JP3076821B2 - デジタル−アナログ変換器を平均するcmos回路 - Google Patents

デジタル−アナログ変換器を平均するcmos回路

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JP3076821B2
JP3076821B2 JP03174147A JP17414791A JP3076821B2 JP 3076821 B2 JP3076821 B2 JP 3076821B2 JP 03174147 A JP03174147 A JP 03174147A JP 17414791 A JP17414791 A JP 17414791A JP 3076821 B2 JP3076821 B2 JP 3076821B2
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    • HELECTRICITY
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    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/50Digital/analogue converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • H03M3/502Details of the final digital/analogue conversion following the digital delta-sigma modulation
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  • Theoretical Computer Science (AREA)
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  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、パルス密度デジタル−
アナログ変換またはパルス密度アナログ−デジタル変換
として使用されるデジタル−アナログ変換器を平均する
CMOS回路に関する。
【0002】
【従来の技術】用語「パルス密度変調」の代りに、用語
「信号デルタ変調」がよく使用される。最も簡単な形式
において、この平均回路はパルス密度変調された信号が
供給されるシフトレジスタを含み、その出力信号は加算
回路を介して電流または電圧信号として結合される。和
出力は一般に電流信号としてキャパシタに供給される所
望の平均信号を供給する。
【0003】信号の両位相が個々のシフトレジスタセル
から取出されるとき、シフトレジスタセルから取出され
る信号の同位相分と逆位相分は加算され、その2つの加
算の差が形成される。その差は所望の平均信号を示す
が、一定のDC成分はない(図1参照)。
【0004】パルス密度変調された信号の高いクロック
速度により、次のような回路または信号特性が平均化を
妨害する:・個々の信号が状態変化する瞬間の変動。こ
の変動は回路不平衡、位相ジッタ、またはデータヒスト
リすなわち先行するデータストリームのビットシーケン
スによって生じることがある。・例えば信号雑音または
スプリアス信号により生じることがある個々の信号の振
幅変化。
【0005】回路不平衡の影響は例えば到来するデジタ
ルパルス密度変調信号の前縁および後縁を変化させ、デ
ータヒストリの効果はシフトレジスタセルに関係するゲ
ート回路によって妨害される。ゲート回路は各データ間
隔からより短いゲート間隔を分離させるので、平均化は
この一時的に短縮された信号によって実行される。デー
タヒストリに関係なく各論理1は論理0レベルからスタ
ートする分離パルスを示す。したがって、前縁および後
縁の非対称はもはや分布効果を有することはなく、各信
号は論理0で始めるので、データヒストリもまた全く生
じない。短縮されたゲート間隔よりも位相変化の方がよ
り大きい効果があるので、「ゲート処理」と呼ばれるこ
の方法は、残念ながら位相ジッタの感度を増加させる。
【0006】欧州特許EP-A-0 335 988 (US SN 321,593)
号明細書によると、ゲート間隔に関する位相ジッタの不
利な効果はシフトクロックのマスター位相およびスレー
ブ位相の両者においてゲートを行うことによって避ける
ことが可能である。これを達成するために、全ゲートの
Q出力からの信号は加算され、Q´出力からの信号も加
算される(図2参照)。ゲート処理においてマスターお
よびスレーブ位相を含むことによって、ゲートクロック
の位相変化は補償される。例えば、マスター位相のゲー
ト間隔が長過ぎるならば、スレーブ位相のゲート間隔は
自動的に対応して短くなる(図3参照)。高い分解能の
変換器には高いクロック感度が必要である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】欧州特許EP-A-0 335 9
88号明細書はさらに各信号に対して別々の信号源を使用
することによって個々の信号の振幅をより均一にするこ
とができる方法を開示している。マスターおよびスレー
ブセルの論理状態とゲート信号は、別々の信号源に対す
る各ゲート回路の信号路だけを制御する。各ゲート回路
は直列接続の2つの電子スイッチを含む。第1の電子ス
イッチはゲート間隔外では信号源を中立ゲート出力に接
続し、ゲート間隔中では第2の電子スイッチの入力に接
続する。第1の電子スイッチは、ゲート信号が供給され
るクロック依存制御入力によって制御され、第2の電子
スイッチは関係するマスターまたはスレーブセルのQお
よびQ´出力に接続されるデータ依存制御入力によって
制御される。第2の電子スイッチの2つの出力端子はゲ
ート回路のQおよびQ´端子を形成する。
【0008】電流は切換えたり加算することが容易であ
るため、全信号源は共通バイアス電源に全て接続された
別々の定電流源によって構成される。ゲート回路の全Q
´端子は、電流差段として作用する電流ミラーの入力に
接続される共通の第1のバスに結合される。同様にゲー
ト回路の全Q端子は、電流ミラーの出力に接続されてい
る共通の第2のバスに結合され、そのノードから差電流
を取り出すことができる。中立ゲート端子の全ては、中
立電流シンクに接続されるゲートバスを介して結合され
る。
【0009】ゲートクロックはシフトクロックと同期し
ているが、信頼できるデータ転送のため一定量だけシフ
トクロックと位相が異なる。したがって、全マスターセ
ルが中立電流シンクに接続されているとき、全スレーブ
セルは電流差段または中立電流シンクのいずれかに接続
され、或いは全スレーブセルが中立電流シンクに接続さ
れているとき、全マスターセルは電流差段または中立電
流シンクのいずれかに接続される。
【0010】欧州特許EP-A-0 335 988号明細書において
電流差段はpnpトランジスタ電流ミラーによって形成
されている。その入力および出力はQバスおよびQ´バ
スにそれぞれ接続される。差電流は平均信号としてQバ
スから取出すことができる(図2参照)。
【0011】特に高いクロック速度の場合に、バイポー
ラ技術で構成されるこの従来の回路装置をCMOS技術
に転用することは容易ではない。バイポーラトランジス
タと対照的に、たとえMOSトランジスタが理想的な電
流比を有するとしても、このことは当てはまる。伝送さ
れた電流から取出されなければならないベース電流がな
いためである。MOSトランジスタの主な欠点は2乗電
流特性 IDS=β(UGS−UT 2 および比較的大きいゲートソースキャパシタンスであ
る。
【0012】もし高周波数電流がミラーされなければな
らないと、これはMOS電流ミラーに非常に不利な影響
を有する。その場合、入力電流の一部は電流ミラートラ
ンジスタのゲートソースキャパシタンスの電荷を反転す
るために使用される。ゲートソース電圧はドレイン電流
の平方根に比例し、ゲート電流はゲートソース電圧の変
化に比例するので、電流ミラーの出力トランジスタのド
レイン電流は歪み、その歪みは周波数が増加するにつれ
て増加する。高いクロック周波数によるパルス密度変調
された信号の場合、この歪みは信号混合によって有用な
信号バンド内に入る。
【0013】したがって、本発明によって解決されるべ
き問題は上述のMOS電流ミラーの欠点を回避するデジ
タル−アナログ変換器を平均するCMOS回路を提供す
ることである。
【0014】上記問題の実際の解決法以外に、本発明に
より得られる別の利点は回路は個々のMOS電流源の1
/f雑音および電流源基準電圧の低周波数雑音に不感で
あることである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、この問
題は前記のようなデジタル−アナログ変換器を平均する
回路をCMOS回路によって構成し、それにおいて電流
ミラーの入力はゲートバスに接続され、その出力はQま
たはQ´バスに接続され、電流ミラーは差電流の値がデ
ータ信号のデータ基準レベルでゼロであるように定めら
れた電流スケール係数を有していることを特徴とする。
【0016】
【実施例】図1は4段のシフトレジスタ sr を有する既
知の平均デジタル−アナログ変換器の簡単な実施例を示
す。その直列入力には2進コードのパルス密度変調信号
のデータ信号dが供給される。全シフトレジスタセルの
非反転出力Qおよび反転出力Q´は第1の加算器 s1 お
よび第2の加算器 s2 にそれぞれ接続される。各セルの
出力電位から、各データ依存セル電流 i1 、i2、i3、i4
は抵抗R(破線で図示)によって取出すことが可能であ
る。2個の加算器 s1,s2の出力は差電流idを形成する減
算器 sb に結合される。この差電流 id は平均出力信号
として作用し、その値はデータ信号dの4つの連続する
論理状態の平均値に比例する。
【0017】一般に、差電流 id はキャパシタcによっ
て積分され、積分出力信号としてキャパシタ電圧 uc が
現れる。2つの加算器 s1,s2および減算器 sb はもちろ
ん電圧信号の処理に適応することができる。シフトレジ
スタ sr はクロック信号 clによって制御され、そのパ
ルス速度はデータ信号dのビット速度に等しい。
【0018】図2は欧州特許EP-A-0 335 988号明細書か
ら知られている改良された実施例を示す。シフトレジス
タsrは連続するマスターセルMおよびスレーブセルSに
分割される。マスターおよびスレーブセルは一般に重複
しない2相クロックを形成する第1のシフトクロック c
1 および第2のシフトクロック c2 によってそれぞれ制
御される。マスターセルMおよびスレーブセルSのQお
よびQ´出力の使用によって、平均化に関係する信号の
数は図1に示された信号の数の2倍である。
【0019】各マスターセルMおよび各スレーブセルS
はゲート回路gを有し、このゲート回路gは各シフトレ
ジスタセルのQおよびQ´出力に接続されるデータ依存
制御入力を有する。各ゲート回路gはさらにクロック依
存制御入力を有し、この入力に2つのシフトクロック c
1,c2と同じ周波数の第1のゲートクロック c3 および第
2のゲートクロック c4 からなる重複する2相クロック
が供給される。2つのゲートクロックは2つのシフトク
ロックに関係して位相遅延されるので、ゲート期間はシ
フト位相に入らない。
【0020】全ゲート回路gのQ出力 Q はQバス sq
に接続され、Q´出力 Q' はQ´バス sq'に接続され
る。簡明にするために図4では示されていないが、各ゲ
ート回路gは別々の定電流源を有し、その電流はQ出力
QまたはQ´出力 Q'のいずれかに伝送される。
【0021】Q´和電流 IQ'は2つの同じpnpトラン
ジスタから構成されている電流ミラー cm の入力に供給
される。この電流ミラー cm の出力端子はQバス sq に
接続されるので、Q´和電流 IQ'とQ和電流 IQ の差が
ノードで形成される。したがって、差電流 id は出力信
号としてQバス sq と一致するこのノードから取出する
ことが可能である。
【0022】伝送動作中、2つのゲートクロック c3,c4
に対して、各定電流の分割はその和に変化がないことが
重要である。2つのゲートクロック c3,c4に依存する電
流積分をできるだけ等しくさせるために、2つのゲート
クロックc3及びc4の遷移エッジにより生じた電流分割は
転移点E付近で左右対称であり(図3参照)、電流は転
移点Eで半分でなければならない。これは遷移エッジの
形状、時間変化、位相位置を決定する。
【0023】定電流が均等でなく加重されているか否か
が平均化に対して重要である。有利な加重はシフトレジ
スタ sr の中央からスタートし外側のほうに向って重み
付け係数が減少する対称加重であり、三角加重は特に有
効である。しかしながら、ミラー対称の観点からすると
互いに関係するマスターセルMおよびスレーブセルSは
加重において何らかの差を示してはいけない。例えば、
シフトレジスタsrの最初のマスターセルおよび最終のス
レーブセルはミラー対称の観点から重み付け係数が共に
同じである。
【0024】マスターセルMおよびスレーブセルSに接
続されたゲート回路によって生じた位相ジッタの補償を
図3のタイミング図によって詳細に説明する。
【0025】図3において、第1および第2の線は第1
のシフトクロック c1 および反転した第2のシフトクロ
ック c2 を示し、そのクロック速度は第3の線で示され
ているデータ信号dのビット速度と一致する。マスター
セルMを制御する第1のシフトクロック c1 の活性
(正)位相はデータ信号dが安定状態に達するまで開始
しない。第4の線で示された第1のゲートクロック c3
の活性(正)位相によって、マスターセルMと関係する
全ゲート回路gは電流差段に接続され、第5の線で示さ
れた第2のゲートクロックc4の活性(正)位相によっ
て、スレーブセルSと関係する全ゲート回路gは電流差
段に接続される。全出力電流の代りに、第1のマスター
セルMと関係するQ出力電流 iQMは図3の第6の線に示
され、第1のスレーブセルSと関係するQ出力電流 iQS
は第7の線に示されている。
【0026】Bの領域においては、ゲートクロックc3,c
4 は妨害されないが、領域Hにおいては、第1および第
2のゲートクロック c3,c4が状態を変化させる瞬間は時
間間隔 dt だけ誤っている。同様に、マスター部分にお
けるQ出力電流 iQMは時間間隔 dt だけ短縮され、スレ
ーブ部分におけるQ出力電流 iQSは同じ時間間隔 dtだ
け長くされる。しかしながら、2つのQ出力電流の和に
より、電流の全時間は変化しないので、位相エラーは次
の平均化に全く影響を与えない。
【0027】図3では方形波信号として概略的に示され
た第1および第2のゲート信号 c3,c4の遷移領域は概略
的波形の右側に詳細に示されている。2つの遷移エッジ
は遷移点Eで交差し、これは電流分割のために対称軸s
を決定する。したがって、遷移点Eの重複および位置は
確実に定電流の分割のみが生じ、減衰或いは抑制すら生
じないようにしなければならない。
【0028】図4で示された本発明の好ましい実施例の
部分回路図は図1および図2の多くの基本素子を含み、
それらの素子は同様の参照文字を付しているので、再び
詳細に説明する必要はない。全体的なシフトレジスタ装
置 srのうち、第1および第2のゲート回路 g1,g2と関
係する第1のマスターセルMおよび第1のスレーブセル
Sだけが図4に示されている。データ信号dは逆相信号
dおよびd´として、マスターセルMとして作用する第
1のDフリップフロップのDおよびD´入力にそれぞれ
供給される。スレーブセルSとして作用する第2のDフ
リップフロップ等はこの第1のDフリップフロップに接
続され、以下同様の接続である。マスターおよびスレー
ブセルのクロック入力は、2相クロックを形成する第1
および第2のシフトクロックc1,c2 がそれぞれ供給され
る。
【0029】マスターセルMはnチャンネルトランジス
タ t1 および定電流源基準電位 U1によって定電流 iq
を発生する第1の定電流源 q1 を有する。この定電流 i
q は第1のゲート回路 g1 の端子1に供給され、ゲート
スイッチとして作用するnチャンネルトランジスタ t2
またはt3によって、第1のゲート出力、すなわち端子2
に、或いは第2または第3のゲート出力、すなわち端子
3または4のいずれかにそれぞれ伝送される。端子3、
4はそれぞれ第1のゲート回路g1のQ出力 QとQ´出力
Q' である。端子2におけるこのゲート出力はデータ信
号dではなくトランジスタt2 のゲートクロックのみに
依存するので、端子2はまたデータ信号dに依存しない
「中立ゲート出力」と呼ばれている。
【0030】端子3、4は、第2のゲートスイッチとし
て作用するnチャンネルトランジスタ対 t4,t5のドレイ
ン端子に結合される。その共通ソース端子はトランジス
タ t3 のドレイン端子に接続される。トランジスタ t4,
t5のゲート端子は第1のゲート回路 g1 の端子5、6を
それぞれ形成し、マスターセルMのQおよびQ´出力に
それぞれ接続されるので、端子5、6は第1のゲート回
路 g1 のデータ依存制御入力を形成する。
【0031】トランジスタ t2,t3のゲート端子は第1の
ゲート回路 g1 の端子7、8をそれぞれ形成し、第1お
よび第2のゲート信号 c3,c4がそれぞれ供給されるの
で、端子7、8は第1のゲート回路 g1 のクロック依存
制御入力を形成する。nチャンネルトランジスタ t2 乃
至t5は定電流 iq を3つのゲート出力、すなわち端子
2、3、または4のいずれかに切換える。
【0032】スレーブセルSと関係する第2のゲート回
路 g2 の内外配線は、nチャンネルトランジスタ t2,t3
の駆動回路網を除いて、第1のゲート回路 g1 の配線と
一致している。第2のゲート回路 g2 において、nチャ
ンネルトランジスタ t2,t3のゲート端子は第2のゲート
回路 g2 の端子8、7にそれぞれ接続されるので、第2
および第1のゲートクロック c4,c3がそれぞれ供給され
る。全ゲート回路の相互接続された端子2は、pチャン
ネルトランジスタ t6 乃至t9から構成される電流ミラー
cm の入力に接続されるゲートバス sg を形成する。全
ゲート回路の相互接続された端子4は、差電流を形成す
る電流ミラー cm の出力端子に接続されるQ´バス sq'
を形成する。電流ミラー cm は好ましくは0.5 の電流ス
ケール係数を有する。全ゲート回路の端子3は、電流シ
ンクとして作用する任意の値で正の供給電位 Ud'に接続
されるQバス sq に結合される。このバス sq の和電流
は差電流idを形成するために使用されない。
【0033】この装置の重要な利点は、電流ミラー cm
は、全定電流源 q1,q2... の和電流のちょうど半分程度
である一定和電流 Ig をその入力で生じさせることであ
る。結果的に、ミラーされた電流 Ig/2 もまた定電流で
ある。マスターまたはスレーブ部分のデータ依存Q´出
力電流 iQ'M または iQ'S は、クロック位相に依存して
この電流ミラー出力電流 Ig/2 から減算される。差電流
id は結果的に生じた信号としてQ´バス sq'から取出
すことが可能である。
【0034】電流スケール係数は、差電流 id がゼロに
なるデータ基準レベルによって決定される。データ基準
レベルはデータストリームdの平均化ビットシーケンス
により規定される。このデータ基準レベルより低いデー
タ信号dの値の範囲とデータ信号dの値の全範囲とによ
って形成される比率が電流スケール係数を示す。共通し
た対称的な範囲を持つ値は0.5 の電流スケール係数を与
える。
【0035】DCオフセット電流を電流ミラー出力に付
加することによって値の範囲の非対称が強いられ、この
ことは電流スケール係数に考慮されなければならない。
限定されたケースでは、例えば、DCオフセット電流は
和電流の半分 Ig/2 に等しく、データ基準レベルが値の
全範囲の真中に位置するならば、電流ミラー cm は全く
電流スケール係数を与えない。図4の回路の特に利点と
するものは、和電流 Ig の雑音が全nチャンネルの定電
流源トランジスタ t1 の全ゲート面積によって決定され
るので、nチャンネル電源 q1,q2... の妨害1/f雑音
が減少されることである。低周波数雑音成分は和電流 I
g とだけではなくゲート回路 g1,g2のQ´出力電流 iQ'
M 、iQ'Sともビート(唸り)を生じるので、それらが互
いに部分的に補償する。補償の効果は駆動依存性であ
る。生じた1/f雑音成分は差電流idの大きさに正比例
する。可聴周波信号において、雑音はほとんど感知でき
ないので、これは非常に有効である。同様に、電流源基
準電位 U1 の低周波数雑音は定電流源和電流とミラー電
流との結合効果によって補償される。雑音に対するpチ
ャンネル電流ミラー cm の寄与は定電流源 q1,q2... の
寄与と比較して小さい。1/f雑音の上述の補償は、ビ
ット速度が1/f雑音の周波数範囲と比較して非常に速
いことを予想させる。
【0036】電流ミラー cm は入力のpチャンネルカス
コードトランジスタ t8 および出力のpチャンネルカス
コードトランジスタ t9 を含む。これらのトランジスタ
のゲート端子はゲート基準電位 U2 に接続される。ゲー
ト基準電位U2はダイオード接続されたpチャンネルトラ
ンジスタ t10によって形成され、その共通ゲートソース
端子には補助定電流源 qh から定電流が供給される。こ
の補助定電流源 qh はnチャンネルトランジスタ t11に
よって形成され、そのゲート端子は電流源基準電位 U1
に接続される。電流ミラー cm の底端部はトランジスタ
t6,t7のソース端子により形成され、トランジスタ t10
のソース端子と共に正の供給電位 Ud に結合される。
【0037】差電流 id の駆動範囲は+/−( Ig/2
)、すなわち電流ミラー cm の出力電流 Ig/2 の駆動
範囲の2倍である。電流 Ig/2 を供給する付加的な出力
が電流ミラー cmに供給されるならば、この端子をQバ
ス sq と共に使用して、反転した差電流を形成すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】パルス密度変調信号を平均する従来の回路のブ
ロック図。
【図2】図1の回路を改良した従来の回路のブロック
図。
【図3】図2の回路のタイミング図。
【図4】本発明の好ましい実施例の回路図。
【符号の説明】
sr…シフトレジスタ、M…マスターセル、S…スレーブ
セル、c1,c2 …シフトクロック、c3,c4 …ゲートクロッ
ク、d…データ信号、g1,g2 …ゲート回路、q1,q2 …定
電流源、Q,Q'…ゲート出力、sq…Qバス、sg…ゲートバ
ス、cm…電流ミラー、id…差電流、t6-t9 …トランジス
タ、U1…電流源基準電位。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−15715(JP,A) 特開 平4−233827(JP,A) 欧州特許465713(EP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 1/86 H03M 1/08 H03M 3/02

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 交互に直列に接続されたマスターセルお
    よびスレーブセルから構成され、シフトクロックによっ
    て制御されるシフトレジスタを含み、前記シフトレジス
    タの直列入力はパルス密度変調された信号であるデータ
    信号を供給され、 各マスターセルおよび各スレーブセルはゲート回路およ
    びこのゲート回路と共同して動作し、ゲートのそれぞれ
    の位置に依存して3つのゲート出力のいずれかに接続さ
    れる定電流源を有し、 各ゲート回路のデータ依存制御入力はマスターまたはス
    レーブセルのQおよびQ´出力に接続され、 各ゲート回路のクロック依存制御入力はゲートクロック
    を供給され、 ゲート回路の全てのQ出力、Q´出力、および中立出力
    はQバス、Q´バス、およびゲートバスにそれぞれ結合
    され、 電流ミラーは出力信号として作用する差電流を形成する
    ために前記3つのバスの2つに接続されているデジタル
    ーアナログ変換器を平均するCMOS回路において、 電流ミラーの入力はゲートバスに接続され、その出力は
    QまたはQ´バスに接続され、 電流ミラーは差電流の値がデータ信号のデータ基準レベ
    ルでゼロであるように定められた電流スケール係数を有
    していることを特徴とするCMOS回路。
  2. 【請求項2】 電流ミラーはpチャンネルトランジスタ
    を含み、各定電流源は少なくとも1つのnチャンネルト
    ランジスタを含むことを特徴とする請求項1記載のCM
    OS回路。
  3. 【請求項3】 電流ミラーは入力におけるpチャンネル
    カスコードトランジスタと、出力におけるpチャンネル
    カスコードトランジスタとを含むことを特徴とする請求
    項1記載のCMOS回路。
  4. 【請求項4】 定電流源の電流決定nチャンネルトラン
    ジスタの全ゲート端子は電流源基準電位に接続されてい
    ることを特徴とする請求項2記載のCMOS回路。
  5. 【請求項5】 定電流源は加重され、その加重はミラー
    対称にシフトレジスタの中央からその外側に向って減少
    され、ミラー対称の観点から共に属するマスターおよび
    スレーブセルは加重の差がないことを特徴とする請求項
    1記載のCMOS回路。
  6. 【請求項6】 定電流源の加重は三角特性を有している
    ことを特徴とする請求項5記載のCMOS回路。
  7. 【請求項7】 pチャンネルカスコードトランジスタの
    ゲート端子は補助定電流源およびダイオード接続pチャ
    ンネルトランジスタによって設定されたゲート基準電位
    に接続され、そのソース端子は電流ミラーの底端部と同
    じ電位であることを特徴とする請求項3記載のCMOS
    回路。
  8. 【請求項8】 シフトクロックは第1および第2のシフ
    トクロックから構成する2相クロックであり、 ゲートクロックは第1および第2のゲートクロックから
    構成された重複する2相クロックであり、 第1および第2のゲートクロックの転移エッジは時間お
    よびその位相位置と共に変化するように調節され、 それぞれのゲート回路の電流分割は常にその和が不変で
    あり、 2つの転移エッジにより生じた電流分割は転移点に関し
    て対称であり、 定電流源からの電流は転移点で2つの均等部分に分割さ
    れることを特徴とする請求項1記載のCMOS回路。
  9. 【請求項9】 電流ミラーは0.5 の電流スケール係数を
    有していることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか
    1項記載のCMOS回路。
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