JP2978238B2 - Ｃｔ装置 - Google Patents
Ｃｔ装置Info
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- JP2978238B2 JP2978238B2 JP2326077A JP32607790A JP2978238B2 JP 2978238 B2 JP2978238 B2 JP 2978238B2 JP 2326077 A JP2326077 A JP 2326077A JP 32607790 A JP32607790 A JP 32607790A JP 2978238 B2 JP2978238 B2 JP 2978238B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、CT装置に係り、特にコンピューティッドト
モグラフィ装置のスキャナにおける測定精度の向上のた
めに好適なCT装置に関する。
モグラフィ装置のスキャナにおける測定精度の向上のた
めに好適なCT装置に関する。
［従来の技術］ 従来の装置は、特開昭56−161039号公報に記載のよう
に、扇形に並べた検出器において、中心領域の検出器の
コルメータスリット幅をその両側の検出器のコリメータ
スリット幅より狭くし、試料の中心領域の放射線透過デ
ータを細かく吸収することにより、高い分解能の断層像
を得るようにしていた。
に、扇形に並べた検出器において、中心領域の検出器の
コルメータスリット幅をその両側の検出器のコリメータ
スリット幅より狭くし、試料の中心領域の放射線透過デ
ータを細かく吸収することにより、高い分解能の断層像
を得るようにしていた。
また、特開昭57−180944号公報に記載のように、放射
線源と試料の間にディスク状のエレメントを設け、エレ
メントには数種のスリットをあけ、ただしスリットの幅
をディスクの位置によって変え、ディスクを回転させる
ことによってスリット幅を変えることができるようにし
た放射線源コリメータが示されている。この従来技術で
は、放射線源コリメータを回転させることにより、通常
は幅広スリットによる低分解能・高速測定をし、測定時
間を犠牲にしてでも高分解能な断層像を必要とするとき
は、ディスクを回転させて幅の狭いコリメータを選択
し、放射線ビームを絞ることにより断層像の分解能を高
めるようにしていた。
線源と試料の間にディスク状のエレメントを設け、エレ
メントには数種のスリットをあけ、ただしスリットの幅
をディスクの位置によって変え、ディスクを回転させる
ことによってスリット幅を変えることができるようにし
た放射線源コリメータが示されている。この従来技術で
は、放射線源コリメータを回転させることにより、通常
は幅広スリットによる低分解能・高速測定をし、測定時
間を犠牲にしてでも高分解能な断層像を必要とするとき
は、ディスクを回転させて幅の狭いコリメータを選択
し、放射線ビームを絞ることにより断層像の分解能を高
めるようにしていた。
［発明が解決しようとする課題］ 前記従来技術は、放射線源または検出器に幅の狭いス
リットのコリメータを設けて試料を透過したΧ線ビーム
を絞るものであり、装置の理論的空間分解能はコリメー
タスリット幅で決まっていた。したがって、高い空間分
解能を得るためは、コリメータのスリット幅を狭くしな
ければならないが、幅の狭いスリットを加工することは
大変むずかしく、コストがかかるという問題がある。ま
た、放射線ビームをコリメータスリットで絞るため、検
出器に入射する放射線量が減少するので、測定値の誤差
が増加する。このため、測定時間を長くしなければなら
ないという問題があった。さらに、像再構成メッシュ上
に断層像を再構成する際に、試料のエッジとメッシュが
完全に一致すれば、コリメータ幅で規定される理論分解
能に極めて近い鮮明な画像が得られるが、実際には完全
に一致するのに困難であり、試料のエッジが二つのメッ
シュにかかるようになる。この場合、断層像において試
料のエッジがボケて再構成されるため、理論的な空間分
解能を達成できないという問題があった。
リットのコリメータを設けて試料を透過したΧ線ビーム
を絞るものであり、装置の理論的空間分解能はコリメー
タスリット幅で決まっていた。したがって、高い空間分
解能を得るためは、コリメータのスリット幅を狭くしな
ければならないが、幅の狭いスリットを加工することは
大変むずかしく、コストがかかるという問題がある。ま
た、放射線ビームをコリメータスリットで絞るため、検
出器に入射する放射線量が減少するので、測定値の誤差
