JPH01284746A - 調節可能なスリット状コリメータを有するx線装置 - Google Patents

調節可能なスリット状コリメータを有するx線装置

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JPH01284746A
JPH01284746A JP1067765A JP6776589A JPH01284746A JP H01284746 A JPH01284746 A JP H01284746A JP 1067765 A JP1067765 A JP 1067765A JP 6776589 A JP6776589 A JP 6776589A JP H01284746 A JPH01284746 A JP H01284746A
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JP
Japan
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collimator
ray
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subject
slat
Prior art date
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Pending
Application number
JP1067765A
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English (en)
Inventor
Joannes L G Hermens
ヨハネス・レオナルドゥス・ヘラルドゥス・ヘルメンス
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • G21K1/04Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、被検体を照射するX線装置ビームを発生する
X線源と、被検体を通過したX線を検出する検出装置と
、調節可能な厚さの扇状ビームを得るようにX線ビーム
をコリメートするためにX線源と被検体の間に配設され
たコリメータとを有するX線装置に関するものである。
(従来の技術) この種のX線装置は米国特許明細書筒4,419,76
4号より知られている。
パノラマ映像をつくる装置であるこの公知のX線装置で
は、被検体例えば患者は扇状X線ビームで照射される。
X線源に対向して、患者の身体を通過した後のX線ビー
ムを検出する検出手段が配設されている。この検出手段
はX緑感光フィルムとして示されている。患者の照射さ
れるスライスの厚さは、検査の面に直角な方向のX線ビ
ームのコリメートの程度によって決まる。コリメートの
ために、X線吸収材でつくられたトラニオンの形のコリ
メータがX線源近くに配設され、このトラニオンは、軸
方向に延在するスリットを有する。
X線源より出たX線ビームは、トラニオンをその縦軸の
まわりに回すことによって調節可能な厚さにコリメート
される。
(発明が解決しようとする課題) この種の構造は、コリメータの縁が簡単に損傷されて不
均一な厚さのビームを生じ、またX線ビームの両側のコ
リメートがX線源より異なる距離で起き、したがってX
線ビームの非対称を生じるという欠点を有する。
本発明は、構造が簡単で、可動部分が少なく、X線ビー
ムの両側で対称的にコリメートし、機械的な損傷を受は
難いコリメータを有するX線装置を得ることを目的とす
る。
(課題を解決するための手段) 前記の目的を達成するために、本発明は、冒頭に記載し
た種類のX線装置において、コリメータは、反射方向に
回動可能な2つのコリメータスラット(collima
tor 5lat)を有し、各コリメータスラットのコ
リメート側にはX線吸収材が設けられたことを特徴とす
る。コリメータスラットは、検査の面に垂直に、背中合
せに位置する円形通路上の位置を占めることができるの
で、検査の面に垂直な方向のX線の寸法すわなち映像を
つくられる被検体の厚さを再現可能に正確に調節するこ
とができる。例えば歯車機構によるコリメータスラット
の機械的な結合は、コリメータスラットが適正に位置さ
れていれば、コリメータスリットの調節がX線ビームの
両側で対称的であることを確実にする。X線吸収材を例
えば鉛青銅またはタングステンの層の形で設けることが
できる。
本発明のX線装置の好ましい実施態様では、X線吸収材
の丸いバーがコリメータスラットのコリメート側に固定
される。例えば鉛青銅、タングステンまたはその他の重
金層より成るこのバーは、例えばプレス、溶接または接
着のような接合技術によってコリメータスラットに固定
される。鋭い縁がなくなるので、バーは殆んど機械的な
損傷を受けることがない。
本発明の別の好ましい実施態様では、コリメータスラッ
トは多数の別個の位置にロックされることができる。こ
のようにして、スリットの正確に再現可能な調節が得ら
れる。
本発明の更に別の好ましい実施態様では、コリメータス
ラットは、最小スリット開口に対して両方の側に移動さ
れることができる。このようにして、スリット開口の連
続した大きさの2つの位置間のコリメータの角度移動を
、コリメータスラットが一方の側だけに回動可能な場合
よりも大きくすることができ、したがってロック装置の
構造が簡単になる。この実施態様は、設計の観点から、
コリメータで占められるスペースに厳密な要件が課せら
れない場合に有利に用いられる。
本発明によるX線装置は特に、被検体のまわりを一緒に
回転する、X線源とこのX線源に対向して設けられた検
出装置とを有し、更に、前記のX線源および検出装置と
一緒に回転し且つ扇状X線ビームの厚さを調節する役を
するコリメータを有するコンピュータトモグラフィとし
て構成される。
本発明のコリメータを使用すると、X線ビームの厚さを
正確且つ再現可能に調節することができるが、この調節
は、復元されるX線像の品質に対し決定的なものである
本発明によるX線装置の別の特別な実施態様では、装置
は、厚さの薄い扇状X線ビームによって被検体を種々の
方向から照射するために該被検体の縦方向と直交する軸
のまわりに回動可能なX線源を有し、更に、被検体を通
過したX線を検出するためにX線源に対向して配設され
た検出器の列と、X線ビームの厚さを調節するためにX
線源近くに配設され且つこのX線源と一緒に回るコリメ
ータとを有するスリット−イメージング装置として構成
される。スリット−イメージング装置それ自体は欧州特
許明細書第0162512号により知られている。X線
源が検査を受ける患者の縦方向に垂直に延在する軸のま
わりに回るので、検査を受ける患者の多数の連続したラ
イン状投影像が得られる。この投影像の幅はX線ビーム
の厚さによって決まる。本発明のコリメータによるコリ
メートによって、正確に調節可能で再現性ある厚さを有
する扇状X線ビームを得ることができる。
(実施例) 以下に本発明を添付の図面を参照して詳しく説明する。
第1図は、歯車機構3を介して電動機4で駆動すること
のできるコリメーションシャフト2を有するコリメータ
のフレーム1を示す。電動機4のシャフトの角回転の影
響を受けて、コリメータスラット5が所定角度だけ反対
方向に回動され、このためコリメータスラットのX線吸
収縁6は互に近づくか離間するように動かされる。
第2図はコリメータスラット5の2つの位置を示す。角
回転θが増すにつれて、スリット開口の幅dは、角回転
θがOになる最小スリット開口から増加する。コリメー
タスラット5の端には、例えば鉛青銅またはタングステ
ンのようなX線吸収材料の丸いバー6が設けられている
第3図はロック装置7をより詳しく示したものである。
ばね9は、コリメータスラットの1つのシャフトに取付
けられたはめ歯車11のくぼみ10の1つにつめ8を押
込む。その結果、スラット5はコリメーションシャフト
2の角回転に対応した多数の位置を占めることができ、
この場合つめ8は夫々のくぼみ10と係合する。
第4図は本発明のコリメータをコンピュータトモグラフ
ィ装置12に用いた場合を示したもので、この装置の次
のような構成要素、すなわちX線源13、駆動機構15
により被検体例えば患者に対するスペース18の周囲を
散乱放射線グリッド16および検出器列17と一緒に回
転可能なコリメータ14が図示されている。検出器列1
7の出力信号はコンピュータ20により復元され、テレ
ビジョンモニタ20上に表示される映像を形成すること
ができる。コリメータは、スリットの長手方向が図の平
面内にありまたスリットは図の平面に直角に延在するよ
うに配設され、このため所望の厚さの扇状X線ビーム2
2に調節することができる。
第5図に略図的に示したX線装置はスリット−イメージ
ング(slit−imaging)装置である。X線源
30は、絞り(diaphragm)31および検出装
置32と一緒に、図の平面に垂直に延在する軸33のま
わりに回動することができる。被検体34は種々の角度
θで照射されることができる。図には3つの位置が示さ
れている。コリメータを用いて、扇状X線ビームの厚さ
を正確に調節し、必要な解像度に合わせることができる
。第5図では、扇状Xビームの面すなわちコリメータの
スリットの長手方向と検出装置32の検出器の列の長手
方向とは図の平面に垂直に延在している。扇状ビームの
厚さすなわちコリメータのスリットの幅方向は図の平面
内にある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のコリメータの好ましい一実施態様のス
リット方向にとった断面図、 第2図は異なるスリット開口に対するコリメータの略側
面図、 第3図はコリメータのロック装置の側面図、第4図は本
発明のコリメータを有するコンピュータトモグラフィ装
置の路線図、 第5図は本発明のコリメータを有するスリット−イメー
ジング装置の路線図である。 1・・・フレーム     2・・・コリメータシャフ
ト3・・・歯車機構     4・・・電動機5・・・
コリメータスラット 6・・・X線吸収縁    7・・・ロック装置8・・
・つめ       9・・・ばね10・・・くぼみ 
     11・・・はめ歯車13、30・・・X線源
    14・・・コリメータ15・・・駆動機構  
   16・・・散乱放射線グリッド17・・・検出器
列     31・・・絞り32・・・検出器

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検体を照射するX線ビームを発生するX線源と、
    被検体を通過したX線を検出する検出装置と、調節可能
    な厚さの扇状ビームを得るようにX線ビームをコリメー
    トするためにX線源と被検体の間に配設されたコリメー
    タとを有するX線装置において、コリメータは、反射方
    向に回動可能な2つのコリメータスラットを有し、各コ
    リメータスラットのコリメート側にはX線吸収材が設け
    られたことを特徴とするX線装置。 2、X線吸収材の丸いバーがコリメータスラットのコリ
    メート側に固定された請求項1記載のX線装置。 3、コリメータスラットは多数の別個の位置にロック可
    能である請求項1または2記載のX線装置。 4、コリメータスラットは、最小スリット開口に対して
    両方の側に移動されることができる請求項1乃至3の何
    れか1項記載のX線装置。 5、被検体のまわりを一緒に回転する、X線源とこのX
    線源に対向して設けられた検出装置とを有し、更に、前
    記のX線源および検出装置と一緒に回転し且つ扇状X線
    ビームの厚さを調節する役をするコリメータを有するコ
    ンピュータトモグラフィとして構成された請求項1乃至
    4の何れか1項記載のX線装置。 6、厚さの薄い扇状X線ビームによって被検体を種々の
    方向から照射するために該被検体の縦方向と直交する軸
    のまわりに回動可能なX線源を有し、更に、被検体を通
    過したX線を検出するためにX線源に対向して配設され
    た検出器の列と、X線ビームの厚さを調節するためにX
    線源近くに配設され且つこのX線源と一緒に回るコリメ
    ータとを有するスリット−イメージング装置として構成
    された請求項1乃至4の何れか1項記載のX線装置。
JP1067765A 1988-03-24 1989-03-22 調節可能なスリット状コリメータを有するx線装置 Pending JPH01284746A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001008929A (ja) * 1999-06-18 2001-01-16 Siemens Ag X線診断装置

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5485493A (en) * 1988-10-20 1996-01-16 Picker International, Inc. Multiple detector ring spiral scanner with relatively adjustable helical paths
NL8903044A (nl) * 1989-12-12 1991-07-01 Philips Nv Roentgen analyse apparaat met een instelbaar spleetdiafragma.
DE4226861C2 (de) * 1992-08-13 1996-05-02 Siemens Ag Einblendvorrichtung eines Strahlengerätes
US5966202A (en) * 1997-03-31 1999-10-12 Svg Lithography Systems, Inc. Adjustable slit
US6013401A (en) * 1997-03-31 2000-01-11 Svg Lithography Systems, Inc. Method of controlling illumination field to reduce line width variation
US6449340B1 (en) 2000-07-31 2002-09-10 Analogic Corporation Adjustable x-ray collimator
US6396902B2 (en) 2000-07-31 2002-05-28 Analogic Corporation X-ray collimator
US6556657B1 (en) 2000-08-16 2003-04-29 Analogic Corporation X-ray collimator and method of manufacturing an x-ray collimator
US6424697B1 (en) * 2000-12-29 2002-07-23 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Directed energy beam welded CT detector collimators
US6711235B2 (en) * 2002-05-31 2004-03-23 General Electric Cormpany X-ray inspection apparatus and method
US8983024B2 (en) 2006-04-14 2015-03-17 William Beaumont Hospital Tetrahedron beam computed tomography with multiple detectors and/or source arrays
CA2649320C (en) * 2006-04-14 2011-09-20 William Beaumont Hospital Tetrahedron beam computed tomography
US9339243B2 (en) 2006-04-14 2016-05-17 William Beaumont Hospital Image guided radiotherapy with dual source and dual detector arrays tetrahedron beam computed tomography
CN101489477B (zh) * 2006-05-25 2011-08-03 威廉博蒙特医院 用于体积图像引导的适应性放射治疗的实时、在线和离线治疗剂量追踪和反馈过程
US8670523B2 (en) 2010-01-05 2014-03-11 William Beaumont Hospital Intensity modulated arc therapy with continuous couch rotation/shift and simultaneous cone beam imaging
US9968310B2 (en) 2014-09-24 2018-05-15 General Electric Company Multi-detector imaging system with x-ray detection
CN108472000A (zh) * 2015-02-06 2018-08-31 通用电气公司 采用x射线检测的多检测器成像系统
CN108508043A (zh) * 2018-06-06 2018-09-07 南京正驰科技发展有限公司 单源双视角安检机

