JP3062572B2

JP3062572B2 - 磁束密度計

Info

Publication number: JP3062572B2
Application number: JP1050133A
Authority: JP
Inventors: 隆史中山; 晃次横山
Original assignee: Kanetec KK
Current assignee: Kanetec KK
Priority date: 1989-03-03
Filing date: 1989-03-03
Publication date: 2000-07-10
Anticipated expiration: 2015-07-10
Also published as: JPH02231585A

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、磁束密度計に関し、特に計測した磁束密度
を記憶可能の磁束密度計に関する。

（従来の技術）磁束密度計の１つとして、計測した値を表示器に表示
するものがある。しかし、この磁束密度計では、現在の
すなわち現時点の磁束密度が表示されるにすぎないた
め、換言すれば、表示されている情報が検出される磁束
密度の変化に追従して変化するため、表示されている情
報を常時確認し、記録しなければならなず、記録作業が
面倒である。

磁束密度計の他の１つとして、計測した磁束密度の最
高値を求め、その値を表示器に表示するものがある。し
かし、この磁束密度計では、現時点の磁束密度と最高値
とのいずれか一方が表示されるにすぎないため、表示さ
れている情報を常時確認し、記録しなければならない。

（解決しようとする課題）本発明は、任意な時点の磁束密度と現在の磁束密度と
を同時に知ることができる、磁束密度計を提供すること
を目的とする。

（解決手段、作用、効果）本発明の磁束密度計は、磁束密度に対応した値の電気
信号を出力する検出手段と、該検出手段の出力信号を処
理して、前記磁束密度に対応する情報を表示するための
第１の表示データを出力する信号処理手段と、該信号処
理手段から出力されるデータを受けて該データに対応す
る情報を表示する表示手段と、記憶指令を前記信号処理
手段へ与える手動操作のスイッチを備える記憶指令手段
とを含む。前記信号処理手段は、前記磁束密度に対応す
るデータを書き込む複数の記憶部を備え、また前記記憶
指令を受けるたびに前記磁束密度に対応する前記データ
を前記記憶部に順次書き込み、さらに前記記憶部に書き
込まれたデータに対応する第２の表示データを前記表示
手段へ出力する。前記表示手段は、前記第１の表示デー
タを目視可能に表示する第１の表示部と、前記第２の表
示データを目視可能に表示する複数の第２の表示部とを
備える。

信号処理手段は、検出手段から供給される信号を基に
現時点の磁束密度に対応する第１の表示データを表示手
段に出力する。これにより、表示手段は、そのときどき
のすなわち現在の磁束密度に対応する情報を第１の表示
部に目視可能に表示する。

信号処理手段は、また、手動操作のスイッチによる記
憶指令を受けると、そのときの磁束密度に対応するデー
タを最初の記憶部に書き込み、書き込まれたデータに対
応する第２の表示データを現在の磁束密度に対応する第
１の表示データとともに表示手段へ出力する。これによ
り、表示手段は、現在の磁束密度に対応する情報を第１
の表示部に目視可能に表示し、最初の記憶部に記憶され
たデータに対応する情報を第２の表示部に目視可能に表
示する。

信号処理手段は、さらに、手動操作のスイッチによる
記憶指令を再度受けると、そのときの磁束密度に対応す
るデータを次の記憶部に書き込み、新たに書き込まれた
データに対応する新たな第２の表示データを最初の記憶
部に記憶されているデータに対応する第２の表示データ
と、現在のデータに対応する第１の表示データとともに
表示手段へ出力する。これにより、表示手段は、そのと
きどきの磁束密度に対応する情報（第１の表示データ）
を第１の表示部に目視可能に表示するとともに、２つの
記憶部内のデータに対応する２つの情報（第２の表示デ
ータ）を第２の表示部に目視可能に表示する。

このように、信号処理手段は、記憶指令を受けるたび
に、そのときの磁束密度に対応するデータを記憶部に順
次書き込む。これにより、記憶部の数と同回数の記憶指
令が信号処理回路に与えられることにより、表示手段
は、そのときどきの磁束密度により変化する現時点の情
報を第１の表示部に目視可能に表示するとともに、変化
しない複数の情報を第２の表示部に目視可能に表示す
る。

上記のように本発明によれば、磁束密度に対応するデ
ータを書き込む複数の記憶部と、第１の表示部と、複数
の第２の表示部と、記憶指令を入力する手動操作のスイ
ッチとを設け、現在の磁束密度に対応する第１の表示デ
ータを第１の表示部に目視可能に表示し、スイッチが操
作されるたびに磁束密度に対応するデータを記憶部に順
次書き込み、書き込んだデータに対応する第２の表示デ
ータを第２の表示部に目視可能に表示するようにしたか
ら、現在の磁束密度と任意な１以上の時点の磁束密度と
を同時に知ることができる。

記憶部内のデータを消去させる消去指令を信号処理手
段へ与える消去指令手段を設け、該消去指令手段により
消去指令を信号処理手段に与えて記憶部内のデータを消
去させることができる。

第１及び第２の表示データに対応する情報は、バーグ
ラフまたは数値で表示するとともに、対応する磁束の極
性を表示することができる。

（実施例）第１図を参照するに、磁束密度計10は、磁束密度に比
例した電気信号を出力する検出装置12と、該検出装置の
出力信号を増幅する増幅装置14と、該増幅装置の出力信
号を基に磁束密度を求める信号処理装置16と、該信号処
理装置で求めた磁束密度を表示する表示装置18と、信号
処理装置16へ指令を与える複数のスイッチ20a〜20hとを
備える。

検出装置12は、ホール素子のような既知のセンサを用
いた装置であり、たとえば、前記ホール素子のほかに該
ホール素子に一定の電流を供給する定電流回路と、ホー
ル素子に得られる信号を増幅して出力する増幅回路とで
構成することができる。

増幅装置14は、検出装置12の出力信号を増幅する複数
の増幅回路を備える。各増幅回路は、互いに異なる増幅
度を有し、また、増幅した信号を信号処理装置16へ供給
する。

信号処理装置16は、増幅装置14の増幅回路の出力信号
を並列的に受け、該出力信号の１つを選択して出力する
マルチプレクサ22と、該マルチプレクサから出力される
アナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器24
と、各種のデータを記憶する記憶回路26と、入出力ポー
ト28と、該入出力ポートを介して供給される各種の指令
およびA/D変換器24の出力信号を基に表示データを作成
しまたマルチプレクサ22へ出力信号の切換え指令を出力
する演算処理回路30とを備える。

マルチプレクサ22は、演算処理回路30から出力信号の
切換え指令が供給されるたびに、増幅装置14の増幅回路
の出力信号を所定の順序で切り換えて出力する。このた
め、A/D変換器24から演算処理回路30へ供給される信号
は、演算処理回路30からマルチプレクサ22へ信号の切換
え指令が供給されるたびに変更される。

表示装置18は、図示の例では、液晶表示装置であり、
演算処理回路30から入出力ポート28を介して供給される
各種のデータを目視可能に表示する。

スイッチ20a〜20hは、入出力ポート28を介して演算処
理装置30に接続されている。スイッチ20aは現在の磁束
密度の表示態様の変更を指令するスイッチ、スイッチ20
bは磁束密度計の零レベルの調整を指令するスイッチ、
スイッチ20cは磁束密度計のレンジの自動・手動切換え
を指令するスイッチ、スイッチ20dはスイッチ20cが手動
に切り換えられているとき、表示のレンジの切換えを指
令するスイッチ、スイッチ20eは磁束密度をデータ用メ
モリに記憶することを指令するスイッチ、スイッチ20f
はデータ用メモリ内のデータの消去を指令するスイッ
チ、スイッチ20gは磁束密度のピーク値測定測定モード
とリアル測定モードとの切り換えを指令するスイッチ、
スイッチ20hは記憶されたピーク値のクリアを指令する
スイッチである。

スイッチ20a〜20hは、自動復帰のａ接点のスイッチで
ある。演算処理回路30はスイッチ20a,20cおよび20gに対
応するフラグを有し、これらのフラグのセットおよびリ
セットは、対応するスイッチが圧下されるたびに交互に
行われる。演算処理回路30は、圧下されたスイッチに対
応する指令を実行するが、スイッチ20cに対応するフラ
グがセットされているときに、スイッチ20dが圧下され
ても、このときの指令は実行しない。

磁束密度計10は、また、第２図に示すように、電源を
投入するスイッチ32と、ホール素子のようなセンサを有
するプローブの接続部34とを備える。

表示装置18の表示フォーマットは、第２図に示すよう
に、現在の磁束密度またはピーク値をバーグラフで表示
するための表示部36、現在の磁束密度またはピーク値を
数値で表示するための表示部38、表示部36のための目盛
40、表示部36,38に表示された値の磁束の極性N,Sを表示
するための表示部42、磁束密度計10のレンジの切換えが
自動であるか手動であるかを示す記号AUTOT,MANUを表示
するための表示部44、表示部36,38に表示されている磁
束密度が現在の磁束密度であるかピーク値であるかを示
す記号REAL,HOLDを表示するための表示部46、および、
記憶回路26に記憶された磁束密度を数値で表示するため
の複数の表示部48,50,52,54とを含む。

第２図〜第４図を参照して磁束密度計10の動作を説明
する。

スイッチ32が投入されていると、演算処理回路30は、
磁束密度測定ルーチンを繰り返し実行する。この磁束密
度測定ルーチンにおいて、演算処理回路30は、A/D変換
器24から供給される信号を現在の磁束密度として取り込
むとともに磁束の極性を判定、次いで取り込んだ信号お
よび極性と、記憶回路26に記憶されているデータとを基
にして表示データを作成し、該表示データを表示装置18
へ出力する。

これにより、スイッチ20gに対応するフラグがリセッ
トされている限り、表示装置18には、第２図に示すよう
に、表示部40に現在の磁束密度に対応するバーグラフ、
現在の磁束密度に対応する数値、バーグラフのための目
盛および磁束の極性が、それぞれ、表示部36,38,40およ
び42に目視可能に表示される。

表示部36,40に表示されるバーグラフおよび目盛は、
スイッチ20aに対応するフラグがりセットされている限
り、第２図に示すように、０〜10の範囲で表示される。
また、表示部44および46には、それぞれ、スイッチ20c
および20gに対応するフラグがリセットされている限
り、記号MANUおよびREALが表示されている。さらに、表
示部48〜54には、これらに対応する記憶回路26の記憶部
すなわちデータ用メモリに記憶されているデータが表示
される。

スイッチ20aが圧下されると、演算処理回路30は、対
応するフラグをセットし、バーグラフおよび目盛を前記
の２分の１に縮小して表示部36,40に表示する表示デー
タを作成し、該表示データを表示装置へ出力する。

これにより、表示部36,40に表示されるバーグラフお
よび目盛は、第３図に示すように10〜０〜10の範囲で表
示される。この場合、バーグラフは、たとえば、磁束の
曲線がＳのとき10〜０の範囲に符号Ｓとともに表示さ
れ、Ｎのとき０〜10の範囲に符号Ｎとともに表示され
る。このため、目盛に対するバーグラフの位置により磁
束の極性を知ることができ、また、交番磁界の場合、正
と負の両側に伸びるバーグラフとなる。

なお、スイッチ20aが再度圧下されると、演算処理回
路30は、スイッチ20aに対応するフラグをリセットす
る。

スイッチ20bが圧下されると、演算処理回路30は、磁
束密度計10の零調整をするための零設定ルーチンを実行
する。この零設定ルーチンにより、演算処理回路30にお
ける処理の零レベルがA/D変換器24から演算処理回路30
へ供給されている現在の信号のレベルに設定される。

スイッチ20cが圧下されると、演算処理回路30は、対
応するフラグをセットする。これにより、演算処理回路
30は、磁束密度測定時に、磁束密度計10を所定のレンジ
に自動的に設定するレンジ自動切換えルーチンを実行す
る。また、表示部44には、レンジが自動切換えであるこ
とを示す記号AUTOが表示される。

レンジ自動切換えルーチンにおいて、演算処理回路30
は、たとえば、演算処理回路30からマルチプレクサ22へ
信号の切換え指令を供給し、A/D変換器24から演算処理
回路30へ供給される信号が所定の値であるか否かを判定
する工程を所定の値の信号がA/D変換器24から演算処理
回路30へ供給されるまで繰り返す。これにより、表示の
レンジが被検出箇所の磁束密度に対応した所定のレンジ
に切り換えられる。

スイッチ20cが再度圧下されると、演算処理回路30
は、スイッチ20cに対応するフラグをリセットする。

スイッチ20cに対応するフラグがリセットされている
とき、演算処理回路30は、スイッチ20dが圧下されるた
びに、切換え指令をマルチプレクサ22へ供給するレンジ
手動切換えルーチンを実行する。これにより、マルチプ
レクサ22から出力される信号が切り換えられ、磁束密度
計10のレンジが切り換えられる。

表示部36,40に表示される情報は、レンジがレンジ自
動切換えルーチン、レンジ手動切換えルーチンにより切
り換えられるたびに、０〜10,0〜100,0〜1000のよう
に、または10〜０〜10,100〜０〜100,1000〜０〜1000の
ように切り換えられる。

スイッチ20eが圧下されると、演算処理回路30は、A/D
変換器24から供給されている現在の磁束密度に対応する
データを記憶回路26の所定のデータ用メモリに書き込
む。このルーチンは、スイッチ20eが圧下されるたびに
実行される。このようなルーチンは、たとえば、第４図
（Ｂ）に示すように、データを上位のデータ用メモリか
ら順次記憶すればよい。

スイッチ20fが圧下されると、演算処理回路30は、記
憶回路26のデータ用メモリに記憶されているデータを全
てクリアする。これにより、表示部48〜54には、情報が
表示されない。

スイッチ20gが圧下されると、演算処理回路20は、対
応するフラグをセットした後、磁束密度のピーク値を検
出するピーク検出ルーチンを実行する。このピーク検出
ルーチンにおいて、演算処理回路30は、たとえば、A/D
変換器24から演算処理回路30に供給されている現在の磁
束密度を記憶回路26のピーク値用メモリに書き込み、そ
の後、磁束密度測定ルーチンにおいて磁束密度を測定す
るたびに、測定値とピーク値用メモリ内の値とを比較し
て、ピーク値用メモリの値を大きい値に更新する。これ
により、表示部36,38,40には、ピーク値に対応する情報
が表示される。

スイッチ20hが圧下されると、演算処理回路30は、ス
イッチ20gによりメモリ内のピーク値のみをリセットす
るとともに、記憶回路26のピーク値用メモリ内のデータ
をクリアする。

磁束密度計10によれば、スイッチ20eが圧下されるた
びに、記憶回路26の所定のデータ用メモリにそのときの
磁束密度に対応するデータが書き込まれ、該データが所
定の表示部48〜54に表示されるから、過去の１以上の時
点の磁束密度と現在の磁束密度またはピーク値とを同時
に知ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す電気回路のブロック
図、第２図は表示のためのフォーマットの一例を示すべ
く磁束密度計本体の一実施例を示す正面図、第３図は表
示フォーマットの他の例を示す図、第４図は動作を説明
するための図である。 10:磁束密度計、12:検出装置、14:増幅装置、16:信号処
理装置、18:表示装置、20a〜20h:スイッチ。

フロントページの続き (56)参考文献特開昭59−15880（ＪＰ，Ａ) 特開昭63−285483（ＪＰ，Ａ) 特開平２−93395（ＪＰ，Ａ) 実開平２−109277（ＪＰ，Ｕ) 実開昭55−77129（ＪＰ，Ｕ) 実開昭56−109009（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 33/02

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】磁束密度に対応した値の電気信号を出力す
る検出手段と、該検出手段の出力信号を処理して、前記
磁束密度に対応する情報を表示するための第１の表示デ
ータを出力する信号処理手段と、該信号処理手段から出
力されるデータを受けて該データに対応する情報を表示
する表示手段と、記憶指令を前記信号処理手段へ与える
手動操作のスイッチを備える記憶指令手段とを含み、前
記信号処理手段は、前記磁束密度に対応するデータを書
き込む複数の記憶部を備え、また前記記憶指令を受ける
たびに前記磁束密度に対応する前記データを前記記憶部
に順次書き込み、さらに前記記憶部に書き込まれたデー
タに対応する第２の表示データを前記表示手段へ出力
し、前記表示手段は、前記第１の表示データを目視可能
に表示する第１の表示部と、前記第２の表示データを目
視可能に表示する複数の第２の表示部とを備える、磁束
密度計。
【請求項２】さらに、前記記憶部内のデータを消去させ
る消去指令を前記信号処理手段へ与える消去指令手段を
含み、前記信号処理手段は前記消去指令を受けたとき、
前記記憶部内のデータを消去する、請求項（１）に記載
の磁束密度計。
【請求項３】前記表示手段は、前記第１及び第２の表示
データに対応する情報をバーグラフまたは数値で表示す
るとともに、対応する磁束の極性を表示する、請求項
（１）に記載の磁束密度計。