が増加する。このため、測定時間を長くしなければなら
ないという問題があった。さらに、像再構成メッシュ上
に断層像を再構成する際に、試料のエッジとメッシュが
完全に一致すれば、コリメータ幅で規定される理論分解
能に極めて近い鮮明な画像が得られるが、実際には完全
に一致するのに困難であり、試料のエッジが二つのメッ
シュにかかるようになる。この場合、断層像において試
料のエッジがボケて再構成されるため、理論的な空間分
解能を達成できないという問題があった。
本発明の目的は、高空間分解能でかつ高精度の寸法測
定が可能なCT装置を提供することにある。
定が可能なCT装置を提供することにある。
［課題を解決するための手段］ 前記目的は、CTスキャナ上に試料を並進移動させる
か、並進・回転移動させる試料移動台を備えたことによ
り、達成される。
か、並進・回転移動させる試料移動台を備えたことによ
り、達成される。
また、前記目的は、前記試料移動台は、あらかじめCT
断層像から求めた試料の重心が、像再構成メッシュの少
なくともΧ軸上とＹ軸上のいずれか一方に位置するよう
に試料を動かしてのち、試料を重心が位置するΧ軸もし
くはＹ軸方向にメッシュの数分の１間隔で移動させて断
層撮影し得るように構成されたことにより達成される。
断層像から求めた試料の重心が、像再構成メッシュの少
なくともΧ軸上とＹ軸上のいずれか一方に位置するよう
に試料を動かしてのち、試料を重心が位置するΧ軸もし
くはＹ軸方向にメッシュの数分の１間隔で移動させて断
層撮影し得るように構成されたことにより達成される。
さらに、前記目的は、前記材料移動台は、あらかじめ
CT断層像から求めた試料の重心が像再構成メッシュの中
心に来るように試料を移動するように構成されたことに
より達成される。
CT断層像から求めた試料の重心が像再構成メッシュの中
心に来るように試料を移動するように構成されたことに
より達成される。
さらに、前記目的はあらかじめ寸法の既知の物を同時
に断層撮影し、既知の物の寸法が求まるようにCT値のス
レッショルドレベルを設定し得るように構成したことに
より、達成される。
に断層撮影し、既知の物の寸法が求まるようにCT値のス
レッショルドレベルを設定し得るように構成したことに
より、達成される。
［作用］ 本発明では、CTスキャナ上に試料を並進移動または並
進・回転移動させる試料移動台を有している。この試料
移動台上に試料を載せ、CTスキャナ走査してΧ線透過デ
ータを収集し、断層像を再構成する。最初に得られる断
層像は、試料によるΧ線の散乱，検出内クロストーク，
像再構成に使用しているフィルタ関数の高域成分の不
足，試料のエッジとメッシュの不一致等の影響により、
試料のエッジがボケた断層像となり、理論的な空間分解
能は達成できない。
進・回転移動させる試料移動台を有している。この試料
移動台上に試料を載せ、CTスキャナ走査してΧ線透過デ
ータを収集し、断層像を再構成する。最初に得られる断
層像は、試料によるΧ線の散乱，検出内クロストーク，
像再構成に使用しているフィルタ関数の高域成分の不
足，試料のエッジとメッシュの不一致等の影響により、
試料のエッジがボケた断層像となり、理論的な空間分解
能は達成できない。
通常は、CT値のスレッショルドレベルを決め、断層像
を表示するわけであるが、前述の各原因により試料のエ
ッジが数メッシュにわたって段階的にCT値が変化するよ
うに表され、スレッショルドレベルを決めるのがむずか
しい。
を表示するわけであるが、前述の各原因により試料のエ
ッジが数メッシュにわたって段階的にCT値が変化するよ
うに表され、スレッショルドレベルを決めるのがむずか
しい。
そこで、前記並進移動または並進・回転移動可能な試
料移動台により試料をメッシュ幅の数分の１移動させて
断層撮影をし、以下同様に数分の１ずつ試料を試料移動
台で移動させて断層撮影をする。
料移動台により試料をメッシュ幅の数分の１移動させて
断層撮影をし、以下同様に数分の１ずつ試料を試料移動
台で移動させて断層撮影をする。
以上により得られた数枚の断層像を重ねることによ
り、試料のエッジでのCT値の変動がなめらかになる。
り、試料のエッジでのCT値の変動がなめらかになる。
試料と一緒に、あらかじめ寸法が既知である丸棒等の
試料を同時に断層撮影し、既知の寸法が正確に再現され
るようにスレッショルドレベルを決めて断層像を表示す
ることにより、高空間分解能でかつ高精度の寸法測定が
可能となる。
試料を同時に断層撮影し、既知の寸法が正確に再現され
るようにスレッショルドレベルを決めて断層像を表示す
ることにより、高空間分解能でかつ高精度の寸法測定が
可能となる。
［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す平面図、第２図は断
層撮影例を示す図、第３図は第２図のΧ軸上のメッシュ
のCT値を示す図、第４図は試料を繰り返し移動させて得
た第２図のΧ軸上のメッシュのCT値を示す図、第５図は
断層撮影例を示す図である。
層撮影例を示す図、第３図は第２図のΧ軸上のメッシュ
のCT値を示す図、第４図は試料を繰り返し移動させて得
た第２図のΧ軸上のメッシュのCT値を示す図、第５図は
断層撮影例を示す図である。
その第１図に示す実施例のCT装置は、放射線源である
Χ線発生装置１と、CTスキャナ７と、試料移動台９と、
コリメータ３と、多チャンネル検出器（以下、「検出
器」という。）４と、データ収集計算機（以下、「計算
機」という。）５と、ディスプレイ６とを備えている。
Χ線発生装置１と、CTスキャナ７と、試料移動台９と、
コリメータ３と、多チャンネル検出器（以下、「検出
器」という。）４と、データ収集計算機（以下、「計算
機」という。）５と、ディスプレイ６とを備えている。
そして、Χ線発生装置１よりファンビームのΧ線２が
照射される。Χ線２はコリメータ３を通って検出器４に
入射し、入射強度に比例した信号が計算機５に送られ
る。
照射される。Χ線２はコリメータ３を通って検出器４に
入射し、入射強度に比例した信号が計算機５に送られ
る。
前記計算機５は、データを収集するとともに、像再構
成演算をし、断層像をディスプレイ６に表示する。一
方、CTスキャナ７により試料８が回転することにより、
試料８のあらゆる方向からのΧ透過データが検出器４に
より収集される。
成演算をし、断層像をディスプレイ６に表示する。一
方、CTスキャナ７により試料８が回転することにより、
試料８のあらゆる方向からのΧ透過データが検出器４に
より収集される。
CTスキャナ７の試料台上には、試料８を並進移動また
は並進・回転移動するための試料移動台９が設置されて
いる。この試料移動台９上には、試料８が載せられてい
る。
は並進・回転移動するための試料移動台９が設置されて
いる。この試料移動台９上には、試料８が載せられてい
る。
断層撮影において、試料移動台９は任意の位置に固定
しておき、CTスキャナ７で試料８を回転させ、断層撮影
をする。断層撮影例を第２図に示す。
しておき、CTスキャナ７で試料８を回転させ、断層撮影
をする。断層撮影例を第２図に示す。
第２図では円盤試料８の断層撮影結果を示す。第２図
において、縦・横に直角に交差する４本の直線で囲まれ
る領域が一つのメッシュを示す。第２図のΧ軸上のメッ
シュのCT値を第３図に示す。
において、縦・横に直角に交差する４本の直線で囲まれ
る領域が一つのメッシュを示す。第２図のΧ軸上のメッ
シュのCT値を第３図に示す。
理想的には円盤部分のCT値が１で、外側の空気部分の
CT値が０であるはずである。しかし、実際には試料８か
らの散乱線の影響，像再構成に使用しているフィルタ関
数の高域成分の不足等の影響により、第３図に示すよう
に、試料８のエッジの部分でCT値が段階的に変化する。
また、第２図に示すように、試料８のエッジとメッシュ
が一致しないで映像化される場合、本来左右対称にCT値
が変化するのであるが、第３図に示すように、CT値が変
化する段階の形で左右で異なる。この場合、スレッショ
ルドレベルの設定位置により断層像の形が変わる。つま
り、試料形状を正確に断層像で表すことができないこと
になり、空間分解能は低下する。
CT値が０であるはずである。しかし、実際には試料８か
らの散乱線の影響，像再構成に使用しているフィルタ関
数の高域成分の不足等の影響により、第３図に示すよう
に、試料８のエッジの部分でCT値が段階的に変化する。
また、第２図に示すように、試料８のエッジとメッシュ
が一致しないで映像化される場合、本来左右対称にCT値
が変化するのであるが、第３図に示すように、CT値が変
化する段階の形で左右で異なる。この場合、スレッショ
ルドレベルの設定位置により断層像の形が変わる。つま
り、試料形状を正確に断層像で表すことができないこと
になり、空間分解能は低下する。
本発明では、試料移動台９により試料８をメッシュの
数分の１並進移動させる。例えば、試料移動台９により
試料８をメッシュの10分の１移動させて断層撮影したの
ち、さらに試料８を試料移動台９により前回と同方向に
メッシュの10分の１移動させて断層撮影する。以上の操
作を９回繰り返すと、９枚の断層像が得られる。９枚の
各断層像の第２図のΧ軸相当部分のCT値の変動を１枚の
図で表すと、第４図に示すようになる。Χ軸上のメッシ
ュの数は第３図に比べて10倍になり、CT値の変化もなめ
らかに表示される。
数分の１並進移動させる。例えば、試料移動台９により
試料８をメッシュの10分の１移動させて断層撮影したの
ち、さらに試料８を試料移動台９により前回と同方向に
メッシュの10分の１移動させて断層撮影する。以上の操
作を９回繰り返すと、９枚の断層像が得られる。９枚の
各断層像の第２図のΧ軸相当部分のCT値の変動を１枚の
図で表すと、第４図に示すようになる。Χ軸上のメッシ
ュの数は第３図に比べて10倍になり、CT値の変化もなめ
らかに表示される。
あらかじめ寸法が既知の物を試料８と一緒に前記試料
移動台９で微小移動させながら断層撮影する。得られた
断層像のCT値において、寸法既知の物の寸法が正確に表
示できるように、CT値のスレッショルドレベルを設定す
ると、試料８の断層像においての寸法測定精度は１回の
断層撮影のメッシュ幅の10分の１にまで向上する。
移動台９で微小移動させながら断層撮影する。得られた
断層像のCT値において、寸法既知の物の寸法が正確に表
示できるように、CT値のスレッショルドレベルを設定す
ると、試料８の断層像においての寸法測定精度は１回の
断層撮影のメッシュ幅の10分の１にまで向上する。
試料移動台９で試料８を微小並進移動させる方向は、
第５図に示すように、最初に得た断層像においてCT値よ
り試料８の重心Ｇを求め、求めた重心Ｇを、重心Ｇを含
むメッシュ上に表示した場合、メッシュの重心を基準と
し、メッシュのΧ軸とメッシュ中心から重心Ｇを結ぶ線
のなす角θ分だけ試料移動台９を回転させたのち、微小
並進移動させる。このようにして、断層像より求めた試
料８の重心が、メッシュのΧ軸上を移動するように、試
料８を微小並進移動させることにより、断層像の試料重
心とメッシュの中心が一致する場合が生じ、そのとき試
料８のエッジがメッシュと一致している部分が、最も多
い最適な試料位置になる。
第５図に示すように、最初に得た断層像においてCT値よ
り試料８の重心Ｇを求め、求めた重心Ｇを、重心Ｇを含
むメッシュ上に表示した場合、メッシュの重心を基準と
し、メッシュのΧ軸とメッシュ中心から重心Ｇを結ぶ線
のなす角θ分だけ試料移動台９を回転させたのち、微小
並進移動させる。このようにして、断層像より求めた試
料８の重心が、メッシュのΧ軸上を移動するように、試
料８を微小並進移動させることにより、断層像の試料重
心とメッシュの中心が一致する場合が生じ、そのとき試
料８のエッジがメッシュと一致している部分が、最も多
い最適な試料位置になる。
この第１図〜第５図に示す実施例によれば、寸法測定
精度を試料移動台９の並進移動ピッチまで高めることが
でき、寸法精度を向上させ得る効果がある。
精度を試料移動台９の並進移動ピッチまで高めることが
でき、寸法精度を向上させ得る効果がある。
第６図は本発明の他の実施例を示す図である。
前記第５図に示すように、試料８の断層像における重
心Ｇを求め、重心Ｇを含むメッシュでのメッシュ中心と
重心間の距離およびΧ軸と重心Ｇからメッシュ中心を結
ぶ線との間の角度θを求める。ついで、試料８を試料移
動台９でθだけ回転させ、かつメッシュ中心と重心間に
相当する距離を並進移動さる。
心Ｇを求め、重心Ｇを含むメッシュでのメッシュ中心と
重心間の距離およびΧ軸と重心Ｇからメッシュ中心を結
ぶ線との間の角度θを求める。ついで、試料８を試料移
動台９でθだけ回転させ、かつメッシュ中心と重心間に
相当する距離を並進移動さる。
並進移動ののち断層撮影を実施すると、並進移動前の
断層像およびCT値レベルは第６図（ａ）に示すように、
エッジが多くのメッシュにまたがるため、エッジでボケ
を生ずるようになっていたが、並進移動後の断層像は第
６図（ｂ）に示すように、試料のエッジとメッシュが一
致するため、エッジのボケが少ない鮮明な断層像が得ら
れる。
断層像およびCT値レベルは第６図（ａ）に示すように、
エッジが多くのメッシュにまたがるため、エッジでボケ
を生ずるようになっていたが、並進移動後の断層像は第
６図（ｂ）に示すように、試料のエッジとメッシュが一
致するため、エッジのボケが少ない鮮明な断層像が得ら
れる。
前記CTスキャナにおいて、回転動作のみでなく、並進
・回転動作が加わった第1,第２世代のCT装置において
も、第６図に示す実施例を適用することにより、同様の
測定を行うことができる。
・回転動作が加わった第1,第２世代のCT装置において
も、第６図に示す実施例を適用することにより、同様の
測定を行うことができる。
この第６図に示す実施例によれば、メッシュで測定さ
れる理論的な空間分解能まで高めることができる効果が
ある。
れる理論的な空間分解能まで高めることができる効果が
ある。
［発明の効果］ 以上説明した本発明によれば、CTスキャナ上に試料を
並進移動させるか、並進・回転移動させる試料移動台を
備えており、試料をメッシュ幅の数分の１ずつ移動させ
て断層撮影を行い得るようにしているので、CT断層像の
試料のエッジにおけるCT値の変化をなめらかにでき、し
たがって高空間分解能でかつ高精度の寸法測定を行い得
る効果がある。
並進移動させるか、並進・回転移動させる試料移動台を
備えており、試料をメッシュ幅の数分の１ずつ移動させ
て断層撮影を行い得るようにしているので、CT断層像の
試料のエッジにおけるCT値の変化をなめらかにでき、し
たがって高空間分解能でかつ高精度の寸法測定を行い得
る効果がある。
また、CT断層像から求めた試料の重心が、断層像中を
少なくともΧ軸方向とＹ軸方向のいずれか一方に試料移
動台により試料を動かし、試料をメッシュの数分の１間
隔で移動させて断層撮影し、複数の断層像を求め、合成
し得るように構成しているので、より一層試料のエッジ
でのCT値の変化がなめらかになり、したがって高空間分
解能でかつ高精度の寸法測定を行い得る効果がある。
少なくともΧ軸方向とＹ軸方向のいずれか一方に試料移
動台により試料を動かし、試料をメッシュの数分の１間
隔で移動させて断層撮影し、複数の断層像を求め、合成
し得るように構成しているので、より一層試料のエッジ
でのCT値の変化がなめらかになり、したがって高空間分
解能でかつ高精度の寸法測定を行い得る効果がある。
さらに、あらかじめ寸法の既知の物を同時に断層撮影
し、既知の物の寸法が求まるようにCT値のスレッショル
ドレベルを設定し得るように構成しており、あらかじめ
寸法が分かっている物の断層撮影結果よりスレッショル
ドレベルを決め、試料の断層像を表示することにより、
寸法精度の高い断層像が得られる効果がある。
し、既知の物の寸法が求まるようにCT値のスレッショル
ドレベルを設定し得るように構成しており、あらかじめ
寸法が分かっている物の断層撮影結果よりスレッショル
ドレベルを決め、試料の断層像を表示することにより、
寸法精度の高い断層像が得られる効果がある。
さらにまた、CT断層像から求めた試料の重心が、メッ
シュの中心に来るように試料移動台で試料を移動可能に
構成しているので、試料のエッジとメッシュを一致させ
ることにより、エッジのボケが小さく、空間分解能の高
い断層像が得られる効果がある。
シュの中心に来るように試料移動台で試料を移動可能に
構成しているので、試料のエッジとメッシュを一致させ
ることにより、エッジのボケが小さく、空間分解能の高
い断層像が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の一実施例を示す平面図、第２図は断層
撮影例を示す図、第３図は第２図のΧ軸上のCT値を示す
図、第４図は本発明による第２図のΧ軸上のCT値を示す
図、第５図は断層撮影例を示す図、第６図は本発明の他
の実施例を示す図である。 １……Χ線発生装置、２……Χ線、３……コリメータ、
４……検出器、５……計算機、６……ディスプレイ、７
……CTスキャナ、８……試料、９……試料移動台。
撮影例を示す図、第３図は第２図のΧ軸上のCT値を示す
図、第４図は本発明による第２図のΧ軸上のCT値を示す
図、第５図は断層撮影例を示す図、第６図は本発明の他
の実施例を示す図である。 １……Χ線発生装置、２……Χ線、３……コリメータ、
４……検出器、５……計算機、６……ディスプレイ、７
……CTスキャナ、８……試料、９……試料移動台。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 23/04 - 23/18
Claims (3)
- 【請求項１】放射線源と、検出器と、CTスキャナと、計
算機と、ディスプレイと、CTスキャナ上に試料を並進移
動させるか、並進・回転移動させる試料移動台とを備え
たCT装置において、前記試料移動台は、あらかじめCT断
層像から求めた試料の重心が、像再構成メッシュの少な
くともΧ軸上とＹ軸上のいずれか一方に位置するように
試料を動かしてのち、試料を重心が位置するΧ軸もしく
はＹ軸方向にメッシュの数分の１間隔で移動させて断層
撮影し得るように構成されたことを特徴とするCT装置。 - 【請求項２】請求項１記載のCT装置において、前記試料
移動台は、CT断層像から求めた試料の重心が、像再構成
メッシュの中心に来るように試料を移動するように構成
されたことを特徴とするCT装置。 - 【請求項３】請求項１記載のCT装置において、あらかじ
め寸法の既知の物を同時に断層撮影し、既知の物の寸法
が求まるようにCT値のスレッショルドレベルを設定し得
るように構成したことを特徴とするCT装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2326077A JP2978238B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | Ｃｔ装置 |
| US07/799,206 US5228071A (en) | 1990-11-29 | 1991-11-27 | CT system and method of using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2326077A JP2978238B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | Ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04198840A JPH04198840A (ja) | 1992-07-20 |
| JP2978238B2 true JP2978238B2 (ja) | 1999-11-15 |
Family
ID=18183856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2326077A Expired - Fee Related JP2978238B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | Ｃｔ装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5228071A (ja) |
| JP (1) | JP2978238B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9302452D0 (en) * | 1993-02-06 | 1993-03-24 | Atomic Energy Authority Uk | Computed tomography |
| DE19542762C2 (de) * | 1995-11-16 | 1998-01-22 | Joerg Dr Habersetzer | Tomographieverfahren und Anordnung zur Erzeugung von großflächigen Tomogrammen |
| US7099431B2 (en) * | 2003-06-09 | 2006-08-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus |
| JP4793541B2 (ja) * | 2005-04-07 | 2011-10-12 | 株式会社島津製作所 | コンピュータ断層撮影装置 |
| DE102005039422A1 (de) * | 2005-08-16 | 2007-02-22 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Computertomografie-Messanordnung und Verfahren |
| WO2007043974A1 (en) * | 2005-10-13 | 2007-04-19 | Agency For Science, Technology & Research | Computed tomography system and method |
| JP5012045B2 (ja) * | 2007-01-26 | 2012-08-29 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| CN103959048B (zh) * | 2011-10-04 | 2018-04-06 | 株式会社尼康 | X射线装置、x射线照射方法及构造物的制造方法 |