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53149483A (en) * 1977-05-30 1978-12-26 Tanabe Shikou Kikai Seizou Kk Device for supplying and discharging box to and from correcting unit in box fabricating machine
JPS59166267A (ja) * 1983-03-12 1984-09-19 Toyoda Gosei Co Ltd コ−キング管
JPS62696U (ja) * 1985-06-20 1987-01-06

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2331586A (en) * 1941-11-18 1943-10-12 George G Wasisco X-ray shield
US3163762A (en) * 1962-06-08 1964-12-29 Howdon Videx Products Corp X-ray cone
US3947690A (en) * 1974-07-11 1976-03-30 The Machlett Laboratories, Inc. Radiation limiting means
GB1565152A (en) * 1976-11-27 1980-04-16 Prontor Werk Gauthier Gmbh Shieding device for protection of delicate organs during x-ray examination
US4086494A (en) * 1976-12-17 1978-04-25 Malak Stephen P Radiation collimator for use with high energy radiation beams
US4179100A (en) * 1977-08-01 1979-12-18 University Of Pittsburgh Radiography apparatus
US4180737A (en) * 1978-02-06 1979-12-25 General Electric Company X-ray detector
FI64999C (fi) * 1980-09-22 1984-02-10 Instrumentarium Oy Spaltkollimator foer panoramaroentgenavbildningsanordning
FI812954L (fi) * 1981-09-23 1983-03-24 Datex Palomex Instrumentarium Foerfarande och anordning foer aostadkommande av roentgenografiska skiktbilder
NL8401411A (nl) * 1984-05-03 1985-12-02 Optische Ind De Oude Delft Nv Inrichting voor spleetradiografie.
NL8501795A (nl) * 1985-06-21 1987-01-16 Optische Ind De Oude Delft Nv Inrichting en werkwijze voor spleetradiografie met verschillende roentgenstralingsenergieen.
DE3604935A1 (de) * 1986-02-17 1987-08-20 Siemens Ag Blende mit kontinuierlich veraenderbarer wirksamer blendenoeffnung fuer diffraktometrische messeinrichtungen

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53149483A (en) * 1977-05-30 1978-12-26 Tanabe Shikou Kikai Seizou Kk Device for supplying and discharging box to and from correcting unit in box fabricating machine
JPS59166267A (ja) * 1983-03-12 1984-09-19 Toyoda Gosei Co Ltd コ−キング管
JPS62696U (ja) * 1985-06-20 1987-01-06

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001008929A (ja) * 1999-06-18 2001-01-16 Siemens Ag X線診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE68908231T2 (de) 1994-03-03
US4920552A (en) 1990-04-24
DE68908231D1 (de) 1993-09-16
NL8800738A (nl) 1989-10-16
EP0336473B1 (en) 1993-08-11
EP0336473A1 (en) 1989-10-11

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