338521(US,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) A61B 6/03
Claims (30)
- 【請求項1】X線装置において、X線源と共に使用され
るX線検知器アセンブリ用のモジュール構造であって、 基準面と、該基準面に対して固定されていて、前記X線
源が発生するX線を検知するための1又はそれ以上の検
知器とを含む、少なくとも1つの検知器モジュールと、 第2の基準面と、該第2の基準面に対して固定されてい
て、前記検知器が受け取る散乱されたX線の量を減少さ
せるための手段とを含む、少なくとも1つの散乱防止モ
ジュールと、 前記検知器モジュールおよび散乱防止モジュールを支持
するために前記X線装置に固定されるようになされてた
ベースサポート手段であって、ベース基準面を有すると
共に前記各々のモジュールを前記ベースサポート手段及
びその他のモジュールに対して適正に位置決めして固定
するための位置決め手段を含むベースサポート手段とを
有するモジュール構造であって、 前記位置決め手段は、前記ベース基準面を通して伸びる
と共に前記ベースサポート手段に対して固定された3本
のピンであって、前記ピンの内第1のピンは前記検知器
モジュールと協同し、第2のピンは前記散乱防止モジュ
ールと協同し、第3のピンは前記検知器モジュール及び
前記散乱防止モジュールの両方に対して共通のピンとし
て協同し、これにより前記モジュールの各々の基準面は
前記ベース基準面に関して相互に対向することとなると
共に、前記検知器モジュール及び散乱防止モジュール
は、前記モジュール及びベースサポート手段とが前記X
線装置に固定される際にお互い及び前記X線源に対して
正確に位置決めされることを特徴とするモジュール構
造。 - 【請求項2】前記各々の基準面は、平坦であることを特
徴とする請求項1に記載のモジュール構造。 - 【請求項3】前記検知器モジュール及び前記散乱防止モ
ジュールの各々は、前記第3のピンをきっちりと収容す
るための1つの穴と、長さよりも小さな幅を有するスロ
ットとを備えており、前記スロットの長さは前記穴に整
合されており、前記スロットの幅は前記第1及び第2の
ピンそれぞれをきっちりと収容する寸法になされてお
り、一方で前記スロットの長さは前記第1及び第3のピ
ンの間及び前記第2及び第3のピンの間の許容すること
を特徴とする請求項1記載のモジュール構造。 - 【請求項4】前記モジュールの一方はその基準面を延長
させるリップ部を有しており、前記モジュールの他方は
前記リップ部を収容するための凹部を有しており、これ
により、前記両モジュールが前記位置決め手段によって
前記ベースサポート手段に固定された時に、前記両モジ
ュールの基準面が同一平面にあると共に前記ベースサポ
ート手段の基準面に接触するようになされていることを
特徴とする請求項1記載のモジュール構造。 - 【請求項5】前記構造は、複数の検知器モジュールと複
数の散乱防止モジュールとを含むことを特徴とする請求
項1記載のモジュール構造。 - 【請求項6】前記位置決め手段は、前記各々のモジュー
ルを前記ベースサポート手段に対して位置決めするため
の2つのピンを含んでおり、前記検知器モジュールの中
の2つは対応する1つの散乱防止モジュールを支持する
ために使用される2つのピンをそれぞれ共有しているこ
とを特徴とする請求項5記載のモジュール構造。 - 【請求項7】前記ベースサポート手段を前記X線装置に
固定するための取り付け手段をさらに含むことを特徴と
する請求項6記載のモジュール構造。 - 【請求項8】前記取り付け手段は、前記X線源に対して
前記ベースサポート手段の位置を調節するための手段を
含むことを特徴とする請求項7記載のモジュール構造。 - 【請求項9】断層撮影装置の回転ディスク上でX線源と
対向して支持される、X線検知アセンブリ用のモジュー
ル構造であって、 (A)実質的に平坦な基準面と、及び該基準面にこの基
準面に対して略直角に設けられる複数の基準孔とを有す
る背骨と、 (B)前記背骨に取り付けられる複数の散乱防止モジュ
ールであって、 (a)前記背骨の基準面に接触するための実質的に平坦
な散乱防止モジュール基準面を形成する手段と、 (b)前記散乱防止モジュール基準面に対して直角な、
円形な散乱防止モジュール基準孔と、 (c)前記散乱防止モジュール基準面に対して直角であ
って前記円形の基準孔に整合する細長い寸法を有する散
乱防止モジュール基準スロットと、 (d)前記散乱防止モジュール基準孔、基準スロット及
び基準面に対して正確に位置決めされ且つ配向された複
数の散乱防止プレートとを各々有している散乱防止モジ
ュールと、 (C)前記背骨に取り付けられる複数の検知器モジュー
ルであって、 (a)前記背骨の基準面に接触するための実質的に平坦
な検知器モジュール基準面を形成する手段と、 (b)前記検知器モジュール基準面に対して直角な、円
形の検知器モジュール基準孔と、 (c)前記検知器モジュール基準面に対して直角であっ
て前記円形の基準孔に整合する細長い寸法を有する検知
器モジュール基準スロットと、 (d)前記検知器モジュール基準孔、基準スロット及び
基準面に対して正確に位置決めされ且つ配向された複数
のX線検知器とを各々有している検知器モジュールと、 (D)前記背骨を前記断層撮影装置に取り付けるための
背骨取り付け手段と、 (E)複数のダウエルピンと、 (F)前記散乱防止モジュール及び前記検知モジュール
の各々の前記背骨の基準面上の位置は、それぞれ対応す
る各々の円形の基準孔の中にそれぞれ位置する前記ダウ
エルピンの1つ、及び、背骨の基準孔によって、決定さ
れ、 (G)前記各々の散乱防止モジュール及び検知モジュー
ルの整合は、それぞれの基準スロットの各々の中にある
前記ダウエルピンの1つ、及び、背骨の基準孔によっ
て、決定されることを特徴とする、モジュール構造。 - 【請求項10】前記散乱防止モジュール基準孔及び基準
スロットは、前記X線源を中心とする円の円弧上に沿っ
て配置されることを特徴とする請求項9記載のモジュー
ル構造。 - 【請求項11】散乱防止モジュール、及び第1の検知器
モジュールの両方の位置は、前記ダウエルピン、及び、
背骨の基準孔によって決定されることを特徴とする請求
項9記載のモジュール構造。 - 【請求項12】前記複数の背骨の基準孔が、互いに関し
て正確に位置決めされた、第1の複数の一次基準孔と、 各々の対応する基準孔に関連してこれら基準孔に関して
正確に位置決めされた、第2の複数の二次基準孔とを備
えており、 前記各々の散乱防止モジュールの位置は、前記一次基準
孔の中の前記ダウエルピンの1つによって決定され、 前記各々の散乱防止モジュールの整合は、前記二次基準
孔の中の前記ダウエルピンの1つによって決定されるこ
とを特徴とする、請求項11記載のモジュール構造。 - 【請求項13】第2の検知器モジュールの位置を決定す
る、前記ダウエルピン及び前記背骨の基準孔は、前記第
1及び第2の検知器モジュールと共に前記散乱防止モジ
ュールの整合も決定することを特徴とする請求項11記載
のモジュール構造。 - 【請求項14】前記第1及び第2の検知器モジュールの
間に位置する第3の検知器モジュールの配置を決定する
前記ダウエルピンは、前記散乱防止モジュール基準面に
対して垂直な、必要以上に大きくされた散乱防止モジュ
ール基準孔と接触することなくこれを貫通していること
を特徴とする請求項13記載のモジュール構造。 - 【請求項15】前記検知器モジュールの数は、前記散乱
防止モジュールの数よりも多いことを特徴とする請求項
14記載のモジュール構造。 - 【請求項16】前記取り付け手段は、前記背骨の両端
部、及び、前記断層撮影装置の前記ディスクに取り付け
られていることを特徴とする請求項9記載のモジュール
構造。 - 【請求項17】前記取り付け手段は、前記背骨の各々の
端部と前記X線源との間の距離を微調整するための、第
1の調整手段を備えていることを特徴とする請求項16記
載のモジュール構造。 - 【請求項18】前記取り付け手段が、前記X線源に対す
る前記背骨の角度方向の回転を微調整するための、第2
の調整手段を備えていることを特徴とする請求項16記載
のモジュール構造。 - 【請求項19】前記モジュール及び前記ベースサポート
手段が前記X線装置に固定される際には、前記第1及び
第3のピンは前記X線源に対してほぼ整列しており、前
記第2及び第3のピンは前記X線源を中心とする円の円
弧に沿って配置されることを特徴とする請求項4記載の
モジュール構造。 - 【請求項20】X線装置におけるX線源と共に用いられ
るX線検知器アセンブリであって、 少なくとも1つの検知器モジュールと少なくとも1つの
散乱防止モジュールが、前記検知器及び散乱防止モジュ
ールを支持するために前記X線装置に固定されるために
適合した、ベースサポート手段の略平坦なベース基準面
上に整列して配置される、モジュール構造において、そ
の改良された構造であって、 (a)前記ベース基準面に対して平行且つ接触する略平
坦な検知器基準面を各々有する、前記検知器モジュール
と、 (b)前記ベース基準面に対して平行且つ接触する略平
坦な検知器基準面を各々有する、前記散乱防止モジュー
ルと、 (c)前記両モジュールを各々適当な位置に位置決めし
且つ前記ベースサポート手段に対して固定する検知器モ
ジュール位置決め手段及び散乱防止モジュール位置決め
手段に対して整列し且つ一致するために用いられ、これ
により前記モジュールの各々の基準面は前記ベース基準
面に関して相互に対向することとなると共に、前記検知
器モジュール及び散乱防止モジュールは、前記モジュー
ル及びベースサポート手段とが前記X線装置に固定され
る際にお互い及び前記X線源に対して正確に位置決めさ
れる、ベース位置決め手段を有する前記ベース基準面
と、 (d)前記検知器モジュール及び前記散乱防止モジュー
ルを前記ベースサポート手段に固定する固定手段と、 (e)前記検知器基準面に対して略垂直に延在し且つ前
記X線源を通る平面において整列されている第1及び第
2の検知器モジュール位置決め開口を、それぞれ有する
第1及び第2の検知器モジュール位置決め手段と、 (f)前記散乱防止基準面に対して略垂直に延在し且つ
前記X線源と一致する中心点を有する円の円弧に沿って
配置されている第1及び第2の散乱防止モジュール位置
決め開口を、それぞれ有する第1及び第2の散乱防止モ
ジュール位置決め手段とを有すると共に、 前記ベース位置決め手段は、前記ベース基準面に対して
垂直に延在するベース位置決め開口を有する構造であっ
て、 さらに、前記開口に挿入されて、前記両モジュール及び
前記ベースサポート手段を前記X線装置に固定した際
に、前記検知器モジュール及び前記散乱防止モジュール
を互いに及び前記X線源に対して正確に位置決めするた
めのピンを有することを特徴とする有することを特徴と
するモジュール構造。 - 【請求項21】各々の前記検知器モジュールは、前記散
乱防止モジュールと協同するようにに適合し、これによ
り検知器モジュール位置決め開口の1つは前記ピンの1
つを共通にして受けるように前記散乱防止モジュール位
置決め開口と整列することを特徴とする請求項20記載の
モジュール構造。 - 【請求項22】前記各々のモジュールの開口は、前記共
通のピンをきつく収容するための第1の円形孔と、長さ
よりも小さな幅を有するスロットとを有しており、前記
スロットの長さは前記第1の円形孔に整合されており、
前記スロットの幅は対応する前記ピンの第2及び第3の
ものをきっちりと収容する寸法となされており、一方前
記スロットの長さは前記共通ピン及び対応する前記第2
及び第3のピンの間の寸法誤差を許容することを特徴と
する請求項21記載の構造。 - 【請求項23】X線装置において、X線源と共に使用さ
れるX線検知器アセンブリ用のモジュール構造であっ
て、 基準面と、該基準面に対して固定されていて、前記X線
源が発生するX線を検知するための1又はそれ以上の検
知器とを含む、少なくとも1つの検知器モジュールと、 第2の基準面と、該第2の基準面に対して固定されてい
て、前記検知器が受け取る散乱されたX線の量を減少さ
せるための手段とを含む、少なくとも1つの散乱防止モ
ジュールと、 ベース基準面を有すると共に前記各々のモジュールを前
記ベースサポート手段及びその他のモジュールに対して
適正に位置決めして固定するための位置決め手段を含む
ベースサポート手段とを有し、これにより前記モジュー
ルの各々の基準面は前記ベース基準面に関して相互に対
向することとなると共に、前記検知器モジュール及び散
乱防止モジュールは、前記モジュール及びベースサポー
ト手段とが前記X線装置に固定される際にお互い及び前
記X線源に対して正確に位置決めされる、前記検知器モ
ジュールおよび散乱防止モジュールを支持するために前
記X線装置に固定されるようになされたベースサポート
手段とを有し、 前記モジュールの一方はその基準面を延長するリップを
有し、前記モジュールの他方は前記リップを収容するた
めの凹部を有し、これにより前記モジュールが前記位置
決め手段によって前記ベース基準面に対して固定される
際に、前記モジュールの基準面は平坦となり且つ前記ベ
ースサポート手段の基準面に接触することを特徴とする
モジュール構造。 - 【請求項24】複数の前記検知器モジュール及び複数の
前記散乱防止モジュールを含むことを特徴とする請求項
23記載のモジュール構造。 - 【請求項25】前記位置決め手段は、前記モジュールの
各々を前記ベースサポート手段に対して位置決めするた
めの少なくとも二つの一次ピンを有し、少なくともいく
つかの隣接する検知器モジュールは、対応する散乱防止
モジュールを支持するためにも用いられる二つの隣接す
るピンをそれぞれ分担することを特徴とする請求項24記
載のモジュール構造。 - 【請求項26】断層撮影装置の回転ディスク上でX線源
と対向して支持される、X線検知アセンブリ用のモジュ
ール構造であって、 (A)実質的に平坦な基準面と、及び該基準面にこの基
準面に対して略直角に設けられる複数の基準孔とを有す
る背骨と、 (B)前記背骨に取り付けられる複数の散乱防止モジュ
ールであって、 (a)前記背骨の基準面に接触するための実質的に平坦
な基準面を形成する手段と、 (b)前記散乱防止モジュール基準面に対して直角な、
円形の基準孔と、 (c)前記散乱防止モジュール基準面に対して直角であ
って前記円形の基準孔に整合する細長い寸法を有する基
準スロットと、 (d)前記基準孔、基準スロット及び基準面に対して正
確に位置決めされ且つ配向された複数の散乱防止プレー
トとを各々有している散乱防止モジュールと、 (C)前記背骨に取り付けられる、その数が前記散乱防
止モジュールの数より多い、複数の検知器モジュールで
あって、 (a)前記背骨の基準面に接触するための実質的に平坦
な基準面を形成する手段と、 (b)前記検知器モジュール基準面に対して直角な、円
形の基準孔と、 (c)前記検知器モジュール基準面に対して直角であっ
て前記円形の基準孔に整合する細長い寸法を有する基準
スロットと、 (d)前記基準孔、基準スロット及び基準面に対して正
確に位置決めされ且つ配向された複数のX線検知器とを
各々有している検知器モジュールと、 (D)前記背骨を前記断層撮影装置に取り付けるための
背骨取り付け手段と、 (E)複数のダウエルピンと、 (F)前記散乱防止モジュール及び前記検知モジュール
の各々の前記背骨の基準面上の位置は、それぞれ対応す
る各々の円形の基準孔の中にそれぞれ位置する前記ダウ
エルピンの1つ、及び、背骨の基準孔によって、決定さ
れ、 (G)前記各々の散乱防止モジュール及び検知モジュー
ルの整合は、それぞれの基準スロットの各々の中にある
前記ダウエルピンの1つ、及び、背骨の基準孔によっ
て、決定されることを特徴とする、モジュール構造。 - 【請求項27】断層撮影装置の回転ディスク上でX線源
と対向して支持される、X線検知アセンブリ用のモジュ
ール構造であって、 (A)実質的に平坦な基準面と、及び該基準面にこの基
準面に対して略直角に設けられる複数の基準孔とを有す
る背骨と、 (B)前記背骨に対して少なくとも二つの配置で、各々
が取り付けられる複数の散乱防止モジュールであって、 (a)前記背骨の基準面に接触するための実質的に平坦
な散乱防止モジュール基準面を形成する手段と、 (b)前記散乱防止モジュール基準面に対して直角であ
り、これにより前記少なくとも二つの配置の一方を定義
する、円形の散乱防止モジュール基準孔と、 (c)前記散乱防止モジュール基準面に対して直角であ
って前記円形の散乱防止モジュール基準孔に略整合する
細長い寸法を有し、これにより前記少なくとも二つの配
置の他の一方を定義する、散乱防止モジュール基準スロ
ットと、 (d)前記散乱防止モジュール基準孔、基準スロット及
び基準面に対して正確に位置決めされ且つ配向された複
数の散乱防止プレートとを各々有している散乱防止モジ
ュールと、 (C)前記背骨に取り付けられる複数の検知器モジュー
ルであって、 (a)前記背骨の基準面に接触するための実質的に平坦
な検知器モジュール基準面を形成する手段と、 (b)前記検知器モジュール基準面に対して直角な、円
形の検知器モジュール基準孔と、 (c)前記検知器モジュール基準面に対して直角であっ
て前記円形の基準孔に略整合する細長い寸法を有する検
知器モジュール基準スロットと、 (d)前記検知器モジュール基準孔、検知器モジュール
基準スロット及び検知器モジュール基準面に対して正確
に位置決めされ且つ配向された複数のX線検知器とを各
々有している検知器モジュールと、 (D)前記背骨を前記断層撮影装置に取り付けるための
背骨取り付け手段と、 (E)複数のダウエルピンと、 (F)前記散乱防止モジュール及び前記検知モジュール
の各々の前記背骨の基準面上の位置は、それぞれ対応す
る各々の円形の基準孔の中にそれぞれ位置する前記ダウ
エルピンの1つ、及び、背骨の基準孔によって、決定さ
れ、 (G)前記各々の散乱防止モジュール及び検知モジュー
ルの整合は、それぞれ対応する基準スロット及び対応す
る背骨基準孔の各々の中に配置された前記ダウエルピン
の1つ、及び、対応する背骨の基準孔によって、決定さ
れることを特徴とする、モジュール構造。 - 【請求項28】散乱防止モジュール及び第1の検知器モ
ジュールの両方の配置は、同じダウエルピン及び背骨基
準孔とによって決定されることを特徴とする請求項27記
載のモジュール構造。 - 【請求項29】前記複数の背骨の基準孔が、互いに関し
て正確に位置決めされた、第1の複数の一次基準孔と、 各々の対応する基準孔に関連してこれら基準孔に関して
正確に位置決めされた第2の複数の二次基準孔とを備え
ており、 前記各々の散乱防止モジュールの位置は、前記一次基準
孔の中の前記ダウエルピンの1つによって決定され、 前記各々の散乱防止モジュールの整合は、前記二次基準
孔の中の前記ダウエルピンの1つによって決定されるこ
とを特徴とする、請求項28記載のモジュール構造。 - 【請求項30】第2の検知器モジュールの位置を決定す
る、前記ダウエルピン及び前記背骨の基準孔は、前記第
1及び第2の検知器モジュールと共に前記散乱防止モジ
ュールの整合も決定することを特徴とする請求項28記載
のモジュール構造。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US19094594A | 1994-02-03 | 1994-02-03 | |
US08/190,945 | 1994-02-03 | ||
US190,945 | 1994-02-03 | ||
PCT/US1995/001303 WO1995020910A1 (en) | 1994-02-03 | 1995-02-03 | Modular detector arrangement for x-ray tomographic system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09508305A JPH09508305A (ja) | 1997-08-26 |
JP3132663B2 true JP3132663B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=22703441
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07520714A Expired - Fee Related JP3132663B2 (ja) | 1994-02-03 | 1995-02-03 | X線断層撮影装置用のモジュール型検知器構造 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5487098A (ja) |
JP (1) | JP3132663B2 (ja) |
KR (1) | KR100194195B1 (ja) |
CN (1) | CN1139872A (ja) |
AU (1) | AU1609795A (ja) |
BR (1) | BR9506680A (ja) |
DE (1) | DE19581491C2 (ja) |
NL (1) | NL194819C (ja) |
WO (1) | WO1995020910A1 (ja) |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1995
- 1995-02-03 JP JP07520714A patent/JP3132663B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-02-03 KR KR1019960704241A patent/KR100194195B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-02-03 CN CN95191474A patent/CN1139872A/zh active Pending
- 1995-02-03 AU AU16097/95A patent/AU1609795A/en not_active Abandoned
- 1995-02-03 BR BR9506680A patent/BR9506680A/pt not_active Application Discontinuation
- 1995-02-03 DE DE19581491T patent/DE19581491C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-02-03 NL NL9520008A patent/NL194819C/nl not_active IP Right Cessation
- 1995-02-03 WO PCT/US1995/001303 patent/WO1995020910A1/en active Application Filing
- 1995-05-22 US US08/447,181 patent/US5487098A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU1609795A (en) | 1995-08-21 |
DE19581491T1 (de) | 1997-06-19 |
NL194819B (nl) | 2002-12-02 |
US5487098A (en) | 1996-01-23 |
JPH09508305A (ja) | 1997-08-26 |
BR9506680A (pt) | 1997-09-09 |
CN1139872A (zh) | 1997-01-08 |
WO1995020910A1 (en) | 1995-08-10 |
NL9520008A (nl) | 1996-12-02 |
KR100194195B1 (ko) | 1999-06-15 |
NL194819C (nl) | 2003-04-03 |
DE19581491C2 (de) | 1999-11-11 |
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