JP3116005B2 - 半導体単結晶引上げ用c/c製ルツボの製法 - Google Patents
半導体単結晶引上げ用c/c製ルツボの製法Info
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Description
げ装置の石英ルツボを支持するために用いられる炭素繊
維複合炭素材(以下C/Cという)製ルツボに関する。
れるルツボ装置は、Siなどの半導体を溶融するための
石英ルツボとこれを収容して外部から支持する黒鉛ルツ
ボとの二重構造となっている。
晶は主にチョクラルスキー法と呼ばれる回転引上げ法に
よって製造されている。チョクラルスキー法は溶融液に
浸した種結晶を回転させながら引上げて単結晶を作る結
晶育成法である。
は、黒鉛ルツボに内装された石英ガラスルツボ内で高純
度のシリコン多結晶を外部のカーボンヒーターにより加
熱溶融し、この溶融液に最初シリコンの種結晶を浸して
回転させながらゆっくり引き上げる。
る1413℃をはさんで1450℃近くの温度で行われ
るが、石英ガラスは1200℃以上の温度では軟化をは
じめるので、黒鉛ルツボで支えて軟化による変形を防止
している。このようにシリコン単結晶引上げ操作中石英
ガラスと黒鉛は接触し、SiO2+C→CO 2 +Si
O 2 の反応等で黒鉛ルツボが消耗し減肉が進行する。
17988号公報ではFrannklinのP値を用い
て計算される黒鉛化度(1−P)の値が温度2500℃
処理後で0.6以下であり、かつ半径が1μm以上の細
孔の占める容積が0.1cm3 /g以下である気孔構造
を有する黒鉛素材からなることを特徴とする半導体単結
晶製造用黒鉛ルツボが提案されているが、単結晶引上げ
操作においては20回前後で黒鉛ルツボの交換を行って
いる。
高いC/C材を用いる提案がされている。例えば実公平
3−43250号では円筒状の側壁部をC/C製とし、
黒鉛材を台座部品としたルツボがある。類似の提案で実
用新案登録番号第3012299号にはルツボの直胴部
とR部が一体となったC/C製部材に黒鉛の底部品との
組合ルツボがある。
高強度のC/C材の特徴を生かし、大型ルツボに最適な
構成、その製法についていまだ不十分である。
決した単結晶引上げ用ルツボを提供するもので、構造的
特徴と製法の特徴を有するものである。
を内側とし、外側をC/C材とした内・外2重構造とし
て高強度部材のC/C材と高密度で表面積の少ないCI
P材の特徴とを発揮させたもの又は直円筒部と曲面部を
含む底部に分割成型したC/C材で構成するものであ
る。
加え各種炭素繊維のフィラー(炭素質、黒鉛質の双方を
含む)を用いて、ハンドレイアップ−オートクレーブ
法、テープレイアップ−オートクレーブ法等により予備
成形し、その後金型を用いてプレス成形する2段階の成
形を包含する。
も従来法に加え密封金属容器中に収容して加圧下焼成す
るか、ピッチガス富化雰囲気とすることにより、揮発ロ
ス分を抑えて焼成収率を上げる工程を包含する。
の反応を抑えるために、通常工程品に加えルツボの外周
面に熱分解黒鉛又は熱分解炭素をコートするか、C/C
材のマトリックス部分をハードカーボンにするか、全体
をセミグラファイト化(半黒鉛質化)する工程を包含す
る。
インチより大きいものがニーズとしてありこれに伴っ
て、単結晶引上げ用石英ルツボと黒鉛ルツボも等も大口
径のルツボとなる。一般に単結晶の直径の約3倍の大き
さがルツボの大きさである。
めには24インチ前後の直径のルツボ材を必要とする。
将来12インチ以上の大口径のシリコン単結晶を得よう
とすると、ルツボ材は36インチ以上の直径を要すると
言われている。本発明はこの大口径化にも対応できるル
ツボ材の構成とその製法を提案する。
更に詳細に説明する。石英ルツボを収容して外部から支
持する黒鉛ルツボを内外2重構造としてその内側石英ル
ツボと接する側にCIP材を外側強度部材としてC/C
コンポジットで一体構成した半導体単結晶引上げ用C/
C製ルツボ又は黒鉛ルツボを円筒部と底部曲面部に分割
成型した半導体単結晶引上げ用C/Cルツボ製である。
その構成例を図1〜図3に示す。
の強度部材としての能力を発揮させ、成型性を改善し製
造コストを削減できる。
応力を支持し、石英ルツボとの反応を抑えるために反応
性の小さいCIP材を用いるか、円筒部と底部曲面部に
分割したC/C材ルツボとして反応が比較的に多い底部
C/C材のみを交換する構成をとる。本構成とすること
によりルツボ費用を削減できる。
シリコン等の半導体単結晶引上げの際に石英ガラスルツ
ボの変形を防止しシリコン等の溶融金属が漏れたり、流
出させないように保持することである。この際に黒鉛ル
ツボにはシリコン等の半導体の溶液及び石英ガラスの全
重量と温度に耐える高温強度が最低限必要である。
位なC/C材を強度部材として使用し、石英ガラスとの
反応を抑えるためにCIP材を用いるか又は反応消耗の
多い底部曲面部を分割し、この底部曲面部のC/C材を
交換する方法を採る。
は、従来法による製法に加えてフィラメントワインディ
ング法(FW法)、ハンドレイアップオートクレーブ成
形法等により予備成形し、その後金型を用いてプレス成
形する2段成形を包含する。
ガス圧による加圧であるためその圧力は10Kg/cm
2 G程度であり、加圧力が不十分のため厚物素材では層
間割れが不可避である。又金型だけで成形する場合には
充填するための形状、圧縮比等の面で制約があり、大型
化は困難であった。
レーブ成形でマトリックス樹脂を半硬化(Bステージ)
状態に留め、その後仕上形状に合せた金型で加圧、硬
化、成形を完了させる。このため肉厚大型品も容易に成
形できる。
織が緻密であり、シリコン等との反応が抑えられる。一
般に炭素材の組織は当初の成形の良否がそのまま最終工
程に出てしまうので、特に成形時に緻密な成形品が得ら
れクラックを防止できる2段成形の効果は一次焼成後の
繰返し実施される緻密化工程でC/C材のかさ比重を容
易に上げることが出来る。
ト、ヤーンに加え、メリヤス編の炭素繊維を用いると曲
面部の積層が繊維の切断を伴うことがなく緻密なものが
得られる。C/C材の素材を炭素繊維フィラー(クロ
ス、フェルト、ヤーン、短繊維)と樹脂系ビーズ,黒鉛
粉末又は炭素粉末の1種以上とを用いることを包含す
る。
種以上を添加することにより、通常のフェノール系樹
脂、ピッチ等をマトリックスとして製造したC/C材は
その内部に様々なサイズのボイド(空隙)を生じてしま
う。肉眼で見えるボイドは、その後含浸焼成を繰返す緻
密化工程によっても、埋めきれずボイドとして残ってし
まう。
強度特性、耐反応性を低下させる。樹脂系ビーズ,黒鉛
粉末又は炭素粉末の1種以上を添加することにより、上
記のボイドの分布・大きさを制御することが可能になり
緻密な組織が得られる。
繊維フィラーに対し10%添加した場合を従来法のC/
C材とで比較すると、平均開孔径が本発明3μmに対し
従来法では9μmで開気孔径が1/3に縮小できた。ま
たそのトータルポア量は本発明品では6〜8%に対し従
来法のものは10〜15%であった。
さくできるため、Si、SiO、SiO2 との反応性が
抑えられルツボの寿命延長が図れる。緻密化工程は通
常、ピッチ又は樹脂を含浸し不活性雰囲気中で、焼成炭
化することを2〜7回繰返し行うか、装置設備が大掛り
になるがHIP(Hot Isotropic Pre
ss熱間等方性加圧)による方法がある。
化の際にマトリックスの収縮によるクラックを防止でき
る。その結果、熱分解収縮によるボイドは均一となり、
次工程において高密度化が容易になる。
化焼成が可能なものである。しかし大型C/C材を得る
ためには、そのHIP装置は巨大で設備費、メンテ費
用、ランニングコトスが大のためC/C材の製造には採
用され難い。
で、HIP近似雰囲気を作り、緻密化するものである。
すなわちその1つはピッチ又は樹脂含浸したC/C中間
素材を金属ケース中にピッチ共存で封入し加圧下焼成す
る。このとき金属ケースは密封できる構造とし爆発を防
ぐために2〜5mmφ小孔を1個所以上設けるか又は安
全弁を設ける。
する必要はなく、450〜550℃で十分で脱ケース後
800℃以上で再焼成する。他の方法としてはピッチ又
は樹脂含浸したC/C中間素材を焼成するときC/C中
間素材を囲繞してピッチを配置して、ピッチガス富化雰
囲気中で焼成することにより、含浸剤の炭素化残査率の
向上が出来て、含浸焼成の繰返しによる緻密化工程の短
縮が出来る。
以下で十分である。本発明はSi半導体単結晶引上げ用
黒鉛るつぼ寿命延長策としてルツボの外表面を熱分解黒
鉛で被覆して気体透過率を極端に下げてSi、SiO、
SiO2 との反応を表面反応に限定させることを包含す
る。
方法は黒鉛ルツボの最終仕上げ品表面に熱分解黒鉛(P
G)又は熱分解炭素(PC)をコートする方法である。
PGをコートするには高真空CVD装置を用いて行うこ
とが出来る。
00℃で生成する。PGはSi、SiO、SiO2 との
反応性が低く従って黒鉛ルツボの寿命が従来C/C材に
比較して5〜10倍となる
の最終仕上げ品をピッチ等の炭化水素ガス雰囲気で常圧
又は減圧下熱処理すると、熱分解炭素が黒鉛ルツボ表面
に被覆できる。その後高純度化処理を行うことにより得
られる。
は、開気孔径が2μ以下となるとSi、SiO、SiO
2 との反応性が低下する黒鉛ルツボの傾向があることに
加えて表面も表面につづく開気孔を被覆充填しているの
で効果的な寿命延長策である。
i、SiO、SiO2 との反応を抑えるために半黒鉛化
性炭素にすることを包含する。C/C材の消耗は、炭素
繊維でなくマトリックス部の炭素材が大きい。このマト
リックス部の炭素材をSi、SiO、SiO2 との反応
性が低い半黒鉛化性炭素で構成することにより黒鉛ルツ
ボの寿命が延長できる。
方法は難黒鉛化性の樹脂又はピッチにス−トを添加した
含浸剤を緻密化工程で使う方法と、最終黒鉛化温度を下
げて半黒鉛化することによって得られる。半黒鉛化の熱
処理温度は易黒鉛化性のピッチ系バインダ−又は含浸剤
では2400℃以下にする。難黒鉛化性の樹脂バインダ
−又は含浸剤では2600℃以下にする。
徴を生かし、半導体単結晶引上げ装置に好適な大型ルツ
ボを安価に提供でき、工業上有用である。
をCIP材、外側をC/Cコンポジツト材で構成したも
のである。
ット材につき、円筒部と底部曲面部に分割して構成した
ものの一実施態様である。
ツト材につき、円筒部と底部曲面部に分割して構成した
ものの一実施態様である。
Claims (8)
- 【請求項1】 ルツボを内外2重構造として、その内
側に等方性黒鉛材(CIP材)を使用し、外側をC/C
コンポジットで構成した半導体単結晶引上げ用C/C製
ルツボ。 - 【請求項2】 ルツボ外側を円筒部と底部曲面部に分
割形成した請求項1記載の半導体単結晶引上げ用C/C
製ルツボ。 - 【請求項3】 請求項1又は請求項2において、C/
C材の素材をハンドレイアップ等で予備成形し、その後
金型を用いてプレス成形する2段成形法を用いることを
特徴とする半導体単結晶引上げ用C/C製ルツボの製
法。 - 【請求項4】 請求項3においてC/C材の素材をク
ロス、フェルト、ヤ−ンに加えメリヤス編の炭素繊維を
用いることを特徴とする半導体単結晶引上げ用C/C製
ルツボの製法。 - 【請求項5】 請求項3においてC/C材のフィラ−
として炭素繊維と樹脂ビ−ズ,黒鉛粉末又は炭素粉末の
1種以上とを用いることを特徴とする半導体単結晶引上
げ用C/C製ルツボの製法。 - 【請求項6】 請求項3においてC/C材の素材緻密
化を密封金属容器中におき加圧下焼成することを特徴と
する半導体単結晶引上げ用C/C製ルツボの製法。 - 【請求項7】 請求項3においてピッチ又は樹脂含浸
品を再焼成し、C/C材の素材緻密化する時に、含浸品
の外周部にピッチを配置してピッチガス富化雰囲気とす
ることを特徴とする半導体単結晶引上げ用C/C製ルツ
ボの製法。 - 【請求項8】 請求項3においてC/C材のマトリク
ス部分を樹脂又はピッチにス−トを添加した含浸剤で緻
密化し、該含浸剤が易黒鉛化性の場合は2400℃以下
で、難黒鉛化性の場合は2600℃以下で熱処理するこ
とにより半黒鉛質化することを特徴とする半導体単結晶
引き上げ用C/C製ルツボの製法。
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JPH10158090A JPH10158090A (ja) | 1998-06-16 |
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JP08329078A Expired - Fee Related JP3116005B2 (ja) | 1996-11-26 | 1996-11-26 | 半導体単結晶引上げ用c/c製ルツボの製法 |
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1996
- 1996-11-26 JP JP08329078A patent/JP3116005B2/ja not_active Expired - Fee Related
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