JP3098358B2 - 位置検出素子、その位置検出素子を用いた位置検出方法、および光学式ロータリーエンコーダ - Google Patents

位置検出素子、その位置検出素子を用いた位置検出方法、および光学式ロータリーエンコーダ

Info

Publication number
JP3098358B2
JP3098358B2 JP05165681A JP16568193A JP3098358B2 JP 3098358 B2 JP3098358 B2 JP 3098358B2 JP 05165681 A JP05165681 A JP 05165681A JP 16568193 A JP16568193 A JP 16568193A JP 3098358 B2 JP3098358 B2 JP 3098358B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
output electrodes
photodiode
position detecting
light spot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP05165681A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06235622A (ja
Inventor
正博 鹿井
一 仲嶋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP05165681A priority Critical patent/JP3098358B2/ja
Priority to US08/130,874 priority patent/US5428217A/en
Priority to DE4340417A priority patent/DE4340417C2/de
Publication of JPH06235622A publication Critical patent/JPH06235622A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3098358B2 publication Critical patent/JP3098358B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/36Forming the light into pulses
    • G01D5/38Forming the light into pulses by diffraction gratings

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、円環状の軌跡を描い
て移動する光スポットの入射位置を検出するための、半
導体による位置検出素子と、それを用いた位置検出方
法、および光学式ロータリーエンコーダに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図29は従来の位置検出素子を示す断面
図であり、図において、1は平板状のフォトダイオード
であり、2はそのP層、3はそのI層、4はそのN層で
ある。5a,5bは表面のP層2の両端に設けられた電
極であり、6a,6bはそこから取り出された出力端子
である。7は裏面のN層4に付けられたバイアス電極で
ある。また、8はこのフォトダイオード1に入射される
光、9a,9bは入射された光8によって発生する光電
流である。
【0003】次に動作について説明する。平板状のフォ
トダイオード1上のある位置に光8が入射されると、入
射位置において光8のエネルギーに比例した電荷が発生
する。発生した電荷は光電流9aおよび9bとしてP層
2を通り、電極5aと5bより出力される。両電極5
a,5bへの電流は光8の入射位置より各電極5a,5
bに至るP層2の抵抗値に逆比例して分割されるが、P
層2は全面的に均一な抵抗値を持つように作製されてお
り、電流の分割は光8の入射位置より各電極5a,5b
に至る距離に逆比例することになる。それゆえ、各電極
5aと5bからの出力端子6aと6bに出力される電流
をそれぞれIa、Ibとし、電極5aと5bの間隔を
L、電極5aと5bの間の中心を原点としたときの光8
の入射位置をXとすれば、次式により光8の入射位置を
検出することができる。
【0004】 (Ia−Ib)/(Ia+Ib)=2X/L ・・・(1)
【0005】また、従来の位置検出素子としては、その
他にも、図30に示す構造のものなどがある。図30に
示された位置検出素子は、1992年の「第3回ロボッ
トセンサシンポジウム」予稿集の第125頁に掲載され
たものであり、図において、11は図29に符号1を付
したものに相当する平板状のフォトダイオードであり、
12はこのフォトダイオード11に平行して形成された
分割抵抗としての抵抗体である。13はこの抵抗体12
よりフォトダイオード11上に等間隔で櫛の歯状に張り
出した導電層であり、14は抵抗体12より引き出され
た複数個の出力電極である。
【0006】なお、この位置検出素子の動作は、基本的
には図29に示した前述の位置検出素子と同様である
が、フォトダイオード11上に張り出した導電層13に
よって光スポットの入射による光電流を抵抗体12に導
くことで、フォトダイオード11における抵抗値のばら
つきを吸収するとともに、両端の出力電極14にて検出
される電流値に基づいて光スポットが入射された区間領
域を選択し、当該区間領域の両端に配置された出力電極
14の電流値に基づいて光スポットの入射位置を特定す
るものである。
【0007】次に従来の光学式ロータリーエンコーダに
ついて説明する。図31は、例えば「光応用技術199
1年版III−1」(社団法人オプトメカトロニクス協
会、1991年4月30日発行)に示された、従来の光
学式ロータリーエンコーダを示す構成図である。図にお
いて、21は発光素子、22はこの発光素子21に対向
して配置された受光素子であり、23はこの発光素子2
1と受光素子22の間に回転軸に固定されて配置された
回転スリット円板である。24はこの回転スリット円板
23とともに前記発光素子21と受光素子22との間に
配置された固定スリット板である。また、25は回転ス
リット円板23および固定スリット板24を透過して受
光素子22で受信変換された信号を増幅するアンプであ
る。
【0008】次に動作について説明する。回転スリット
円板23には、絶対角度番地を表す2進符号に対応した
スリットを同心円状に配置したn本のトラックが形成さ
れている。一般に、トラック数nは前記2進符号長nで
あり、エンコーダの角度分解能で決定され、図示の例で
はn=4で描かれている。また、固定スリット板24は
発光素子21と受光素子22を結ぶ光路上に配置されて
おり、回転軸の回転角は前記回転スリット円板23およ
び固定スリット板24からの透過光のオン/オフにコー
ド化され、さらに受光素子22により電気符号に変換さ
れ、アンプ25で増幅されて出力される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来の位置検出素子は
以上のように構成されているので、平板状フォトダイオ
ード1の両端に電極5a,5bを設けるため、円環状の
軌跡を有する光スポットの入射位置を検出するためにフ
ォトダイオードを円環状に形成する場合には、円環状の
フォトダイオード1上のいずれかの位置に出力電極5
a,5bを2本設ける必要があるが、このような構成に
おいては光スポットが両電極5a,5b、もしくは両電
極5a,5bの間の間隙に照射されている場合には、位
置検出出力が不確定になるという問題点があった。
【0010】また、従来の光学式ロータリーエンコーダ
は以上のように構成されているので、回転スリット円板
23と固定スリット板24の両者の開口の透過光量を検
出するための明確な検出出力を得るためには、前記回転
スリット円板23と固定スリット板24を近接する必要
があり、特に高解像点数のエンコーダではスリットの開
口幅が狭くなるため光の拡散が激しく、前記回転スリッ
ト円板23と固定スリット板24の間隔の変化で検出特
性が大幅に変化し、厳しい間隔の管理が必要であるばか
りか、回転スリット円板23の作製誤差、回転スリット
円板23の回転軸への取り付け誤差等に起因する偏心が
そのまま角度検出誤差につながるなどの問題点があっ
た。
【0011】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、環状の軌跡を描く光スポットの
位置検出に関して、光スポットの円周上の入射位置を不
確定領域が無く高精度で検出することのできる位置検出
素子を得ることを目的とする。
【0012】また、請求項2および3に記載の発明は、
請求項1に記載した位置検出素子を用いて有効な位置検
出方法を得ることを目的とする。
【0013】また、請求項4に記載の発明は、光学式ロ
ータリーエンコーダに関する前述の問題点を解消するた
めになされたもので、固定スリット板が不用となり、か
つ偏心の影響もなくすことのできる光学式ロータリーエ
ンコーダを得ることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
係る位置検出素子は、円環状に形成された平板状のフォ
トダイオードの外周に抵抗体を同心円状に設置し、その
抵抗体に複数個の出力電極を配置して、細線状の導電層
をその抵抗体よりフォトダイオード上に、前記各出力端
子の角度間隔をさらに分割するように、放射状に等角度
間隔で張り出したものである。
【0015】また、請求項2に記載の発明に係る位置検
出方法は、上記請求項1に係る位置検出素子の出力電極
の数を4の倍数として、対向している1対の出力電極と
それに対して90度の角度をなして対向している1対の
出力電極とを選択し、光スポットの入射によって各々の
出力電極に生ずる電流値を計測して、各対毎に計測され
た各出力電極の電流値の差をその和で除算し、得られた
2つの除算結果に基づいて光スポットの入射位置を検出
するものである。
【0016】また、請求項3に記載の発明に係る位置検
出方法は、上記請求項1に係る位置検出素子の出力電極
の数を8より大きな4の倍数として、上記請求項2に係
る位置検出方法にて検出された位置を概略位置とし、そ
の概略位置に最も近い出力電極を挟む1対の出力電極を
選択して、その各々の光スポットの入射に基づく電流値
