JP3128972B2 - 電子モジュールの製造方法 - Google Patents

電子モジュールの製造方法

Info

Publication number
JP3128972B2
JP3128972B2 JP04218483A JP21848392A JP3128972B2 JP 3128972 B2 JP3128972 B2 JP 3128972B2 JP 04218483 A JP04218483 A JP 04218483A JP 21848392 A JP21848392 A JP 21848392A JP 3128972 B2 JP3128972 B2 JP 3128972B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coating resin
resin
electronic component
ultraviolet
coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP04218483A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0645378A (ja
Inventor
肇 河東
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP04218483A priority Critical patent/JP3128972B2/ja
Publication of JPH0645378A publication Critical patent/JPH0645378A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3128972B2 publication Critical patent/JP3128972B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3135Double encapsulation or coating and encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板等の基
板上に搭載したチップ部品や半導体素子等の電子部品を
コーティング樹脂にて包囲する電子モジュールの製造方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】所定の配線パターンが形成されたプリン
ト配線板上には半導体素子やチップ部品等の電子部品が
多数搭載されており、様々な電子回路から成る電子モジ
ュールが構成されている。この電子モジュールを構成す
る電子部品はコーティング樹脂にて包囲されており、湿
気やゴミ等から保護されている。特に、ベアチップ状の
半導体素子等が基板上に搭載されている場合には、この
コーティング樹脂にて包囲することで湿気やゴミ等から
保護するとともに、傷等による損傷の防止も兼ねてい
る。
【0003】このようなコーティング樹脂にて電子部品
を保護する電子モジュールの製造方法を図6の概略断面
図に基づいて説明する。先ず、プリント配線板等の基板
2上に、銀ペーストや接着剤等を用いて半導体素子等の
電子部品1を搭載する。次に、この電子部品1と基板2
上に形成された配線パターン(図示せず)とをボンディ
ングワイヤー3にて電気的に接続する。続いて、この電
子部品1を包囲する状態にコーティング樹脂4を塗布す
る(図中破線)。コーティング樹脂4としては、主とし
て熱硬化型樹脂が用いられている。そして、このコーテ
ィング樹脂4を塗布した後、加熱炉等を用いて加熱する
ことでコーティング樹脂4を硬化する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな電子モジュールの製造方法には次のような問題があ
る。すなわち、基板上には通常複数の電子部品が搭載さ
れているため、これらの電子部品にコーティング樹脂を
塗布した後、一括して加熱処理を施している。このた
め、コーティング樹脂を塗布してから加熱処理を行うま
での間に放置時間があり、この間に塗布したコーティン
グ樹脂が流れ出す、いわゆる樹脂流れが発生してしま
う。また、最初に塗布したコーティング樹脂と最後に塗
布したコーティング樹脂との間にこの放置時間のばらつ
きが生じてしまい、その形状が不安定となる。特に、半
導体素子のようにボンディングワイヤーにて配線された
電子部品では、この樹脂流れによりボンディングワイヤ
ーが露出してしまう(図6参照)。また、樹脂がかかっ
てはならない区域に流れ出し、不良となる。
【0005】さらに、硬化前の放置時間中にコーティン
グ樹脂が大気中の水分を吸収してしまい、保護特性の劣
化を招いてしまう。このため、放置時間中の雰囲気等の
管理には十分な注意が必要となる。また、コーティング
樹脂として熱硬化型樹脂を用いる場合、加熱処理による
温度上昇でコーティング樹脂が一旦軟化してから硬化が
始まるため、所望の形状で硬化させるのが困難となり、
前記の樹脂流れによる不良が促進される。よって、本発
明はコーティング樹脂にて確実に保護できる電子モジュ
ールの製造方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】 本発明は、このような
課題を解決するために成された電子モジュールの製造方
法である。すなわち、基板上に搭載した電子部品をコー
ティング樹脂にて包囲するもので、先ず、紫外線の照射
により重合反応を起こす紫外線硬化型樹脂と、加熱によ
り重合反応を起こす熱硬化型樹脂と、紫外線遮断材料と
を混合して成るコーティング樹脂を、電子部品上から塗
布して電子部品を包囲し、この塗布後に紫外線を照射し
て、コーティング樹脂の少なくとも表面部分を半硬化さ
せ、次いで加熱処理することでコーティング樹脂全体を
硬化させるものである。
【0007】
【作用】コーティング樹脂として、紫外線硬化型樹脂と
熱硬化型樹脂と紫外線遮断材料とが混合されたものを用
いているため、加熱硬化の前に紫外線を照射することで
コーティング樹脂の少なくとも表面部分が半硬化状態と
なり、塗布した際の形状を保持できる。また、コーティ
ング樹脂の表面に形成した硬化膜により、内部の樹脂が
流れ出なくなるとともに、大気中の水分がコーティング
樹脂内に浸入するのを阻止することになる。また、予め
コーティング樹脂内に紫外線遮断材料を混入しておくこ
とで、紫外線がコーティング樹脂の表面部分にだけ当た
り、コーティング樹脂内の電子部品に到達しなくなる。
【0008】
【実施例】以下に、本発明の電子モジュールの製造方法
を図に基づいて説明する。図1〜図4は本発明の電子モ
ジュールの製造方法を工程順に説明する概略断面図であ
る。先ず、搭載工程として図1に示すように、プリント
配線板等の基板2上に半導体素子やチップ部品等から成
る電子部品1を銀ペーストや接着剤等を用いて搭載す
る。 基板2上には図示しない配線パターンが形成され
ており、電子部品1とこの配線パターンとを金ワイヤー
等から成るボンディングワイヤー3にて電気的に接続す
る。
【0009】次に、塗布工程として図2に示すように、
電子部品1とボンディングワイヤー3とを包囲する状態
にコーティング樹脂4を塗布する。コーティング樹脂4
は適度の粘性を有するもので、ディスペンサ等を用いて
適量をコントロールする。ところで、このコーティング
樹脂4は、紫外線の照射により重合反応を起こす紫外線
硬化型樹脂と、加熱により重合反応を起こす熱硬化型樹
脂と、紫外線遮断材料とを混合したものから成る。主剤
としては、エポキシ系、アクリル系、メタクリレート
系、ポリエステル系等のプレポリマーが用いられ、硬化
剤として、アリルジアゾニウム塩や芳香族オニウム塩等
の光重合開始剤と熱重合開始剤、熱触媒と光触媒、さら
に硬化速度を調整するモノマーの反応性希釈剤や充填剤
および接着性を調整する添加剤等を混合したものが用い
られている。また、紫外線遮断材料としては、黒色や赤
色等の顔料が用いられる。
【0010】この主剤や硬化剤の選択により、紫外線お
よび熱によるコーティング樹脂4の硬化速度が変化する
ことになる。このため、包囲する電子部品1の耐熱性等
に応じて選択すればよい。
【0011】次に、紫外線照射工程として図3に示すよ
うに、コーティング樹脂4の上方から光重合反応に必要
な波長の紫外線を照射する。これにより、コーティング
樹脂4の表面部分が多く重合反応を起こして半硬化状の
膜が形成され、コーティング樹脂4の樹脂流れはこの膜
により阻止されることになる。また、紫外線の照射時間
を制御することで所望の半硬化膜厚、例えば樹脂流れを
阻止するだけでなくその形状をも保持できる厚さにして
もよい。なお、コーティング樹脂4を塗布してから紫外
線を照射するまでの放置時間は、コーティング樹脂4が
樹脂流れを起こさない程度の時間であり、コーティング
樹脂4の成分により異なるが通常1時間以内が望まし
い。
【0012】基板2上に電子部品1を多数搭載する場合
や、ライン等により自動実装する場合には、この放置時
間が経過する前に各電子部品1に個別に紫外線を照射し
たり、所定個数単位に紫外線を照射すればよい。そし
て、コーティング樹脂4を半硬化状態にした後は、一時
保管しておき、その後の一括処理に備えることもでき
る。また、コーティング樹脂4内に混入した紫外線遮断
材料によって、紫外線の透過率が低下することになり、
その表面のみが硬化しやすい状態となる。 しかも、コー
ティング樹脂4の内部にある電子部品1には紫外線が到
達しにくい状態となる。 半導体素子を用いた電子部品1
に紫外線を照射すると、その半導体素子内に暗電流が流
れ破損する場合があり、このコーティング樹脂4を用い
ることで電子部品1に当たる紫外線を減少でき、電子部
品1の破損を防ぐことになる。
【0013】次いで、加熱工程として図4に示すよう
に、半硬化状態のコーティング樹脂4を電気炉等により
加熱処理してコーティング樹脂4の全体を硬化する。す
なわち、加熱時間を制御することで半硬化のコーティン
グ樹脂4表面部分のみならず、内部をも硬化させる。コ
ーティング樹脂4の少なくとも表面部分は、予め紫外線
により半硬化状態となっているため、この状態でコーテ
ィング樹脂4完全を硬化することで塗布した際の形状の
まま電子部品1を包囲することができる。
【0014】このような方法により、複数の電子部品を
コーティング樹脂4にて保護する場合であっても、コー
ティング樹脂4の形状のばらつきを抑えることができ
る。さらに、樹脂流れにより近傍の配線パターンを汚す
ことがないため、その後の配線パターンヘのハンダ付に
悪影響を及ぼすことがなくなる。
【0015】次に、本発明の他の実施例を図5の概略断
面図に基づいて説明する。これは、電子部品1およびボ
ンディングワイヤー3を包囲するコーティング樹脂4に
紫外線を照射して、このコーティング樹脂4の表面に硬
化膜41を形成するものである。すなわち、コーティン
グ樹脂4として光重合反応速度の速い主剤および硬化剤
を用い、集中して短時間に紫外線を照射するものであ
る。これにより、コーティング樹脂4の表面に硬化膜4
1を形成することができる。
【0016】この硬化膜41が保護膜となり、大気中の
水分がコーティング樹脂4内に侵入するのを阻止するこ
とになる。このため、コーティング樹脂4の加熱による
硬化の際、この水分が気化して水蒸気爆発を起こすこと
がなくなるとともに、硬化後の保護特性の劣化を防ぐこ
とになる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子モジ
ュールの製造方法によれば次のような効果がある。すな
わち、コーティング樹脂に熱硬化型樹脂と紫外線硬化型
樹脂とを混合したものを用いており、熱硬化前に紫外線
にてコーティング樹脂の表面部分を半硬化させているた
め、いわゆる樹脂流れが起きず、電子部品およびボンデ
ィングワイヤーの全体を完全に保護することが可能とな
る。
【0018】また、このコーティング樹脂の表面に硬化
膜を形成することで、大気中の水分の吸収を防ぐことが
でき、コーティング樹脂の保護特性を劣化させることが
なくなる。このため、コーティング樹脂を塗布して一時
保管しておく際において、雰囲気の管理が容易となる。
また、このコーティング樹脂内に紫外線遮断材料を混入
することで、紫外線の照射による電子部品の損傷をなく
すことができる。これらにより、コーティング樹脂を用
いた信頼性の高い電子部品の保護を行うことが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】電子部品の搭載工程を説明する概略断面図であ
る。
【図2】コーティング樹脂の塗布工程を説明する概略断
面図である。
【図3】紫外線照射工程を説明する概略断面図である。
【図4】加熱工程を説明する概略断面図である。
【図5】本発明の他の例を説明する概略断面図である。
【図6】従来例を説明する概略断面図である。
【符号の説明】
1 電子部品 2 基板 3 ボンディングワイヤー 4 コーティング樹脂 41 硬化膜

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に搭載した電子部品をコーティン
    グ樹脂にて包囲する電子モジュールの製造方法におい
    て、 先ず、紫外線の照射により重合反応を起こす紫外線硬化
    型樹脂と、加熱により重合反応を起こす熱硬化型樹脂
    、紫外線遮断材料とを混入して成るコーティング樹脂
    を、前記電子部品上から塗布して該電子部品を包囲する
    工程と、 前記コーティング樹脂を塗布した後に紫外線を照射する
    ことで、該コーティング樹脂の少なくとも表面部分を半
    硬化させる工程と、 次いで、加熱処理することで前記コーティング樹脂全体
    を硬化させる工程と、 から成ることを特徴とする電子モジュールの製造方法。
JP04218483A 1992-07-24 1992-07-24 電子モジュールの製造方法 Expired - Fee Related JP3128972B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04218483A JP3128972B2 (ja) 1992-07-24 1992-07-24 電子モジュールの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04218483A JP3128972B2 (ja) 1992-07-24 1992-07-24 電子モジュールの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0645378A JPH0645378A (ja) 1994-02-18
JP3128972B2 true JP3128972B2 (ja) 2001-01-29

Family

ID=16720636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04218483A Expired - Fee Related JP3128972B2 (ja) 1992-07-24 1992-07-24 電子モジュールの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3128972B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69637603D1 (de) 1995-09-13 2008-08-28 Takeda Pharmaceutical 5-(2,3-Dialkoxyphenyl)-4,1-benzoxazepin-2-one als anti-hyperlipidämische Mittel

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0645378A (ja) 1994-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6821878B2 (en) Area-array device assembly with pre-applied underfill layers on printed wiring board
KR0177138B1 (ko) 칩 캐리어
JP5595593B2 (ja) オプトエレクトロニクスチップオンボードモジュールのコーティング方法及びオプトエレクトロニクスチップオンボードモジュール
JPS59171130A (ja) 重合体回路基板の製造方法
JP2011066267A (ja) 反射板機能を有するプリント配線板の製造方法
JP4012236B2 (ja) キャパシタ用の赤外線遮蔽体
JP3128972B2 (ja) 電子モジュールの製造方法
EP0969502A2 (en) Resin encapsulated electronic parts and method of manufacturing the same
JP3648721B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
JP2014096558A (ja) プリント回路基板及びプリント回路基板の製造方法
JPH09167890A (ja) はんだペーストおよびはんだ付け方法並びにはんだ付け装置
JP3221230B2 (ja) 電子部材のコーティング方法
JPS59143333A (ja) 素子保護用樹脂の被覆方法
JP3050345B2 (ja) 集積回路素子の接続方法
JP4015790B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH07212013A (ja) ボール・グリッド・アレイ及びボール・グリッド・アレイ用のプリント回路基板の製造方法
JPH0595010A (ja) 半導体装置
JPH10340914A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2966578B2 (ja) 半導体素子の実装方法
JP3102162B2 (ja) プリント配線板およびその製造方法
KR100444888B1 (ko) 칩타입 바리스터 및 그 제조방법
JP2777500B2 (ja) 半導体装置の保護層の形成方法
JPH05235191A (ja) 樹脂封止型半導体装置とその実装方法
JP2606858B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPH0917913A (ja) 電子回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees