JP3031226B2 - 磁気ディスク装置のｒ／ｗチャネル・パラメータの設定方法 - Google Patents
磁気ディスク装置のｒ／ｗチャネル・パラメータの設定方法Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク装置の
動作パラメータ設定方法に関し、特に読み出し信号の波
形等化を実施するアクティブ・フィルタの遮断周波数
（ｆｃ）とブースト（Ｂｏｏｓｔ）とディレイ（ＤＬ
Ｙ）と、ピーク検出器内のスライス・レベル（ＳＬＶ）
と、データシンクロナイザ内のウィンドゥ・シフト（Ｗ
ＳＦ）と、書き込みパルスのタイミングであるライト・
プリコンペンセーション（ＷＰＣ）と、書き込み電流
（Ｉｃ）の設定方法に関する。
動作パラメータ設定方法に関し、特に読み出し信号の波
形等化を実施するアクティブ・フィルタの遮断周波数
（ｆｃ）とブースト（Ｂｏｏｓｔ）とディレイ（ＤＬ
Ｙ）と、ピーク検出器内のスライス・レベル（ＳＬＶ）
と、データシンクロナイザ内のウィンドゥ・シフト（Ｗ
ＳＦ）と、書き込みパルスのタイミングであるライト・
プリコンペンセーション（ＷＰＣ）と、書き込み電流
（Ｉｃ）の設定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の磁気ディスク装置において記録・
再生を制御する要素は、磁気ヘッドやディスク媒体、記
録・再生系ＬＳＩのバラツキや、評価用装置の調査デー
タを考慮して、特性として最適であると判断した場所に
固定していた。従って全ての装置の各ヘッド及び複数ゾ
ーン（ＭＺＲ）方式の場合は、全ゾーンにおいて、フィ
ルタのｆｃ，Ｂｏｏｓｔ，ＤＬＹやＷＰＣ，Ｉｃ，ＷＳ
Ｆ及びＳＬＶのセンタ値の設定が全て同じ場所であっ
た。
再生を制御する要素は、磁気ヘッドやディスク媒体、記
録・再生系ＬＳＩのバラツキや、評価用装置の調査デー
タを考慮して、特性として最適であると判断した場所に
固定していた。従って全ての装置の各ヘッド及び複数ゾ
ーン（ＭＺＲ）方式の場合は、全ゾーンにおいて、フィ
ルタのｆｃ，Ｂｏｏｓｔ，ＤＬＹやＷＰＣ，Ｉｃ，ＷＳ
Ｆ及びＳＬＶのセンタ値の設定が全て同じ場所であっ
た。
【０００３】また過去の技術として、特開平５−２６６
５８７号公報は、孤立波形を読み出し手段により読み出
して、読み出し孤立波形の半値幅を計測する手段と、孤
立波形の半値幅に応じたエレクトリックフィルタの最適
特性を与える回路パラメータを固定的に記憶したＲＯＭ
テーブルを有し、磁気ヘッド毎に最適テーブルを作成す
る手段と、最適テーブルからエレクトリックフィルタの
特性を制御する手段を有する技術を開示している（従来
技術１）。
５８７号公報は、孤立波形を読み出し手段により読み出
して、読み出し孤立波形の半値幅を計測する手段と、孤
立波形の半値幅に応じたエレクトリックフィルタの最適
特性を与える回路パラメータを固定的に記憶したＲＯＭ
テーブルを有し、磁気ヘッド毎に最適テーブルを作成す
る手段と、最適テーブルからエレクトリックフィルタの
特性を制御する手段を有する技術を開示している（従来
技術１）。
【０００４】また特開昭６４−７６４０３号公報は、ヘ
ッド固有の特性を測定し、その特性で最大位相マージン
／レベルマージンが得られる回路特性値を計算・実測し
て、予め記録素子（ＲＯＭ）に記憶して、特定のヘッド
が選択されたら記憶素子に格納されている最適回路特性
値を最適化電流手段に選出し、電流制御手段はその回路
特性値に従って書き込み／読み出し回路に定数を設定
し、書き込み動作／読み出し動作を行う技術を開示して
いる（従来技術２）。
ッド固有の特性を測定し、その特性で最大位相マージン
／レベルマージンが得られる回路特性値を計算・実測し
て、予め記録素子（ＲＯＭ）に記憶して、特定のヘッド
が選択されたら記憶素子に格納されている最適回路特性
値を最適化電流手段に選出し、電流制御手段はその回路
特性値に従って書き込み／読み出し回路に定数を設定
し、書き込み動作／読み出し動作を行う技術を開示して
いる（従来技術２）。
【０００５】また特開昭５９−１９８５１４号公報は、
磁気ヘッド・磁気ディスク単位毎に余弦等化回路、微分
回路、低減ろ波器のうち、１個または複数個の回路定数
を切り替えて、磁気ヘッド、磁気ディスクの特性組み合
わせによる再生波形のバラツキを補正し、装置の再生動
作の際の位相余裕が増大する技術を開示している（従来
技術３）。
磁気ヘッド・磁気ディスク単位毎に余弦等化回路、微分
回路、低減ろ波器のうち、１個または複数個の回路定数
を切り替えて、磁気ヘッド、磁気ディスクの特性組み合
わせによる再生波形のバラツキを補正し、装置の再生動
作の際の位相余裕が増大する技術を開示している（従来
技術３）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置では、記録・再生系パラメータ（ｆｃ，Ｂｏ
ｏｓｔ，ＤＬＹ，ＷＰＣ，Ｉｃ，ＷＳＦ及びＳＬＶのセ
ンタ）は、磁気ヘッド、ディスク媒体、記録・再生系Ｌ
ＳＩのバラツキや限定された装置の評価データから判断
して、最適と思われる値に設定した推測値である為、必
ずしも全ての装置やヘッド・ゾーンに当てはまるとは限
らない。場合によっては、推測値から離れたパラメータ
値が最適値になり得る可能性もある。さらに高密度化が
進んで来ると、前記パラメータの設定によるウィンドゥ
・マージン及び振幅マージンが許容値を超えてしまう場
合がある。つまり前記で説明した推測値と本来個別に存
在する最適値との差が広がり、これがそのまま装置の性
能に影響する為、上記磁気ヘッドやディスク媒体、記録
・再生系ＬＳＩのバラツキに対して、満足するエラーレ
ートが得られない問題がある。
ィスク装置では、記録・再生系パラメータ（ｆｃ，Ｂｏ
ｏｓｔ，ＤＬＹ，ＷＰＣ，Ｉｃ，ＷＳＦ及びＳＬＶのセ
ンタ）は、磁気ヘッド、ディスク媒体、記録・再生系Ｌ
ＳＩのバラツキや限定された装置の評価データから判断
して、最適と思われる値に設定した推測値である為、必
ずしも全ての装置やヘッド・ゾーンに当てはまるとは限
らない。場合によっては、推測値から離れたパラメータ
値が最適値になり得る可能性もある。さらに高密度化が
進んで来ると、前記パラメータの設定によるウィンドゥ
・マージン及び振幅マージンが許容値を超えてしまう場
合がある。つまり前記で説明した推測値と本来個別に存
在する最適値との差が広がり、これがそのまま装置の性
能に影響する為、上記磁気ヘッドやディスク媒体、記録
・再生系ＬＳＩのバラツキに対して、満足するエラーレ
ートが得られない問題がある。
【０００７】より詳しくは、従来技術１は孤立波形の半
値幅に対応してエレクトリックフィルタのパラメータ
（遮断周波数ｆｃとブーストＢｏｏｓｔ）を決定してい
るが、半値幅の様な電気的特性値（他に出力値）の優劣
と位相マージンの大小に相関関係があるとは限らない。
つまり、孤立波のようなトラックの一部分で発生するパ
ルスは通常データとして書き込み・読み出しするパルス
と異なるので、計測した半値幅で判断したフィルタ設定
条件が位相マージン最大になるとは限らず、また計測し
ようとする場所で媒体として問題がある場合、例えば欠
陥もしくは湧き出し等他とは異なる孤立波が発生した場
合に、フィルタのパラメータが最適値に設定されず、満
足できるエラーレートが得られない問題がある。
値幅に対応してエレクトリックフィルタのパラメータ
（遮断周波数ｆｃとブーストＢｏｏｓｔ）を決定してい
るが、半値幅の様な電気的特性値（他に出力値）の優劣
と位相マージンの大小に相関関係があるとは限らない。
つまり、孤立波のようなトラックの一部分で発生するパ
ルスは通常データとして書き込み・読み出しするパルス
と異なるので、計測した半値幅で判断したフィルタ設定
条件が位相マージン最大になるとは限らず、また計測し
ようとする場所で媒体として問題がある場合、例えば欠
陥もしくは湧き出し等他とは異なる孤立波が発生した場
合に、フィルタのパラメータが最適値に設定されず、満
足できるエラーレートが得られない問題がある。
【０００８】従来技術２は、各磁気ヘッド固有の特性を
測定し、それをもとに最大位相マージン／レベルマージ
ンが得られる回路特性値を、予め記憶素子（ＲＯＭ）に
記憶しているが、磁気ヘッド以外のディスク媒体、記録
・再生回路、サーボ系等のそれぞれの部品に特性のバラ
ツキが存在するが、ＲＯＭに記憶した回路特性値ではそ
れらが考慮されてないという問題点がある。
測定し、それをもとに最大位相マージン／レベルマージ
ンが得られる回路特性値を、予め記憶素子（ＲＯＭ）に
記憶しているが、磁気ヘッド以外のディスク媒体、記録
・再生回路、サーボ系等のそれぞれの部品に特性のバラ
ツキが存在するが、ＲＯＭに記憶した回路特性値ではそ
れらが考慮されてないという問題点がある。
【０００９】さらに従来技術２と３は、同一ヘッドでシ
リンダ領域によってパラメータを変更する手法が盛り込
まれていない為、複数ゾーン記録方式のようにシリンダ
により記録再生特性が大きく異なる場合は、シリンダに
よってはパラメータが最適化されないという問題点があ
る。
リンダ領域によってパラメータを変更する手法が盛り込
まれていない為、複数ゾーン記録方式のようにシリンダ
により記録再生特性が大きく異なる場合は、シリンダに
よってはパラメータが最適化されないという問題点があ
る。
【００１０】又、従来技術３は余弦等化回路、微分回
路、低減ろ波器といったフィルタのパラメータのみヘッ
ド毎に定数を切り替える為、他のスライス・レベルやラ
イト・プリコンペンセーション、書き込み電流について
は最適化されていないという問題点があり、最大位相マ
ージン／レベルマージンを求める手法としては不十分で
ある。
路、低減ろ波器といったフィルタのパラメータのみヘッ
ド毎に定数を切り替える為、他のスライス・レベルやラ
イト・プリコンペンセーション、書き込み電流について
は最適化されていないという問題点があり、最大位相マ
ージン／レベルマージンを求める手法としては不十分で
ある。
【００１１】本発明は、記録・再生系のパラメータ｛フ
ィルタ遮断周波数（ｆｃ）、ブースト（Ｂｏｏｓｔ）、
ディレイ、ライト・プリコンペンセーション、スライス
・レベル、ウィンドゥ・シフト、書き込み電流｝につい
て、全ヘッド、全ゾーン（もしくはシリンダ）個別に最
適となる設定を実施することにより、全ヘッド・ゾーン
同一のパラメータで設定する場合よりも広いウィンドゥ
・マージン及びレベルマージンを達成し、エラーレート
が低減して信頼性・安定性の向上を得ることを目的とす
る。
ィルタ遮断周波数（ｆｃ）、ブースト（Ｂｏｏｓｔ）、
ディレイ、ライト・プリコンペンセーション、スライス
・レベル、ウィンドゥ・シフト、書き込み電流｝につい
て、全ヘッド、全ゾーン（もしくはシリンダ）個別に最
適となる設定を実施することにより、全ヘッド・ゾーン
同一のパラメータで設定する場合よりも広いウィンドゥ
・マージン及びレベルマージンを達成し、エラーレート
が低減して信頼性・安定性の向上を得ることを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク装
置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方法は、ディスク媒
体上から読み出した信号に波形等化を実施するアクティ
ブ・フィルタの特性を制御するパラメータとなる、遮断
周波数（ｆｃ）、ブースト（Ｂｏｏｓｔ）、及びディレ
イ量（ＤＬＹ）を設定する手段と、ピーク検出器内のス
ライス・レベル（ＳＬＶ）を設定する手段と、データシ
ンクロナイザ内のウィンドゥ・シフト（ＷＳＦ）を設定
する手段と、書き込みパルスのタイミングであるライト
・プリコンペンセーション（ＷＰＣ）を設定する手段
と、書き込み電流（Ｉｃ）を設定する手段を有する磁気
ディスク装置において、前記ウィンドゥ・シフトの設定
を変えて、読み出し信号と書き込み信号のビット不一致
の頻度によりエラーレートを測定して、所定のエラーレ
ートにおけるウィンドゥ・マージンを計算することと、
前記スライス・レベル（ＳＬＶ）の設定を変えて、所定
のエラーレートにおける振幅マージン（ＬＶＭ）を計算
することと、前記フィルタのパラメータＤＬＹを変更し
たときにウィンドゥ・マージン（ＷＤＭ）が最適となる
ＤＬＹを探索して決定することと、前記ＷＰＣを変更し
たときにＷＤＭが最適となるＷＰＣ設定値を探索して決
定することと、Ｉｃを変更したときにＷＤＭが最適とな
るＩｃ設定値を探索して決定することと、前記フィルタ
のパラメータ（ｆｃ，Ｂｏｏｓｔ）と最適なＷＤＭより
計算したウィンドゥ・センタからＳＬＶが最適となるｆ
ｃ，Ｂｏｏｓｔの設定値を探索して決定することを特徴
とする。
置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方法は、ディスク媒
体上から読み出した信号に波形等化を実施するアクティ
ブ・フィルタの特性を制御するパラメータとなる、遮断
周波数（ｆｃ）、ブースト（Ｂｏｏｓｔ）、及びディレ
イ量（ＤＬＹ）を設定する手段と、ピーク検出器内のス
ライス・レベル（ＳＬＶ）を設定する手段と、データシ
ンクロナイザ内のウィンドゥ・シフト（ＷＳＦ）を設定
する手段と、書き込みパルスのタイミングであるライト
・プリコンペンセーション（ＷＰＣ）を設定する手段
と、書き込み電流（Ｉｃ）を設定する手段を有する磁気
ディスク装置において、前記ウィンドゥ・シフトの設定
を変えて、読み出し信号と書き込み信号のビット不一致
の頻度によりエラーレートを測定して、所定のエラーレ
ートにおけるウィンドゥ・マージンを計算することと、
前記スライス・レベル（ＳＬＶ）の設定を変えて、所定
のエラーレートにおける振幅マージン（ＬＶＭ）を計算
することと、前記フィルタのパラメータＤＬＹを変更し
たときにウィンドゥ・マージン（ＷＤＭ）が最適となる
ＤＬＹを探索して決定することと、前記ＷＰＣを変更し
たときにＷＤＭが最適となるＷＰＣ設定値を探索して決
定することと、Ｉｃを変更したときにＷＤＭが最適とな
るＩｃ設定値を探索して決定することと、前記フィルタ
のパラメータ（ｆｃ，Ｂｏｏｓｔ）と最適なＷＤＭより
計算したウィンドゥ・センタからＳＬＶが最適となるｆ
ｃ，Ｂｏｏｓｔの設定値を探索して決定することを特徴
とする。
【００１３】なお、ブーストとはアクティブ・フィルタ
において、遮断周波数付近の利得を持ち上げた場合、遮
断周波数における利得から−３ｄＢ引いた値をいう。
において、遮断周波数付近の利得を持ち上げた場合、遮
断周波数における利得から−３ｄＢ引いた値をいう。
【００１４】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は、最悪条件の繰り返しパターン
を書き込み、その後前記グループ・ディレイをある初期
値に設定して一定のエラーレートでのウィンドゥ・マー
ジンを測定し、その後＋方向に設定値を変化させて、前
記ウィンドゥ・マージンの測定を繰り返し、グループ・
ディレイが＋方向最大設定値に至ったあとは最初の設定
値に戻り、−方向に設定値を変化させて、−方向最大設
定値に至るまで前記ウィンドゥ・マージンの測定を繰り
返し、これらのなかでウィンドゥ・マージンが最大値を
とるときのグループ・ディレイの値とウィンドゥ・セン
タを選択することを特徴とする。
ルパラメータ設定方法は、最悪条件の繰り返しパターン
を書き込み、その後前記グループ・ディレイをある初期
値に設定して一定のエラーレートでのウィンドゥ・マー
ジンを測定し、その後＋方向に設定値を変化させて、前
記ウィンドゥ・マージンの測定を繰り返し、グループ・
ディレイが＋方向最大設定値に至ったあとは最初の設定
値に戻り、−方向に設定値を変化させて、−方向最大設
定値に至るまで前記ウィンドゥ・マージンの測定を繰り
返し、これらのなかでウィンドゥ・マージンが最大値を
とるときのグループ・ディレイの値とウィンドゥ・セン
タを選択することを特徴とする。
【００１５】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は請求項２で設定したグループ・
ディレイを用いて、ライト・プリコンペンセーション量
のレイト側の値を０にしたまま、アーリー側を変化させ
てウィンドゥ・マージンを測定し、次にアーリー側を０
にしたまま、レイト側を変化させて得たウィンドゥ・セ
ンタを測定し、アーリー側を動かした場合とレイト側を
動かした場合の中で請求項２で選択したウィンドゥ・セ
ンタに最も近いウィンドゥ・マージンを選択し、このと
きのライト・プリコンペンセーションの値を仮設定値と
することを特徴とする。
ルパラメータ設定方法は請求項２で設定したグループ・
ディレイを用いて、ライト・プリコンペンセーション量
のレイト側の値を０にしたまま、アーリー側を変化させ
てウィンドゥ・マージンを測定し、次にアーリー側を０
にしたまま、レイト側を変化させて得たウィンドゥ・セ
ンタを測定し、アーリー側を動かした場合とレイト側を
動かした場合の中で請求項２で選択したウィンドゥ・セ
ンタに最も近いウィンドゥ・マージンを選択し、このと
きのライト・プリコンペンセーションの値を仮設定値と
することを特徴とする。
【００１６】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は請求項３で仮設定したプリコン
ペンセーションのアーリー側とレイト側の値を初期値と
し、アーリー方向とレイト方向に共に等しく加算して変
化させ、その各々のプリコンペンセーションの値につい
て、前記フィルタのｆｃとＢｏｏｓｔを変化させてウィ
ンドゥ・マージン及びウィンドゥ・センタを測定し、そ
の中でウィンドゥ・マージンが最大値をとるときのライ
ト・プリコンペンセーション量が規格を満たすときには
その値をライト・プリコンペンセーション量と設定する
ことを特徴とする。
ルパラメータ設定方法は請求項３で仮設定したプリコン
ペンセーションのアーリー側とレイト側の値を初期値と
し、アーリー方向とレイト方向に共に等しく加算して変
化させ、その各々のプリコンペンセーションの値につい
て、前記フィルタのｆｃとＢｏｏｓｔを変化させてウィ
ンドゥ・マージン及びウィンドゥ・センタを測定し、そ
の中でウィンドゥ・マージンが最大値をとるときのライ
ト・プリコンペンセーション量が規格を満たすときには
その値をライト・プリコンペンセーション量と設定する
ことを特徴とする。
【００１７】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は、測定した振幅マージン値と予
め設定したその規格値との差と、測定したウィンドゥ・
マージン値と予め設定したその規格値との差との積が一
定の規格値より大きい場合には振幅マージンは最終合格
と判断し、その時のレベル・センタを計算しスライス・
レベルと設定することを特徴とする。
ルパラメータ設定方法は、測定した振幅マージン値と予
め設定したその規格値との差と、測定したウィンドゥ・
マージン値と予め設定したその規格値との差との積が一
定の規格値より大きい場合には振幅マージンは最終合格
と判断し、その時のレベル・センタを計算しスライス・
レベルと設定することを特徴とする。
【００１８】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は、請求項５記載の積が一定の規
格値より小さい場合、前記フィルタのｆｃとＢｏｏｓｔ
の値を最小設定値から始めて順次変化させ、各状態での
測定した振幅マージン値と予め設定したその規格値との
差と、測定したウィンドゥ・マージン値と予め設定した
その規格値との差との積が一定の規格値より小さい場合
には振幅マージンは暫定合格と判断し、その時の前記フ
ィルタのｆｃ，Ｂｏｏｓｔを設定値とし、レベル・セン
タを計算しスライス・レベルと設定することを特徴とす
る。
ルパラメータ設定方法は、請求項５記載の積が一定の規
格値より小さい場合、前記フィルタのｆｃとＢｏｏｓｔ
の値を最小設定値から始めて順次変化させ、各状態での
測定した振幅マージン値と予め設定したその規格値との
差と、測定したウィンドゥ・マージン値と予め設定した
その規格値との差との積が一定の規格値より小さい場合
には振幅マージンは暫定合格と判断し、その時の前記フ
ィルタのｆｃ，Ｂｏｏｓｔを設定値とし、レベル・セン
タを計算しスライス・レベルと設定することを特徴とす
る。
【００１９】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は、使用する装置内で、最悪条件
の繰り返しパターンを書き込み、その後前記書き込み電
流をある初期値の状態で一定のエラーレートでのウィン
ドゥ・マージンを測定し、その後書き込み電流の設定値
に順次加算して増加させて、書き込み電流が最大設定値
に至るまで前記ウィンドゥ・マージンの測定を繰り返
し、これらのなかでウィンドゥ・マージンが最大値をと
るときの書き込み電流を設定値とすることを特徴とす
る。
ルパラメータ設定方法は、使用する装置内で、最悪条件
の繰り返しパターンを書き込み、その後前記書き込み電
流をある初期値の状態で一定のエラーレートでのウィン
ドゥ・マージンを測定し、その後書き込み電流の設定値
に順次加算して増加させて、書き込み電流が最大設定値
に至るまで前記ウィンドゥ・マージンの測定を繰り返
し、これらのなかでウィンドゥ・マージンが最大値をと
るときの書き込み電流を設定値とすることを特徴とす
る。
【００２０】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は、使用する装置内で、請求項２
に記載の方法でグループ・ディレイ量を設定し、請求項
３に記載の方法で、ライト・プリコンペンセーションの
値を設定し、請求項４に記載の方法で、ｆｃ，Ｂｏｏｓ
ｔとライト・プリコンペンセーションの値を設定し、請
求項５に記載の方法で、スライス・レベルを設定し、請
求項６に記載の方法で、スライス・レベル、ｆｃとＢｏ
ｏｓｔを設定し、請求項７に記載の方法で、書き込み電
流値を設定することを特徴とする。
ルパラメータ設定方法は、使用する装置内で、請求項２
に記載の方法でグループ・ディレイ量を設定し、請求項
３に記載の方法で、ライト・プリコンペンセーションの
値を設定し、請求項４に記載の方法で、ｆｃ，Ｂｏｏｓ
ｔとライト・プリコンペンセーションの値を設定し、請
求項５に記載の方法で、スライス・レベルを設定し、請
求項６に記載の方法で、スライス・レベル、ｆｃとＢｏ
ｏｓｔを設定し、請求項７に記載の方法で、書き込み電
流値を設定することを特徴とする。
【００２１】本発明の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネ
ルパラメータ設定方法は、各パラメータの値を装置単
位、ヘッド単位、シリンダ又はゾーンすなわち隣接し合
ったシリンダの集合体単位にそれぞれ最適化するように
設定できることを特徴とする。
ルパラメータ設定方法は、各パラメータの値を装置単
位、ヘッド単位、シリンダ又はゾーンすなわち隣接し合
ったシリンダの集合体単位にそれぞれ最適化するように
設定できることを特徴とする。
【００２２】
【発明の実施の形態】次に本発明である磁気ディスク装
置のＲ／Ｗチャネル・パラメータ設定方法について、図
面を参照して説明する。図２は、本発明のＲ／Ｗチャネ
ルＬＳＩ１０（ＲＷＣ）内部の構成と、ＲＷＣを含む磁
気ディスク装置のハードウェア構成の一例を表すブロッ
ク図である。Ｒ／ＷチャネルＬＳＩ１０の内部は、各ブ
ロックのパラメータを設定するレジスタ１１、フィルタ
１２（ＦＬＴ）、スライス・レベルを制御するピーク検
出器１３（ＳＬＶ−ＣＴＬ）、ウィンドゥ・シフトを制
御するデータシンクロナイザ１４（ＤＴ−ＳＹＣ）、ラ
イトＰＬＯクロックを生成するシンセサイザ１５（ＴＢ
Ｇ）、ディスクコントローラ６０（ＨＤＣ）から入力し
たデータを記録コードに変換するエンコーダ１６（ＥＮ
Ｃ）、記録コードをデータに変換するデコーダ１７（Ｄ
ＥＣ）、記録コードのパターンに応じて、書き込みパル
スの変化するタイミングを制御するライト・プリコンペ
ンセーション１８（ＷＰＣ）、リードライトチップ４０
（Ｒ／Ｗ ＩＣ）から入力した読み出し信号の振幅値を
一定にする自動ゲイン制御２０（ＡＧＣ）、ＡＧＣの出
力ディスク媒体面上でのヘッドの位置決め情報を検出す
るサーボデモジュレータ１９（ＳＶ−ＤＥＭ）から構成
される。周囲には、書き込み電流の制御を行う書き込み
電流制御回路３０（ＷＣ−ＣＴＬ）、書き込みパルスか
ら磁気ヘッドへの電流出力制御と、媒体から読み出した
磁化反転から読み出しパルス生成を行うチップ４０（Ｒ
／Ｗ ＩＣ）、ディスク装置内の制御を行うマイクロプ
ロセッサ５０（ＭＰＵ）、上位装置から来る命令やデー
タの入出力を行うディスクコントローラ６０（ＨＤ
Ｃ）、スピンドルモータの回転とヘッドの位置決めを行
うサーボ制御回路７０（ＳＰＭ／ＳＥＥＫ ＣＴＬ）が
接続される。８０はディスク媒体、９０は磁気ヘッドで
ある。
置のＲ／Ｗチャネル・パラメータ設定方法について、図
面を参照して説明する。図２は、本発明のＲ／Ｗチャネ
ルＬＳＩ１０（ＲＷＣ）内部の構成と、ＲＷＣを含む磁
気ディスク装置のハードウェア構成の一例を表すブロッ
ク図である。Ｒ／ＷチャネルＬＳＩ１０の内部は、各ブ
ロックのパラメータを設定するレジスタ１１、フィルタ
１２（ＦＬＴ）、スライス・レベルを制御するピーク検
出器１３（ＳＬＶ−ＣＴＬ）、ウィンドゥ・シフトを制
御するデータシンクロナイザ１４（ＤＴ−ＳＹＣ）、ラ
イトＰＬＯクロックを生成するシンセサイザ１５（ＴＢ
Ｇ）、ディスクコントローラ６０（ＨＤＣ）から入力し
たデータを記録コードに変換するエンコーダ１６（ＥＮ
Ｃ）、記録コードをデータに変換するデコーダ１７（Ｄ
ＥＣ）、記録コードのパターンに応じて、書き込みパル
スの変化するタイミングを制御するライト・プリコンペ
ンセーション１８（ＷＰＣ）、リードライトチップ４０
（Ｒ／Ｗ ＩＣ）から入力した読み出し信号の振幅値を
一定にする自動ゲイン制御２０（ＡＧＣ）、ＡＧＣの出
力ディスク媒体面上でのヘッドの位置決め情報を検出す
るサーボデモジュレータ１９（ＳＶ−ＤＥＭ）から構成
される。周囲には、書き込み電流の制御を行う書き込み
電流制御回路３０（ＷＣ−ＣＴＬ）、書き込みパルスか
ら磁気ヘッドへの電流出力制御と、媒体から読み出した
磁化反転から読み出しパルス生成を行うチップ４０（Ｒ
／Ｗ ＩＣ）、ディスク装置内の制御を行うマイクロプ
ロセッサ５０（ＭＰＵ）、上位装置から来る命令やデー
タの入出力を行うディスクコントローラ６０（ＨＤ
Ｃ）、スピンドルモータの回転とヘッドの位置決めを行
うサーボ制御回路７０（ＳＰＭ／ＳＥＥＫ ＣＴＬ）が
接続される。８０はディスク媒体、９０は磁気ヘッドで
ある。
【００２３】図１は、本発明のＲ／ＷチャネルＬＳＩ１
０のパラメータ設定方法の概略を表すフローチャート
で、図３と図４は、フィルタ１２のグループ・ディレイ
設定を行うストリングシフト補正のフローチャートＣ
２、図５は図３，４における可変レジスタの変更順序を
示す図である。
０のパラメータ設定方法の概略を表すフローチャート
で、図３と図４は、フィルタ１２のグループ・ディレイ
設定を行うストリングシフト補正のフローチャートＣ
２、図５は図３，４における可変レジスタの変更順序を
示す図である。
【００２４】図６と図７は、ライト・プリコンペンセー
ションの（ＥＬＹ，ＬＴＥ）の和の条件を求める、ビッ
トシフト補正（１）のフローチャートＣ３、図８は図
６，７における可変レジスタの変更順序を示す図であ
る。
ションの（ＥＬＹ，ＬＴＥ）の和の条件を求める、ビッ
トシフト補正（１）のフローチャートＣ３、図８は図
６，７における可変レジスタの変更順序を示す図であ
る。
【００２５】図９と図１０は、グループ・ディレイ決定
値とライト・プリコンペンセーション決定値からフィル
タのｆｃ／Ｂｏｏｓｔの設定条件を決定するビットシフ
ト補正（２）のフローチャートＣ４、図１１は図９，１
０における可変レジスタの変更順序を示す図である。
値とライト・プリコンペンセーション決定値からフィル
タのｆｃ／Ｂｏｏｓｔの設定条件を決定するビットシフ
ト補正（２）のフローチャートＣ４、図１１は図９，１
０における可変レジスタの変更順序を示す図である。
【００２６】図１２，図１３，図１４は、上記に加えて
フィルタｆｃ／Ｂｏｏｓｔ決定値から振幅・マージン最
大ポイントを探す、振幅・マージン測定のフローチャー
トＣ５、図１５は図１２，１３，１４における可変レジ
スタの変更順序を示す図である。
フィルタｆｃ／Ｂｏｏｓｔ決定値から振幅・マージン最
大ポイントを探す、振幅・マージン測定のフローチャー
トＣ５、図１５は図１２，１３，１４における可変レジ
スタの変更順序を示す図である。
【００２７】図１６は、Ｒ／ＷチャネルＬＳＩ内のパラ
メータが全て決定した状態で、ディスク媒体に記録する
磁気ヘッドに流す電流値を求める、ライト電流設定のフ
ローチャートＣ６である。
メータが全て決定した状態で、ディスク媒体に記録する
磁気ヘッドに流す電流値を求める、ライト電流設定のフ
ローチャートＣ６である。
【００２８】図１７は、図１６におけるライト電流の変
更順序を示す図である。
更順序を示す図である。
【００２９】Ｒ／ＷチャネルＬＳＩ１０の各パラメータ
の処理ルーチンの内容について、図１のステージ単位で
次頁より説明する。
の処理ルーチンの内容について、図１のステージ単位で
次頁より説明する。
【００３０】まず始めにアナログＥＴＦＣ１（第１章）
で、ディスク媒体に単一パターンを書き込み、読み出し
パルスのミッシング（減衰）とエクストラ（湧き出し）
をチェックし、媒体欠陥位置の抽出を行う。
で、ディスク媒体に単一パターンを書き込み、読み出し
パルスのミッシング（減衰）とエクストラ（湧き出し）
をチェックし、媒体欠陥位置の抽出を行う。
【００３１】ストリングシフト補正Ｃ２（第２章）で
は、初めに、Ｒ／ＷチャネルＬＳＩパラメータ初期設定
［ＬＳＩ初期設定］ステージ１（ステージを以降Ｓと略
す）で、ＬＳＩ内部のパラメータの初期設定を制御レジ
スタ１１において行う。次のストリングシフトワースト
・パターン書き込みＳ２で３Ｔ・２Ｔ・６Ｔの繰り返し
パターンを書き込み、マージン測定Ｓ３でエラーレー
ト：Ｅ1 でのウィンドゥ・マージンを（ＷＤＭ）測定す
る。ＷＤＭ測定はデータシンクロナイザ１４（ＤＴ−Ｓ
ＹＣ）内のウィンドゥ・シフトコントロール（ＷＳＦＴ
−ＣＴＬ）により、ウィンドゥの位置を＋方向及び−方
向にシフトさせた時のエラーレートデータを基にして、
エラーレート：Ｅ1 におけるマージン幅を計算する。グ
ループ・ディレイ（ＧＤＬＹ）＋方向最大チェックＳ４
と＋方向加算Ｓ５ループによって、フィルタ１２（ＦＬ
Ｔ）内のＤＬＹを＋方向へ加速した場合のＷＤＭを測定
する。＋方向最大設定になったらＧＤＬＹ−方向最大チ
ェックＳ６と−方向加算Ｓ７ループによって、−方向へ
加速した場合のＷＤＭを測定する。−方向最大設定にな
ったらＷＤＭ最大値抽出Ｓ８で、±両方向に加速した中
でＷＤＭが最大になる値Ｗ1 を探す。そしてＷ1 時のＧ
ＤＬＹ設定条件選択Ｓ９でＧ1 を選択し、ウィンドゥ・
センタ計算Ｓ１０でＷＤＭがＷ1 の時のセンタ値Ｃ1 を
計算して次の第３章に進む。上記の操作を実施すること
で、読み出した後の各パターンのピークシフト段差（即
ち隣接したピークのピークシフト値の差）が最小となる
様に、フィルタ１２のグループ・ディレイの設定が可能
になる。
は、初めに、Ｒ／ＷチャネルＬＳＩパラメータ初期設定
［ＬＳＩ初期設定］ステージ１（ステージを以降Ｓと略
す）で、ＬＳＩ内部のパラメータの初期設定を制御レジ
スタ１１において行う。次のストリングシフトワースト
・パターン書き込みＳ２で３Ｔ・２Ｔ・６Ｔの繰り返し
パターンを書き込み、マージン測定Ｓ３でエラーレー
ト：Ｅ1 でのウィンドゥ・マージンを（ＷＤＭ）測定す
る。ＷＤＭ測定はデータシンクロナイザ１４（ＤＴ−Ｓ
ＹＣ）内のウィンドゥ・シフトコントロール（ＷＳＦＴ
−ＣＴＬ）により、ウィンドゥの位置を＋方向及び−方
向にシフトさせた時のエラーレートデータを基にして、
エラーレート：Ｅ1 におけるマージン幅を計算する。グ
ループ・ディレイ（ＧＤＬＹ）＋方向最大チェックＳ４
と＋方向加算Ｓ５ループによって、フィルタ１２（ＦＬ
Ｔ）内のＤＬＹを＋方向へ加速した場合のＷＤＭを測定
する。＋方向最大設定になったらＧＤＬＹ−方向最大チ
ェックＳ６と−方向加算Ｓ７ループによって、−方向へ
加速した場合のＷＤＭを測定する。−方向最大設定にな
ったらＷＤＭ最大値抽出Ｓ８で、±両方向に加速した中
でＷＤＭが最大になる値Ｗ1 を探す。そしてＷ1 時のＧ
ＤＬＹ設定条件選択Ｓ９でＧ1 を選択し、ウィンドゥ・
センタ計算Ｓ１０でＷＤＭがＷ1 の時のセンタ値Ｃ1 を
計算して次の第３章に進む。上記の操作を実施すること
で、読み出した後の各パターンのピークシフト段差（即
ち隣接したピークのピークシフト値の差）が最小となる
様に、フィルタ１２のグループ・ディレイの設定が可能
になる。
【００３２】ビットシフト補正（１）Ｃ３（第３章）で
は、ＬＳＩ初期設定Ｓ１においてＧＤＬＹはストリング
シフト補正で求めた値Ｇ1 を制御レジスタ１１に設定
し、ビットシフトワースト・パターン書き込みＳ２で３
Ｔパターンの後にビット間隔が異なる連続した２ビット
パターンを用意する。このパターンのある部分はアーリ
ー側（早めのタイミング）のライト・プリコンペンセー
ションを行い、別のある部分はレイト側（遅めのタイミ
ング）のライト・プリコンペンセーションを行うことが
前提になっている。ライト・プリコンペンセーション１
８（ＷＰＣ）の設定をアーリー側（早めのタイミング）
だけもしくはレイト側（遅めのタイミング）だけ変化さ
せて書き込む。マージン測定・センタ計算Ｓ３でエラー
レート：Ｅ1 でのウィンドゥ・マージン（ＷＤＭ）を測
定してセンタ値Ｃ2 を計算する。ライト・プリコンペン
セーション（ＷＰＣ）：アーリー方向最大チェックＳ４
とアーリー方向加算Ｓ５で、アーリー方向へ加算した場
合のＷＤＭを測定する。この時レイト側は０のままであ
る。アーリー方向へ最大設定になったらＷＰＣ：レイト
方向最大チェックＳ６と−方向加算Ｓ７ループによっ
て、レイト方向へ加算した場合のＷＤＭを測定してセン
タ値Ｃ2 を計算する。この時アーリー側は０のままであ
る。レイト方向最大設定になったら、ＷＤＭ選択Ｓ８で
計算したウィンドゥ・センタＣ2 の中で、ストリングシ
フト補正で計算したウィンドゥ・センタに最も近いウィ
ンドゥ・マージンＷ2 を選択する。ＷＰＣ選択Ｓ９でウ
ィンドゥ・マージンがＷ2 の時のＷＰＣ設定条件（ＥＬ
Ｙ1 ，ＬＴＥ1 ）を選択する。最後にＷＰＣの和の計算
Ｓ１０で、ＷＰＣのアーリー側を負数にしてアーリーと
レイトの和を計算する。すなわち、（−ＥＬＹ1 ）＋Ｌ
ＴＥ1 →Ｍｗｐｃという計算式になる。
は、ＬＳＩ初期設定Ｓ１においてＧＤＬＹはストリング
シフト補正で求めた値Ｇ1 を制御レジスタ１１に設定
し、ビットシフトワースト・パターン書き込みＳ２で３
Ｔパターンの後にビット間隔が異なる連続した２ビット
パターンを用意する。このパターンのある部分はアーリ
ー側（早めのタイミング）のライト・プリコンペンセー
ションを行い、別のある部分はレイト側（遅めのタイミ
ング）のライト・プリコンペンセーションを行うことが
前提になっている。ライト・プリコンペンセーション１
８（ＷＰＣ）の設定をアーリー側（早めのタイミング）
だけもしくはレイト側（遅めのタイミング）だけ変化さ
せて書き込む。マージン測定・センタ計算Ｓ３でエラー
レート：Ｅ1 でのウィンドゥ・マージン（ＷＤＭ）を測
定してセンタ値Ｃ2 を計算する。ライト・プリコンペン
セーション（ＷＰＣ）：アーリー方向最大チェックＳ４
とアーリー方向加算Ｓ５で、アーリー方向へ加算した場
合のＷＤＭを測定する。この時レイト側は０のままであ
る。アーリー方向へ最大設定になったらＷＰＣ：レイト
方向最大チェックＳ６と−方向加算Ｓ７ループによっ
て、レイト方向へ加算した場合のＷＤＭを測定してセン
タ値Ｃ2 を計算する。この時アーリー側は０のままであ
る。レイト方向最大設定になったら、ＷＤＭ選択Ｓ８で
計算したウィンドゥ・センタＣ2 の中で、ストリングシ
フト補正で計算したウィンドゥ・センタに最も近いウィ
ンドゥ・マージンＷ2 を選択する。ＷＰＣ選択Ｓ９でウ
ィンドゥ・マージンがＷ2 の時のＷＰＣ設定条件（ＥＬ
Ｙ1 ，ＬＴＥ1 ）を選択する。最後にＷＰＣの和の計算
Ｓ１０で、ＷＰＣのアーリー側を負数にしてアーリーと
レイトの和を計算する。すなわち、（−ＥＬＹ1 ）＋Ｌ
ＴＥ1 →Ｍｗｐｃという計算式になる。
【００３３】ビットシフト補正（２）Ｃ４では、初めに
ＷＤＭ規格の設定Ｓ１で検査の合格・不合格の基準を決
める。ＬＳＩ初期設定Ｓ２においてＧＤＬＹとＷＰＣは
前章（Ｃ３）で選択・計算で求めた値（Ｇ1 ・ＥＬＹ1
・ＬＴＥ1 ）をＣＴＬ−ＲＥＧ１１に予め設定してお
く。ビットシフトワースト・パターン書き込みＳ３でビ
ットシフト補正（１）と同じ書き込みパターンを用意
し、ＷＰＣ１８の設定がビットシフト補正（１）で求め
た条件（ＥＬＹ1 ，ＬＴＥ1 ）で書き込む。マージン測
定・センタ計算Ｓ４でエラーレート：Ｅ1 でのＷＤＭ測
定してマージン幅Ｗ3 を計算する。フィルタ（ＦＬＴ）
ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ最大チェックＳ５で、ｆｃあるいはＢ
ｏｏｓｔの最小値からの加算Ｓ８ループによって、ｆｃ
／Ｂｏｏｓｔ設定範囲でのＷＤＭを測定する。ライト・
プリコンペンセーション（ＷＰＣ）：アーリー方向最大
チェックＳ６とアーリー・レイト方向加算Ｓ７で、ビッ
トシフト補正（１）で計算したＷＰＣのアーリーとレイ
トの和Ｍｗｐｃを変えずに、アーリー・レイト方向へ加
算する。この様子を図５−３に示す。
ＷＤＭ規格の設定Ｓ１で検査の合格・不合格の基準を決
める。ＬＳＩ初期設定Ｓ２においてＧＤＬＹとＷＰＣは
前章（Ｃ３）で選択・計算で求めた値（Ｇ1 ・ＥＬＹ1
・ＬＴＥ1 ）をＣＴＬ−ＲＥＧ１１に予め設定してお
く。ビットシフトワースト・パターン書き込みＳ３でビ
ットシフト補正（１）と同じ書き込みパターンを用意
し、ＷＰＣ１８の設定がビットシフト補正（１）で求め
た条件（ＥＬＹ1 ，ＬＴＥ1 ）で書き込む。マージン測
定・センタ計算Ｓ４でエラーレート：Ｅ1 でのＷＤＭ測
定してマージン幅Ｗ3 を計算する。フィルタ（ＦＬＴ）
ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ最大チェックＳ５で、ｆｃあるいはＢ
ｏｏｓｔの最小値からの加算Ｓ８ループによって、ｆｃ
／Ｂｏｏｓｔ設定範囲でのＷＤＭを測定する。ライト・
プリコンペンセーション（ＷＰＣ）：アーリー方向最大
チェックＳ６とアーリー・レイト方向加算Ｓ７で、ビッ
トシフト補正（１）で計算したＷＰＣのアーリーとレイ
トの和Ｍｗｐｃを変えずに、アーリー・レイト方向へ加
算する。この様子を図５−３に示す。
【００３４】このＷＰＣの各設定に対してｆｃ／Ｂｏｏ
ｓｔ設定範囲でのＷＤＭを測定する。測定したＷＤＭの
中で最大値の抽出Ｓ９において、ＷＰＣ，ＦＬＴ ｆｃ
／Ｂｏｏｓｔ全範囲の中で最大となるＷＤＭ：Ｗ3xを探
す。ＷＤＭ規格判定Ｓ１０でＷ3xをＷＤＭ規定値
（Ｋ1 ）と比較し、Ｗ3xがＫ1 以上であれば合格とし、
Ｋ1未満であれば不合格とする。合格の場合、ウィンド
ゥ・センタ計算Ｓ１１でＷＤＭがＷ3xの時のセンタ値Ｃ
3 を計算する。そしてＷ3x時のＷＰＣの選択Ｓ１２で、
アーリー、レイトがそれぞれＥＬＹ2 ，ＬＴＥ2 を選択
する。またＷ3x時のフィルタ１２の選択Ｓ１３で、ｆｃ
／Ｂｏｏｓｔがそれぞれｆｃ2 ，ＢＳＴ2 を選択して次
の章（Ｃ５）に進む。不合格の場合、再試行チェックＳ
１４で２回以上の場合ヘッド欠陥判定Ｓ１８し、パラメ
ータ設定動作を終了する。１回目の場合別シリンダ移動
Ｓ１５でＲ／Ｗチャネルパラメータの他の設定が変わら
ない外周のシリンダに移動し、ストリングシフト補正再
試行Ｓ１６、ビットシフト補正（１）再試行Ｓ１７を実
行してＳ３に戻る。
ｓｔ設定範囲でのＷＤＭを測定する。測定したＷＤＭの
中で最大値の抽出Ｓ９において、ＷＰＣ，ＦＬＴ ｆｃ
／Ｂｏｏｓｔ全範囲の中で最大となるＷＤＭ：Ｗ3xを探
す。ＷＤＭ規格判定Ｓ１０でＷ3xをＷＤＭ規定値
（Ｋ1 ）と比較し、Ｗ3xがＫ1 以上であれば合格とし、
Ｋ1未満であれば不合格とする。合格の場合、ウィンド
ゥ・センタ計算Ｓ１１でＷＤＭがＷ3xの時のセンタ値Ｃ
3 を計算する。そしてＷ3x時のＷＰＣの選択Ｓ１２で、
アーリー、レイトがそれぞれＥＬＹ2 ，ＬＴＥ2 を選択
する。またＷ3x時のフィルタ１２の選択Ｓ１３で、ｆｃ
／Ｂｏｏｓｔがそれぞれｆｃ2 ，ＢＳＴ2 を選択して次
の章（Ｃ５）に進む。不合格の場合、再試行チェックＳ
１４で２回以上の場合ヘッド欠陥判定Ｓ１８し、パラメ
ータ設定動作を終了する。１回目の場合別シリンダ移動
Ｓ１５でＲ／Ｗチャネルパラメータの他の設定が変わら
ない外周のシリンダに移動し、ストリングシフト補正再
試行Ｓ１６、ビットシフト補正（１）再試行Ｓ１７を実
行してＳ３に戻る。
【００３５】振幅マージン測定Ｃ５では、初めに各種規
格設定Ｓ１でＷＤＭ、振幅・マージン（ＬＶＭ）、最終
規格を設定し、検査の合格・不合格を決める。ＬＳＩ初
期設定Ｓ２においてＧＤＬＹ，ＷＰＣ，ＦＬＴ，ウィン
ドゥ・センタは前章で選択・計算で求めた値（Ｇ1 ，Ｅ
ＬＹ2 ・ＬＴＥ2 ，ｆｃ2 ・ＢＳＴ2 ，Ｃ3 ）を用い
る。振幅ワーストパターン書き込みＳ３で６Ｔパターン
の後に３ビットパターン、２Ｔ、５Ｔ〜８Ｔと続くビッ
トパターンを用意し、ＷＰＣ１８の設定がビットシフト
補正（２）で求めた条件（ＥＬＹ2 ，ＬＴＥ2 ）で書き
込む。ＬＶＭ測定Ｓ４でピーク検出器１３（ＰＫ−ＱＦ
Ｒ）内のスライスレベルコントロール（ＳＬＶ−ＣＴ
Ｌ）により、スライス・レベル（ＳＬＶ）を最小値から
徐々に増加させながらエラーレート：Ｅ1 での振幅マー
ジン（ＬＶＭ）：Ｌ1 を計算する。ＬＶＭ規格判定Ｓ５
で計算したＬ1 とＬＶＭ規格値（Ｋ2 ）と比較し、Ｌ1
がＫ2以上であれば合格とし、Ｋ2 未満であれば不合格
とする。不合格の場合、再試行チェックＳ７で３回以上
の場合ヘッド欠陥と判定Ｓ８し、パラメータ設定動作を
終了する。１回目の場合別シリンダ移動Ｓ９でＲ／Ｗチ
ャネルパラメータの他の設定が変わらない外周のシリン
ダに移動してＳ３に戻る。合格の場合、振幅×ウィンド
ゥ・マージン積Ｓ６によりＬＶＭ：Ｌ1 からＬＶＭ規格
値：Ｋ2 を引いた値と、ＷＤＭ：Ｗ3xからＷＤＭ規格
値：Ｋ1 を引いた値の積を計算して結果をＬＷ1 とす
る。次の最終規格判定Ｓ１１で計算した振幅×ウィンド
ゥ・マージン積：ＬＷ1 が、最終規格値：Ｋ3 以上であ
れば合格となり、レベル・センタ計算Ｓ１１でＬＶＭ：
Ｌ1 でのレベル・センタを計算して次の章（Ｃ６）に進
む。ＬＷ1 がＫ3 未満の場合、暫定規格判定処理に入
る。まずＬＳＩ初期設定Ｓ１２においてフィルタｆｃ／
Ｂｏｏｓｔを最小設定にする。ＬＶＭ測定Ｓ１３でエラ
ーレート：Ｅ1 でのＬＶＭ：Ｌ2 を計算する。振幅×ウ
ィンドゥ・マージン積Ｓ１４によりＬＶＭ：Ｌ2 からＬ
ＶＭ規格値：Ｋ2 を引いた値と、ＷＤＭ：Ｗ3 からＷＤ
Ｍ規格値：Ｋ1 を引いた値の積を計算して結果をＬＷ2
とする。
格設定Ｓ１でＷＤＭ、振幅・マージン（ＬＶＭ）、最終
規格を設定し、検査の合格・不合格を決める。ＬＳＩ初
期設定Ｓ２においてＧＤＬＹ，ＷＰＣ，ＦＬＴ，ウィン
ドゥ・センタは前章で選択・計算で求めた値（Ｇ1 ，Ｅ
ＬＹ2 ・ＬＴＥ2 ，ｆｃ2 ・ＢＳＴ2 ，Ｃ3 ）を用い
る。振幅ワーストパターン書き込みＳ３で６Ｔパターン
の後に３ビットパターン、２Ｔ、５Ｔ〜８Ｔと続くビッ
トパターンを用意し、ＷＰＣ１８の設定がビットシフト
補正（２）で求めた条件（ＥＬＹ2 ，ＬＴＥ2 ）で書き
込む。ＬＶＭ測定Ｓ４でピーク検出器１３（ＰＫ−ＱＦ
Ｒ）内のスライスレベルコントロール（ＳＬＶ−ＣＴ
Ｌ）により、スライス・レベル（ＳＬＶ）を最小値から
徐々に増加させながらエラーレート：Ｅ1 での振幅マー
ジン（ＬＶＭ）：Ｌ1 を計算する。ＬＶＭ規格判定Ｓ５
で計算したＬ1 とＬＶＭ規格値（Ｋ2 ）と比較し、Ｌ1
がＫ2以上であれば合格とし、Ｋ2 未満であれば不合格
とする。不合格の場合、再試行チェックＳ７で３回以上
の場合ヘッド欠陥と判定Ｓ８し、パラメータ設定動作を
終了する。１回目の場合別シリンダ移動Ｓ９でＲ／Ｗチ
ャネルパラメータの他の設定が変わらない外周のシリン
ダに移動してＳ３に戻る。合格の場合、振幅×ウィンド
ゥ・マージン積Ｓ６によりＬＶＭ：Ｌ1 からＬＶＭ規格
値：Ｋ2 を引いた値と、ＷＤＭ：Ｗ3xからＷＤＭ規格
値：Ｋ1 を引いた値の積を計算して結果をＬＷ1 とす
る。次の最終規格判定Ｓ１１で計算した振幅×ウィンド
ゥ・マージン積：ＬＷ1 が、最終規格値：Ｋ3 以上であ
れば合格となり、レベル・センタ計算Ｓ１１でＬＶＭ：
Ｌ1 でのレベル・センタを計算して次の章（Ｃ６）に進
む。ＬＷ1 がＫ3 未満の場合、暫定規格判定処理に入
る。まずＬＳＩ初期設定Ｓ１２においてフィルタｆｃ／
Ｂｏｏｓｔを最小設定にする。ＬＶＭ測定Ｓ１３でエラ
ーレート：Ｅ1 でのＬＶＭ：Ｌ2 を計算する。振幅×ウ
ィンドゥ・マージン積Ｓ１４によりＬＶＭ：Ｌ2 からＬ
ＶＭ規格値：Ｋ2 を引いた値と、ＷＤＭ：Ｗ3 からＷＤ
Ｍ規格値：Ｋ1 を引いた値の積を計算して結果をＬＷ2
とする。
【００３６】次の規格判定Ｓ１５で振幅・マージン計算
結果とウィンドゥ・マージン計算結果を調べ、振幅とウ
ィンドゥ・マージンがどちらも規格値未満である時は振
幅×ウィンドゥ・マージン積：ＬＷ2 の符号をＳ１６で
反転する。即ち負数にする。何れか一方が規格値以上で
あればＬＷ2 の符号は反転しない。次にフィルタ（ＦＬ
Ｔ）ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ最大チェックＳ１７とｆｃあるい
はＢｏｏｓｔの最小値からの加算Ｓ１８ループによっ
て、ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ設定範囲でのＷＤＭ：Ｌ2の測定
及び振幅とウィンドゥ・マージンの積：ＬＷ2 を計算す
る。計算したＬＷ2 の中で最大値の抽出Ｓ１９におい
て、ＦＬＴ ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ全範囲の中で最大となる
ＬＷ2xを探す。規格判定Ｓ２０でＬＷ2xを振幅×ウィン
ドゥ・マージン積暫定規格値（Ｋ4 ）と比較し、ＬＷ2
がＫ4 以上であれば合格とし、ＬＷ2時におけるＬＶ
Ｍ：Ｌ2 のセンタ値計算Ｓ２１でＬC2の計算、ＷＤＭ：
Ｗ3 のセンタ値計算Ｓ２２でＣ4 の計算、ＦＬＴの選択
Ｓ２３でＬＷ2 時のｆｃ／Ｂｏｏｓｔ設定値ｆｃ3 ，Ｂ
ＳＴ3 を選択して次の章に進む。ＬＷ2 がＫ4 未満の時
は暫定規格不合格判定しＳ７に戻る。
結果とウィンドゥ・マージン計算結果を調べ、振幅とウ
ィンドゥ・マージンがどちらも規格値未満である時は振
幅×ウィンドゥ・マージン積：ＬＷ2 の符号をＳ１６で
反転する。即ち負数にする。何れか一方が規格値以上で
あればＬＷ2 の符号は反転しない。次にフィルタ（ＦＬ
Ｔ）ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ最大チェックＳ１７とｆｃあるい
はＢｏｏｓｔの最小値からの加算Ｓ１８ループによっ
て、ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ設定範囲でのＷＤＭ：Ｌ2の測定
及び振幅とウィンドゥ・マージンの積：ＬＷ2 を計算す
る。計算したＬＷ2 の中で最大値の抽出Ｓ１９におい
て、ＦＬＴ ｆｃ／Ｂｏｏｓｔ全範囲の中で最大となる
ＬＷ2xを探す。規格判定Ｓ２０でＬＷ2xを振幅×ウィン
ドゥ・マージン積暫定規格値（Ｋ4 ）と比較し、ＬＷ2
がＫ4 以上であれば合格とし、ＬＷ2時におけるＬＶ
Ｍ：Ｌ2 のセンタ値計算Ｓ２１でＬC2の計算、ＷＤＭ：
Ｗ3 のセンタ値計算Ｓ２２でＣ4 の計算、ＦＬＴの選択
Ｓ２３でＬＷ2 時のｆｃ／Ｂｏｏｓｔ設定値ｆｃ3 ，Ｂ
ＳＴ3 を選択して次の章に進む。ＬＷ2 がＫ4 未満の時
は暫定規格不合格判定しＳ７に戻る。
【００３７】ライト電流設定方法Ｃ６では、ＬＳＩ初期
設定Ｓ２においてＧＤＬＹ，ＷＰＣ，ＦＬＴ（ｆｃ／Ｂ
ｏｏｓｔ）、ウィンドゥ・センタは前章（Ｃ５）で選択
・計算で求めた値（Ｇ1 ，ＥＬＹ2 ・ＬＴＥ2 ，ｆｃ2
・ＢＳＴ2 ｏｒ ｆｃ3 ・ＢＳＴ3 ，Ｃ3 ）を用い
る。ビットシフトワースト・パターン書き込みＳ２でビ
ットシフト補正（１）と同じ書き込みパターンを用意
し、ＷＰＣ１８の設定がビットシフト補正（２）で求め
た条件（ＥＬＹ2 ，ＬＴＥ2 ）で書き込む。ウィンドゥ
・マージン（ＷＤＭ）測定Ｓ３でエラーレート：Ｅ1 で
のＷＤＭ測定してマージン幅Ｗ4 を計算する。ライト電
流設定最大チェックＳ５とライト電流増大Ｓ６ループに
よって、ライト電流設定範囲でのＷＤＭを測定する。ラ
イト電流設定最大になったらＷＤＭ最大値抽出Ｓ６で、
ライト電流設定範囲でＷＤＭが最大になる値Ｗ4xを探
す。そしてＷ4x時のライト電流設定条件選択Ｓ７でＩ1
を選択して、Ｒ／Ｗチャネルの各パラメータ設定値の選
択・計算が終了する。
設定Ｓ２においてＧＤＬＹ，ＷＰＣ，ＦＬＴ（ｆｃ／Ｂ
ｏｏｓｔ）、ウィンドゥ・センタは前章（Ｃ５）で選択
・計算で求めた値（Ｇ1 ，ＥＬＹ2 ・ＬＴＥ2 ，ｆｃ2
・ＢＳＴ2 ｏｒ ｆｃ3 ・ＢＳＴ3 ，Ｃ3 ）を用い
る。ビットシフトワースト・パターン書き込みＳ２でビ
ットシフト補正（１）と同じ書き込みパターンを用意
し、ＷＰＣ１８の設定がビットシフト補正（２）で求め
た条件（ＥＬＹ2 ，ＬＴＥ2 ）で書き込む。ウィンドゥ
・マージン（ＷＤＭ）測定Ｓ３でエラーレート：Ｅ1 で
のＷＤＭ測定してマージン幅Ｗ4 を計算する。ライト電
流設定最大チェックＳ５とライト電流増大Ｓ６ループに
よって、ライト電流設定範囲でのＷＤＭを測定する。ラ
イト電流設定最大になったらＷＤＭ最大値抽出Ｓ６で、
ライト電流設定範囲でＷＤＭが最大になる値Ｗ4xを探
す。そしてＷ4x時のライト電流設定条件選択Ｓ７でＩ1
を選択して、Ｒ／Ｗチャネルの各パラメータ設定値の選
択・計算が終了する。
【００３８】最後にＲ／Ｗチャネル・パラメータ設定Ｃ
７で、各章（Ｃ１〜Ｃ６）で求めた設定・計算値全てを
制御レジスタ１１（ＣＴＬ−ＲＥＧ）への格納して設定
が終了する。これを各ヘッド毎及び分割したデータシリ
ンダ領域（ゾーン）毎に実施する。
７で、各章（Ｃ１〜Ｃ６）で求めた設定・計算値全てを
制御レジスタ１１（ＣＴＬ−ＲＥＧ）への格納して設定
が終了する。これを各ヘッド毎及び分割したデータシリ
ンダ領域（ゾーン）毎に実施する。
【００３９】以上の様な方法でＲ／ＷチャネルＬＳＩの
パラメータ（ＦＬＴのｆｃ、Ｂｏｏｓｔ、ＧＤＬＹ、Ｗ
ＰＣのＥＬＹとＬＴＥ、ウィンドゥ・センタ、レベル・
センタ、ライト電流）を探索・設定することで、推測で
仮に設定した値よりウィンドゥ・マージン及びレベル・
マージンが広い結果が得られる。
パラメータ（ＦＬＴのｆｃ、Ｂｏｏｓｔ、ＧＤＬＹ、Ｗ
ＰＣのＥＬＹとＬＴＥ、ウィンドゥ・センタ、レベル・
センタ、ライト電流）を探索・設定することで、推測で
仮に設定した値よりウィンドゥ・マージン及びレベル・
マージンが広い結果が得られる。
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように本発明の磁気ディス
ク装置のＲ／Ｗチャネル・パラメータの設定方法は、記
録・再生に関するパラメータである、波形等化を実施す
るアクティブ・フィルタ（遮断周波数、ブースト、ディ
レイ）、ピーク検出器内のスライス・レベル、データシ
ンクロナイザ内のウィンドゥ・シフト、書き込みパルス
のタイミングを制御するライト・プリコンペンセーショ
ン、書き込み電流の設定値を、選択したシリンダ領域・
ヘッドアドレスに応じて、ウィンドゥ・マージン（ＷＤ
Ｍ）あるいは振幅マージン（ＷＤＭ）が最適になる設定
値とすることが可能で、装置の読み出しエラーレートを
低減して不具合の発生する確率を低く抑えるので、信頼
性及び安定性向上の効果がある。またディスク媒体、磁
気ヘッド、記録・再生ＬＳＩ等の特性に対するバラツキ
に関して、装置・ヘッド・ゾーン（シリンダ）単位で実
施が可能な為、歩留まり改善につながる効果がある。
ク装置のＲ／Ｗチャネル・パラメータの設定方法は、記
録・再生に関するパラメータである、波形等化を実施す
るアクティブ・フィルタ（遮断周波数、ブースト、ディ
レイ）、ピーク検出器内のスライス・レベル、データシ
ンクロナイザ内のウィンドゥ・シフト、書き込みパルス
のタイミングを制御するライト・プリコンペンセーショ
ン、書き込み電流の設定値を、選択したシリンダ領域・
ヘッドアドレスに応じて、ウィンドゥ・マージン（ＷＤ
Ｍ）あるいは振幅マージン（ＷＤＭ）が最適になる設定
値とすることが可能で、装置の読み出しエラーレートを
低減して不具合の発生する確率を低く抑えるので、信頼
性及び安定性向上の効果がある。またディスク媒体、磁
気ヘッド、記録・再生ＬＳＩ等の特性に対するバラツキ
に関して、装置・ヘッド・ゾーン（シリンダ）単位で実
施が可能な為、歩留まり改善につながる効果がある。
【図１】図１のハードウェア構成で、ＲＷＣとライト電
流設定するマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）内の、動作シ
ーケンスの一部であるＲＷＣパラメータとライト電流設
定方法の概略を表すフローチャートである。
流設定するマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）内の、動作シ
ーケンスの一部であるＲＷＣパラメータとライト電流設
定方法の概略を表すフローチャートである。
【図２】本発明のＲ／Ｗチャネル（ＲＷＣ）の各パラメ
ータとライト電流の設定方法を表現するのに必要な、磁
気ディスク装置のハードウェア構成の一例を示すブロッ
ク図である。
ータとライト電流の設定方法を表現するのに必要な、磁
気ディスク装置のハードウェア構成の一例を示すブロッ
ク図である。
【図３】ストリングシフト補正を実施するフローチャー
トである。
トである。
【図４】ストリングシフト補正を実施するフローチャー
トである。
トである。
【図５】図３，４における可変レジスタの変更順序を示
す図である。
す図である。
【図６】ビットシフト補正（１）を実施するフローチャ
ートである。
ートである。
【図７】ビットシフト補正（１）を実施するフローチャ
ートである。
ートである。
【図８】図６，７における可変レジスタの変更順序を示
す図である。
す図である。
【図９】ビットシフト補正（２）を実施するフローチャ
ートである。
ートである。
【図１０】ビットシフト補正（２）を実施するフローチ
ャートである。
ャートである。
【図１１】図９，１０における可変レジスタの変更順序
を示す図である。
を示す図である。
【図１２】振幅・マージン測定を実施するフローチャー
トである。
トである。
【図１３】振幅・マージン測定を実施するフローチャー
トである。
トである。
【図１４】振幅・マージン測定を実施するフローチャー
トである。
トである。
【図１５】図１２，１３，１４における可変レジスタの
変更順序を示す図である。
変更順序を示す図である。
【図１６】ライト電流設定を実施するフローチャートで
ある。
ある。
【図１７】図１６におけるライト電流の変更順序を示す
図である。
図である。
１０ Ｒ／ＷチャネルＬＳＩ（ＲＷＣ） １１ ＬＳＩ内部の制御レジスタ（ＣＴＬ−ＲＥＧ） １２ フィルタ（ＦＬＴ） １３ ピーク検出器（ＰＫ−ＱＦＲ） １４ データシンクロナイザ（ＤＴ−ＳＹＣ） １６ エンコーダ（ＥＮＣ） １７ デコーダ（ＤＥＣ） １８ ライト・プリコンペンセーション（ＷＰＣ） １９ サーボデモジュレータ（ＳＶ−ＤＭ） ２０ 自動ゲイン制御（ＡＧＣ） ３０ 書き込み電流制御回路（ＷＣ−ＣＴＬ） ４０ 記録・再生チップ（Ｒ／Ｗ ＩＣ） ５０ マイクロプロセッサ（ＭＰＵ） ６０ ディスクコントローラ（ＨＤＣ） ７０ サーボ制御回路（ＳＰＭ／ＳＥＥＫ ＣＴＬ） ８０ ディスク媒体 ９０ 磁気ヘッド 第１章（Ｃ１） アナログＥＴＦ実施ルーチン 第２章（Ｃ２） ストリングシフト補正ルーチン 第３章（Ｃ３） ビットシフト補正（１）ルーチン 第４章（Ｃ４） ビットシフト補正（２）ルーチン 第５章（Ｃ５） 振幅マージン測定ルーチン 第６章（Ｃ６） ライト電流最適化ルーチン 第７章（Ｃ７） Ｒ／Ｗチャネル・パラメータ設定ル
ーチン
ーチン
Claims (11)
- 【請求項１】ディスク媒体上から読み出した信号に波形
等化を実施するアクティブ・フィルタの特性を制御する
パラメータとなる、遮断周波数（ｆｃ）、ブースト（Ｂ
ｏｏｓｔ）、及びディレイ量（ＤＬＹ）を設定する手段
と、ピーク検出器内のスライス・レベル（ＳＬＶ）を設
定する手段と、データシンクロナイザ内のウィンドゥ・
シフト（ＷＳＦ）を設定する手段と、書き込みパルスの
タイミングであるライト・プリコンペンセーション（Ｗ
ＰＣ）を設定する手段と、書き込み電流（Ｉｃ）を設定
する手段を有する磁気ディスク装置において、前記ウィ
ンドゥ・シフトの設定を変えて、読み出し信号と書き込
み信号のビット不一致の頻度によりエラーレートを測定
して、所定のエラーレートにおけるウィンドゥ・マージ
ンを計算することと、前記スライス・レベル（ＳＬＶ）
の設定を変えて、所定のエラーレートにおける振幅マー
ジン（ＬＶＭ）を計算することと、前記フィルタのパラ
メータＤＬＹを変更したときにウィンドゥ・マージン
（ＷＤＭ）が最適となるＤＬＹを探索して決定すること
と、前記ＷＰＣを変更したときにＷＤＭが最適となるＷ
ＰＣ設定値を探索して決定することと、Ｉｃを変更した
ときにＷＤＭが最適となるＩｃ設定値を探索して決定す
ることと、前記フィルタのパラメータ（ｆｃ，Ｂｏｏｓ
ｔ）と最適なＷＤＭより計算したウィンドゥ・センタか
らＳＬＶが最適となるｆｃ，Ｂｏｏｓｔの設定値を探索
して決定することを特徴とする磁気ディスク装置のＲ／
Ｗチャネルパラメータ設定方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の磁気ディスク装置のＲ／
Ｗチャネルパラメータ設定方法であり、 前記エラーレート測定の前にディスク媒体の欠陥位置を
探すアナログ・エラー ・テスタ・フォーマット（以下、
ＥＴＦ）を行い、 前記媒体欠陥を避けてエラーレートを測定することによ
り前記各Ｒ／Ｗチャネルパラメータの設定を行うことを
特徴とする磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネルパラメー
タ設定方法。 - 【請求項３】 請求項１または２記載の磁気ディスク装
置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方法であり、 前記エラーレートを測定する際に書き込むエラーレート
測定用パターンを、設定すべきＲ／Ｗチャネルパラメー
タ毎に適切なパターンを用いることを特徴とする磁気デ
ィスク装置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方法。 - 【請求項４】 最悪条件の繰り返しパターンを書き込
み、その後前記グループ・ディレイをある初期値に設定
して一定のエラーレートでのウィンドゥ・マージンを測
定し、その後＋方向に設定値を変化させて、前記ウィン
ドゥ・マージンの測定を繰り返し、グループ・ディレイ
が＋方向最大設定値に至ったあとは最初の設定値に戻
り、−方向に設定値を変化させて、−方向最大設定値に
至るまで前記ウィンドゥ・マージンの測定を繰り返し、
これらのなかでウィンドゥ・マージンが最大値をとると
きのグループ・ディレイの値とウィンドゥ・センタを選
択することを特徴とする請求項１、２または３記載の磁
気ディスク装置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方法。 - 【請求項５】 請求項４で設定したグループ・ディレイ
を用いて、ライト・プリコンペンセーション量のレイト
側の値を０にしたまま、アーリー側を変化させてウィン
ドゥ・マージンを測定し、次にアーリー側を０にしたま
ま、レイト側を変化させて得たウィンドゥ・センタを測
定し、アーリー側を動かした場合とレイト側を動かした
場合の中で請求項４で選択したウィンドゥ・センタに最
も近いウィンドゥ・マージンを選択し、このときのライ
ト・プリコンペンセーションの値を仮設定値とすること
を特徴とする請求項４記載の磁気ディスク装置のＲ／Ｗ
チャネルパラメータ設定方法。 - 【請求項６】 請求項５で仮設定したプリコンペンセー
ションのアーリー側とレイト側の値を初期値とし、アー
リー方向とレイト方向に共に等しく加算して変化させ、
その各々のプリコンペンセーションの値について、前記
フィルタのｆｃとＢｏｏｓｔを変化させてウィンドゥ・
マージン及びウィンドゥ・センタを測定し、その中でウ
ィンドゥ・マージンが最大値をとるときのライト・プリ
コンペンセーション量が規格を満たすときにはその値を
ライト・プリコンペンセーション量と設定することを特
徴とする請求項５記載の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャ
ネルパラメータ設定方法。 - 【請求項７】 測定した振幅マージン値と予め設定した
その規格値との差と、測定したウィンドゥ・マージン値
と予め設定したその規格値との差との積が一定の規格値
より大きい場合には振幅マージンは最終合格と判断し、
その時のレベル・センタを計算しスライス・レベルと設
定することを特徴とする請求項１、２または３記載の磁
気ディスク装置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方法。 - 【請求項８】 請求項７記載の積が一定の規格値より小
さい場合、前記フィルタのｆｃとＢｏｏｓｔの値を最小
設定値から始めて順次変化させ、各状態での測定した振
幅マージン値と予め設定したその規格値との差と、測定
したウィンドゥ・マージン値と予め設定したその規格値
との差との積が一定の規格値より小さい場合には振幅マ
ージンは暫定合格と判断し、その時の前記フィルタのｆ
ｃ，Ｂｏｏｓｔを設定値とし、レベル・センタを計算し
スライス・レベルと設定することを特徴とする請求項７
記載の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設
定方法。 - 【請求項９】 使用する装置内で、最悪条件の繰り返し
パターンを書き込み、その後前記書き込み電流をある初
期値の状態で一定のエラーレートでのウィンドゥ・マー
ジンを測定し、 その後書き込み電流の設定値に順次加算して増加させ
て、書き込み電流が最大設定値に至るまで前記ウィンド
ゥ・マージンの測定を繰り返し、これらのなかでウィン
ドゥ・マージンが最大値をとるときの書き込み電流を設
定値とすることを特徴とする請求項１、２または３記載
の磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方
法。 - 【請求項１０】 使用する装置内で、 請求項４に記載の方法でグループ・ディレイ量を設定
し、 請求項５に記載の方法で、ライト・プリコンペンセーシ
ョンの値を設定し、 請求項６に記載の方法で、ｆｃ，Ｂｏｏｓｔとライト・
プリコンペンセーションの値を設定し、 請求項７に記載の方法で、スライス・レベルを設定し、 請求項８に記載の方法で、スライス・レベル、ｆｃとＢ
ｏｏｓｔを設定し、 請求項９に記載の方法で、書き込み電流値を設定するこ
とを特徴とする磁気ディスク装置のＲ／Ｗチャネルパラ
メータ設定方法。 - 【請求項１１】 各パラメータの値を装置単位、ヘッド
単位、シリンダ又はゾーンすなわち隣接し合ったシリン
ダの集合体単位にそれぞれに最適化するように設定でき
ることを特徴とした請求項１０に記載の磁気ディスク装
置のＲ／Ｗチャネルパラメータ設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7339153A JP3031226B2 (ja) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 磁気ディスク装置のｒ／ｗチャネル・パラメータの設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7339153A JP3031226B2 (ja) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 磁気ディスク装置のｒ／ｗチャネル・パラメータの設定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09180373A JPH09180373A (ja) | 1997-07-11 |
| JP3031226B2 true JP3031226B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=18324748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7339153A Expired - Lifetime JP3031226B2 (ja) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 磁気ディスク装置のｒ／ｗチャネル・パラメータの設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3031226B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001195196A (ja) | 2000-01-07 | 2001-07-19 | Fujitsu Ltd | ディスク記憶装置、及びその制御パラメータ転送方法 |
| JP3645505B2 (ja) | 2001-07-30 | 2005-05-11 | 株式会社東芝 | ディスク記憶装置及び同装置に適用するリード方法 |
| JP4656594B2 (ja) * | 2007-06-04 | 2011-03-23 | 東芝ストレージデバイス株式会社 | 記憶装置、記憶装置のプロセッサ及びプログラム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06111460A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-22 | Victor Co Of Japan Ltd | 磁気ディスク駆動装置 |
-
1995
- 1995-12-26 JP JP7339153A patent/JP3031226B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09180373A (ja) | 1997-07-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000111 |