の差をその和で除算し、得られた除算結果に基づいて光
スポットの入射された位置を検出するものである。
【0017】また、請求項4に記載の発明に係る光学式
ロータリーエンコーダは、円環状のフォトダイオードを
有して、上記請求項1の発明に係る位置検出素子、光源
からの光を偏向させて、光スポットを自身の回転角度に
対応して位置検出素子のフォトダイオード上を移動させ
る回転体、および、この光スポットの位置検出素子上の
入射位置を上記請求項2もしくは3の発明に係る位置検
出方法にて検出する位置検出手段を備えたものである
【0018】
【作用】請求項1に記載の発明における位置検出素子
は、円環状のフォトダイオードの外周に同心円状に設置
された抵抗体によって光スポットの入射による光電流を
分割し、それを所定の出力電極対より取り出すことによ
り、円環状の軌跡を描いて移動する光スポットの位置
を、不確定領域を作ることなく検出することが可能な位
置検出素子を実現する。
【0019】また、請求項2に記載の発明における位置
検出方法は、等角度間隔で4n個(nは整数)設置され
た出力電極中の、対向している1対の出力電極とそれに
対して90度の角度をなして対向している1対の出力電
極とを選択して、各々の対毎に各出力端子の計測電流値
の差をその和で除算することにより、位置検出素子に入
射された光スポットの位置を一意に特定する。
【0020】また、請求項3に記載の発明における位置
検出方法は、出力電極の数を4m個(mは2以上の整
数)とし、請求項2の位置検出方法で検出された位置に
最も近い出力電極を挟む1対の出力電極を選択して、そ
の各々の計測電流値の差をその和で除算することによ
り、より高精度で光スポットの入射位置を検出すること
を可能とする。
【0021】また、請求項4に記載の発明における光学
式ロータリーエンコーダは、回転体が光源からの光を偏
向させて、その回転角度に対応して円環状の軌跡上を移
動させる光スポットを位置検出素子の円環状のフォトダ
イオード上に形成し、その光スポットの入射位置を請求
項2もしくは3の方法にて検出することにより、固定ス
リット板が不用で、偏心の影響を受けることもない光学
式ロータリーエンコーダを実現する。
【0022】
【実施例】実施例1. 以下、この発明の実施例1を図について説明する。図1
は請求項1に記載した発明の一実施例を示す平面図、図
2はその一部を拡大して示す要部拡大平面図である。図
において、31はこの実施例1による位置検出素子であ
る。32は円環状に形成されている点で、図30に符号
11を付したものとは異なった平板状のフォトダイオー
ドである。33はこの円環状のフォトダイオード32の
外周に当該フォトダイオード32と同心円状に設置され
た抵抗体であり、34はこの抵抗体33よりフォトダイ
オード32上にその内周まで、等角度間隔で放射状に張
り出した複数の導電層である。35は抵抗体に等角度間
隔で配置された複数個の出力電極であり、ここでは、8
個の出力電極35が45°間隔で配置されており、その
各々にはT0からT7までの番号が付されている。な
お、前記導電層34の数はこの出力電極35の数より多
数用意され、各出力電極35の間の角度間隔をさらに分
割している。
【0023】次に動作について説明する。円環状に形成
されたフォトダイオード32に光スポットが入射すると
き、入射位置において入射光エネルギーに比例した光励
起電荷が発生する。今、何れかの出力電極35が基板に
対して逆バイアスされていれば発生した電荷は当該出力
電極35より電流として取り出されるが、円環状の抵抗
体33の抵抗値がフォトダイオード32の表面抵抗より
十分小さければ、電流は導電層34を通じて前記抵抗体
33に流れ込み、この抵抗体33を通って逆バイアスさ
れた出力電極35に流れる。ここで、2個の出力電極が
選択され、その各々が逆バイアスされて電流が取り出さ
れるとき、前記抵抗体33の円周方向の抵抗率をρ、光
スポットの入射位置から選択された2個の出力電極35
までの距離をX,Y、それらの電極35より取り出され
る電流をIx、Iyとすると次式が成立する。
【0024】 ρX×Ix=ρY×Iy ・・・・(2)
【0025】従って、次式が成立して、各電流値Ix,
Iyより光スポットの選択された出力電極35間での位
置を求めることができる。
【0026】 (Ix−Iy)/(Ix+Iy)=(Y−X)/(X+Y)・・・(3)
【0027】また、選択した出力電極35の位置は既知
であるので、位置検出素子31上の光スポット位置を特
定することが可能となる。
【0028】このように、この実施例1によれば、受光
面である円環状のフォトダイオード32の外周に位置検
出用の円環状の抵抗体33を同心円状に配置し、該抵抗
体33より等間隔で出力電極35を設ける構成としたの
で、受光面に電極を配置する必要がなくなって、電極に
よる不感帯がなくなり、また位置検出用の抵抗体33に
も不連続性がなくなって、円周上の光スポットの入射位
置の特定の信頼性を向上させることができる。
【0029】実施例2. 次はこの発明の実施例2を図について説明する。図3は
請求項2に記載した発明の一実施例を示すブロック図で
ある。図において42は位置検出素子31の出力電極3
5の内の指定されたものを選択して後述する計測演算器
に導く選択器である。43は前記選択器42より導かれ
た2個の出力電極35の電流出力を計測してその演算を
行う計測・演算器であり、44は選択器42を制御し、
計測・演算器43から出力される演算結果より、位置検
出素子31上に入射された光スポットの位置を特定する
演算制御器である。
【0030】次に動作について説明する。ここで、図4
は光スポットの位置検出素子31の円周上の角度位置に
対する計測・演算器43からの出力を示す波形図であ
る。光スポットの位置検出には、まず演算制御器44が
位置検出素子31の円周上の対向する位置にある出力電
極35の対、例えば図1におけるT0とT4を選定し、
選択器42を駆動する。これによって前記T0とT4の
出力電極35の対からの出力は計測・演算器43に導か
れ、計測・演算器43では前記1対の出力電極35の各
々から出力される電流値を計測し、両者の差を和で割っ
たものを演算する。例えば、T0より出力される電流値
をI0、T4より出力される電流値をI4とすれば、出
力OUT1が次式によって演算され、演算制御器44に
送られる。
【0031】 OUT1=(I4−I0)/(I4+I0) ・・・(4)
【0032】次に、同様にして前記出力電極35の対と
は90°の角度を成す出力電極35の対、例えばT2と
T6が選択され、上述と同様に例えばT2の出力する電
流値をI2、T6の出力する電流値をI6とすれば、出
力OUT2が次式によって計測・演算器43で演算さ
れ、演算制御器44に送られる。
【0033】 OUT2=(I2−I6)/(I2+I6) ・・・(5)
【0034】この光スポットの位置検出素子31の円周
上の入射位置に対する出力OUT1およびOUT2の関
係は図4に示すように出力電極位置を頂点とする三角波
となっており、出力OUT1と出力OUT2には90°
の位相差がある。ひとつの出力、例えばOUT1では光
スポット位置は検出回転位置P1とP2の二通りが考え
られ特定できないが、出力OUT2が加わりその検出回
転位置P3とP4が求まれば、両者が一致する検出回転
位置P1またはP4が真の光スポットの入射位置であり
位置検出素子31の円周上の位置が一意に決定する。
【0035】前記三角波の頂点、つまり出力電極35付
近に光スポットのある場合には、光スポットの大きさに
依存して図4に実線で示したように、理想的な三角波か
ら若干なまったものとなる。このため、位置検出出力と
しては出力電極35の間の中心に近い方の検出出力を用
いる方がより精度の高い検出が行える。
【0036】この実施例2は、前述したように直交する
2対の出力電極35のそれぞれの出力電流値より、光ス
ポットの位置検出素子31の円周上での位置を一意に決
定するものである。この方式によれば、一意に円周上の
位置を決定することができるが、このときの検出分解能
は半円の電極間隔における電流のS/N比、および計測
・演算器43の分解能によって決定される。この位置検
出素子の分解能γは一般に次式で求められる。
【0037】 γ=L×(4kTB/R+2qBI)1/2 ・・・(6)
【0038】ここで、Lは出力電極35の間隔、kはボ
ルツマン定数、Tは絶対温度、Bは帯域幅、Rは出力電
極35間の抵抗、qは単位電荷、Iは電流である。な
お、出力電極間の抵抗Rは出力電極35間の間隔Lに比
例するので、出力電極35間の間隔Lが小さくなるほど
分解能が高くなる。一方、計測・演算器43の分解能を
高くとることは処理回路の高価格化を招き望ましいこと
ではない。このような点を考慮してなされたものが実施
例3であり、以下それについて説明する。
【0039】実施例3. 図5は請求項3に記載した発明の一実施例を示す構成図
で、図3と同一の部分には同一符号を付してその説明を
省略する。図において、45は図3に符号44を付した
ものに相当する演算制御器であるが、その演算制御器4
4と同様の処理にて検出された位置を概略位置とし、そ
の概略位置に最も近い出力電極35を挟んだ1対の出力
電極35を選択して再度選択器42に通知し、その時、
計測・演算器43が出力する演算結果に基づいて、光ス
ポットの詳細な入射位置を特定する点で、前記演算制御
器44とは異なっている。なお、この実施例3では、位
置検出素子31には4m個(mは2以上の整数)の出力
電極35が必要となるが、この場合、図3のそれと同一
の、図1に示した出力電極35が8個(m=2)のもの
が使用されている。
【0040】次に動作について説明する。図6は光スポ
ットの位置検出素子31の円周上の角度位置に対する計
測・演算器43からの出力を示す波形図である。ここで
は、m=2の場合を示しており、横軸に回転位置とそれ
に対応する出力電極35の番号T0からT7までを示し
ている。まず、演算制御器45は実施例2の場合と同様
に、直交する2対の出力電極35を選択して選択器42
に通知し、計測・演算器43の演算結果である出力OU
T1およびOUT2より、位置検出素子31の円周内の
概略の位置を一意的に求める。次に、求められた概略位
置に最も近い出力電極35に対して、それを挟む1対の
出力電極35を選択してそれを選択器42に通知する。
これによって当該2つの出力電極35は計測・演算器4
3に導かれ、演算結果が演算制御器45に送られる。こ
の演算結果が出力OUT3であり、図6では、出力OU
T1とOUT2によりT2とT4の出力電極35が選択
された例を示している。出力OUT3の傾きは出力OU
T1およびOUT2に対してm倍になりT2とT4の出
力電極35の間の光スポット位置をm倍高い分解能で検
出することが可能となる。また、出力電極35の位置は
既知の値であるので、位置検出素子31の円周上の位置
が特定できることになる。
【0041】また、選択器42により4個の出力電極3
5を同時に選択し、1対は前述の出力OUT1及び出力
OUT2より選ばれたもので計測・演算器43に導き、
他の2個は位置検出に使用する円弧の逆側の円弧にあり
検出に用いる電極にそれぞれ隣接する電極を選択し前記
検出に用いる電極対の電位と同電位のバイアスに短絡す
れば、等価的に電極間隔が短くなったことになりS/N
比が向上して、さらに分解能を上げることができる。
【0042】実施例4. 以上、実施例1で説明した位置検出素子および実施例
2,3で説明した位置検出方法は、回転機の回転角度を
検出する光学式ロータリーエンコーダに適用することが
できる。以下、そのような光学式ロータリーエンコーダ
について説明する。図7は請求項4に記載発明の一実施
例を示す構成図である。図において、52は照射する光
束を発生する光源、53は光源52の発生した光束を収
束させる集光レンズ、54はその収束光の光路を変換す
るハーフミラー、55はハーフミラー54で反射された
収束光を偏向させる回転体としての偏向器、56はこの
偏向器を回転させる回転軸である。また、31は実施例
1で説明した位置検出素子であり、57は位置検出素子
31の出力電極35からの出力電流値より、光スポット
の入射位置を検出する位置検出手段である。
【0043】次に動作について説明する。光源52より
出射された光束は、集光レンズ53により収束光に変換
されてハーフミラー54に入射する。ハーフミラー54
より反射された光束は、偏向器55に入射されて該偏向
器55に対して一定の方向に偏向を受けて反射され、再
びハーフミラー54に入射する。このハーフミラー54
で透過した透過光が位置検出素子31に入射され、その
円環状のフォトダイオード32上に光スポットを形成す
る。偏向器55は回転軸56に取り付けられており、回
転軸56の回転に伴って回転するため、反射光の軌跡は
前記偏向器55の偏向角の2倍を頂角とする円錐を形成
する。位置検出素子31は、反射光の回転中心軸、つま
り偏向角が0°の場合の反射光の光軸に垂直、かつ円環
状のフォトダイオード32の中心を一致させて配置され
る。偏向器55とフォトダイオード32との距離は、光
スポットが当該フォトダイオード32上に照射するよう
に設定され、また、集光レンズ53はフォトダイオード
32上で収束光が光スポットの焦点となるように選択さ
れている。このようにして円環状に形成されたフォトダ
イオード32上に形成される光スポットの位置は、回転
軸56の回転角度に対応しており、この光スポット位置
を位置検出手段57によって前述した実施例2または実
施例3の位置検出方法にて検出し、回転角度として出力
する。
【0044】また、偏向器55として、例えば回折格子
のような入射位置依存性のないものを用いれば、偏心等
の影響によって偏向器55への光束の入射位置に変化が
あっても、位置検出素子31上での光スポットの位置に
変化はなく、偏心の影響を受けることのない光学式ロー
タリーエンコーダを実現することができる。
【0045】参考例1. 以下、参考例1を図について説明する。図8は参考例1
を示す構成図である。図8において、101は単色光源
であり、例えばレーザダイオードである。102および
104は集光レンズであり、103はこの集光レンズ1
02と104との間に配置された回転円板である。10
5は集光手段としての集光レンズ104にて集光された
光スポットの位置を検出する位置検出手段としての位置
検出素子であり、例えば半導体位置検出素子である。1
07は位置検出手段にて検出された光スポットの位置に
基づいて前記回転円板103の回転角度を演算出力する
演算手段である。108は前記単色光源101と集光レ
ンズ102にて構成される照明手段である。
【0046】図9は回転円板103の構造の詳細を示す
説明図であり、図において106は円周をn等分して形
成した領域(以後、格子セクタと称する)であり、この
中にピッチPの直線回折格子が形成されている。格子セ
クタ106の分割線202aおよび202bのなす角は
2π/nラジアンである。また、何れの領域の直線回折
格子もその領域の分割線202aおよび202bの2等
分線203に対して一定の角度をなすようにして形成さ
れている。このため、回転円板103に形成されたパタ
ーンは2π/nラジアンの回転ごとに同一の形状を繰り
返す周期的な構造となる。
【0047】図10は直線回折格子の回転に対する回折
光の様子を示す説明図である。図10において、301
は前記格子セクタ106に形成される直線回折格子であ
り、302はこの直線回折格子301に入射される平行
光束である。303a,303bはこの平行光束302
の直線回折格子301への入射によって発生する回析光
であり、304はその回折光303a,303bを観測
する観測面、305はこの観測面304上を移動する回
折光303a,303bのスポットの軌跡を示す円周で
ある。
【0048】次に図8および図10を用いて参考例1
動作について説明する。今、直線回折格子301に平行
光束302が入射すると、入射した平行光束302は直
線回折格子301の回折作用により、格子に対して垂直
な平面内に回折光303a,303bを発生する。直線
回折格子301が回転すると、回折光303aおよび3
03bも回転し、観測面304上で回折光のスポットは
円周305上を移動する。直線回折格子301の回転角
θに対する観測面304上でのスポットの回転角は同様
にθであり、円周305の半径をrとすればθ回転時の
スポットの直線移動距離Lは次式となる。
【0049】 L=2rSin(θ/2) …………………(7)
【0050】ここで、回転角θが十分小さければ、上記
式(7)は近似的に次式となって、移動距離から角度を
直接検出することが可能となる。
【0051】 L=rθ …………………(8)
【0052】また、図8において、単色光源101より
出射した光束は、集光レンズ102により格子セクタ1
06内に納まる大きさのビームとして回転円板上のひと
つの格子セクタ106に入射する。格子セクタ106の
直線回折格子により回折された回折光は集光レンズ10
4により位置検出素子105に対して適切なスポット形
状に集光されて前記位置検出素子105に入射する。こ
こで、入射光の波長をλ、回折格子のピッチをPとすれ
ば1次回折光の回析角φは次式で表すことができる。
【0053】 φ=Sin-1(λ/P) …………………(9)
【0054】位置検出素子105の位置検出方向は回転
円板の回転による位置検出素子105上の光スポット移
動方向に一致するように設置され、集光レンズ104の
焦点距離をfとするとき、直線回折格子の回転角θに対
応する光スポットの移動距離Lは次式となる。
【0055】 L=2fTanφSin(θ/2) …………………(10)
【0056】ここで、回転角θが十分小さければ、上記
式(10)は近似的に次式となって、移動距離が回転角
に比例することになる。
【0057】 L=fθTanθ …………………(11)
【0058】また、位置検出素子105の位置検出範囲
は、ひとつの格子セクタ106分の回転角2π/nの格
子回転による光スポット移動範囲2πfTanφ/nを
包含するように設定される。
【0059】回転円板103が一周内において回転する
とき、前述のように回転円板103は2π/nラジアン
ごとに繰り返すパターンであるので、光スポットも位置
検出素子105上で移動をn回繰り返す。よって、位置
検出信号をカウントしてゆけば位置検出素子105の分
解能を角度分解能とするインクリメンタルエンコーダを
構成できる。また、格子セクタ106内の位置検出信号
はその格子セクタ106の範囲で絶対角度を表している
ため、格子セクタ106を弁別する手段を設ける事によ
り1回転の絶対値エンコーダを構成することもできる。
【0060】ところで、この参考例1のような直線回折
格子を用いた角度検出方式において回転円板103の回
転軸の軸ぶれによる偏心が発生した場合、その影響は回
転円板103の同一平面内における平行シフトとなって
現れ、回折格子の回転角の変化とはならない。このた
め、偏心による平行シフトが格子セクタ106内であれ
ば、角度検出出力は偏心の影響を全く受けないこととな
る。
【0061】参考例2. 次に参考例2を図について説明する。図11は参考例2
を示す構成図で、同一部分には図8,図9と同一符号を
付して説明を省略する。図11において、403は回転
円板で、参考例1における回転円板103とほぼ同じ構
造を持つものである。406は格子セクタでその直線回
折格子の格子方向が格子セクタの2等分線203に平行
に形成されている点で参考例1における格子セクタ10
6とは異っている。407および408は、円筒レンズ
であり、その集光方向を回転円板403の半径方向と
し、前記回転円板403上で焦点を結ぶように設置され
ている。409は集光レンズ104とこの円筒レンズ4
08にて形成される集光手段であり、410は単色光源
101および集光レンズ102とこの円筒レンズ407
によって形成される照明手段である。
【0062】次に動作について説明する。単色光源10
1より出射した光束は、集光レンズ102及び円筒レン
ズ407により格子セクタ406内に線状スポットを形
成する。この線状スポットは、前述のように集光方向を
回転円板403の半径方向としており、また長さは格子
セクタ406の半径方向の幅内に納まるように設定され
ている。格子セクタ406の直線回折格子により回折さ
れた回折光は集光レンズ104および円筒レンズ408
により位置検出素子105に対して適切なスポット形状
に集光されて前記位置検出素子105に入射する。ただ
し、位置検出素子105に対して適切なスポット形状と
することが可能であれば、照明手段410としては集光
レンズ104または円筒レンズ408を省略することも
可能である。
【0063】このような構成の場合、線状スポットを位
置検出素子105に結像しているため、前記線状スポッ
トの集光方向に関する回折光の角度変動が前記位置検出
素子105のスポットに影響を及ぼさなくなる。また、
直線回折格子の格子方向をセクタ406の2等分線に平
行に形成しているため、回転による回折光の方向の変化
は線状スポットの集光方向に垂直となり、回転角検出能
力への影響は無く、位置検出素子105上の光スポット
の位置を検出して、請求項5と同様に角度の検出が行え
る。
【0064】参考例3. 次に参考例3を図について説明する。図12は参考例3
を示す構成図で、先に説明した部分については同一符号
を付してその説明を省略する。なお、基本構成は参考例
と同じであり、単色光源101と回転円板403の間
にグレーティングビームスプリッタ508が挿入され
(図12では、一例として集光レンズ102と円筒レン
ズ407の間に配置している)、2個の位置検出素子5
09a及び509bが平行に配置されている。509は
この2個の位置検出素子509a,509bにて形成さ
れる位置検出手段であり、510は単色光源101、集
光レンズ102、および円筒レンズ407と前記グレー
ティングビームスプリッタ508にて形成される照明手
段である。
【0065】次に動作について説明する。参考例2と同
様に、単色光源101、集光レンズ102および円筒レ
ンズ407によって、回転円板403上に線状スポット
を形成するが、途中に配置されたグレーティングビーム
スプリッタ508によって光束は少なくとも2方向に分
岐されており、回転円板403上に少なくとも2個の線
状スポットを形成する。前記グレーティングビームスプ
リッタ508の分岐角は、前記線状スポットの少なくと
も2個の間隔が格子セクタ406の円周方向の幅の(2
m+1)/2倍(ただし、mは整数)、格子円板の回転
角にして(2πm+1)/nラジアンとなるように設定
している。また、2個の位置検出素子509aおよび5
09bは、回転円板403上の2個の線状スポットの直
線回折格子による回析光が円筒レンズ408および集光
レンズ104によって形成する2個のスポットの各々の
位置を検出するように配置されている。
【0066】ここで、図13はm=0の場合における回
転円板403上の2個の線状スポットの照射位置を示し
た説明図である。図中、(a),(b),(c)と回転
円板403が回転していく様子を示しているが、一方の
スポットが格子セクタ406の境界にある時、他のスポ
ットは必ず格子セクタ406の中心部を照射しており、
必ず何れか一方のスポットが格子セクタ406中に存在
している。よって、演算手段107は、前記線状スポッ
トの一方が格子セクタ406の境界にあり、スポット形
状の乱れによって一方の位置検出素子、例えば位置検出
素子509aの検出能力が不十分となるとき、他方の位
置検出素子509bの検出出力を用いて回転角度を演算
するように構成されており、格子セクタ406の境界に
よる検出不能領域を無くすようにされている。
【0067】参考例4. 次に参考例4を図について説明する。図14は参考例4
を示す構成図で、先に説明した部分については同一符号
を付してその説明を省略する。図14において710は
照明光束と反射光束を分離するための分離手段であり、
この分離手段710は単色光源101と回転円板103
の間に設置されている。711は回転円板103上の透
過型の直線回折格子を透過した光束を反射して、同一の
直線回折格子に再度入射するための反射手段である。分
離手段710としては、例えばハーフミラーや偏向ビー
ムスプリッタが考えられる。ハーフミラーを用いる場合
には回転円板103の後方に配置される反射手段711
には反射ミラーを用い、偏向ビームスプリッタを用いる
場合には、反射手段711にλ/4板と反射ミラーを複
合して用いる必要がある。また、この参考例4の構成で
は、反射手段711が回転円板103と平行となる配置
としており、この場合には同一の光路に反射されるため
に、単色光源101から回転円板103に入射する入射
角を直線回析格子の回折角に設定する必要がある。反対
に、入射光を垂直入射とした場合には透過回折光が傾く
ため、反射手段711の方を回転円板103に対して傾
けておく必要がある。
【0068】次に動作について説明する。ここで、図1
5はこの参考例4での直線回折格子と反射ミラーにおけ
る回折光の様子を示す説明図、図16は直線回折格子の
回転に対する回折光の様子を示す説明図である。単色光
源101より出射した光束は、集光レンズ102により
格子セクタ106内に納まる大きさのビームとして回転
円板103上のひとつの格子セクタ106に入射する。
前述のように、反射手段711は回転円板103に平行
となる配置としているので、入射と反射が同じ光路をと
るためには、図15に示すように透過回折光(図におい
ては+1次回折光)が垂直に出射しなければならない。
このために、入射光の入射角は反射光の+1次回折光と
同一の角度となるように設定されている。回転円板10
3が回転した時の回折光の変化は図16に示すように、
回転円板103が角度θ回転すると直線回折格子も角度
θ回転し、透過回折光は角度βだけ垂直からずれること
になる。この角度βは、図10等において説明した、回
折格子が角度θ回転した時の回折光の回折方向の変化に
符号するものであり、位置検出素子105上の光スポッ
トの移動に相当する。次に、反射光は回転円板103に
再入射して2度目の回折を受けて照明手段108側に戻
るが、この時にさらにβの角度変化を受けるため、合計
2βの角度変化を持って位置検出手段105に向かう。
従って、1回の回折に比べて2倍の角度分解能を得るこ
とができる。
【0069】参考例5. 次に参考例5を図について説明する。図17は参考例5
を示す構成図である。図17において、1001は回転
円板、1002は回転円板1001上に形成されたトラ
ック、1003は回転円板1001の一部に光を照射す
る照射手段としての光源、1004および1005は集
光レンズ、1006は回転円板1001を透過した光の
強度を検出する光強度検出素子であり、例えばホトダイ
オードである。1007はこの光強度検出素子1006
で検出した透過光の強度から回転円板1001の回転角
度を演算出力する演算手段である。
【0070】また、図18は回転円板1001に形成さ
れたトラック1002のパターンを示す平面図である。
図18において、1101は光を透過するスリットであ
り、トラック内の他の部分は不透明である。ここで、回
転円板1001の中心Oからスリット1101の開口の
外周および内周までの距離をそれぞれr1,r2とし、
それらの図18中の破線1102からの角度をそれぞれ
θ1,θ2とし、θ2=0の時のr2をr0,θ1=θ
2=0の時のr1−r2をrGとすると、スリット11
01の開口は、次式を満たす形状である。
【0071】 r1=r0+rG−((1−a)×rG)/2π×θ1……(12) r2=r0+(a×rG)/2π×θ2 ………………(13) 0≦a≦1
【0072】次に動作について説明する。光源1003
を出射した光束は、集光レンズ1004によりトラック
1002に入射する。ここで入射する光束は、回転円板
1001の半径方向についてトラック1002のスリッ
ト1101の開口内に納まらないようにする。スリット
1101を透過した光は、集光レンズ1005により光
強度検出素子1006に集光され、光強度検出素子10
06によってその透過光の強度が検出される。回転円板
1001が回転するとき、光強度検出素子1006によ
って検出される透過光の強度は、回転円板1001の回
転角に対してリニアであり、回転円板1001の1回転
の絶対角度を表している。よって、このスリット110
1を透過する光の強度を検出することにより1回転の絶
対値エンコーダを構成することができる。
【0073】参考例6. 次に参考例6を図について説明する。図19は参考例6
を示す構成図で、先に説明した部分については同一符号
を付して説明を省略する。図19において、1201は
回転円板、1202は内部が直線回折格子であるn個の
格子セクタ106によって第1のパターンが形成された
トラックである。このトラック1202はスリット11
01によって第2のパターンが形成されたトラック10
02と互いに干渉しないよう配置されている。1207
は位置検出手段105と光強度検出素子1006の出力
に基づいて回転円板1201の回転角度を演算出力する
演算手段である。
【0074】次に動作について説明する。単色光源10
1より出射した光束は、集光レンズ102により格子セ
クタ106内に納まる大きさのビームとして回転円板1
201のトラック1202上のひとつの格子セクタ10
6に入射する。格子セクタ106の直線回折格子により
回折された回折光は集光レンズ104により位置検出素
子105に対して適切なスポット形状に集光されて前記
位置検出素子105に入射する。参考例1の場合と同様
に、格子セクタ106内の前記位置検出信号はその格子
セクタ106の範囲で絶対角度を表している。
【0075】一方、光源1003を出射した光束は、集
光レンズ1004により回転円板1201のトラック1
002に入射する。ここで入射する光束は、回転円板1
201の半径方向についてトラック1002のスリット
1101の開口内に納まらないようにする。スリット1
101を透過した光は、集光レンズ1005により光強
度検出素子1006に集光され、その透過光の強度が検
出される。回転円板1201が回転するとき、光強度検
出素子1006によって検出される光強度は、参考例5
の場合と同様に、回転円板1201の1回転の絶対角度
を表している。
【0076】トラック1202内の格子セクタ106の
弁別は、回転円板1201の1回転の絶対角度を、2π
/nラジアン以下の角度分解能で検出することによって
可能となる。従って、光強度検出素子1006によって
2π/nラジアン以下の角度分解能で回転円板1201
の1回転の絶対角度を検出し、格子セクタ106の弁別
を行えば、位置検出素子105の分解能を角度分解能と
する1回転の絶対値エンコーダを構成することができ
る。
【0077】参考例7. 次に参考例7を図について説明する。図20は参考例7
を示す構成図である。図20において、1301は回転
円板、1302は回転円板1301上に形成されたトラ
ック、1303は回転円板1301の一部に単色光を照
射する照射手段としての単色光源、1304および13
05は集光レンズ、1306は回転円板1301からの
回折光の強度を検出する光強度検出素子である。130
7はこの光強度検出素子1306で検出した回折光の強
度から回転円板1301の回転角度を演算する演算手段
である。
【0078】また、図21は、回転円板1301に形成
されたトラック1302のパターンを示す平面図であ
る。図21において、1401は透過型の回折格子であ
り、例えば凹凸パターンの位相変調型の回折格子であ
る。なお、回転円板1301のこの回折格子1401以
外の部分は透明であっても、不透明であってもよい。回
折格子1401の形状は参考例5のスリット1101の
形状と同じであり、この回折格子1401は回転円板1
301の中心を中心とする円弧状の格子を有している。
【0079】次に動作について説明する。光源1303
を出射した光束は、集光レンズ1304によりトラック
1302に入射する。ここで入射する光束は、回転円板
1301の半径方向についてトラック1302の回折格
子1401内に納まらないようにする。回折格子140
1によって回折された1次の回折光は、集光レンズ13
05により光強度検出素子1306に集光され、光強度
検出素子1306によってその回折光の強度が検出され
る。回転円板1301が回転するとき、光強度検出素子
1306によって検出される回折光の強度は、回転円板
1301の回転角に対してリニアであり、回転円板13
01の1回転の絶対角度を表している。よって、この回
折格子1401で回折される回折光の強度を検出するこ
とにより1回転の絶対値エンコーダを構成することがで
きる。
【0080】参考例8. 次に参考例8を図について説明する。図22は参考例8
を示す構成図で、先に説明した部分については同一符号
を付してその説明を省略する。図22において、150
1は回転円板、1502は内部が直線回折格子であるn
個の格子セクタ106によって第1のパターンが形成さ
れたトラックである。このトラック1502は回折格子
1401によって第2のパターンが形成されたトラック
1302と互いに干渉しないよう配置されている。15
07は位置検出手段105と光強度検出素子1306の
出力に基づいて回転円板1501の回転角度を演算出力
する演算手段である。
【0081】次に動作について説明する。単色光源10
1より出射した光束は、集光レンズ102により格子セ
クタ106内に納まる大きさのビームとして回転円板1
501上のひとつの格子セクタ106に入射する。格子
セクタ106の直線回折格子により回折された回折光は
集光レンズ104により位置検出素子105に対して適
切なスポット形状に集光されて前記位置検出素子105
に入射する。参考例1の場合と同様に、格子セクタ10
6内の前記位置検出信号はその格子セクタ106の範囲
で絶対角度を表している。
【0082】一方、単色光源1303を出射した光束
は、集光レンズ1304により回転円板1501のトラ
ック1302に入射する。ここで入射する光束は、回転
円板1501の半径方向についてトラック1302の回
折格子1401内に納まらない様にする。回折格子14
01によって回折された回折光は、集光レンズ1305
により光強度検出素子1306に集光され、その回折光
の強度が検出される。回転円板1501が回転すると
き、光強度検出素子1306によって検出される光強度
は、参考例7の場合と同様に、回転円板1501の1回
転の絶対角度を表している。
【0083】トラック1502内の格子セクタ106の
弁別は、回転円板1501の1回転の絶対角度を、2π
/nラジアン以下の角度分解能で検出することによって
可能となる。従って、光強度検出素子1306によって
2π/nラジアン以下の角度分解能で回転円板1501
の1回転の絶対角度を検出し、格子セクタ106の弁別
を行えば、位置検出素子105の分解能を角度分解能と
する1回転の絶対値エンコーダを構成することができ
る。
【0084】参考例9. 次に参考例9を図について説明する。図23は参考例9
を示す構成図で、先に説明した部分については同一符号
を付してその説明を省略する。図23において、160
1は回転円板、1602は内部が格子セクタの2等分線
に平行な格子方向を持つ直線回折格子である格子セクタ
406によって第1のパターンが形成されたトラックで
ある。このトラック1602はスリット1101による
第1のパターンが形成されたトラック1002と互いに
干渉しないように配置されている。1607は透過光の
強度によって光スポットを選択し、選択された光スポッ
トの位置から回転円板1601の回転角度を演算出力す
る演算手段である。
【0085】次に動作について説明する。参考例3の場
合と同様に、単色光源101、集光レンズ102、グレ
ーティングビームスプリッタ508および円筒レンズ4
07によって形成される照明手段510で、回転円板1
601の格子セクタ406上に少なくとも2個の線状ス
ポットを形成する。前記グレーティングビームスプリッ
タ508の分岐角は、前記線状スポットの少なくとも2
個の間隔が格子セクタ406の円周方向の幅の(2m+
1)/2倍(ただしmは整数)、格子円板の回転角にし
て(2πm+1)/nラジアンとなるように設定してい
る。位置検出手段509の2個の位置検出素子509a
及び509bは、格子セクタ406上の2個の線状スポ
ットの直線回折格子による回折光が集光手段409の円
筒レンズ408および集光レンズ104によって形成す
る2個の光スポットの各々の位置を検出する。
【0086】一方、光源1003を出射した光束は、集
光レンズ1004によりトラック1002に入射する。
ここで入射する光束は、回転円板1601の半径方向に
ついてトラック1002のスリット1101内に納まら
ない様にする。スリット1101を透過した透過光は、
集光レンズ1005により光強度検出素子1006に集
光されて、その透過光の強度が検出される。回転円板1
601が回転するとき、光強度検出素子1006によっ
て検出される光強度は、参考例5の場合と同様に、回転
円板1601の1回転の絶対角度を表している。
【0087】図24は、回転円板1601の回転角度が
ある範囲であるときのエンコーダの状態を示したもの
で、横軸は前記回転円板1601の回転角度である。1
701は光強度検出素子1006の出力、1702は光
強度検出素子1006の出力1701により選択される
位置検出素子、1703は位置検出素子509aの出
力、1704は位置検出素子509aにより検出される
光スポットが照射する格子セクタの番号i(0≦i≦n
−1)、1705は位置検出素子509bの出力、17
06は位置検出素子509bにより検出される光スポッ
トが照射する格子セクタの番号i1 (0≦i1 ≦n−
1)である。
【0088】前記位置検出素子509a,509bの出
力1703,1705は、2π/nラジアンの周期の鋸
歯状波であり、互いの位相はπ/nラジアンすなわち1
/2周期異なっている。そして、前記位置検出素子50
9a,509bの出力1703,1705の実線部は光
スポットが格子セクタ406の中心部を照射していて位
置検出素子509a,509bの検出能力が十分な部分
であり、その領域が少なくとも各周期のπ/nラジアン
以上を占めるよう光スポットを設定しているものとし、
破線部は光スポットが格子セクタ406の境界付近を照
射していて位置検出素子509a,509bの検出能力
が不十分である部分である。検出不能領域を無くすため
には、常に実線部において検出できるよう位置検出素子
1702に示す位置検出素子509a,509bを選択
する必要がある。そこで、光強度検出素子1006の出
力1701から演算することにより位置検出素子509
a,509bを選択し、検出不能領域を無くすことがで
きる。まだ、光スポットが照射する格子セクタ406の
番号1702および1704を光強度検出素子1006
の出力1701から弁別できるため、前記位置検出素子
509a,509bの分解能を角度分解能とする1回転
の絶対値エンコーダを構成することができる。
【0089】参考例10. 次に参考例10を図について説明する。図25は参考例
10を示す構成図であり、スリット1101によって第
1のパターンが形成されたトラック1002に代えて、
回折格子1401によって第1のパターンが形成された
トラック1302を用いている点で参考例9とは異って
いる。なお、それにともなって、光源1003に代えて
単色光源1303が用いられ、集光レンズが1304,
1305に、光強度検出素子が1306にそれぞれ代替
されている。また、図中、1801は回転円板、180
7は回折光の強度によって光スポットを選択し、選択さ
れた光スポットの位置から回転円板1801の回転角度
を演算出力する演算手段である。なお、その動作は参考
例9の動作と基本的には同一であるため、その説明は省
略する。
【0090】参考例11. 次に参考例11を図について説明する。図26は参考例
11を示す構成図である。図26において、1901は
回転円板、1902はこの回転円板1901の1回転で
鋸歯状波を1回出力する第1のトラック、1903は回
転円板1901の1回転で鋸歯状波をn回出力する第2
のトラック、1904は回転円板1901の1回転で鋸
歯状波をn回出力し、その鋸歯状波が前記第2のトラッ
ク1903の出力するものとは半周期の位相差を有する
ものである第3のトラックである。1905はこれら各
トラック1902,1903,1904に光を照射する
発光素子、1906は各々のトラック1902,190
3,1904を透過した光量より各トラック1902,
1903,1904の出力を検出する検出手段、190
7は検出手段1906の検出した各トラック1902,
1903,1904の出力より回転円板1901の回転
角度を演算出力する演算手段である。
【0091】次に動作について説明する。発光素子19
05より光が照射された回転円板1901は、各トラッ
ク1902,1903,1904より図27に示すよう
な3つの波形を出力する。図中、2001は回転円板1
901の1回転に対して第1のトラック1902より1
周期出力される鋸歯状波、2002は回転円板1901
の1回転に対して第2のトラック1903よりn周期出
力される、鋸歯状波2001に対してそれ自身の周期の
1/4周期だけ位相が進んだ鋸歯状波、2003は回転
円板1901の1回転に対して第3のトラック1904
よりn周期出力される。鋸歯状波2001に対してそれ
自身の周期の1/4周期だけ位相が遅れた鋸歯状波であ
る。この参考例11では、一例として鋸歯状波2001
に対する鋸歯状波2002および2003の位相差が、
鋸歯状波2002,2003の周期の1/4周期である
場合を示しているが、鋸歯状波2002と2003の位
相差がそれらの周期の1/2周期であれば、鋸歯状波2
001に対する鋸歯状波2002および2003の位相
差は任意である。
【0092】ここで、鋸歯状波2002および2003
の波形では、点線で示した各周期の始めと終わりの1/
4周期以下の部分が角度に対してリニアではなく測定不
能であるとする。しかし、鋸歯状波2002と2003
は互いに半周期位相がずれているので、回転円板190
1の回転角に対して鋸歯状波2002か2003かの何
れかがリニアな領域となっている。そこで、回転円板1
901の1回転の絶対角度を測定するために、鋸歯状波
2002および2003における、角度に対してリニア
な波形領域すなわち周期の中心部1/2周期の範囲で測
定できるよう、鋸歯状波2002,2003のどちらか
を選択し、演算手段1907ではそれに基づいて絶対角
度を演算する。鋸歯状波2002および2003におい
て、角度に対してリニアな波形領域は角度に対応してい
るため、鋸歯状波2001の値S1により鋸歯状波20
02,2003の一方を選択する。
【0093】次に絶対角度の演算について説明する。鋸
歯状波2002および2003においては、検出手段1
906からの各出力S2,S3より鋸歯状波1周期内で
角度分解能k点で各々絶対角度j,j1 (0≦j≦k−
1,0≦j1 ≦k−1)を演算する。ここで、kは4以
上の4の倍数である。また、鋸歯状波2002および2
003において、角度に対して0番目から(n−1)番
目まで鋸歯状波が出力され、何番目であるかは鋸歯状波
2001の出力S1から演算される。鋸歯状波2002
のi番目(0≦i≦n−1)の鋸歯状波において、その
周期内の絶対角度がjである時の、エンコーダ1回転内
の絶対角度αは次式で求められる。
【0094】α=i×k+j−k/4
【0095】また、鋸歯状波2003のi1 番目(0≦
1 ≦n−1)の鋸歯状波において、その周期内の絶対
角度がj1 である時の、エンコーダ1回転内の絶対角度
α1は次式で求められる。
【0096】α1 =i1 ×k+j1 −k/2
【0097】以上の演算を行えば、鋸歯状波2002で
も2003でも同一の絶対角度を得ることができる。
【0098】参考例12. 次に参考例12を図について説明する。図28は参考例
12を示す構成図で、先に説明した部分については同一
符号を付してその説明を省略する。図28において、1
501は回転円板、1502は内部が直線回折格子であ
るn個の格子セクタ106によって第1のパターンが形
成されたトラックでる。このトラック1502の内周側
には、偏向器55である第2のパターンが形成されてい
る。偏向器55は、照射される光を一定の方向に偏向さ
せ、回転円1501の回転に応じて、回転円板と平行な
平面上に円環状の光スポットを形成するものである。5
2は第2のパターンである偏向器55に光を照射する光
源(第2の照明手段)、53は集光レンズ、54はハー
フミラー、56は回転軸、31は位置検出素子(第2の
位置検出手段)であり、これらの構成は実施例4と同様
である。また、101は単色光源(第1の照明手段)、
102および104は集光レンズ(集光手段)、105
は半導体位置検出素子であり、これらの構成は参考例1
と同様である。また、2107は位置検出素子105お
よび位置検出素子31からの信号に基づいて回転円板1
501の回転角度を演算する演算手段である。
【0099】次に動作について説明する。単色光源10
1より出射した光束は、集光レンズ102により格子セ
クタ106内に収まる大きさのビームとして回転円板1
501上の一つの格子セクタ106に入射する。格子セ
クタ106の直線回折格子により回折された回折光は集
光レンズ104により位置検出素子105に対して適切
なスポット形状に集光されて前記位置検出素子105に
入射する。参考例1同様、格子セクタ106内の位置検
出信号はその格子セクタ106の範囲で絶対角度を表し
ている。
【0100】一方、光源52より出射した光束は集光レ
ンズ53により収束光に変換されてハーフミラー54に
入射する。ハーフミラー54より反射された光束は、偏
向器55に入射し、該偏向器55に対して一定の方向に
偏向を受けて反射され、再びハーフミラー54に入射し
て、透過光が位置検出素子31に入射する。実施例4で
述べたように前記位置検出素子31上に形成される光ス
ポットの位置は、回転軸56の回転角度に対応してお
り、光スポット位置を前述した実施例2または実施例3
の検出処理方式で検出し、絶対回転角度として出力す
る。
【0101】トラック1502内の格子セクタ106の
弁別は、回転円板1501の1回転の絶対角度1を2π
/nラジアン以下の角度分解能で検出することにより可
能となる。よって、位置検出素子31により2π/nラ
ジアン以下の角度分解能で回転円板1501の1回転の
絶対角度を検出し、格子セクタ106の弁別を行えば、
位置検出素子105の分解能を角度分解能とする1回転
の絶対値エンコーダを構成することができる。
【0102】
【発明の効果】以上のように、請求項1に記載の発明に
よれば、円環状のフォトダイオードの外周に同心円状に
設置された抵抗体によって、光スポットの入射による光
電流を分割し、それを所定の出力電極対より取り出すよ
うに構成したので、受光面に電極を配置する必要がなく
なり、また位置検出用の抵抗体にも不連続部分がなくな
って、円環状の軌跡で移動する光スポットの位置を不確
定領域を作らずに特定でき、位置検出の信頼性を大幅に
改善できる効果がある。
【0103】また、請求項2に記載の発明によれば、4
n個(nは整数)用意された出力電極の中から、互いに
90度の角度をなして対向している2対の出力電極を選
択し、各々の対毎に各出力端子の計測電流値の差をその
和で除算した演算結果より、光スポットの入射位置の特
定を行うように構成したので、位置検出素子に入射され
た光スポットの位置を一意的に特定することが容易とな
る効果がある。
【0104】また、請求項3に記載の発明によれば、出
力電極を4m個(mは2以上の整数)配置し、請求項2
の位置検出方法にて求めた概略位置に最も近い出力電極
を検出し、それを挟む1対の出力電極における計測電流
値の差をその和で除算して、光スポットの入射位置を特
定するように構成したので、光スポットの入射位置の検
出精度をより高いものとすることができる効果がある。
【0105】また、請求項4に記載の発明によれば、位
置検出素子の円環状のフォトダイオード上に、回転体に
て偏向されてその回転角度に対応した円環状の軌跡の上
を移動する光スポットを形成し、その光スポットの入射
位置を請求項2もしくは3の方法で検出するように構成
したので、インデックススケールが不用となり、偏向器
として位置依存性のないものを用いれば、偏心による角
度検出誤差もない光学式ロータリーエンコーダが得られ
る効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1を示す平面図である。
【図2】上記実施例の要部を拡大して示す要部拡大平面
図である。
【図3】この発明の実施例2を示すブロック図である。
【図4】上記実施例の動作を説明するための波形図であ
る。
【図5】この発明の実施例3を示すブロック図である。
【図6】上記実施例の動作を説明するための波形図であ
る。
【図7】この発明の実施例4を示す構成図である。
【図8】参考例1を示す構成図である。
【図9】回転円板の構造の説明を示す説明図である。
【図10】直線回折格子の回転に対する回折光の様子を
示す説明図である。
【図11】参考例2を示す構成図である。
【図12】参考例3を示す構成図である。
【図13】上記参考例での回転円板上に集光された2つ
の線状スポットの様子を示す説明図である。
【図14】参考例4を示す構成図である。
【図15】上記参考例での直線回折格子および反射ミラ
ーにおける回折光の様子を示す説明図である。
【図16】上記参考例での直線回折格子の回転に対する
回折光の様子を示す説明図である。
【図17】参考例5を示す構成図である。
【図18】上記参考例の回転円板上に形成されたトラッ
クのパターンを示す平面図である。
【図19】参考例6を示す構成図である。
【図20】参考例7を示す構成図である。
【図21】上記参考例の回転円板上に形成されたトラッ
クのパターンを示す平面図である。
【図22】参考例8を示す構成図である。
【図23】参考例9を示す構成図である。
【図24】上記参考例における回転円板の回転に対する
トラックからの出力を示した説明図である。
【図25】参考例10を示す構成図である。
【図26】参考例11における回転円板を示す平面図で
ある。
【図27】上記参考例11における回転円板の回転に対
するトラックからの出力を示した説明図である。
【図28】参考例12を示す構成図である。
【図29】従来の位置検出素子を示す断面図である。
【図30】他の従来の位置検出素子を示す平面図であ
る。
【図31】従来の光学式ロータリーエンコーダを示す構
成図である。
【符号の説明】
31 位置検出素子(第2の位置検出手段) 32 フォトダイオード 33 抵抗体 34 導電層 35 出力電極 52 光源(第2の照明手段) 55 回転体(偏向器) 57 位置検出手段 101 単色光源(第1の照明手段) 103 回転円板 104 集光手段(集光レンズ) 105 位置検出素子(位置検出手段,第1の位置検出
手段) 106 領域(格子セクタ) 107 演算手段 108 照明手段 403 回転円板 406 領域(格子セクタ) 409 集光手段 410 照明手段 509 位置検出手段 510 照明手段 710 分離手段 711 反射手段 1001 回転円板 1003 照射手段(光源) 1006 光強度検出素子 1007 演算手段 1101 スリット 1201 回転円板 1207 演算手段 1301 回転円板 1303 照射手段(単色光源) 1306 光強度検出素子 1307 演算手段 1401 回折格子 1501 回転円板 1507 演算手段 1601 回転円板 1607 演算手段 1801 回転円板 1807 演算手段 1901 回転円板 1902 第1のトラック 1903 第2のトラック 1904 第3のトラック 1906 検出手段 1907 演算手段 2107 演算手段

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 円環状に形成された平板状のフォトダイ
    オードと、前記フォトダイオードの外周に前記フォトダ
    イオードと同心円状に設置された抵抗体と、前記抵抗体
    に等角度間隔で配置された少なくとも2個の出力電極
    と、前記出力電極の数より多数用意され、前記各出力電
    極の角度間隔をさらに分割するように等角度間隔で放射
    状に、前記抵抗体より前記フォトダイオード上に張り出
    した細線状の導電層とを備えた位置検出素子。
  2. 【請求項2】 円環状に形成された平板状のフォトダイ
    オードの外周に同心円状に設置された抵抗体に、等角度
    間隔で4の倍数個の出力電極が配置され、前記抵抗体よ
    りフォトダイオード上に等角度間隔で張り出した複数の
    細線状の導電層を放射状に設けて成る位置検出素子を用
    いて、前記フォトダイオードに入射された光スポットの
    位置を検出する位置検出方法において、前記位置検出素
    子の出力電極の中から対向する位置にある1対と、当該
    1対の出力電極に対して90度の角度をなして対向する
    1対とを選択し、選択された前記各出力電極における前
    記光スポットの入射に基づく電流値を計測して、前記各
    対毎に、計測された前記各出力電極の電流値の差をその
    和で除算し、得られた2つの除算結果に基づいて前記光
    スポットの入射位置を検出することを特徴とする位置検
    出方法。
  3. 【請求項3】 円環状に形成された平板状のフォトダイ
    オードの外周に同心円状に設置された抵抗体に、等角度
    間隔で8より大きな4の倍数個の出力電極が配置され、
    前記抵抗体より前記フォトダイオード上に等角度間隔で
    張り出した複数の細線状の導電層を放射状に設けて成る
    位置検出素子を用いて、前記フォトダイオードに入射さ
    れた光スポットの位置を検出する位置検出方法におい
    て、前記位置検出素子の出力電極の中から対向する位置
    にある1対と、当該1対の出力電極に対して90度の角
    度をなして対向する1対とを選択し、選択された前記各
    出力電極における前記光スポットの入射に基づく電流値
    を計測し、前記各対毎に、計測された前記各出力電極の
    電流値の差をその和で除算して、得られた2つの除算結
    果に基づいて前記光スポットの入射された概略位置を求
    め、当該概略位置に最も近い前記出力電極について、そ
    れを挟む位置に配置された1対の前記出力電極を選択
    し、それら各出力電極における前記光スポットの入射に
    基づく電流値を計測して、当該電流値の差をその和で除
    算し、得られた除算結果に基づいて前記光スポットの入
    射された位置を検出することを特徴とする位置検出方
    法。
  4. 【請求項4】 光源からの光を偏向させて、回転角度に
    対応して円環状の軌跡の上を移動する光スポットを形成
    する回転体と、前記回転体の形成する光スポットが円環
    状に形成された平板状のフォトダイオード上を移動する
    ように配置され、前記フォトダイオードの外周に同心円
    状に設置された抵抗体に出力電極が等角度間隔で4の倍
    数個配置され、前記抵抗体より前記フォトダイオード上
    に等角度間隔で放射状に張り出した複数の細線状の導電
    層を有する位置検出素子と、前記位置検出素子の出力電
    極中より互いに90°の角度をなして対向する2対を選
    択し、前記フォトダイオードへの光スポットの入射によ
    って前記出力電極の各々に生ずる電流値を計測し、その
    計測値に基づいて前記光スポットの入射位置を検出する
    位置検出手段とを備えた光学式ロータリーエンコーダ。
JP05165681A 1992-11-27 1993-07-05 位置検出素子、その位置検出素子を用いた位置検出方法、および光学式ロータリーエンコーダ Expired - Fee Related JP3098358B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05165681A JP3098358B2 (ja) 1992-11-27 1993-07-05 位置検出素子、その位置検出素子を用いた位置検出方法、および光学式ロータリーエンコーダ
US08/130,874 US5428217A (en) 1992-11-27 1993-10-04 Annular photodiode for use in an optical rotary encoder
DE4340417A DE4340417C2 (de) 1992-11-27 1993-11-26 Optischer Drehstellungscodierer

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33956592 1992-11-27
JP35487492 1992-12-18
JP4-354874 1992-12-18
JP4-339565 1992-12-18
JP05165681A JP3098358B2 (ja) 1992-11-27 1993-07-05 位置検出素子、その位置検出素子を用いた位置検出方法、および光学式ロータリーエンコーダ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06235622A JPH06235622A (ja) 1994-08-23
JP3098358B2 true JP3098358B2 (ja) 2000-10-16

Family

ID=27322557

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP05165681A Expired - Fee Related JP3098358B2 (ja) 1992-11-27 1993-07-05 位置検出素子、その位置検出素子を用いた位置検出方法、および光学式ロータリーエンコーダ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5428217A (ja)
JP (1) JP3098358B2 (ja)
DE (1) DE4340417C2 (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3196459B2 (ja) * 1993-10-29 2001-08-06 キヤノン株式会社 ロータリーエンコーダ
US6075603A (en) * 1997-05-01 2000-06-13 Hughes Electronics Corporation Contactless acoustic sensing system with detector array scanning and self-calibrating
JP4724282B2 (ja) 1999-10-12 2011-07-13 キヤノン株式会社 回転角検出装置
DE60043898D1 (de) * 2000-03-28 2010-04-08 Aim Controls Inc Drehgeber
US7150975B2 (en) 2002-08-19 2006-12-19 Animas Technologies, Llc Hydrogel composition for measuring glucose flux
US7078677B2 (en) * 2004-01-21 2006-07-18 Chee Keong Chong Optical encoder disk having a region that continuously increases in size
US7135673B2 (en) * 2004-10-29 2006-11-14 The Boeing Company Imaging rotation angle absolute encoder
US7244928B2 (en) * 2005-01-07 2007-07-17 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Optical encoder
EP1862771B1 (fr) * 2006-05-31 2016-01-13 Delphi Technologies, Inc. Codeur angulaire optique avec detection du faux-rond
EP1862775A1 (fr) * 2006-05-31 2007-12-05 Delphi Technologies, Inc. Codeur de position à haute résolution
US7578357B2 (en) * 2006-09-12 2009-08-25 Black & Decker Inc. Driver with external torque value indicator integrated with spindle lock and related method
WO2009103342A1 (en) * 2008-02-22 2009-08-27 Trimble Jena Gmbh Angle measurement device and method
JP5170046B2 (ja) * 2009-09-18 2013-03-27 株式会社安川電機 ロータリエンコーダ、ロータリモータ、ロータリモータシステム、ディスク及びロータリエンコーダの製造方法
JP2011161695A (ja) * 2010-02-06 2011-08-25 Ricoh Co Ltd エンコーダセンサ及び画像形成装置
RU2469267C1 (ru) * 2011-06-20 2012-12-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ульяновский государственный университет Фотоэлектрический преобразователь углов на основе позиционно-чувствительного фотоприемника дуговой конфигурации
DE102012211944A1 (de) 2012-07-09 2014-01-09 Hahn-Schickard-Gesellschaft für angewandte Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung einer Winkelstellung
CN111279158A (zh) * 2019-04-23 2020-06-12 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种光栅盘及反馈系统
CN110440842B (zh) * 2019-07-25 2021-07-13 广州大学 一种无码盘编码器

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1563200A (en) * 1923-11-30 1925-11-24 Leicknam Georges Joseph Michel Filling up, puddling, warping, concreting, cementing, etc., by means of flushing with water under pressure
US3129416A (en) * 1960-10-17 1964-04-14 Louis H Freedman Speed alarm for dial speedometer
DE3321482A1 (de) * 1982-06-15 1983-12-15 Canon K.K., Tokyo Abtastvorrichtung mit einer holographischen ablenkvorrichtung
DE3307639C2 (de) * 1983-03-04 1986-10-30 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München Optisches Potentiometer
NL8501501A (nl) * 1985-05-24 1986-12-16 Tno Foto-elektrische omzetter.
DE3709614A1 (de) * 1987-03-24 1988-10-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Verfahren und vorrichtung zur positionsbestimmung
US4928008A (en) * 1987-12-11 1990-05-22 The Boeing Company Variable light transmission filter and optical analog position sensor
DE3926799A1 (de) * 1989-08-14 1991-02-21 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Inkrementaler drehgeber
DE4004835A1 (de) * 1989-11-02 1991-05-08 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Positionsmesseinrichtung
DE3939905A1 (de) * 1989-12-02 1991-06-06 Teldix Gmbh Winkelgeber
JP2800467B2 (ja) * 1991-06-24 1998-09-21 日産自動車株式会社 エアバッグモジュールの取付装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5428217A (en) 1995-06-27
DE4340417A1 (de) 1994-06-01
JPH06235622A (ja) 1994-08-23
DE4340417C2 (de) 2001-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3098358B2 (ja) 位置検出素子、その位置検出素子を用いた位置検出方法、および光学式ロータリーエンコーダ
US4933673A (en) Encoder
US4677293A (en) Photoelectric measuring system
KR0141445B1 (ko) 변이의 측정방법 및 측정장치
JP3170902B2 (ja) 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ
JPH087082B2 (ja) 光学式エンコーダ
US7262714B2 (en) Interpolating encoder utilizing a frequency multiplier
JP3641316B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPH08278167A (ja) 光学スケール及びそれを用いたロータリーエンコーダ
JP3312086B2 (ja) エンコーダ装置
US10859374B2 (en) Optical angle sensor
JP3471971B2 (ja) 複合型のロータリーエンコーダ
JP3196487B2 (ja) 変移の測定方法および測定装置
JPH08327401A (ja) 変位情報検出装置、駆動制御装置、及び変位情報検出用スケール
JPH05256666A (ja) ロータリーエンコーダー
US4178505A (en) Device for determining the direction towards a remote object
JP2000018971A (ja) エンコーダ
JPH11142187A (ja) ロータリエンコーダ
JP2822225B2 (ja) 光学式変位検出装置
JP2000266567A (ja) ロータリエンコーダ
JP3256628B2 (ja) エンコーダ装置
JP2002139353A (ja) 光学式ロータリエンコーダ
JPH03113316A (ja) 光学式変位検出装置
JPH02176419A (ja) 光学式エンコーダ
JP4240266B2 (ja) ロータリーエンコーダ

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070811

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080811

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080811

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090811

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090811

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100811

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees