JP2000057687A

JP2000057687A - 記憶装置の最適パラメータ検出方法

Info

Publication number: JP2000057687A
Application number: JP10224378A
Authority: JP
Inventors: Hideki Tanabe; 英樹田辺
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1998-08-07
Filing date: 1998-08-07
Publication date: 2000-02-25

Abstract

(57)【要約】【課題】書込再生系に設定するパラメータの最適値を正
確に検出する。【解決手段】再生系に設けたビタビ検出器８０のスレッ
ショルドＴＨをエラーレートが悪くなる程度の所定の低
い値に設定した状態で、書込補償回路７０のライトコン
ペ量ＷＣ、前置フィルタ７６のカットオフ周波数Ｆｃと
ブーストＦｂの各パラメータにつき、パラメータの設定
値を変えながらライトとリードを行ってエラーレートが
最小となる第１パラメータ調整値を検出する。次に再生
系に設けたビタビ検出器８０のスレッショルドをエラー
レートが悪くなる程度の所定の高い値に設定した状態
で、パラメータの設定値を変えながらライトとリードを
行ってエラーレートが最小となる第２パラメータ調整値
を検出する。最終的に、第１及び第２パラメータ調整値
の平均値をパラメータ最適値として検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、媒体に対する情報
の記録再生を行うリードチャネルで使用するパラメータ
の最適値を検出する記憶装置の最適パラメータ検出方法
に関し、特に、磁気記録系をパーシャルレスポンス系と
して最尤検出を行う記憶装置の最適パラメータ検出方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、磁気ディスク装置の記録再生にあ
っては、磁気記録系をパーシャルレスポンス系として最
尤検出を行っている。このパーシャルレスポンス系の変
換多項式は、Ｈ（Ｄ）＝（１−Ｄ）（１＋Ｄ）^m 但し、Ｄは遅延演算子、ｍは正の整数で現わされる。

【０００３】この内、磁気ディスク装置には、ｍ＝１と
なるパーシャルレスポンス・クラス４（ＰＲ４）の最尤
検出が使用され、また線密度の増加に伴いｍ＝２となる
拡張パーシャルレスポンス・クラス４（ＥＰＲ４）の最
尤検出も使用されている。

【０００４】このようなパーシャルレスポンスの最尤検
出を使用した書込系と再生系は、ＰＲ４最尤検出を例に
とると、変換多項式は、Ｈ（Ｄ）＝（１−Ｄ）（１＋Ｄ）となるため、書込系での１／（１−Ｄ）のプリエンコー
ド（プリコード）を行ってからヘッドにより媒体に磁気
記録し、再生系は、ヘッドにより媒体から読み出した再
生信号につき、（１＋Ｄ）の等化を行った後に（１−
Ｄ）系のビタビ検出器で最尤検出を行ってリードデータ
を復調し、更に（１−Ｄ）のプリエンコードを行ってい
る。

【０００５】ここで再生系の（１＋Ｄ）等化には、アク
ティブ・フィルタが前置フィルタとして使用され、前置
フィルタはカットオフ周波数Ｆｃ［ＭＨｚ］とブースト
Ｆｂ［ｄＢ］を適切に設定することで、読取信号の波形
歪を除去する波形透過ができる。またビタビ検出器は、
前置フィルタで波形等化された読取信号をＡＤ変換した
サンブル値につき、ビダビスレッショルドＴＨ［％］の
設定により［−１，０，１］の３値を判定しており、適
切なビダビスレッショルドの設定によりエラレートを最
小にすることができる。

【０００６】更に、書込系にあっては、書込補償回路を
設けることで書込パルスに対しライトコンペンセート
（進み位相補償）を行っており、パルス幅に対する進み
位相の割合となるライトトコンペ量ＷＣ［％］を適切に
設定することで、同じくエラーレートを最小にすること
ができる。

【０００７】このため磁気ディクス装置を製造組立する
際には、書込再生系に設定するパラメータとして、書込
補償回路のライトコンペ量ＷＣ、前置フイルタのカット
オフ周波数Ｆｃとブースト量Ｆｂ、更にビタビ検出器の
スレッショルドＴＨを最適値に調整する必要がある。

【０００８】このパラメータの調整方法として、従来
は、調整対象とするパラメータを変えながらビタビ検出
器のエラレートが所定値、例えば１０-6を上回るスレッ
ショルドの上限と下限の幅をレベルマージンとして測定
し、このレベルマージンの幅を最大とするパラメータの
設定値を最適値として検出している。

【０００９】図１８は、従来方法で測定された書込補償
回路のライトコンペ量ＷＣに対するビタビ検出器のレベ
ルマージン、即ちビタビダイナミックマージンＶＤＭで
あり、特性曲線２００のように測定点２０２でレベルマ
ージンＶＤＭがピーク（最大幅）となり、このピークに
対応したライトコンペＷＣ＝７．５％を最適値として検
出する。

【００１０】図１９は、従来方法で測定された前置フィ
ルタのカットオフ周波数Ｆｃに対するビタビ検出器のＶ
ダビダイナミックマージンＶＤＭであり、特性曲線２１
０のように、測定点２１０でマージンＶＤＭがピークと
なり、このピークに対応したカットオフ周波数ＦＣ＝４
０．６ＭＨｚを最適値として検出する。

【００１１】図２０は、従来方法で測定された前置フィ
ルタのブースト量Ｆｂに対するビタビ検出器のレベルマ
ージンＶＤＭであり、特性曲線２１２のように、点２１
４でレベルマージンＶＤＭがピークとなり、このピーク
に対応したブースト量Ｆｂ＝８ｄＢを最適値として検出
する。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のライトコンペ量、カットオフ周波数、及びブ
ースト量を変えながらビタビ検出器のレベルマージンを
測定する方法にあっては、例えば図１８の測定点２０
４，２０６のようにレベルマージンのピークが測定のば
らつきにより複数でる場合があり、ピークの位置によっ
ては、本来、マージンの少ないところを最適値として検
出して設定する可能性がある。

【００１３】またライトコンペ量、カットオフ周波数、
及びブースト量を変えながらビタビ検出器のレベルマー
ジンを測定する際に、ビタビ検出器のスレッショルドは
予め定めたデフォルト値を設定している。このデフォル
ト・スレッショルドは最適値に近い値であるため、ライ
トコンペ量、カットオフ周波数、及びブースト量をパラ
メータとして変えても、ビダビ検出器の能力によって十
分なレベルマージンが得られる。このため最適値の近傍
でレベルマージンのピーク点が連続し、ライトコンペ
量、カットオフ周波数、及びブースト量の最適値を正確
に検出できない問題もあった。

【００１４】本発明は、このような従来の問題点に着目
したもので、製造段階で書込再生系に設定するパラメー
タの最適値を正確に検出する記憶装置の最適パラメータ
検出方法を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。本発明は、図１（Ａ）のように、調整設備１
０によって、媒体に対する情報の記録系と再生系で使用
するパラメータの最適値を検出する記憶装置１２の最適
パラメータ検出方法であり、次の手順で行う。

【００１６】図１（Ｂ）のように、再生系に設けたビ
タビ検出器８０のスレッショルドＴＨを第１の値、例え
ばエラーレートが悪くなる程度の所定の低い値に設定し
た状態で、パラメータの設定値を変えながらライトとリ
ードを行ってエラーレートが最小となる第１パラメータ
調整値を検出；再生系に設けたビタビ検出器８０のス
レッショルドＴＨを第２の値、例えばエラーレートが悪
くなる程度の所定の高い値に設定した状態で、パラメー
タの設定値を変えながらライトとリードを行ってエラー
レートが最小となる第２パラメータ調整値を検出；第
１及び第２パラメータ調整値の平均値をパラメータ最適
値として検出；このように本発明では、ビダビ検出器の
スレッショルドを予めエラーレートが悪くなる程度まで
ずらすことによって、書込再生系で使用するパラメータ
を最もエラーレートの良好な最適値に絞り込むことがで
き、正確なパラメータ最適値を検出して装置に設定でき
る。

【００１７】ここで調整対象とするパラメータは、書込
系に設けた書込補償回路７０の位相進み補償量（ライト
コンペ量）ＷＣであり、ビタビ検出器８０のスレッショ
ルドＴＨをエラーレートが悪くなる程度の所定の低い
値、例えば２１％にに設定した状態で、書込補償回路７
０の位相進み補償量ＷＣの設定値を変えながらライトと
リードを行い、例えば図１（Ｃ）の測定点点１１８よう
に、エラーレートが最小となる第１調整値ＷＣ１を検出
し、次に、ビタビ検出器８０のスレッショルドＴＨをエ
ラーレートが悪くなる程度の所定の高い値、例えば５９
％に設定した状態で、書込補償回路７０の位相進み補償
量ＷＣの設定値を変えながらライトとリードを行い、例
えば図１（Ｃ）の測定点１２０ように、エラーレートが
最小となる第２調整値ＷＣ２を検出し、最終的に、第１
及び第２調整値の平均値ＷＣＷＣ＝（ＷＣ１＋ＷＣ２）
／２を書込補償回路７０に設定する位相進み補償量の最
適値として検出する。

【００１８】また調整対象とするパラメータは、再生系
に設けたパーシャルレスポンス最尤検出の波形等化を行
う前置フィルタ７６のカットオフ周波数Ｆｃであり、ビ
タビ検出器８０のスレッショルドをエラーレートが悪く
なる程度の所定の低い値に設定した状態で、前置フィル
タ７６のカットオフ周波数を変えながらライトとリード
を行ってエラーレートが最小となる第１調整値Ｆｃ１を
検出し、次に、ビタビ検出器８０のスレッショルドＴＨ
をエラーレートが悪くなる程度の所定の高い値に設定し
た状態で、前置フィルタ７６のカットオフ周波数を変え
ながらライトとリードを行ってエラーレートが最小とな
る第２調整値Ｆｃ２を検出し、最終的に、第１及び第２
調整値の平均値を前置フィルタに設定するカットオフ周
波数の最適値Ｆｃとして検出する。

【００１９】更に、調整対象とするパラメータは、再生
系に設けたパーシャルレスポンス最尤検出の波形等化を
行う前置フィルタ７６のブースト量Ｆｂであり、ビタビ
検出器８０のスレッショルドＴＨをエラーレートが悪く
なる程度の所定の低い値に設定した状態で、前置フィル
タのブースト量を変えながらライトとリードを行ってエ
ラーレートが最小となる第１調整値Ｆｂ１を検出し、次
に、ビタビ検出器８０のスレッショルドＴＨをエラーレ
ートが悪くなる程度の所定の高い値に設定した状態で、
前置フィルタ７６のブースト量を変えながらライトとリ
ードを行ってエラーレートが最小となる第２調整値Ｆｂ
２を検出し、最終的に、第１及び第２調整値の平均値を
前置フィルタに設定するブースト量の最適値Ｆｂとして
検出する。

【００２０】またビタビスレッショルド及び調整パラメ
ータ以外については、所定のデフォルトパラメタータを
使用する。即ち、書込補償回路７０の位相進み補償量Ｗ
Ｃを調整対象とする場合は、前置フィルタ７６のカット
オフ周波数及びブースト量については、所定のデフォル
トパラメータを使用する。

【００２１】また前置フィルタ７６のカットオフ周波数
を調整対象とする場合は、書込補償回路７０の位相進み
補償量ＷＣ及び前置フィルタ７６のブースト量Ｆｂにつ
いては、所定のデフォルトパラメータを使用する。更
に、前置フィルタ７６のブースト量Ｆｂを調整対象とす
る場合は、書込補償回路７０の位相進み補償量ＷＣ及び
前置フィルタ７６のカットオフ周波数Ｆｃについては、
所定のデフォルトパラメータを使用する。

【００２２】更に、ビタビ検出器８０のスレッショルド
の最適値の検出は、検出されたパラメータの最適値を書
込系及び再生系に設定した状態で、ビタビ検出器８０の
スレッショルドを変えながらライトとリードを行い、エ
ラーレートが最小となるスレッショルドを最適値として
検出する。

【００２３】本発明による記憶装置の最適パラメータ検
出方法は、パラメータ最適値を媒体のゾーン単位及びヘ
ッド単位に検出する。

【００２４】また簡易的な記憶装置の最適パラメータ検
出方法として本発明は、再生系に設けたビタビ検出器の
スレッショルドをエラーレートが悪くなる程度の所定の
低い値、例えば３０％以下の低い値に設定した状態で、
パラメータの設定値を変えながらライトとリードを行っ
て、エラーレートが最小となるパラメータ設定値をパラ
メータ最適値として検出する。

【００２５】また別の簡易的な記憶装置の最適パラメー
タ検出方法として本発明は、再生系に設けたビタビ検出
器のスレッショルドをエラーレートが悪くなる程度の所
定の高い値、例えば５０％以上の高い値に設定した状態
で、パラメータの設定値を変えながらライトとリードを
行って、エラーレートが最小となるパラメータ設定値を
パラメータ最適値として検出してもよい。簡易的な最適
パラメータ検出方法は、粗調整等に利用でき、パラメー
タ調整工程の処理負担を低減する。

【００２６】

【発明の実施の形態】図２は、本発明の最適パラメータ
検出方法が適用される磁気ディスク装置、即ちハードデ
ィスクドライブの調整設備の機能ブロック図である。

【００２７】図２において、調整設備１０は、ハードデ
ィスクドライブ１２の組立製造施設の最終工程となるＲ
／Ｗパラメータ調整工程に設置されており、組立製造の
済んだハードディスクドライブ１２を上位装置として機
能する調整設備１０に図示のように接続することで、Ｒ
／Ｗパラメータの最適値を検出して設定するＲ／Ｗパラ
メータ調整処理を実行する。

【００２８】調整設備１０には、調整用コントローラ１
４が設けられ、調整用コントローラ１４には、本発明の
最適パラメータ検出方法を実現するためのライトコンペ
量調整部１５、カットオフ調整部１６、ブースト量調整
部１８及びスレッショルド調整部２０が設けられてい
る。調整用コントローラ１４に対しては、バス２８を介
してメモリを用いたデフォルトパラメータテーブル２２
と調整用パラメータテーブル４が接続され、更にインタ
フェース２６によって、調整対象とするハードディスク
ドライブ１２を接続している。

【００２９】調整設備１０の調整用コントローラ１４
は、ハードディスクドライブ１２における調整対象のパ
ラメータ、即ちライトコンペ量、カットオフ周波数、ブ
ースト量の各々について、ハードディスクドライブ１２
の再生系に設けたビタビ検出器のスレッショルドをエラ
ーレートが悪くなる程度の値にずらして設定した状態
で、各パラメータの設定値を変えながらテストパターン
のリードとライトを行ってエラーレートが最小となる調
整値を検出し、これを最適値とすることを基本とする。

【００３０】具体的には、ビタビ検出器のスレッショル
ドをエラーレートが悪くなる程度の低い値に設定した状
態でパラメータの設定値を変えながらライトとリードを
行ってエラーレートが最小となる第１パラメータ調整値
を検出し、次にビタビ検出器のスレッショルドを同じく
エラーレートが悪くなる程度の所定の高い値に設定した
状態でパラメータの設定値を変えながらライトとリード
を行ってエラーレートが最小となる第２パラメータ調整
値を検出し、最終的に第１及び第２パラメータ調整値の
平均値をパラメータ最適値として検出する。

【００３１】図３は、図２の調整設備１０の調整対象と
するハードディスクドライブ１２のブロック図である。

【００３２】図３において、磁気ディスク装置として知
られたハードディスクドライブ（ＨＤＤ）は、ディスク
エンクロージャ３０とコントロールボード３２で構成さ
れる。ディスクエンクロージャ３０にはヘッドＩＣ３４
が設けられ、この実施形態にあっては４つのヘッドアッ
センブリィ３６−１〜３６−４を接続している。

【００３３】ヘッドアッセンブリィ３６−１〜３６−４
には、インダクティブヘッドを用いた記録ヘッド３８−
１〜３８−４と、ＭＲヘッド等を用いた再生ヘッド４０
−１〜４０−４が設けられている。またディスクエンク
ロージャ３０には、ヘッドアクチュエータを駆動するＶ
ＣＭ４１、ディスク媒体を回転するスピンドルモータ４
２が設けられる。

【００３４】ディスクエンクロージャ３０のヘッドＩＣ
３４に対しては、コントロールボード３２側にディスク
媒体に対する書込系と読出系を備えたリードチャネルユ
ニット（ＲＤＣ）４８が設けられている。リードチャネ
ルユニット４８に対してはハードディスクコントローラ
（ＨＤＣ）４６が設けられ、ハードディスクコントロー
ラ４６にはフォーマッタ４６−１やＥＣＣ回路４６−２
等が内蔵されている。

【００３５】ハードディスクコントローラ４６はインタ
フェース回路５６に接続され、上位ホスト側とのデータ
伝送によってホストからのライトデータの供給及びホス
トに対するリードデータの転送を行っている。また図２
のように調整設備１０に接続した場合には、調整設備１
０に設けている調整用コントローラ１４とのデータ伝送
によってＲ／Ｗパラメータの調整に必要な各種のコマン
ド及びデータの転送を行う。

【００３６】またハードディスクドライブは、この実施
形態にあっては、ゾーン分割による定密度記録方式（Ｚ
ＣＤＲ）を採用しており、ディスク媒体のシリンダを所
定シリンダごとにゾーン分割し、各ゾーンごとに異なっ
た周波数を予め設定している。このため、周波数シンセ
サイザとして機能するＰＬＬ回路５０が設けられ、リー
ド動作またはライト動作の際のシリンダアドレスから対
応するゾーン周波数をセットすることで、リードチャネ
ルユニット４８のライト動作及びリード動作に対するク
ロック供給を行う。

【００３７】ハードディスクドライブの全体的な制御
は、メインコントロールユニット（ＭＣＵ）４４が行
う。メインコントロールユニット４４は、バスを介して
ハードディスクコントローラ４６及びインタフェース回
路５６を接続し、ホストからの各種コマンドを受領して
解読し、ハードディスクコントローラ４６に対するリー
ド／ライト指示、及びディスクエンクロージャ３０に設
けているＶＣＭ４１の駆動によるヘッド位置決め制御を
行う。

【００３８】またメインコントロールユニット４４に対
しては、バスを介してＤＲＡＭ５８とフラッシュＲＯＭ
６０が接続される。ＤＲＡＭ５８はインタフェース回路
５６の転送バッファ及びハードディスクドライブの各種
制御に必要なワークメモリとして使用される。また図２
のように調整設備１０に接続した際には、Ｒ／Ｗパラメ
ータ調整のために、調整設備１０から転送されたデフォ
ルトパラメータの格納や調整中に生成した調整用パラメ
ータの格納を行う。

【００３９】フラッシュＲＯＭ６０は、不揮発性メモリ
として動作し、図２の調整設備１０によって決定された
Ｒ／Ｗパラメータの最適値が最終的に格納される。この
ため、ハードディスクドライブをユーザが使用する際に
は、フラッシュＲＯＭ６０に格納されたＲ／Ｗパラメー
タの最適値がメインコントロールユニット４４により読
み出され、リードチャネルユニット４８に設定されて書
込動作及び読出動作を行うことになる。

【００４０】ＶＣＭ４１の駆動によるヘッド位置決め制
御のため、サーボ復調回路５２とサーボコントローラ５
４が設けられている。この実施例において、サーボ情報
はデータ面サーボを採用しており、したがってリードチ
ャネルユニット４８に対する再生信号からサーボ情報を
分離してサーボ復調回路５２でヘッド位置情報を復元し
ている。

【００４１】図４は図３のリードチャネルユニット４８
のブロック図であり、パーシャルレスポンス・クラス４
最尤検出（ＰＲ４ＭＬ）を適用している。このリードチ
ャネルユニット４８において、書込系はスクランブラ６
２、ＲＬＬエンコーダ６４、並直変換器６６、プリエン
コーダ６８、書込補償回路７０及び分周器７２で構成さ
れる。

【００４２】即ち、図３のハードディスクコントローラ
４６に設けたフォーマッタ４６−１によりフォーマッテ
ィングされたＮＲＺライトデータはスクランブラ６２に
与えられ、各セクタのデータ領域について所定の疑似ラ
ンダムパターンをＥＸ−ＯＲしてスクランブルを掛け
る。ＲＬＬエンコーダ６４は、スクランブラ６２からの
ＮＲＺライトデータを例えば８／９符号に変換する。並
直変換器６４は、ＲＬＬエンコーダ６６からの変換ライ
トデータをシリアルデータに変換する。

【００４３】プリエンコーダ６８は、再生系におけるパ
ーシャルレスポンス・クラス４の最尤検出のため、１／
（１−Ｄ）のプリコードを行う。書込補償回路７０は、
記録周波数が高いときの磁気ディスク媒体に対する磁気
記録で生ずる非線形歪みを予め補償するため、書込パル
スの位相進み補償を行う。この位相進み補償量は、書込
補償回路７０にライトコンペ量ＷＣとして設定される。

【００４４】図５は書込補償回路７０による書込パルス
の位相進み補償のタイムチャートである。図５（Ａ）は
プリエンコーダ６８からの入力書込パルス９４であり、
この入力書込パルス９４にライトコンペ量ＷＣの設定値
に応じた位相進み補償を施して、図５（Ｂ）に示す書込
補償済みの書込パルス９６を出力する。このライトコン
ペ量ＷＣはパルス周期Ｔに対するライトコンペ量ＷＣの
パーセント表示で設定され、通常、ＷＣ＝５〜１０％程
度の値が設定される。このライトコンペ量ＷＣの図２の
調整設備１０におけるデフォルト値としては、例えばデ
フォルトＷＣ＝７％が使用される。

【００４５】再び図４を参照するに、書込補償回路７０
からの書込パルスは、分周器７２で分周した後に図３の
ヘッドＩＣ３４に出力され、書込ドライバによりそのと
き選択される記録ヘッドに供給されてディスク媒体に情
報を書き込む。

【００４６】図４のリードチャネルユニット４８におい
て、再生系は、ＡＧＣアンプ７４、前置フィルタ７６、
ＡＤコンバータ７８、ＰＲ４ビタビ検出器８０、プリデ
コーダ８２、直並変換器８４、ＲＬＬデコーダ８６及び
デ・スクランブラ８８で構成される。

【００４７】ＡＧＣアンプ７４は、図３のヘッドＩＣ３
４を介して得られた読取信号を自動利得制御により増幅
する。前置フィルタ７６はＡＧＣアンプ７４からの読取
信号に（１＋Ｄ）の等化を施す。前置フィルタ７６は、
パシャルレスポンスクラス４の波形透過を行うもので、
カットオフ周波数Ｆｃ及びブースト量Ｆｂの調整により
フィルタ特性を任意に変えることができる。

【００４８】図６は図４の前置フィルタ７６の周波数特
性である。特性曲線９６はブースト量Ｆｂ＝０ｄＢとし
た場合であり、この場合のカットオフ周波数Ｆｃは−３
ｄＢを通る点１００のＦｃ＝３０ＭＨｚとなる。このカ
ットオフ周波数Ｆｃは、例えばＦｃ＝１０〜１００ＭＨ
ｚの範囲で可変することができる。

【００４９】特性曲線９８は、特性曲線９６についてブ
ースト量Ｆｂ＝１０ｄＢに増加させた場合である。ブー
スト量Ｆｂは例えば０〜１５ｄＢの範囲で可変すること
ができる。

【００５０】このように前置フィルタ７６のカットオフ
周波数Ｆｃとブースト量Ｆｂの値を適宜に調整すること
で、読取信号の波形歪みを除去するための（１＋Ｄ）等
化に対応したフィルタ特性（周波数特性）が設定でき
る。前置フィルタ７６のカットオフ周波数Ｆｃとブース
ト量Ｆｂのデフォルトとしては、例えばデフォルトカッ
トオフ周波数Ｆｃ＝４０ＭＨｚ、デフォルトブースト量
Ｆｂ＝７ｄＢが設定されている。

【００５１】再び図４を参照するに、前置フィルタ７６
で（１＋Ｄ）の等化が施された読取信号は、ＡＤコンバ
ータ７８でサンプリングされてデジタルデータに変換さ
れ、ＰＲ４ビタビ検出器８０に与えられる。ＰＲ４ビタ
ビ検出器８０はＡＤコンバータ７８でサンプリングされ
た波形データについて振幅レベル［−１，０，１］の３
値を判別し、アド・コンペア・セレクト法あるいはダイ
ナミック・スレッショルド法による最尤検出を行ってリ
ードデータを復元する。

【００５２】図７は、図４のＰＲ４ビタビ検出器８０の
振幅レベルの検出であり、波形等化が済んだ読取信号に
ついて、ｋ−１，ｋ，ｋ＋１のタイミングで［−１，
０，１］のレベル判定を行って読取ビット列を取り込ん
でおり、このレベル［−１，０，１］を判定するため、
スレッショルドＴＨを設定している。スレッショルドＴ
Ｈは、０レベルに対する読取波形の±１の最大振幅に対
する割合「％」で表わされ、図７の場合にはスレッショ
ルドＴＨ＝４０％に設定している。

【００５３】このＰＲ４ビタビ検出器８０におけるスレ
ッショルドＴＨも本発明による調整対象であり、具体的
には書込補償回路７０のライトコンペ量ＷＣ、前置フィ
ルタ７６のカットオフ周波数Ｆｃとブースト量Ｆｂの最
適値が検出された後に、これらパラメータ最適値を設定
した状態でエラーレートが最小となるようにビタビスレ
ッショルドＴＨを調整している。もちろん、ビタビスレ
ッショルドＴＨは０〜１００％の範囲で任意に可変する
ことができる。

【００５４】再び図４を参照するに、ＰＲ４ビタビ検出
器８０で復調されたライトデータはプリコーダ８２で書
込系とは逆の（１−Ｄ）のプリコードが施され、並直変
換器８４でシリアルデータからパラレルデータに変換し
た後、ＲＬＬデコーダ８６で逆８／９変換を行う。最終
的に、デ・スクランブラ８８で各セクタのデータ領域に
ついて疑似ランダムパターンとのＥＸ−ＯＲによりデ・
スクランブルを掛け、復調したＮＲＺリードデータを図
３のハードディスクコントローラ４６に出力している。

【００５５】図８は、図２の調整設備１０によるハード
ディスクドライブ１２に対するＲ／Ｗパラメータ調整処
理の全体的なフローチャートである。まずステップＳ１
で図２のようにハードディスクドライブ１２を調整設備
１０にセットし、電源を投入して動作状態とする。

【００５６】次にステップＳ２で、調整設備１０に格納
しているデフォルトパラメータテーブル２２のデフォル
トパラメータをハードディスクドライブ１２に転送し、
図３のコントロールボード３２のＤＲＡＭ５８に格納
し、これに基づき、調整開始時に図４のリードチャネル
ユニット４８におけるライトコンペ量ＷＣ、カットオフ
周波数Ｆｃ、ブースト量Ｆｂ及びスレッショルドＴＨ
は、それぞれデフォルト値が設定される。

【００５７】次にステップＳ３で、まずＭＲヘッドのセ
ンス電流調整を行う。このＭＲヘッドのセンス電流調整
は、ヘッド寿命に対応した再生出力を最大とするセンス
電流値の調整及び読取信号の上下対称性を０％とする調
整を含む。続いてステップＳ４でコアずれ補正量を決定
する。このコアずれ補正量の決定は、図３のサーボ復調
回路５２で得られている２相サーボ情報から復調された
位置信号Ｎ，Ｑのクロス点のレベルを検出し、このクロ
ス点のレベルが理論値に一致するようにサーボ復調信号
を増幅しているＡＧＣ増幅器の利得を設定する。

【００５８】続いてステップＳ５〜Ｓ８において、本発
明によるＲ／Ｗパラメータの最適検出のための調整処理
を行う。この調整処理は、まずステップＳ５で書込補償
回路７０のライトコンペ量ＷＣの最適値を検出し、ステ
ップＳ６で前置フィルタ７６のカットオフ周波数Ｆｃの
最適値を検出し、ステップＳ７で前置フィルタ７６のブ
ースト量Ｆｂの最適値を検出し、ステップＳ８で、検出
されたライトコンペ量、カットオフ周波数及びブースト
量の最適値を設定した状態でビタビ検出器８０のビタビ
スレッショルドＴＨの最適値を検出する調整処理を行
う。

【００５９】このようなＲ／Ｗパラメータの調整が済ん
だならば、ステップＳ９でオフセットマージンを測定し
た後、ステップＳ１０で最終調整値を確認してハードデ
ィスクドライブのフラッシュＲＯＭに調整が完了した各
パラメータを格納して一連の調整処理を終了する。

【００６０】ここでステップＳ５〜Ｓ７のライトコンペ
量ＷＣ、カットオフ周波数Ｆｃ及びブースト量Ｆｂの最
適値の検出処理にあっては、ディスク媒体にテストパタ
ーンを書き込んだ後に読み出して、ビットエラーレート
を測定しながら最適値を検出する。この最適値検出のた
めの書込条件としては、テストデータパターンとして１
６進で「Ｅ４」、即ち２進で「１１１００１００」の繰
返しパターンを使用する。また書込時に図４のスクラン
ブラ６２はオンして動作状態とする。一方、読出条件と
しては、図４のデ・スクランブラ８８はオンし、また図
３のハードディスクコントローラ４６におけるＥＣＣ回
路４６−２はオフとする。またエラーレートの測定は、
ディスク媒体をｍ周した場合に得られるエラー数ｎから
求める。例えばｍ＝８周でエラー回数ｎ＝２であれば、
ビットエラーレートＢＥＲ＝１０-6となる。このエラー
レート測定におけるｍ周の値は適宜に設定できる。

【００６１】図９は、図８のステップＳ５におけるライ
トコンペ量の最適値検出処理の詳細を示したフローチャ
ートである。本発明のＲ／Ｗパラメータ調整処理にあっ
ては、ヘッド及びゾーン単位に最適値を検出することか
ら、ステップＳ１でまずヘッド番号ＨＨとゾーン番号Ｚ
ｓを設定する。ディスク媒体のゾーンは例えば１４ゾー
ンに分けられている。

【００６２】次にステップＳ２で、測定ゾーンＺｓの最
インナシリンダにヘッドを位置決めし、ステップＳ３で
エラーレートが悪化する低めのビタビスレッショルドＴ
Ｈ１を設定する。この低めのビタビスレッショルドＴＨ
１としては、例えばＴＨ１＝２１％を設定する。このビ
タビスレッショルドＴＨ１＝２１％を設定した状態で、
ステップＳ４においてライトコンペ量ＷＣを設定してテ
ストパターン「Ｅ４ｈ」を書き込む。

【００６３】最初、ライトコンペ量ＷＣはＷＣ＝０％に
設定されている。したがって、最初のテストパターンの
書込みはライトコンペ量ＷＣによる書込補償がない状態
でテストパターンの書込みを行う。テストパターンの書
込が済むと、ステップＳ５でテストパターンをリードし
てビットエラーレートＢＥＲを測定する。続いてステッ
プＳ６でライトコンペ量ＷＣは予め定めた最大値例えば
ＷＣ＝３５％に達したか否かチェックし、達していなけ
ればステップＳ７でライトコンペ量ＷＣを所定量ΔＷ
Ｃ、例えばΔＷＣ＝２．４％単位に増加させ、ステップ
Ｓ４のテストパターンの書込み及びステップＳ５のテス
トパターンのリードによるビットエラーレートＢＥＲの
測定を繰り返す。

【００６４】このステップＳ３〜Ｓ６の処理により、例
えば図１０の特性曲線１１０のような測定結果が得られ
る。特性曲線１１０において、測定点１１８となるＷＣ
＝９．６％でビットエラーレートＢＥＲが最小となって
いる。このため図９のステップＳ８にあっては、図１０
の特性曲線１１０でビットエラーレートが最小となるラ
イトコンペ量ＷＣ１としてＷＣ１＝９．６％を検出す
る。

【００６５】次にステップＳ９で高めのビタビスレッシ
ョルドＴＨ２を設定する。ビタビスレッショルドＴＨ２
としては、例えばＴＨ２＝５９％を設定する。次にステ
ップＳ１０でライトコンペ量ＷＣ＝０％を設定してテス
トパターン「Ｅ４ｈ」を書き込み、ステップＳ１１で、
書き込んだテストパターンをリードしてビットエラーレ
ートＢＥＲを測定する。

【００６６】続いてステップＳ１２でライトコンペ量Ｗ
Ｃが最大値例えば３５％に達したか否かチェックし、最
大値に達するまでステップＳ１３で例えば所定量ΔＷＣ
＝２．４％ずつ増加させながら、ステップＳ１０のテス
トパターンの書込みとステップＳ１１のテストパターン
のリードによるビットエラーレートＢＥＲの測定を繰り
返す。

【００６７】このステップＳ１０〜Ｓ１３の繰返しによ
り、ライトコンペ量ＷＣが最大値３５％に達したときに
例えば図１０の特性極性１１２のような測定結果が得ら
れる。この特性曲線１１２について、図９のステップＳ
１４でビットエラーレートが最小となるライトコンペ量
ＷＣ２を検出する。特性曲線１１２においてビットエラ
ーレートＢＥＲが最小となるのは測定点１２２のＷＣ＝
４．８％であり、したがってステップＳ１４でＷＣ２＝
４．８％が検出される。

【００６８】次にステップＳ１５で、最適ライトコンペ
量をステップＳ８で検出したライトコンペ量ＷＣ１とス
テップＳ１４で検出したライトコンペ量ＷＣ２の平均値
として算出する。この場合、ＷＣ１＝９．６％、ＷＣ２
＝４，８％であることから、最適ライトコンペ量ＷＣはＷＣ＝（９．６＋４．８）／２＝７．２％として算出される。

【００６９】このステップＳ２〜Ｓ１４の処理を、ステ
ップＳ１６で全ゾーンが終了するまで、ステップＳ１７
でゾーンを切り替えながら繰り返す。ステップＳ１６で
全ゾーンの処理が終了すると、ステップＳ１８で全ヘッ
ドが終了するまで、ステップＳ１９でヘッド切替えを行
いながら、ステップＳ２〜Ｓ１７の処理を繰り返す。こ
れによって最終的にヘッド番号ＨＨとゾーン番号Ｚｓの
組合せに対応して、それぞれについてライトコンペ量Ｗ
Ｃの最適値が検出される。

【００７０】図１０の特性図にあっては、測定結果とし
て得られた特性曲線１１０，１１２について、その平均
値の特性曲線１１４を示している。この平均値の特性曲
線１１４は、図９のステップＳ１５で算出した最適値と
してのライトコンペ量ＷＣ＝７．２％でビットエラーレ
ートＢＥＲが最小となっている。

【００７１】また図１０の特性図にあっては、ビタビス
レッショルドをデフォルト値としての４０％に設定した
場合のビットエラーレートの特性曲線１１６を併せて示
している。この最適値に近いデフォルト値としてのスレ
ッショルドＴＨ＝４０％を設定した場合には、ライトコ
ンペ量ＷＣ＝２．４％〜１６．８％の範囲で最低値とな
るビットエラーレートＢＥＲ＝１０^-8以下が連続してお
り、このように最適値に近いスレッショルドＴＨではラ
イトコンペ量ＷＣを変化させてもビットエラーレートが
最小となる位置は分からない。

【００７２】これに対し本発明にあっては、ビットエラ
ーレートを悪化させるスレッショルドＴＨ＝２１％と５
９％についてライトコンペ量ＷＣを変えることで、ビッ
トエラーレートＢＥＲが最小値のピークを持つ特性曲線
１１０，１１２の測定結果を得ており、これによって正
確にビットエラーレートを最小とするライトコンペ量Ｗ
Ｃの最適値を検出することができる。

【００７３】図１１は、図８のステップＳ６における前
置フィルタ７６のカットオフ周波数Ｆｃの最適値検出処
理の詳細を示したフローチャートである。まずステップ
Ｓ１でヘッド番号ＨＨとゾーン番号Ｚｓを設定し、ステ
ップＳ２で、設定した測定ゾーンＺｓの最インナシリン
ダにヘッドを位置決めし、ステップＳ３で低めのビタビ
スレッショルドＴＨ１、例えばＴＨ１＝２１％を設定
し、この状態でステップＳ４に進み、デフォルトのライ
トコンペ量ＷＣ＝７％を設定してライトパターンを書き
込む。

【００７４】次にステップＳ５でカットオフ周波数Ｆｃ
を設定し、テストパターンのリードでビットエラーレー
トＢＥＲを測定する。カットオフ周波数Ｆｃは初期値と
して例えばＦｃ＝２４．６ＭＨｚを設定する。続いてス
テップＳ６でカットオフＦｃは予め定めた最大値４８．
６ＭＨｚに達したか否かチェックする。

【００７５】最大値４８．６ＭＨｚに達していなければ
ステップＳ７で所定値ΔＦｃ、例えばΔＦｃ＝４ＭＨｚ
ずつ増加させながら、ステップＳ５でテストパターンの
リードによりビットエラーレートＢＥＲを測定する。ス
テップＳ６でカットオフ周波数Ｆｃが最大値例えば４
８．６ＭＨｚに達したならば、ステップＳ８でビットエ
ラーレートＢＥＲが最小となるカットオフ周波数Ｆｃ１
を検出する。

【００７６】図１２は、図１１のステップＳ４〜Ｓ８の
測定結果であり、特性曲線１２２が得られ、この場合、
ビットエラーレートＢＥＲが最小となる測定点１３０の
カットオフ周波数Ｆｃは４８．６ＭＨｚであり、したが
ってステップＳ１１のＳ８ではＦｃ１＝４８．６ＭＨｚ
が検出される。

【００７７】次に図１１のステップＳ９で、高めのビタ
ビスレッショルドＴＨ２としてＴＨ２＝５９％を設定
し、ステップＳ１０〜Ｓ１２によりカットオフ周波数Ｆ
ｃを例えば２４．６ＭＨｚから４８．６ＭＨｚの範囲で
ΔＦｃ＝４ＭＨｚずつ増加させながら、テストパターン
のリードでビットエラーレートＢＥＲを測定する。測定
が済んだならば、ステップＳ１３でビットエラーレート
ＢＥＲが最小となるカットオフ周波数Ｆｃ２を検出す
る。

【００７８】このステップＳ９〜Ｓ１２の測定により、
例えば図１２の特性曲線１２４の測定結果が得られ、ビ
ットエラーレートＢＥＲが最小となるのは測定点１３２
であり、この場合のカットオフ周波数Ｆｃは４０．６Ｍ
Ｈｚとなり、したがってステップＳ１３のＦｃ２＝４
０．６ＭＨｚが検出される。

【００７９】次にステップＳ１４で、ステップＳ８で検
出したカットオフ周波数Ｆｃ１とステップＳ１３で検出
したカットオフ周波数Ｆｃ２の平均値を最適カットオフ
周波数として算出する。即ち最適カットオフ周波数Ｆｃ
はＦｃ＝（４８．６＋４０．６）／２＝４４．６ＭＨｚとして検出される。このようなステップＳ２〜Ｓ１４の
処理を、ステップＳ１５，Ｓ１６で全ゾーンについて行
い、またステップＳ１７，Ｓ１８で全ヘッドについて行
い、一連の検出処理を終了する。

【００８０】図１２の特性図にあっては、測定した特性
曲線１２２，１２４の平均値の特性曲線１２６を併せて
示しており、図１１のステップＳ１４の算出結果から与
えられたカットオフ周波数Ｆｃ＝４４．６ＭＨｚでビッ
トエラーレートＢＥＲが最小となっている。

【００８１】またビタビスレッショルドＴＨをデフォル
トの４０％とした場合のカットオフ周波数Ｆｃの変化に
対する特性曲線１２８を併せて示しており、最適値に近
いビタビスレッショルドＴＨ＝４０％ではカットオフ周
波数Ｆｃが３２．６ＭＨｚ〜４８．６ＭＨｚの範囲で１
０^-8以下と一定であり、本発明の測定による特性曲線１
２２，１２４のようなビットエラーレートが最小となる
ピーク部分は見られない。図１３は、図９のステップ
Ｓ７における前置フィルタのブースト量Ｆｂの最適値検
出処理の詳細を示したフローチャートである。この最適
ブースト量検出処理は、基本的には図１３の最適カット
オフ周波数Ｆｃ検出処理と同じようになり、ステップＳ
５〜Ｓ７、ステップＳ１１〜Ｓ１２でブースト量Ｆｂを
０ｄＢから所定の最大値の範囲で所定値ΔＦｂずつ増加
させている点が異なる。

【００８２】この最適ブースト量検出処理において、例
えば図１４の測定結果が得られる。図１４において、特
性曲線１３６は図１３のステップＳ４〜Ｓ８の低めのビ
タビスレッショルドＴＨ＝２１％を設定した場合のブー
スト量Ｆｂの変化に対するビットエラーレートＢＥＲで
あり、測定点１４４がビットエラーレートＢＥＲの最小
値となり、Ｆｂ１として検出される。

【００８３】また特性曲線１３４が図１３のステップＳ
９〜Ｓ１３の高めのビタビスレッショルドＴＨ２＝５９
％を設定してブースト量Ｆｂを変えたときのビットエラ
ーレートＢＥＲであり、測定点１４２でビットエラーレ
ートＢＥＲが最小となり、このときのブースト量がＦｂ
２として検出される。そして最適ブースト量ＦｂはＦｂ＝（Ｆｂ１＋Ｆｂ２）／２＝６．２ｄＢとして算出される。

【００８４】図１４の特性図にあっては、測定により得
られた特性曲線１３６と１３４の平均値の特性曲線１３
８を併せて示しており、Ｆｂ＝６．２ｄＢでビットエラ
ーレートＢＥＲの最小値が得られる。

【００８５】またビタビスレッショルドＴＨ＝４０％の
デフォルト値を設定した場合のブースト量Ｆｂに対する
ビットエラーレートＢＥＲの特性曲線１４０を併せて示
しており、この場合にはＦｂ＝０ｄＢ以外の測定点でビ
ットエラーレートＢＥＲが全て同じ１０^-8以下にあり、
ブースト量Ｆｂの最適値が見つけられないことが分か
る。

【００８６】図１５は、図８のステップＳ８のビタビス
レッショルド調整処理における最適スレッショルド検出
処理のフローチャートである。この最適スレッショルド
検出処理にあっては、それまでに検出されたライトコン
ペ量ＷＣ、カットオフ周波数Ｆｃ及びブースト量Ｆｂの
最適値を、ハードディスクドライブのリードチャネルユ
ニットに設定した状態で、ステップＳ２でテストパター
ンを書き込み、ステップＳ３でビタビスレッショルドの
初期値（最小値）ＴＨとして例えばＴＨ＝０％を設定
し、ステップＳ４でテストパターンをリードし、エラー
レートを測定して保存する。

【００８７】続いてステップＳ５でスレッショルドの設
定値が最大値か否かチェックし、例えば最大値として設
定した８８％に達するまで、ステップＳ６でスレッショ
ルドＴＨを最小値２．４％からΔＴＨ＝４．８％ずつ増
加させながら測定する。そして、ステップＳ７で規定エ
ラーレート例えば１０^-7以下の中央値を最適値に決定す
る。

【００８８】図１６は、図１５の最適スレッショルド検
出処理による測定結果であり、特性曲線１４６が得られ
ている。この特性曲線１４６について、例えばビットエ
ラーレートＢＥＲ＝１０^-7以下について３つの測定点が
得られていることから、その中央の測定点１４８のビタ
ビスレッショルドＴＨを最適値として検出する。

【００８９】図１７は、図３のリードチャネルユニット
４８の他の実施形態であり、この実施形態にあっては、
拡張パーシャルレスポンス・クラス４最尤検出、即ちＥ
ＰＲ４ＭＬを適用した場合である。

【００９０】このＥＰＲ４ＭＬの書込・読出系にあって
は、書込系は図４のＰＲ４ＭＬのリードチャネルユニッ
トと同じであるが、再生系についてはＡＧＣアンプ７４
に続いて設けた前置フィルタ１６０が（１＋Ｄ）²の波
形等化を行っており、またＥＰＲ４ビタビ検出器１６２
は振幅データの５点のレベル［−２，−１，０，１，
２］を判定して最尤検出を行っている。このためＥＰＲ
４ビタビ検出器１６２のスレッショルドＴＨとしては、
振幅レベル±１と±２を判定する２種のスレッショルド
が設定される。それ以外の点は図４のＰＲ４ＭＬのリー
ドチャネルユニット４８と同じである。

【００９１】この図１７のＥＰＲ４ＭＬ対応のリードチ
ャネルユニット４８にあっても、同様にして、ＥＰＲ４
ビタビ検出器１６２に対するスレッショルドＴＨをエラ
ーレートを悪化させる低い値と高い値に設定した状態
で、調整パラメータとしてのライトコンペ量ＷＣ、カッ
トオフ周波数Ｆｃ、及びブースト量Ｆｂの各々を変えな
がらビットエラーレートを測定し、ビットエラーレート
が最小となる検出値の平均値として最適値を検出する。

【００９２】尚、上記の実施形態では、エラーレートを
悪化させる低い方のビタビスレッショルドを２１％に設
定した場合を例にとるが、３０％以下の任意の値として
よい。またエラーレートを悪化させる高い方のビタビス
レッショルドを５９％に設定した場合を例にとるが、５
０％以上の任意の値としてよい。

【００９３】また簡易型の最適パラメータ検出しては、
ビタビスレッショルドを３０％以下の値、又は５０％以
上の値に設定し、この状態でエラーレートが最小となる
位相進み補償量、カットオフ周波数、ブースト等のパラ
メータ設定値を最適値として検出してもよい。

【００９４】また、上記の実施形態は、パーシャルレス
ポンスの変換多項式Ｈ（Ｄ）＝（１−Ｄ）（１＋Ｄ）^m について、ｍ＝１，２となるパーシャルレスポンスの最
尤検出を例にとっているが、これ以外のｍ＝３，４，・
・・についても全く同様に適用できる。

【００９５】また上記の実施形態はパーシャルレスポン
スの波形透過にカットオフ周波数とブースト量を調整可
能な前置フィルタ（アクティブフィテルタ）を使用して
いるが、波形透過を時間軸で行う有限インパルス応答フ
ィタル（ＦＩＲフィルタ）を使用してもよい。ＦＩＲフ
ィルタを使用した場合の調整パラメータはタップ係数と
なる。

【００９６】また本発明は、その目的と利点を損なわな
い範囲の変形を含む。更に本発明は、実施形態に示した
数値による限定は受けない。

【００９７】

【発明の効果】以上説明してきたように本発明によれ
ば、ビタビ検出器のスレッショルドを予めエラーレート
が悪くなる程度までずらすことによって、書込再生系で
使用するライトコンペ量、カットオフ周波数及びブース
ト量について、最もエラーレートの良好な最適値に絞り
込むことができ、正確なＲ／Ｗパラメータの最適値を検
出してハードディスクドライブに設定し、ハードディス
クドライブの信頼性と性能向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図

【図２】本発明が適用される調整設備の機能ブロック図

【図３】本発明によりパラメータが調整されるハードデ
ィスクドライブのブロック図

【図４】図３のリードチャネルユニットのブロック図

【図５】図３の書込補償回路におけるライトコンペ量の
説明図

【図６】図３の前置フィルタにおけるカットオフ周波数
Ｆｃとブースト量Ｆｂの説明図

【図７】図３のビタビ検出におけるスレッショルドの説
明図

【図８】図２の調整設備によるＲ／Ｗパラメータ調整処
理のフローチャート

【図９】図８の最適ライトコンペ量検出処理のフローチ
ャート

【図１０】図９でライトコンペ量を変化させたときのビ
ットエラーレートの測定結果の特性図

【図１１】図９の最適カットオフ周波数検出処理のフロ
ーチャート

【図１２】図１１でカットオフ周波数を変化させたとき
のビットエラーレートの測定結果の特性図

【図１３】図９の最適ブースト量検出処理のフローチャ
ート

【図１４】図１３でブースト量を変化させたときのビッ
トエラーレートの測定結果の特性図

【図１５】ビットエラーレートを測定する図９の最適ス
レッショルド検出処理のフローチャート

【図１６】図１５でスレッショルドを変化させたときの
ビットエラーレートの測定結果の特性図

【図１７】ＥＰＲ４最尤検出を適用した図２のリードチ
ャネルユニットのブロック図

【図１８】従来の最適値検出のために測定したライトコ
ンペ量に対するビタビ検出器のレベルマージンの特性図

【図１９】従来の最適値検出のために測定したカットオ
フ周波数に対するビタビ検出器のレベルマージンの特性
図

【図２０】従来の最適値検出のために測定したブースト
量に対するビタビ検出器のレベルマージンの特性図

【符号の説明】

１０：調整設備１２：ハードディスクドライブ１４：調整用コントローラ１５：ライトコンペ量調整部１６：カットオフ周波数調整部１８：ブースト量調整部２０：：スレッショルド調整部２２：デフォルトパラメータテーブル２４：調整用パラメータテーブル２６：インタフェース２８：バス３０：ディスクエンクロージャ３２：コントロールボード３４：ヘッドＩＣ３６−１〜３６−４：ヘッドアッセンブリィ３８−１〜３８−４：記録ヘッド（インダクティブヘッ
ド）４０−１〜４０−４：再生ヘッド（ＭＲヘッド）４１：ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）４２：スピンドルモータ（ＳＰＭ）４４：メインコントロールユニット（ＭＣＵ）４６：ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）４６−１：フォーマッタ４６−２：ＥＣＣ回路４８：リードチャネルユニット（ＲＤＣ）５０：ＰＬＬ５２：サーボ復調回路５４：サーボコントローラ５６：インタフェース回路５８：ＤＲＡＭ６０：フラッシュＲＯＭ６２：スクランブラ６４：並直変換器６６：ＲＬＬエンコーダ６８：プリエンコーダ７０：書込補償回路７２：分周器７４：ＡＧＣアンプ７６，１６０：前置フィルタ７８：ＡＤコンバータ８０：ＰＲ４ビタビ検出器８２：プリデコーダ８４：ＲＬＬデコーダ８６：直並変換器８８：デ・スクランブラ１６２：ＥＰＲ４ビタビ検出器

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】媒体に対する情報の記録系と再生系で使用
するパラメータの最適値を検出する記憶装置の最適パラ
メータ検出方法に於いて、前記再生系に設けたビタビ検出器のスレッショルドを第
１の値に設定した状態で、前記パラメータの設定値を変
えながらライトとリードを行ってエラーレートが最小と
なる第１パラメータ調整値を検出し、前記再生系に設けたビタビ検出器のスレッショルドを第
２の値に設定した状態で、前記パラメータの設定値を変
えながらライトとリードを行ってエラーレートが最小と
なる第２パラメータ調整値を検出し、前記第１及び第２パラメータ調整値の平均値をパラメー
タ最適値として検出することを特徴とする記憶装置の最
適パラメータ検出方法。
【請求項２】請求項１記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、前記パラメータは、前記書込系に設
けた書込補償回路の位相進み補償量であることを特徴と
する記憶装置の最適パラメータ検出方法。
【請求項３】請求項１記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、前記パラメータは、前記再生系に設
けたパーシャルレスポンス最尤検出の波形等化を行う前
置フィルタのカットオフ周波数Ｆｃであることを特徴と
する記憶装置の最適パラメータ検出方法。
【請求項４】請求項１記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、前記パラメータは、前記再生系に設
けたパーシャルレスポンス最尤検出の波形等化を行う前
置フィルタのブースト量Ｆｂであることを特徴とする記
憶装置の最適パラメータ検出方法。
【請求項５】請求項１記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、前記ビタビスレッショルド及び調整
パラメータ以外については、所定のデフォルトパラメー
タを使用することを特徴とする記憶装置のパラメータ最
適値調整方法。
【請求項６】請求項３記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、前記書込補償回路の位相進み補償量
を調整対象とした場合、前記前置フィルタのカットオフ
周波数及びブースト量については、所定のデフォルトパ
ラメータを使用することを特徴とする記憶装置の最適パ
ラメータ検出方法。
【請求項７】請求項４記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、前記前置フィルタのカットオフ周波
数を調整対象とした場合、前記書込補償回路の位相進み
補償量及び前置フィルタのブースト量については、所定
のデフォルトパラメータを使用することを特徴とする記
憶装置の最適パラメータ検出方法。
【請求項８】請求項５記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、前記前置フィルタのブースト量を調
整対象とした場合、前記書込補償回路の位相進み補償量
及び前置フィルタのカットオフ周波数については、所定
のデフォルトパラメータを使用することを特徴とする記
憶装置の最適パラメータ検出方法。
【請求項９】請求項１記載の記憶装置の最適パラメータ
検出方法に於いて、更に、検出されたパラメータの最適
値を前記書込系及び再生系に設定した状態で、前記ビタ
ビ検出器のスレッショルドを変えながらライトとリード
を行い、エラーレートが最小となるスレッショルドを最
適値として検出することを特徴とする最適パラメータ検
出方法。
【請求項１０】請求項１記載の記憶装置の最適パラメー
タ検出方法に於いて、前記パラメータ最適値を媒体のゾ
ーン単位及びヘッド単位に検出することを特徴とする最
適パラメータ検出方法。
【請求項１１】媒体に対し情報の記録系と再生系で使用
するパラメータを最適値に調整する記憶装置の最適パラ
メータ検出方法に於いて、前記再生系に設けたビタビ検出器のスレッショルドを３
０％以下の値に設定した状態で、前記パラメータの設定
値を変えながらライトとリードを行って、エラーレート
が最小となるパラメータ設定値をパラメータ最適値とし
て検出することを特徴とする記憶装置の最適パラメータ
検出方法。
【請求項１２】媒体に対し情報の記録系と再生系で使用
するパラメータを最適値に調整する記憶装置の最適パラ
メータ検出方法に於いて、前記再生系に設けたビタビ検出器のスレッショルドを５
０％以上の値に設定した状態で、前記パラメータの設定
値を変えながらライトとリードを行って、エラーレート
が最小となるパラメータ設定値をパラメータ最適値とし
て検出することを特徴とする記憶装置の最適パラメータ
検出方法。