| GB201508065D0 (en) * | 2015-05-12 | 2015-06-24 | Rolls Royce Plc | A method of scanning Aerofoil blades |
| CN105355118B (zh) * | 2015-11-17 | 2018-03-13 | 南京大学 | 构造控藏物理模拟实验模型的工业ct检测装置及其检测方法 |
| WO2018077439A1 (en) | 2016-10-31 | 2018-05-03 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Adaption for a turntable of a ct system |
| JP7143567B2 (ja) * | 2018-09-14 | 2022-09-29 | 株式会社島津テクノリサーチ | 材料試験機および放射線ｃｔ装置 |
| CN112859148B (zh) * | 2019-09-26 | 2023-09-19 | 中国计量科学研究院 | 一种用于校准偏振度的非偏振射线源结构 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3112891A1 (de) * | 1980-04-02 | 1982-01-28 | General Electric Co., New York, N.Y. | "rechnergesteuertes tomographiegeraet und -verfahren" |
| FI67465C (fi) * | 1981-04-24 | 1985-03-11 | Instrumentarium Oy | Installation foer aostadkommande av radiografiska skiktbilder |
| FR2512553A1 (fr) * | 1981-09-10 | 1983-03-11 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de controle non destructif de la structure interne d'objets |
| US4422177A (en) * | 1982-06-16 | 1983-12-20 | American Science And Engineering, Inc. | CT Slice proximity rotary table and elevator for examining large objects |
| US4989225A (en) * | 1988-08-18 | 1991-01-29 | Bio-Imaging Research, Inc. | Cat scanner with simultaneous translation and rotation of objects |
| US5023895A (en) * | 1989-03-02 | 1991-06-11 | Innovative Imaging Systems, Inc. | Three dimensional tomographic system |
| US5119408A (en) * | 1990-10-31 | 1992-06-02 | General Electric Company | Rotate/rotate method and apparatus for computed tomography x-ray inspection of large objects |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP2326077A patent/JP2978238B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-11-27 US US07/799,206 patent/US5228071A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04198840A (ja) | 1992-07-20 |
| US5228071A (en) | 1993-07-13 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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