JP3110473B2 - 酸化物超電導薄膜の製造方法 - Google Patents
酸化物超電導薄膜の製造方法Info
- Publication number
- JP3110473B2 JP3110473B2 JP03030402A JP3040291A JP3110473B2 JP 3110473 B2 JP3110473 B2 JP 3110473B2 JP 03030402 A JP03030402 A JP 03030402A JP 3040291 A JP3040291 A JP 3040291A JP 3110473 B2 JP3110473 B2 JP 3110473B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide superconducting
- thin film
- superconducting thin
- speed
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 33
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 37
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 claims description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 8
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 8
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 2
- 229910000856 hastalloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001293 incoloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001026 inconel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910002077 partially stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 2
- 229910002076 stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 2
- RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N yttrium(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Y+3].[Y+3] RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 21
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 8
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- QRSFFHRCBYCWBS-UHFFFAOYSA-N [O].[O] Chemical compound [O].[O] QRSFFHRCBYCWBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Description
ンによる成膜方法を用いる酸化物超電導薄膜の製造方法
に関するものである。
と、レーザビームの照射部分においてアブレーションが
生じ、このアブレーションによりターゲットを構成する
物質の粒子が原子および分子の状態で飛散する。飛散し
た粒子は、ターゲットに対向するように配置された基材
上に堆積され、それによって、基材上にターゲットを構
成する物質からなる薄膜が形成される。
膜方法が、酸化物超電導薄膜の製造方法として、最近注
目されている。レーザアブレーション法によれば、ター
ゲットと堆積された薄膜との間での組成のずれがないと
いう特徴を有しているとともに、比較的低温かつ高速で
酸化物超電導薄膜を製造することができるという特徴を
有している。したがって、基材として、長尺の可撓性基
材を用いると、長尺の可撓性基材の表面に酸化物超電導
薄膜が形成された酸化物超電導線材を能率的に製造する
ことが可能になる。
超電導線材を構成するために用いられる長尺の可撓性基
材は、金属またはセラミックスのような材料から構成さ
れるが、金属、セラミックスに関わらず、可撓性を有す
る材料は、一般的に多結晶状態である。したがって、酸
化物超電導線材を製造しようとする場合、多くは、多結
晶状態にある基材を用いなければならないことになる。
相法による成膜方法によって酸化物超電導薄膜を製造し
ようとする場合、基材が単結晶であれば、成膜速度を高
速化しても、高品質の酸化物超電導薄膜を得ることが可
能であった。これに対して、基材が多結晶である場合に
は、成膜速度を比較的高速化すると、高品質の酸化物超
電導薄膜を得ることが困難であった。この原因は、基材
が多結晶であれば、基材を構成している個々の結晶粒子
が種々の方向を向いており、その結果、成膜の初期に種
々の方向に向いた析出粒子が成長してしまうためである
と考えられる。
膜速度を低くすれば、高品質の酸化物超電導薄膜が得ら
れている。しかしながら、たとえば酸化物超電導線材の
ように、長尺の基材上に酸化物超電導薄膜を形成しなけ
ればならない場合には、成膜速度が高速でなければ、工
業的生産を能率的に行なうことができない。
結晶状態の基材を用いる場合であっても、高品質の酸化
物超電導薄膜を能率的に製造することができる方法を提
供しようとすることである。
ムをターゲットに照射し、ターゲットより飛散した粒子
を基材上に堆積させる、レーザアブレーションによる成
膜方法を用いる、酸化物超電導薄膜の製造方法に向けら
れるものであって、上述の技術的課題を解決するため、
堆積の初期には、成膜速度を第1の速度とし、その後、
連続して、成膜速度を第1の速度よりも速い第2の速度
として単層の酸化物超電導薄膜を形成することを特徴と
している。
撓性基材が用いられるとき、そのような基材上に酸化物
超電導薄膜が形成された酸化物超電導線材を有利に製造
することができる。可撓性基材としては、部分安定化ジ
ルコニア、安定化ジルコニア、アルミナ、イットリア、
シリカもしくはチタニアのセラミックス、または、白
金、金、銀、アルミニウム、ニッケル、ハステロイ、イ
ンコネル、インコロイもしくはステンレス鋼の金属材料
から構成されたものを用いることができる。
げることによって、たとえ多結晶の基材上であっても、
粒子の方向が揃った成膜が達成される。このような粒子
の方向が揃った成膜が一旦なされると、その後、成膜速
度が高められても、すでに形成された膜と結晶軸が揃っ
た状態で成膜されることができる。
多結晶状態の基材上であっても、高品質の酸化物超電導
薄膜を製造することができる。それゆえに、多結晶状態
であることがほとんどである可撓性を有する材料からな
る基材を有利に用いることができる。そのため、長尺の
可撓性基材を用いて構成される酸化物超電導線材の製造
に有利に適用することができる。
のみ成膜速度を比較的低速化すれば済むので、所望の厚
みの酸化物超電導薄膜を得るために、それほど長い時間
を必要としない。むしろ、得ようとする酸化物超電導薄
膜の厚み方向での大部分が、比較的高速の成膜速度をも
って形成されるので、全体としては、能率的に酸化物超
電導薄膜を製造することができる。堆積の初期において
低い成膜速度で成膜される薄膜の厚みは、たとえば50
0オングストローム程度あれば十分である。このような
意味からも、この発明によれば、長尺の基材上に酸化物
超電導薄膜を能率的に形成することができるので、長尺
の基材を用いる酸化物超電導線材の製造を能率的に進め
ることができる。
薄膜の製造を行なった。
れたレーザビームを、球面レンズを通してターゲット上
に照射した。このとき、球面レンズとして直径60mm
のものを用い、この球面レンズに入射されるレーザビー
ムの幅を30mmとした。球面レンズを通過したレーザ
ビームは、ターゲット上に集光されるが、球面レンズと
ターゲット上の集光点との距離を300mmとした。ま
た、ターゲットへのレーザビームの入射角度を45度と
した。また、ターゲット上の集光点から垂線方向に70
mm離して、基材を設置した。
zで10分間成膜し、その後、高速で成膜するため、レ
ーザ周波数100Hzで1分間成膜した。成膜後、成膜
室よりサンプルを取出し、得られた超導電薄膜の厚みを
調べたところ、1μmであった。
調べたところ、c軸が、基材に対して垂直に配向してい
ることが確認できた。
プルの臨界電流密度を測定した。臨界電流密度は、41
0000A/cm2 であった。また、臨界温度を測定し
たところ、89.5Kであった。
と以外は上記と同じ条件で成膜を行なった。得られたサ
ンプルの液体窒素中での臨界電流密度は、350000
A/cm2 であった。
初から100Hzに設定した以外は、上記と同じ条件で
酸化物超電導薄膜の製造を行なった。
みを調べたところ、成膜速度は、上記実施例とほぼ同じ
であった。
向性を調べたところ、c軸が、基材に対して垂直に配向
していることが確認できた。
プルの臨界電流密度を測定した。臨界電流密度は900
0A/cm2 であった。また、臨界温度を測定したとこ
ろ、83.1Kであった。
銀テープを用いた。この実験例2では、前述した実験例
1と異なり、銀テープにMgO被覆が施されていない。
置し、これをテープ面と平行に1cm/分のスピードで
移動させながら、その上にレーザアブレーション法によ
り成膜を行なった。なお、特に指摘する条件以外の条件
については、前述した実験例1と同様である。
て、10分の成膜を行ない、銀テープのほぼ全長にわた
って厚み400オングストローム程度の膜を形成した。
次に、レーザ繰返し周波数を100Hzとして、5分の
成膜を行ない、上述した膜のさらに上に厚み2μm程度
の膜を形成した。
度は、88Kであり、液体窒素温度における臨界電流密
度は、272000A/cm2 であった。
目の低速での成膜を省略した場合に得られたサンプルの
臨界温度は、87Kであり、臨界電流密度は、1150
00A/cm2 であった。
に、堆積の初期において成膜速度を低速化することによ
り、超電導特性が向上される。
Claims (3)
- 【請求項1】 レーザビームをターゲットに照射し、タ
ーゲットより飛散した粒子を基材上に堆積させる、レー
ザアブレーションによる成膜方法を用いる、酸化物超電
導薄膜の製造方法において、 堆積の初期には、成膜速度を第1の速度とし、その後、
連続して、成膜速度を前記第1の速度よりも速い第2の
速度として単層の酸化物超電導薄膜を形成することを特
徴とする、酸化物超電導薄膜の製造方法。 - 【請求項2】 前記基材として、長尺の可撓性基材が用
いられる、請求項1に記載の酸化物超電導薄膜の製造方
法。 - 【請求項3】 前記可撓性基材は、部分安定化ジルコニ
ア、安定化ジルコニア、アルミナ、イットリア、シリカ
もしくはチタニアのセラミックス、または、白金、金、
銀、アルミニウム、ニッケル、ハステロイ、インコネ
ル、インコロイもしくはステンレス鋼の金属材料から構
成される、請求項2に記載の酸化物超電導薄膜の製造方
法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2-50667 | 1990-03-01 | ||
JP5066790 | 1990-03-01 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04212214A JPH04212214A (ja) | 1992-08-03 |
JP3110473B2 true JP3110473B2 (ja) | 2000-11-20 |
Family
ID=12865302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03030402A Expired - Fee Related JP3110473B2 (ja) | 1990-03-01 | 1991-02-25 | 酸化物超電導薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3110473B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0652106U (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | ジャパンコミュニケーションアート株式会社 | マグネット |
JPH0664273U (ja) * | 1993-02-08 | 1994-09-09 | 株式会社 広報ピーアール | 磁石式目標達成表示板 |
JP7493750B2 (ja) | 2020-03-16 | 2024-06-03 | プロックスマテリアル株式会社 | 遮熱用資材 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050176585A1 (en) * | 2002-04-26 | 2005-08-11 | Sumitomo Electric Industries, Ltd | Process for producing oxide superconductive thin-film |
JP2005344125A (ja) * | 2002-04-26 | 2005-12-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 酸化物超電導薄膜およびその製造方法ならびに超電導限流器 |
ES2378906T3 (es) * | 2008-08-25 | 2012-04-19 | Solmates B.V. | Método para depositar un material |
-
1991
- 1991-02-25 JP JP03030402A patent/JP3110473B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0652106U (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | ジャパンコミュニケーションアート株式会社 | マグネット |
JPH0664273U (ja) * | 1993-02-08 | 1994-09-09 | 株式会社 広報ピーアール | 磁石式目標達成表示板 |
JP7493750B2 (ja) | 2020-03-16 | 2024-06-03 | プロックスマテリアル株式会社 | 遮熱用資材 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04212214A (ja) | 1992-08-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6933065B2 (en) | High temperature superconducting thick films | |
KR890007441A (ko) | 산화물 초전도 성형체 및 그 제조방법 | |
JP2866265B2 (ja) | 高臨界温度超伝導可撓性導体の製造方法 | |
JP3110473B2 (ja) | 酸化物超電導薄膜の製造方法 | |
JP2829221B2 (ja) | 熱プラズマ蒸発法による金属基板上への酸化物の成膜方法 | |
Ma et al. | Pulsed laser deposition of YBCO films on ISD MgO buffered metal tapes | |
JP3192666B2 (ja) | 酸化物超電導膜の製造方法および装置 | |
JPS6161556B2 (ja) | ||
US7560291B2 (en) | Method for fabrication of high temperature superconductors | |
JPS605233B2 (ja) | 高融点化合物薄膜の製造方法 | |
US7727934B2 (en) | Architecture for coated conductors | |
JPH0421597A (ja) | 酸化物超電導導体用基材 | |
JP3192667B2 (ja) | 酸化物超電導薄膜の製造方法 | |
JP3017886B2 (ja) | 酸化物超電導膜の製造方法 | |
JPH01100820A (ja) | 高温超電導材 | |
US5254529A (en) | Superconducting fibers made with yttrium and yttrium oxide interlayers and barium cuprate cover layers | |
JP2573650B2 (ja) | 超電導体の製造方法 | |
JPH0375204A (ja) | 酸化物超伝導膜パターン作製法 | |
JPH07226115A (ja) | イットリウム系酸化物超電導材およびその製造方法 | |
JP2853164B2 (ja) | 酸化物超電導膜の製造方法 | |
JP3192672B2 (ja) | 酸化物超電導膜の製造方法および装置 | |
JPH03261606A (ja) | 酸化物超電導膜の製造方法 | |
JP2953776B2 (ja) | 酸化物超電導体薄膜の製造方法 | |
JPH01100816A (ja) | 高温超電導材 | |
JPH0337913A (ja) | 酸化物超電導体薄膜材料 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000829 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070914 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080914 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090914 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |