JP3040307B2 - 蒸気洗浄方法 - Google Patents

蒸気洗浄方法

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JP3040307B2
JP3040307B2 JP6099231A JP9923194A JP3040307B2 JP 3040307 B2 JP3040307 B2 JP 3040307B2 JP 6099231 A JP6099231 A JP 6099231A JP 9923194 A JP9923194 A JP 9923194A JP 3040307 B2 JP3040307 B2 JP 3040307B2
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憲剛 島ノ江
和彦 窪田
進 大塚
賢一 上村
良弘 森
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Nippon Steel Corp
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被洗浄体表面を蒸気洗
浄するための蒸気洗浄方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、シリコンウェハやマスクなどの半
導体基板の表面には、その加工工程に於いて種々の不純
物が付着しており、それらを除去する洗浄法に蒸気洗浄
法がある(例えば特開平2−177327号・特開平5
−41139号公報)。蒸気中に含まれる金属は液中よ
りも1桁少ない量であり、蒸気洗浄により極めて清浄な
液による洗浄を行うことができ、高集積化に好適に対応
し得る。
【0003】しかしながら、従来の蒸気洗浄に於いて
は、任意の薬液を用いて蒸気洗浄を行った後に水洗いを
するが、蒸気洗浄後の乾燥時に薬液が残ると、その後の
水洗浄時に水中の不純物が基板表面に付着し易く、高集
積化に対応し難いという問題がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような従来技術の
問題点に鑑み、本発明の主な目的は、高清浄な洗浄結果
を得られる蒸気洗浄方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】このような目的は、本発
明によれば、第1の洗浄室にて酸・塩・塩基・酸化剤の
各薬液の少なくとも1種を含む洗浄液の蒸気により被洗
浄体を洗浄する過程と、第2の洗浄室にて前記蒸気洗浄
後の前記被洗浄体を水蒸気により洗浄する過程とを有す
ることを特徴とする蒸気洗浄方法を提供することにより
達成される。
【0006】
【作用】このようにすれば、第1の洗浄室にて金属や付
着粒子(パーティクル)の除去に応じた薬液を用いた蒸
気洗浄を行い、その後第2の洗浄室で水蒸気による洗浄
を行うことにより、被洗浄体表面に残った薬液を水に置
換することができ、その後乾燥することにより、水のみ
を乾燥することができる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の好適実施例を添付の図面につ
いて詳しく説明する。
【0008】図1は、本発明が適用された蒸気洗浄装置
の全体を示す模式的側断面図である。本蒸気洗浄装置
は、図では4つの部屋が直列に連設された構造であり、
被洗浄体としての半導体基板であるウェハ1を、キャリ
ア2により保持したまま各部屋を図の左から右に向けて
順次搬送するようになっている。
【0009】キャリア2は、図2に併せて示されるよう
に、搬送方向に延在する左右一対の連結骨2aと、連結
骨2aの両端部と結合されて搬送方向に間隔をおいて互
いに対峙する一対の側板2bと、両側板2b間に複数枚
のウェハ1を並列に略立てた状態に保持するべく、ウェ
ハ1の下端と中心よりやや低い位置の左右端とを支持す
る3本の保持棒2cとにより組み立てられている。従っ
て、キャリア2の下端面のほとんどが上下方向に開口状
態である。
【0010】本装置には、ウェハ1の搬送方向上流側
(図1の左側)から下流側(右側)に向けて、ウェハ冷
却室3、第1の洗浄室4、第2の洗浄室5、乾燥室6が
この順に連設されており、各部屋3〜6の上部には、搬
送ベルト7が搬送方向に貫通して設けられている。搬送
ベルト7は、図3に示されるように、左右一対のベルト
ガイド7a内にそれぞれ複数のベアリング7bを受容し
てなり、図示されない駆動手段により回転ベルト7cを
適宜移動させるようになっている。そして、左右の回転
ベルト7c上に、連結骨2a及び側板2bの下面の適所
に突設された脚部を介してキャリア2が載置されてお
り、回転ベルト7cの移動に伴って各キャリア2が各部
屋3〜6間を搬送される。なお、各部屋の搬送方向両端
壁にはキャリアを通過可能にするための各開口3a・4
a・5a・6aが開設されている。
【0011】本装置の最初の処理室であるウェハ冷却室
3には、搬送されるウェハ1の左右の側方位置に冷却板
が設けられている。
【0012】次の第1の洗浄室4には、図3に併せて示
されるように、その底面に互いに個別に凹設された複数
(図では4つ)の貯留槽8が設けられており、各貯留槽
8内にはそれぞれ別個の薬液が貯留されている。これら
薬液は、酸・塩・塩基・酸化剤の各薬液の少なくとも1
種を含むものであって良く、酸としては弗酸・塩酸・燐
酸・硝酸・トリクロル酢酸・ジクロル酢酸・モノクロル
酢酸の内の少なくとも1種以上から、塩としてはアンモ
ニウム塩・アミン塩類の内の少なくとも1種以上から、
塩基としてはアンモニア・アミン類の内の少なくとも1
種以上から、酸化剤としては過酸化水素及びオゾンの少
なくとも1種以上からそれぞれ選択されると良い。
【0013】上記貯留槽8内には、図4に併せて示され
るように複数のヒータ板9が配設されている。これらヒ
ータ板9は、貯留槽8の底面に立設して互いに間隔をあ
けて並列に配設され板状のガラス管内またはテフロン板
内に電熱線を受容してなる。また、ガラス管を用いる場
合には材質を石英ガラス製にし、その外表面を耐薬液性
を高めるべくテフロン加工すると良い。電熱線は、まと
められて図示されない電熱制御装置に電気的に接続され
ている。なお、ヒータ板9間に洗浄液Sが容易に回り込
めるように、各ヒータ板9の下部に貫通孔9aが設けら
れている。
【0014】貯留槽8の側壁の上側部分には薬液供給管
11が接続されており、貯留槽8の側壁の下端部には薬
液排出管12が接続されている。この薬液供給管11か
ら薬液を貯留槽8内に供給し、ヒータ板9をほぼ水没状
態にしてヒータ板9を加熱すると、薬液の所定量の蒸気
を発生させることができる。その蒸気発生を停止させる
場合には、貯留槽8内の薬液を薬液排出管12から排出
することにより、直ちに蒸気の発生を止めることができ
る。
【0015】また、第1の洗浄室4内であって図3に良
く示されるように保持位置のウェハ1と各貯留槽8との
間には、ウェハ1から落ちてくる滴下液を回収しかつ貯
留槽8に落とすことなく外部へ排出するための滴下液回
収手段が設けられている。この滴下液回収手段は、滴下
液を3段階にガイドして回収するように構成されてお
り、ウェハ1側から下方に互いに間隔をあけて配設され
た第1の回収板13と第2の回収板14と第3の回収板
15とにより構成されている。これら各回収板13〜1
5は、搬送方向に沿って延在し、各長手方向両端縁を第
1の洗浄室4の搬送方向端壁と結合されている。
【0016】第1の回収板13は、第1の洗浄室4の図
3に於ける左右の側壁内面から中央部に向けて斜め下方
にかつ両ベルトガイド7aの下方近傍まで延出している
左右一対のガイド体からなる。第2の回収板14は、第
1の回収板13の左右の延出端縁間の下方にて2枚の板
を上に突状をなすように曲折した屋根状に形成され、第
3の回収板15は、第2の回収板14により上方を覆わ
れる開口15aを形成するように、第1の洗浄室4の図
3に於ける左右の側壁内面の下部から第2の回収板14
の下方に向けて斜め上方に延出する左右一対のガイド板
からなる。なお、これら各回収板13〜15は、疎水性
の材料により例えばふっ素樹脂材により表面加工されて
いる。
【0017】このようにして滴下液回収手段が構成され
ていることから、ウェハ1からの滴下液は、第1の回収
板13により中央部に集められて第2の回収板14上に
落ち、第2の回収板14から第3の回収板15上に落ち
て、第3の回収板15の最下端である第1の洗浄室4の
図3に於ける左右の側壁内面との接合部に達する。第1
の洗浄室4の左右の側壁の第3の回収板15との接合部
の直上部分には回収薬液排出管16がそれぞれ接続され
ており、上記回収された不純物を含む滴下液が洗浄室の
外部に排出されるようになっている。
【0018】また、第1の洗浄室4の左右の側壁の外面
であって第3の回収板15との接合部の上方近傍には外
部冷却板17が設けられている。これにより、下方の蒸
気により温められ易い開口15a近傍には滴下液が留ま
ることがないため、各回収板13〜15上に落下した滴
下液が再蒸発することを防止できる。特に、排出管16
に集められた滴下液は、第1の洗浄室4の外面に設けら
れた冷却板17により冷却されるため、下方の蒸気によ
り温められて再蒸発することをより一層確実に防止され
る。
【0019】なお、第1の洗浄室4内の上部であって保
持位置にあるウェハ1の図3に於ける左右の両側方位置
にはそれぞれ加熱板18が設けられている。また、第1
の洗浄室4の天板部にはガス抜き口19が設けられてい
る。
【0020】第1の洗浄室4に連設された第2の洗浄室
5の構造は第1の洗浄室4と同様であり、同一の符号を
付してその詳しい説明を省略する。この第2の洗浄室5
の貯留槽には純水が貯留されている。従って、第1の洗
浄室4内で前記薬液の混合された蒸気による蒸気洗浄を
行われたウェハ1が、この第2の洗浄室5に移動した
ら、薬液洗浄に替わって水蒸気による洗浄を行われるこ
とになる。すると、ウェハ1表面に残っている薬液が水
置換されることになる。また、水置換後、蒸気発生部か
ら純水を抜き、加熱板18で加熱すると乾燥まで行え
る。
【0021】なお、この第2の洗浄室5に於いて、貯留
槽8の一部に過酸化水素を貯留して、水蒸気中に過酸化
水素を含ませるようにしても良い。このようにすること
により、ウェハ1表面に有機物が残っていても、その有
機物を容易に取り除くことができると共に、水蒸気のみ
の場合よりも酸化膜形成速度が大となる。
【0022】第2の洗浄室5に続けて連設された乾燥室
6内には、その中を横切る搬送ベルト7の下方にて搬送
方向に沿って延在する乾燥ガス吹き出しノズル20が設
けられている。この乾燥ガス吹き出しノズル20から
は、図示されない乾燥空気供給装置からの乾燥空気が上
方のウェハ1に向けて吹き出される。従って、前記第2
の洗浄室5によってウェハ1表面またはキャリア3表面
に残ったわずかな結露液を好適に乾燥することができ
る。なお、乾燥空気の替わりに乾燥窒素であっても良
い。また、この乾燥室6の天板部にもガス抜き口21が
設けられている。
【0023】このようにして構成された蒸気洗浄装置に
あっては、キャリア2の搬送方向全長と各部屋3〜6の
搬送方向長さとが同一にされている。従って、図1に示
されるように、各キャリア2の側板2b同士を密接させ
つつ搬送することにより、各部屋3〜6毎の処理を同時
に行ってバッチ処理を行うことができる。また、前記各
開口3a〜6aの大きさが、キャリア2の側板2bより
若干大きい程度にされており、処理のために各部屋3〜
6内に各キャリア2が保持されている状態では側板2b
により各部屋3〜6の開口3a〜6aをほぼ閉塞するこ
とができ、別個に遮蔽板などを設けることなく、隣接す
る部屋の影響を受けることのない処理を行うことができ
る。
【0024】このように蒸気洗浄を行うことにより、液
体に比べて蒸気中の汚染金属が1桁少なく、極めて純度
の高い洗浄液による洗浄を行うことができる。また、水
蒸気洗浄によりほぼ完全に薬液を水に置換でき、薬液の
乾燥を行わないため、薬液を乾燥した際に薬液が残って
水中の不純物が付着するという問題が生じない。
【0025】
【発明の効果】このように本発明によれば、第1の洗浄
室にて金属や付着粒子(パーティクル)の除去に応じた
薬液を用いた蒸気洗浄を行い、その後第2の洗浄室で水
蒸気による洗浄を行って水に置換した後乾燥することに
より、水のみを乾燥することができるため、薬液乾燥に
より生じる虞のある薬液が残って、水洗浄時に水中の不
純物が付着してしまうことを防止でき、蒸気洗浄による
高清浄度を好適に保持し得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用された蒸気洗浄装置の全体を示す
模式的側断面図。
【図2】キャリアを示す斜視図。
【図3】図1のIII−III線に沿って見た断面図。
【図4】貯留槽を示す部分斜視図。
【符号の説明】
1 ウェハ 2 キャリア 2a 連結骨 2b 側板 2c 保持棒 3 ウェハ冷却室 4 第1の洗浄室 5 第2の洗浄室 6 乾燥室 3a〜6a 開口 7 搬送ベルト 7a ベルトガイド 7b ベアリング 7c 回転ベルト 8 貯留槽 9 ヒータ板 9a 貫通孔 11 薬液供給管 12 薬液排出管 13 第1の回収板 14 第2の回収板 15 第3の回収板 15a 開口 16 回収薬液排出管 17 外部冷却板 18 加熱板 19 ガス抜き口 20 乾燥ガス吹き出しノズル 21 ガス抜き口
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上村 賢一 光市大字島田3434番地 新日本製鐵株式 会社 光製鐵所内 (72)発明者 森 良弘 光市大字島田3434番地 新日本製鐵株式 会社 光製鐵所内 (56)参考文献 特開 平4−79325(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304 B08B 3/00 - 3/14

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の洗浄室にて酸・塩・塩基・酸化剤
    の各薬液の少なくとも1種を含む洗浄液の蒸気により被
    洗浄体を洗浄する過程と、第2の洗浄室にて前記蒸気洗
    浄後の前記被洗浄体を水蒸気により洗浄する過程とを有
    することを特徴とする蒸気洗浄方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1057910A (ja) * 1996-08-20 1998-03-03 Tokuyama Corp 物品の洗浄方法
JP3037915B2 (ja) 1997-09-09 2000-05-08 キヤノン販売株式会社 半導体装置の製造方法
KR100328258B1 (ko) * 1999-12-17 2002-03-16 이형도 웨이퍼 세정장치
WO2006087990A1 (ja) * 2005-02-15 2006-08-24 Intellectual Property Bank Corp. ガス式シリコンウエハ精密洗浄乾燥装置
KR100795622B1 (ko) 2005-03-30 2008-01-17 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 기판처리장치 및 기판처리방법
JP4749749B2 (ja) * 2005-03-30 2011-08-17 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置および基板処理方法
ITUD20050211A1 (it) 2005-12-13 2007-06-14 Rossana Castellana Prodotto per il trattamento della pelle relativo procedimento di preparazione
CN111842380B (zh) * 2020-06-22 2021-07-30 徐州鑫晶半导体科技有限公司 晶圆盒清洗装置和晶圆盒清洗装置的控制方法

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