JP3063974B1 - Icソケット及び電流プロ―ブアレイ - Google Patents

Icソケット及び電流プロ―ブアレイ

Info

Publication number
JP3063974B1
JP3063974B1 JP11002145A JP214599A JP3063974B1 JP 3063974 B1 JP3063974 B1 JP 3063974B1 JP 11002145 A JP11002145 A JP 11002145A JP 214599 A JP214599 A JP 214599A JP 3063974 B1 JP3063974 B1 JP 3063974B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
current
current probe
present
lead pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP11002145A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000200663A (ja
Inventor
幸一郎 増田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP11002145A priority Critical patent/JP3063974B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3063974B1 publication Critical patent/JP3063974B1/ja
Publication of JP2000200663A publication Critical patent/JP2000200663A/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

【要約】 【課題】 ICやLSIおよび電子部品のリードピンに
流れる電流を検出する電流プローブを内蔵したICソケ
ットを提供することにある。 【解決手段】 絶縁性の基台10において、接続端子5
と導線6及び、出力端子7と接続できるような構成の電
流プローブ2を内蔵する。電流プローブ2で、IC3の
リードピン4に流れる電流を測定する。 【効果】 電流プローブ2の相反性から、出力端子7に
信号発生器を接続すれば、電流を印加することもでき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電流検出機能付き
IC(Integrated Circuit)ソケット、及び電流プロー
ブアレイに関し、特にICあるいはLSI(Large Scal
e Integrated Circuit)のリード(導体)に流れる電流
を検出するための電流検出機能付きICソケット、及び
電流プローブアレイに関する。
【0002】
【従来の技術】IC及びLSIのリードピンを流れる電
流は、リードピンの途中に電流計を挿入するか、延長し
たリードピンに電流プローブを装架することで測定でき
る。かかる従来の電流プローブの例が図10〜図12に
示されている。
【0003】この種のICソケットでは、ICのリード
ピンに流れる電流を乱さないため、ICのリードピンに
装架するインピーダンスを矮小とすることが重要な要素
の一つとなっている。
【0004】この目的のために、通常、リードピンを延
長しない構成とし、高周波特性での影響を抑えるよう工
夫されている。これを実現する手段として、実開平4−
53562号公報に記載されている技術がある。同公報
には、図11に示されているような、端子1105a,
1105bとコイル1103a,1103bをソケット
1101内部に設けて電流を検出するという手法が採用
されている。
【0005】しかしながら、この手法では、端子110
5a,1105bに流れる電流による磁界の磁束以外に
外部からの磁束がコイル1103a,1103bの不連
続部分からコイル1103a,1103bの磁束鎖交面
に進入することがあり、正確な電流を検出することがで
きない。
【0006】また、表面実装用ICあるいはLSIで
は、電流検出部の小型化が必須となるので、電流検出部
には、小型化できる簡単な構造とした電流プローブで、
多数リードピンを同時に検出可能なアレイ化が要求され
る。
【0007】小型化できる簡単な構造とし、アレイ化が
可能な電流プローブは、特願平9−332251号に記
載されている。この技術は、図12に示す、簡単な構成
である電流プローブ1202の製造を可能としているの
で、電流プローブの小型化とアレイ化において一応の効
果を奏している。なお、1202は電流プローブアレ
イ、1203は引出線、1204は絶縁基板、1205
は穴、1206はリードである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実開平
4−53562号公報に記載の電流検出用のコイル3
a,3bは、リードピンがある程度の長さを有し、ピン
間隔が広いICに適用できる構成であるため、ピン密度
が高いLSIには適用し難いという問題があり、特願平
9−332251号に記載の電流プローブアレイは、リ
ードピンがパッケージから突出しない表面実装用IC及
びLSIのリードピンに流れる電流を検出するという点
において、リードピンを電流検出部へ入れることができ
ないという問題が発生する。
【0009】また、電流プローブを内蔵していない既設
のICソケットに組み合わせて、電流を測定するICソ
ケット或いは電流プローブアレイの実現は、電流プロー
ブの小型化という点で困難であった。
【0010】本発明の主な目的の一つは、IC及び、L
SIのリードピンに流れる電流を検出する電流プローブ
を内蔵したICソケットを提供することにある。
【0011】本発明の主な他の目的はパッケージ表面か
ら余り突出していないリードピンを有するIC及びLS
Iなどの表面実装用電子部品の複数のリードピンに流れ
る電流を検出するためアレイ化された電流プローブを内
蔵した電流プローブ内蔵のICソケットを提供すること
にある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明によるICソケッ
トは、ICのリードピンと電気的に接続される端子を有
し、その端子を流れる電流を電流プローブで検出し、得
られた検出信号を出力する出力端子を設けたことを特徴
としている。
【0013】本発明による電流プローブは、互いに対向
する第1の面と第2の面とを貫通する中空部と、前記中
空部の内側面を前記第1の面側部分と前記第2の面側部
分とに分割してこれら両部分を互いに絶縁するスリット
と、を有する筒型状導体を含み、前記中空部に挿入され
ている導線を流れる電流を検出する電流プローブであっ
て、前記導線を流れる電流の検出出力を導出する一対の
出力端子を前記第1の面に設けたことを特徴としてい
る。
【0014】さらに、本発明によれば、表面実装型のI
Cのリードピンと電気的に接続されることを特徴として
有する表面実装素子用の端子が得られる。
【0015】本発明による電流プローブアレイは、電流
プローブをICのリードピンと同様に配置し、一般的な
ICソケットの上部または下部に配置することで、電流
検出機能付きICソケットを実現することを特徴として
いる。
【0016】さらに、本発明によれば、互いに対向する
第1の面と第2の面とを貫通する中空部と、前記中空部
を形成する内側面を前記第1の面側部分と前記第2の面
側部分とに分割しこれら両部分を互いに絶縁するスリッ
トと、を有する筒型状導体を含み、前記中空部に挿入さ
れている導線を流れる電流を検出する電流プローブであ
って、前記導線とICのリードピンが接する部分に表面
実装型のICのリードピンと電気的に接続される接続端
子を有し、前記導線を流れる電流の検出出力を導出する
一対の出力端子を前記第1の面に設けたことを特徴とす
る電流プローブをアレイ化し、ICのリードピンと同様
に配置し、一般的なICソケットの上部に配置すること
で、電流検出機能付きICソケットを実現することがで
きる。
【0017】このように、ICのリードピンと電気的に
接続する端子を有し、その端子に流れる電流を検出する
電流プローブを設けている。このICソケットは、IC
及びLSI、または電子部品のリードピンに流れる電流
を検出するという役目を果たす。
【0018】従って、ICのリードピンの延長を矮小と
し、電流を検出する機能を有することから、実際の動作
状態に於ける電流を観測できるという効果が得られる。
【0019】また、ICのリードピンと電気的に接続す
る端子を設け、その形状を任意に設定できる結果とし
て、表面実装用のICなどのリードピンとの電気的な接
続を確保できる。
【0020】従って、本発明のICソケットにおいて
は、ピン密度の高いLSI、並びにパッケージ表面から
の突出が小さい表面実装用のIC及び、LSIの、リー
ドピンに流れる電流を検出する電流プローブを内蔵した
ICソケットを提供し、また、パッケージ表面からの突
出が小さいリードピンを有する表面実装用電子部品の複
数のリードピンに流れる電流を検出するためアレイ化さ
れた電流プローブを内蔵した電流検出機能付きICソケ
ットを提供するという効果を奏する。
【0021】
【発明の実施の形態】本発明の上記および他の目的、特
徴および利点を明確にすべく、添付した図面を参照しな
がら、本発明の実施の形態を以下に詳述する。
【0022】図1に、本発明の実施の一形態としてのI
Cソケットの構成図が示されている。図2は、図1の電
流プローブ2の詳細な構成図である。図3は、図2のA
−A’で切断した電流プローブ2の斜視図である。
【0023】図1において、樹脂やセラミックなどの絶
縁性の基台10に、IC3のリードピン4を接続できる
ように接続端子5を配置し、基台10の接続端子5を設
けた面からその面或いは他の面に通じるように、接続端
子5から導線6を延ばし、この導線6に、電流を測定す
るリードピン4に接続する。電流プローブ2は、基台1
0に内蔵するように装架するとともに、電流プローブ2
を電流検出用として用いる場合には計測器に、または電
流印加用として用いる場合には信号発生器に接続するた
めの一対の出力端子7を設けている。
【0024】この電流プローブ2は、ICソケット1内
部に内蔵する都合から、小型で且つ出力端子7との接続
容易な構成が必要である。これらの条件から、図2に示
すように、互いに対向する第1の面205aと第2の面
205bとを貫通する中空部21と、前記中空部21を
形成する内側面203を、第1の面205a側と第2の
面205b側部分とに分割し、これら両部分を互いに絶
縁するスリット201を有し、そのスリット201の一
部を内側面203以外の面まで引き出すことで、出力端
子7を容易に接続できる出力端子接続部202を形成
し、一対の出力端子7を設けている。
【0025】電流プローブ2は、第1の面205a及び
図3の断面に示された第2の面205b、内側面20
3、外側面204は、スリット201を除いて導電性で
あり、これらの面で囲まれる空洞206を設けている。
【0026】このように構成された電流プローブ2は、
電流検出用として用いる場合には、中空部21を通した
導線6(図1)に流れる電流が作る磁束が空洞206に
鎖交し、電流に応じてスリット201の第1の面205
a側と第2の面205b側の間に誘起される電圧が出力
端子7に生じ、また電流印加用として用いる場合には、
出力端子7に印加された電圧に応じて、空洞206内に
磁束が誘起され、相反の関係から、導線6に電流が誘導
される。
【0027】次に、このICソケットの使用方法及び作
用について図1を参照して説明する。本実施の形態のI
Cソケットでは、IC3のリードピン4の本数及び位置
に合うように接続端子5及び導線6を配置した基台10
の側表面、或いはその表層から取り出せる構造の電流プ
ローブ2を1個、導線6のうちの1本に装架するよう
に、基台10に内蔵している。
【0028】したがって、出力端子7に計測器を接続す
れば、電流プローブ2を装架した導線6に流れる電流を
測定することができる。本実施の形態では、1個の電流
プローブ2を、基台10に設けたが、1つに限定せず、
複数個あっても、同様に機能させることができ、その場
合は、複数の任意のリードピン4の電流の測定、或い
は、電流印加を行うことができる。
【0029】なお、中空部21の形状は、円柱型以外
に、四角柱等の任意の断面形状を有するものでも良く、
中空部21に挿入される導線6の形状に応じて中空部2
1の形状を定めれば良い。接続端子5は、リードピン4
を機械的な圧力で保持し、電気的な接続を維持してお
り、半田などで接着されているわけではないので、容易
にIC3をICソケットから着脱可能である。したがっ
て、IC3に損傷を与えることなく、評価を実施でき
る。
【0030】次に、本発明の第2の実施の形態によるI
Cソケットについて図4を参照して説明する。
【0031】本実施の形態では、接続端子5aの形状
を、表面実装用のIC3のリードピン4の形状に対応し
て、平に、基台10の上表面に設け、導線6は、IC3
に対応した基板41上のパッド42と、電気的に接続す
るように、基台10の下側表面から僅かに突出するよう
に構成されている。このように、IC3が実際に使用さ
れる基板41と、IC3の間に、ICソケット1を挟む
ことで、リードピン4に流れる電流測定、或いは、電流
印加を行うことができる。
【0032】本実施の形態では、出力端子7を基台10
の横側面に設けているが、IC3の周囲に他の部品があ
る場合などには、基台10の上面や下面など他の面に出
力端子7を設けることも可能である。また本実施の形態
では、IC3は、半田付けにて、ICソケット1に固定
するが、IC3を固定するために、上方から圧力を掛け
るなどの、固定治具を組み合わせれば、IC3を半田付
けする必要がなくなり、より利便性が増す。
【0033】次に、本発明の第3の実施の形態について
図5を参照して説明する。
【0034】本実施の形態では、IC3用のICソケッ
ト1aのピン配置に合わせて、電流プローブ2a,2b
を配置し、出力端子7a,7bをそれぞれ、基台10に
設け、電流プローブアレイ8を構成している。この電流
プローブアレイ8は、IC3とICソケット1aの間に
配置することで、電流プローブ内蔵のICソケット9を
形成し、本発明の第1の実施の形態と同様の効果を得る
ことができる。本実施の形態では、電流プローブアレイ
8をIC3とICソケット1aとの間に配置したが、I
Cソケット1aの下部に配置しても差し支えない。
【0035】次に、本発明の第4の実施の形態について
図6を参照して説明する。
【0036】本実施の形態では、表面実装用のIC3の
リードピン4との電気的な接続を実現するために、接続
端子5aを平らにし、導線6と共に電流プローブアレイ
8に設けている。IC3のリードピン4とICソケット
1aの接続端子5bは、接続端子5aと導線6を介し
て、電気的な接続が保持され、表面実装用でないICソ
ケット1aを、表面実装用のIC3に対応した、電流プ
ローブ内蔵のICソケット9を形成し、本発明の第1お
よび第2の実施の形態と同様の効果を得ることができ
る。
【0037】次に、本発明の第5の実施の形態について
図7を参照して説明する。
【0038】本実施の形態では、リードピン4を機械的
に保持する接続端子5と、表面実装用の基板41のパッ
ド42に対応して電気的に接続する形状の導線6とを、
有した電流プローブ内蔵のICソケット9を形成し、I
C3と基板41の間に配置した。これにより、表面実装
用の基板41に、表面実装用でないIC3を電気的に接
続し、そのリードピン4の電流測定、または、電流印加
評価が容易に実現できる。また、IC3は、その他の電
子部品であっても差し支えない。
【0039】次に、本発明の第6の実施の形態について
図8を参照して説明する。
【0040】本実施の形態では、表面実装用の基板に取
り付ける表面実装用ICソケット81と、表面実装用の
基板41との間に、表面実装用の接続端子5aおよび導
線6を具備した電流プローブアレイ8を配置して、電流
プローブ内蔵のICソケット9を形成している。本実施
の形態では、出力端子7を電流プローブアレイ8の横側
面に設けているが、基板41に配線可能ならば、電流プ
ローブアレイ8の下部など他の部分に設けても差し支え
ない。
【0041】次に、本発明の第7の実施の形態について
図9を参照して説明する。
【0042】本実施の形態では、チップ抵抗やチップコ
ンデンサなどの表面実装素子91を、取り付ける基板4
1に対応して形成した接続端子5aおよび導線6を具備
した電流プローブアレイ8を、表面実装素子91と基板
41の間に、配置している。本実施の形態では、出力端
子7を電流プローブアレイ8の横側面に設けているが、
基板41に配線可能ならば、電流プローブアレイ8の下
部など他の部分に設けても差し支えない。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
絶縁性の基台に、小型で出力端子を接続容易な構成の電
流プローブと接続端子、導線を内蔵し、電流プローブに
接続した出力端子を基台の表面に具備するという基本構
成に基づき、電流プローブを出力端子により計測器或い
は信号発生器と接続し、電流検出或いは電流印加をそれ
ぞれのリードピンに対して行うことができる電流プロー
ブを内蔵したICソケットが提供される。また、既存の
ICソケットと組み合わせることで、表面実装にも対応
した、電流プローブ内蔵のICソケットを実現した電流
プローブアレイが提供される。
【0044】なお、本発明は上記各実施例に限定され
ず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施例は適
宜変更され得ることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態のICソケットの構
成を示す断面図である。
【図2】図1のICソケットに設けた電流プローブを示
す斜視図である。
【図3】図2のAA’で切断した断面図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態のICソケットの構
成を示す断面図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態のICソケットの構
成を示す断面図である。
【図6】本発明の第4の実施の形態のICソケットの構
成を示す断面図である。
【図7】本発明の第5の実施の形態のICソケットの構
成を示す断面図である。
【図8】本発明の第6の実施の形態のICソケットの構
成を示す断面図である。
【図9】本発明の第7の実施の形態のICソケットの構
成を示す断面図である。
【図10】リード電流を測定する従来例の構成を示す説
明図である。
【図11】ICソケットに電流検出用コイルを内蔵した
従来の構成を示す説明図である。
【図12】小型化した電流プローブをアレイ化した従来
の構成を示す説明図である。
【符号の説明】
1,1a ICソケット 2,2a,2b 電流プローブ 3 IC 4 リードピン 5,5a,5b 接続端子 6 導線 7,7a,7b 出力端子 8 電流プローブアレイ 9 電流プローブ内蔵のICソケット 10 基台 21 中空部 201 スリット 202 出力端子接続部 203 内側面 204 外側面 205a 第1の面 205b 第2の面 206 空洞 41 基板 42 パッド 81 表面実装用ICソケット 91 表面実装素子 92 端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01R 33/945 G01R 31/26

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICのリードピンと電気的に接続される
    端子を有するICソケットであって、互いに対向する第
    1の面と第2の面とを貫通する中空部と、前記中空部を
    形成する内側面を前記第1の面側部分と前記第2の面側
    部分とに分割しこれら両部分を互いに絶縁するスリット
    と、を有する筒型状導体を含み、前記中空部に挿入され
    ている導線を流れる電流を検出する電流プローブを有
    し、前記導線を流れる電流の検出出力を導出する一対の
    出力端子を設けたことを特徴とするICソケット。
  2. 【請求項2】 前記端子は、表面実装型IC用リードピ
    ンと電気的に接続される端子であることを特徴とする請
    求項1に記載のICソケット。
  3. 【請求項3】 前記出力端子は、第1の面または前記第
    2面に設けたことを特徴とする請求項1または2に記載
    のICソケット。
  4. 【請求項4】 前記出力端子は、引き出し線にて引き出
    したことを特徴とする請求項1または2に記載のICソ
    ケット。
  5. 【請求項5】 少なくとも2つ以上の電流プローブをI
    Cのリードピンに対応する配置で、ICソケットの上部
    または下部に設け、電流検出機能付きICソケットを構
    成するために用いることを特徴とする電流プローブアレ
    イ。
  6. 【請求項6】 表面実装型ICリードピンと電気的に接
    続される端子を前記ICソケットの上部に配置すること
    で、電流検出機能付き表面実装型IC用のICソケット
    を実現するように構成したことを特徴する請求項5に記
    載の電流プローブアレイ。
JP11002145A 1999-01-07 1999-01-07 Icソケット及び電流プロ―ブアレイ Expired - Lifetime JP3063974B1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11002145A JP3063974B1 (ja) 1999-01-07 1999-01-07 Icソケット及び電流プロ―ブアレイ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11002145A JP3063974B1 (ja) 1999-01-07 1999-01-07 Icソケット及び電流プロ―ブアレイ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP3063974B1 true JP3063974B1 (ja) 2000-07-12
JP2000200663A JP2000200663A (ja) 2000-07-18

Family

ID=11521193

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11002145A Expired - Lifetime JP3063974B1 (ja) 1999-01-07 1999-01-07 Icソケット及び電流プロ―ブアレイ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3063974B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102570836B1 (ko) 2020-09-17 2023-08-28 주식회사 제이앤에스테크 김서림 방지용 마스크

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102570836B1 (ko) 2020-09-17 2023-08-28 주식회사 제이앤에스테크 김서림 방지용 마스크

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000200663A (ja) 2000-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5373231A (en) Integrated circuit probing apparatus including a capacitor bypass structure
US7298140B2 (en) Three-dimensional magnetic direction sensor, and magneto-impedance sensor element
JPH1070160A (ja) 集積回路の電気的導通テストのための内蔵機能
US20190178910A1 (en) Contact terminal, inspection jig, and inspection device
US6854980B2 (en) Probe card
US6380752B1 (en) IC socket
GB2353399A (en) Testing printed or integrated circuits
JP3063974B1 (ja) Icソケット及び電流プロ―ブアレイ
JPH11248748A (ja) プローブカード
JP3249865B2 (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JP3379906B2 (ja) プロービングカード
JP2003270267A (ja) プローブユニット、プローブカード、測定装置及びプローブカードの製造方法
JPH0315765A (ja) テストボード
JP3039807B2 (ja) キャパシタバイパス構造を有する集積回路プローブ装置
JPH01288782A (ja) プローブカード
JPH0772212A (ja) Lsi測定ボード
JP2980952B2 (ja) プローブボード
JPS61259176A (ja) プロ−ブ
JPH0450780A (ja) 半導体評価装置
JP2592180Y2 (ja) 圧力センサ
JPH0541416A (ja) プローブカード及びフロツグリング
JPH0389170A (ja) プローブボードとその組立方法
JPH01128536A (ja) 半導体素子測定用プローブ
JP2008203169A (ja) 半導体測定装置
JPH0416943B2 (ja)