JP3046403B2 - 光ディスクの記録方式 - Google Patents
光ディスクの記録方式Info
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- JP3046403B2 JP3046403B2 JP3174746A JP17474691A JP3046403B2 JP 3046403 B2 JP3046403 B2 JP 3046403B2 JP 3174746 A JP3174746 A JP 3174746A JP 17474691 A JP17474691 A JP 17474691A JP 3046403 B2 JP3046403 B2 JP 3046403B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光磁気ディスク，相変化
型光ディスク，追記型光ディスク等の光ディスクへの記
録方式に関するものである。
型光ディスク，追記型光ディスク等の光ディスクへの記
録方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光磁気ディスクや相変化型光ディスクな
どの光ディスクでは、通常ディジタル記録が用いられる
が、単純なＰＣＭ信号を変換して光ディスク記録に一層
適した信号とするために、（１，７）ＲＬＬ変調，
（２，７）ＲＬＬ変調，ＮＲＺＩ変調など、種々の変調
方式のうちから最も目的に合った変調が施された信号が
用いられる。このようにして作られた、“０”と“１”
からなる符号列を記録する方法として、ピット・ポジシ
ョン記録方式（マーク間記録方式）とピット・エッジ記
録方式（マーク長記録方式）とがある。記録密度を上げ
るためにはピット・エッジ記録方式の方が有利である。
以下、主として光磁気ディスクについて説明するが、相
変化型光ディスク等についてもほぼ同様である。
どの光ディスクでは、通常ディジタル記録が用いられる
が、単純なＰＣＭ信号を変換して光ディスク記録に一層
適した信号とするために、（１，７）ＲＬＬ変調，
（２，７）ＲＬＬ変調，ＮＲＺＩ変調など、種々の変調
方式のうちから最も目的に合った変調が施された信号が
用いられる。このようにして作られた、“０”と“１”
からなる符号列を記録する方法として、ピット・ポジシ
ョン記録方式（マーク間記録方式）とピット・エッジ記
録方式（マーク長記録方式）とがある。記録密度を上げ
るためにはピット・エッジ記録方式の方が有利である。
以下、主として光磁気ディスクについて説明するが、相
変化型光ディスク等についてもほぼ同様である。
【０００３】図７はピット・エッジ記録方式の説明用波
形図である。（ｉ）は音声信号や映像信号をＰＣＭ変調
して得られたデータ語でＴはビット間隔、（ｍ）は系列
（ｉ）のデータ語から（１，７）ＲＬＬ変調により得ら
れた符号語の波形列で、矢印は符号語のくぎりを示す。
弁別窓幅Ｔｗ＝２Ｔ／３，最小磁化反転間隔Ｔｍｉｎ＝
４Ｔ／３，最大磁化反転間隔Ｔｍａｘ＝１６Ｔ／３であ
る。（ｎ）は（ｍ）信号を光磁気ディスクのトラック上
にピット・エッジ記録したもので、このマークの両端を
検出して原信号を検出する。（ｊ）は光磁気ディスクか
らの（ｎ）信号の再生波形である。ピット・エッジ記録
方式では、記録マークの前縁および後縁が検出すべきパ
ルスの位置となるので、適当なスライスレベルＳＬで
（ｊ）の波形をスライスすればよいが、具体的には再生
信号を適当なしきい値と比較して２値化することにより
元の記録波形を得ることができる。
形図である。（ｉ）は音声信号や映像信号をＰＣＭ変調
して得られたデータ語でＴはビット間隔、（ｍ）は系列
（ｉ）のデータ語から（１，７）ＲＬＬ変調により得ら
れた符号語の波形列で、矢印は符号語のくぎりを示す。
弁別窓幅Ｔｗ＝２Ｔ／３，最小磁化反転間隔Ｔｍｉｎ＝
４Ｔ／３，最大磁化反転間隔Ｔｍａｘ＝１６Ｔ／３であ
る。（ｎ）は（ｍ）信号を光磁気ディスクのトラック上
にピット・エッジ記録したもので、このマークの両端を
検出して原信号を検出する。（ｊ）は光磁気ディスクか
らの（ｎ）信号の再生波形である。ピット・エッジ記録
方式では、記録マークの前縁および後縁が検出すべきパ
ルスの位置となるので、適当なスライスレベルＳＬで
（ｊ）の波形をスライスすればよいが、具体的には再生
信号を適当なしきい値と比較して２値化することにより
元の記録波形を得ることができる。
【０００４】光磁気ディスクにレーザビームで記録する
場合、記録媒体感度，記録媒体温度，レーザダイオード
の温度，フォーカス偏差，ヘッドのスポット径のばらつ
き、および変化などにより記録パワーが最適値からずれ
ることが実用状態でしばしば発生する。そのため記録マ
ーク形状が正規の形状からずれてしまう。
場合、記録媒体感度，記録媒体温度，レーザダイオード
の温度，フォーカス偏差，ヘッドのスポット径のばらつ
き、および変化などにより記録パワーが最適値からずれ
ることが実用状態でしばしば発生する。そのため記録マ
ーク形状が正規の形状からずれてしまう。
【０００５】図８は（１，７）ＲＬＬ変調符号をピット
・エッジ記録した場合のアイパターンの一例である。記
録時のマーク長が短くなるほど振幅が小さくなるのは当
然としても、マーク長の変動に対して、アイの開口中心
レベルも上下に変動している。このために、再生時に再
生信号（ｊ）を固定したスライスレベルＳＬでスライス
して原信号を復元すると、パルスのデューティ比が変動
することになり、従ってデータ・エラーを発生する。
・エッジ記録した場合のアイパターンの一例である。記
録時のマーク長が短くなるほど振幅が小さくなるのは当
然としても、マーク長の変動に対して、アイの開口中心
レベルも上下に変動している。このために、再生時に再
生信号（ｊ）を固定したスライスレベルＳＬでスライス
して原信号を復元すると、パルスのデューティ比が変動
することになり、従ってデータ・エラーを発生する。
【０００６】光磁気ディスクでは、従来、最適記録パワ
ーを求めるために、記録した信号の第２高調波レベルが
最小になるように記録パワーを最適化する方法が用いら
れている。この方法は通常、シンメトリチェックと称さ
れているが、その手順を以下に示す。 １） 光ディスクのメンテナンス用に設けられた特別な
領域またはデータを記録する領域に、シンメトリチェッ
ク用の特別なテストパターン（ディーティ比が５０％の
パルスパターン）を記録する。 ２） 記録した領域を再生し、再生信号の第２高調波レ
ベルを測定する。 ３） 測定された第２高調波レベルが小さくなるよう
に、記録パワーを調整し、前回記録した領域を消去した
後、再度同一の領域に前記テストパターンを記録する。 ４） ２）および３）の処理を繰り返し行い、第２高調
波レベルが最小になるように記録パワーを最適化する。
ーを求めるために、記録した信号の第２高調波レベルが
最小になるように記録パワーを最適化する方法が用いら
れている。この方法は通常、シンメトリチェックと称さ
れているが、その手順を以下に示す。 １） 光ディスクのメンテナンス用に設けられた特別な
領域またはデータを記録する領域に、シンメトリチェッ
ク用の特別なテストパターン（ディーティ比が５０％の
パルスパターン）を記録する。 ２） 記録した領域を再生し、再生信号の第２高調波レ
ベルを測定する。 ３） 測定された第２高調波レベルが小さくなるよう
に、記録パワーを調整し、前回記録した領域を消去した
後、再度同一の領域に前記テストパターンを記録する。 ４） ２）および３）の処理を繰り返し行い、第２高調
波レベルが最小になるように記録パワーを最適化する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】１） 従来方式では再
生信号の第２高調波レベルを測定しており、図６に示す
ように記録パワーに対して第２高調波レベルが２次曲線
的に変化するため、最適記録パワーすなわち第２高調波
レベルが最小になる点を求めることが難しい。 ２） 従来方式では最適記録パワーの測定にデューティ
比５０％のパルスという特別なパターンを使用している
ため、実際の記録データを用いて、最適記録パワーの確
認を行なうことが不可能である。従来方式でも該当する
領域にテスト記録を行い、その結果を用いてデータの記
録を行なう方法が考えられるが、記録に要する時間が大
幅に増加すること、あくまでもテスト記録であり、実際
に記録されるデータは新たに再記録しなければならない
ため、最終的な確認が不可能なことなどが従来方式を用
いた場合の欠点として挙げられる。 ３） 従来、光磁気ディスクを用いたシステムではデー
タの記録を行なった後、記録したデータが正しく記録さ
れたかどうかの確認を行なっている。このとき、記録さ
れたデータにエラーがないこと、またはデータに付加さ
れている誤り訂正符号の訂正状況から、データが正しく
記録されたかどうか判断していた。しかし、この情報だ
けから、記録のマージンを測定し、これに従った記録パ
ワーの最適化を行なうことは不可能である。
生信号の第２高調波レベルを測定しており、図６に示す
ように記録パワーに対して第２高調波レベルが２次曲線
的に変化するため、最適記録パワーすなわち第２高調波
レベルが最小になる点を求めることが難しい。 ２） 従来方式では最適記録パワーの測定にデューティ
比５０％のパルスという特別なパターンを使用している
ため、実際の記録データを用いて、最適記録パワーの確
認を行なうことが不可能である。従来方式でも該当する
領域にテスト記録を行い、その結果を用いてデータの記
録を行なう方法が考えられるが、記録に要する時間が大
幅に増加すること、あくまでもテスト記録であり、実際
に記録されるデータは新たに再記録しなければならない
ため、最終的な確認が不可能なことなどが従来方式を用
いた場合の欠点として挙げられる。 ３） 従来、光磁気ディスクを用いたシステムではデー
タの記録を行なった後、記録したデータが正しく記録さ
れたかどうかの確認を行なっている。このとき、記録さ
れたデータにエラーがないこと、またはデータに付加さ
れている誤り訂正符号の訂正状況から、データが正しく
記録されたかどうか判断していた。しかし、この情報だ
けから、記録のマージンを測定し、これに従った記録パ
ワーの最適化を行なうことは不可能である。
【０００８】本発明の目的は、通常の記録および再生状
態でこれを可能とし、記録条件の最適化を行い、最適記
録パワーの大幅なずれが発生しないシステムを構築する
ことができる光ディスクの記録方式を提供することにあ
る。
態でこれを可能とし、記録条件の最適化を行い、最適記
録パワーの大幅なずれが発生しないシステムを構築する
ことができる光ディスクの記録方式を提供することにあ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明による光ディスクの記録方式は、記録パワー
がずれて記録された信号に対して、データを再生すると
きに、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジのタイミン
グが正規の位置から前後にずれるので、立ち上がりエッ
ジのタイミングの平均値と立ち下がりエッジのタイミン
グの平均値とを取り出し、それらの差信号から得たエッ
ジのずれ量の平均値から検出した記録パワーずれの情報
を記録過程にフィードバックし、前記の各タイミングの
平均値の差が０になるように制御することを特徴として
いる。即ち、本発明による光ディスクの記録方式は、光
ディスクと、該光ディスクに記録されたディジタル信号
を再生して光ディスク再生信号として取り出す再生手段
と、該光ディスク再生信号をスライスレベルと比較して
二値化出力を得るコンパレータと、該コンパレータから
得られる二値化出力のマーク長の立ち上がりエッジと立
ち下がりエッジとを検出したエッジ信号を取り出すエッ
ジ検出回路と、該エッジ信号から再生クロックを再生し
該再生クロックと前記エッジ信号の立ち上がりエッジと
立ち下がりエッジとの位相差を検知したポンプアップ信
号とポンプダウン信号とを取り出すＰＬＬ回路と、 前
記二値化出力と前記ポンプアップ信号と前記ポンプダウ
ン信号とから立ち上がりエッジタイミングの平均値に比
例する第一の電圧を取り出す立ち上がりタイミング平均
化回路と、前記二値化出力と前記ポンプアップ信号と前
記ポンプダウン信号とから立ち下がりエッジタイミング
の平均値に比例する第二の電圧を取り出す立ち下がりタ
イミング平均化回路と、前記第一の電圧と前記第二の電
圧との差分に比例しかつ前記光ディスクへの前記ディジ
タル信号の記録パワーに比例する差分電圧を取り出す差
信号発生回路と、前記光ディスクに記録用レーザビーム
を照射するレーザダイオードと、該レーザダイオードを
駆動するレーザダイオードドライバと、記録データによ
る変調出力を前記レーザダイオードドライバに加えて前
記記録用レーザビームを制御する変調回路と、前記差信
号発生回路からの前記差分電圧に対応する制御量を前記
前記レーザダイオードドライバに加えて、前記差分電圧
と前記記録パワーとの比例関係を利用して、該差分電圧
が零に近づくように制御するコントローラとを備 えた構
成を有する。
に、本発明による光ディスクの記録方式は、記録パワー
がずれて記録された信号に対して、データを再生すると
きに、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジのタイミン
グが正規の位置から前後にずれるので、立ち上がりエッ
ジのタイミングの平均値と立ち下がりエッジのタイミン
グの平均値とを取り出し、それらの差信号から得たエッ
ジのずれ量の平均値から検出した記録パワーずれの情報
を記録過程にフィードバックし、前記の各タイミングの
平均値の差が０になるように制御することを特徴として
いる。即ち、本発明による光ディスクの記録方式は、光
ディスクと、該光ディスクに記録されたディジタル信号
を再生して光ディスク再生信号として取り出す再生手段
と、該光ディスク再生信号をスライスレベルと比較して
二値化出力を得るコンパレータと、該コンパレータから
得られる二値化出力のマーク長の立ち上がりエッジと立
ち下がりエッジとを検出したエッジ信号を取り出すエッ
ジ検出回路と、該エッジ信号から再生クロックを再生し
該再生クロックと前記エッジ信号の立ち上がりエッジと
立ち下がりエッジとの位相差を検知したポンプアップ信
号とポンプダウン信号とを取り出すＰＬＬ回路と、 前
記二値化出力と前記ポンプアップ信号と前記ポンプダウ
ン信号とから立ち上がりエッジタイミングの平均値に比
例する第一の電圧を取り出す立ち上がりタイミング平均
化回路と、前記二値化出力と前記ポンプアップ信号と前
記ポンプダウン信号とから立ち下がりエッジタイミング
の平均値に比例する第二の電圧を取り出す立ち下がりタ
イミング平均化回路と、前記第一の電圧と前記第二の電
圧との差分に比例しかつ前記光ディスクへの前記ディジ
タル信号の記録パワーに比例する差分電圧を取り出す差
信号発生回路と、前記光ディスクに記録用レーザビーム
を照射するレーザダイオードと、該レーザダイオードを
駆動するレーザダイオードドライバと、記録データによ
る変調出力を前記レーザダイオードドライバに加えて前
記記録用レーザビームを制御する変調回路と、前記差信
号発生回路からの前記差分電圧に対応する制御量を前記
前記レーザダイオードドライバに加えて、前記差分電圧
と前記記録パワーとの比例関係を利用して、該差分電圧
が零に近づくように制御するコントローラとを備 えた構
成を有する。
【００１０】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の実施例のブロック図である。光磁気
ディスク２からフォトダイオード３により再生された信
号はプリアンプ４，ノイズ除去用のＬＰＦ５，ＡＧＣ回
路６および波形等化回路７を経てコンパレータ１０の入
力８に加えられる。コンパレータ１０のもう一方の入力
９には、入力信号波形の振幅の中心値検出回路（図示さ
れていない）の出力または固定レベルを入力する。コン
パレータ１０で２値化された信号は、微分回路によるエ
ッジ検出回路１１で立ち上がりエッジおよび立ち下がり
エッジが検出される。このエッジ信号は位相比較器１
３，チャージポンプ１４，ＶＣＯ１５からなるクロック
再生用ＰＬＬ回路１２の位相比較器１３に入力され、再
生クロックとの位相差が検出される。この位相差出力が
ポンプ・アップ信号（ｂ）及びポンプ・ダウン信号
（ｃ）である。このポンプ・アップ信号（ｂ）及びポン
プ・ダウン信号（ｃ）と前述の２値化信号を用いて、立
ち上がりエッジタイミング平均化回路１６および立ち下
がりエッジタイミング平均化回路１７で各エッジの基準
に対する進みまたは遅れ量が検出される。
る。図１は本発明の実施例のブロック図である。光磁気
ディスク２からフォトダイオード３により再生された信
号はプリアンプ４，ノイズ除去用のＬＰＦ５，ＡＧＣ回
路６および波形等化回路７を経てコンパレータ１０の入
力８に加えられる。コンパレータ１０のもう一方の入力
９には、入力信号波形の振幅の中心値検出回路（図示さ
れていない）の出力または固定レベルを入力する。コン
パレータ１０で２値化された信号は、微分回路によるエ
ッジ検出回路１１で立ち上がりエッジおよび立ち下がり
エッジが検出される。このエッジ信号は位相比較器１
３，チャージポンプ１４，ＶＣＯ１５からなるクロック
再生用ＰＬＬ回路１２の位相比較器１３に入力され、再
生クロックとの位相差が検出される。この位相差出力が
ポンプ・アップ信号（ｂ）及びポンプ・ダウン信号
（ｃ）である。このポンプ・アップ信号（ｂ）及びポン
プ・ダウン信号（ｃ）と前述の２値化信号を用いて、立
ち上がりエッジタイミング平均化回路１６および立ち下
がりエッジタイミング平均化回路１７で各エッジの基準
に対する進みまたは遅れ量が検出される。
【００１１】図２はエッジ平均化回路の一例で、図３は
その各部の波形の例を示す。位相比較器１３より出力さ
れるポンプ・アップ信号（ｂ）およびポンプ・ダウン信
号（ｃ）は入力信号を２値化したコンパレータ１０の出
力信号から生成される立ち上がりエッジ（または立ち下
がりエッジ）のゲート信号（ａ）により選択されて信号
（ｅ），信号（ｆ）となり、さらに再生信号ゲート信号
（ｄ）（図１では図示省略）により、再生信号期間のゲ
ートが施され波形（ｇ）および（ｈ）を得る。これらの
ゲート処理を施された信号（ｇ）,(ｈ）は、図２に示す
ダイオード及び抵抗，コンデンサにより平均化が行わ
れ、平均化出力（ｉ）を得る。
その各部の波形の例を示す。位相比較器１３より出力さ
れるポンプ・アップ信号（ｂ）およびポンプ・ダウン信
号（ｃ）は入力信号を２値化したコンパレータ１０の出
力信号から生成される立ち上がりエッジ（または立ち下
がりエッジ）のゲート信号（ａ）により選択されて信号
（ｅ），信号（ｆ）となり、さらに再生信号ゲート信号
（ｄ）（図１では図示省略）により、再生信号期間のゲ
ートが施され波形（ｇ）および（ｈ）を得る。これらの
ゲート処理を施された信号（ｇ）,(ｈ）は、図２に示す
ダイオード及び抵抗，コンデンサにより平均化が行わ
れ、平均化出力（ｉ）を得る。
【００１２】更に、立ち上がりエッジタイミング平均化
回路１６と立ち下がりエッジタイミング平均化回路１７
の各出力Ａ，Ｂの差分の電圧Ａ−Ｂが差信号発生回路１
８で生成されるが、この差信号が光ディスク上の記録マ
ークの形状の正規形状からのずれ即ち記録マークのエッ
ジのずれを示すものである。
回路１６と立ち下がりエッジタイミング平均化回路１７
の各出力Ａ，Ｂの差分の電圧Ａ−Ｂが差信号発生回路１
８で生成されるが、この差信号が光ディスク上の記録マ
ークの形状の正規形状からのずれ即ち記録マークのエッ
ジのずれを示すものである。
【００１３】本発明におけるコンパレータ１０から差信
号発生回路１８に至るまでの回路部分は、光ディスク上
の記録マークのエッジのずれに従ってその原因である記
録パワーの適正値からのずれを測定する測定器と考えら
れる。このように、本発明は前記差信号発生回路１８の
出力から記録パワーのずれ量に比例または記録パワーの
ずれ量とある一定の関係にあるエッジシフト量が零に近
づくように記録時のレーザ出力を調整する装置を実現す
るものである。
号発生回路１８に至るまでの回路部分は、光ディスク上
の記録マークのエッジのずれに従ってその原因である記
録パワーの適正値からのずれを測定する測定器と考えら
れる。このように、本発明は前記差信号発生回路１８の
出力から記録パワーのずれ量に比例または記録パワーの
ずれ量とある一定の関係にあるエッジシフト量が零に近
づくように記録時のレーザ出力を調整する装置を実現す
るものである。
【００１４】記録パワーの調整の手順を図１により説明
する。 １） 任意の記録パワーをレーザダイオード（ＬＤ）１
の駆動用レーザダイオードドライバ２２にセットした
後、光ディスク２のメンテナンス用に設けられた特別な
領域またはデータを記録する領域に、テストデータまた
は実際の記録データを変調回路２３により（１，７）Ｒ
ＬＬ変調等の変調を施して記録する。 ２） 記録した領域を再生し、前記エッジシフト量（差
信号Ａ−Ｂ）を測定する。このときエッジシフト量はＡ
／Ｄコンバータ１９を介してコントローラ２０に取り込
まれる。 ３） 測定されたエッジシフト量の偏差に応じて、記録
パワーを調整し、再度同一の領域に消去，記録を行な
う。この場合に、記録パワーはコントローラ２０よりＤ
／Ａコンバータ２１を介して、レーザダイオードドライ
バ２２の駆動電流を制御して、レーザダイオード１の出
力を制御することにより、調整される。 ４） ２）および３）の処理を繰り返し行い、記録パワ
ーを最適化する。最適記録条件は先に示したとおり、エ
ッジシフト量、すなわち差信号が０になるところであ
る。図４はこの手順をフローチャートにより示したもの
である。本発明の方式では図５に示すように記録パワー
に対して検出出力がほぼ比例して得られるため、最適記
録パワーすなわちエッジシフト量が０になる点を求める
ことが容易であり、求められた最適記録パワーの精度も
良い。
する。 １） 任意の記録パワーをレーザダイオード（ＬＤ）１
の駆動用レーザダイオードドライバ２２にセットした
後、光ディスク２のメンテナンス用に設けられた特別な
領域またはデータを記録する領域に、テストデータまた
は実際の記録データを変調回路２３により（１，７）Ｒ
ＬＬ変調等の変調を施して記録する。 ２） 記録した領域を再生し、前記エッジシフト量（差
信号Ａ−Ｂ）を測定する。このときエッジシフト量はＡ
／Ｄコンバータ１９を介してコントローラ２０に取り込
まれる。 ３） 測定されたエッジシフト量の偏差に応じて、記録
パワーを調整し、再度同一の領域に消去，記録を行な
う。この場合に、記録パワーはコントローラ２０よりＤ
／Ａコンバータ２１を介して、レーザダイオードドライ
バ２２の駆動電流を制御して、レーザダイオード１の出
力を制御することにより、調整される。 ４） ２）および３）の処理を繰り返し行い、記録パワ
ーを最適化する。最適記録条件は先に示したとおり、エ
ッジシフト量、すなわち差信号が０になるところであ
る。図４はこの手順をフローチャートにより示したもの
である。本発明の方式では図５に示すように記録パワー
に対して検出出力がほぼ比例して得られるため、最適記
録パワーすなわちエッジシフト量が０になる点を求める
ことが容易であり、求められた最適記録パワーの精度も
良い。
【００１５】
【発明の効果】１） 従来方式では再生信号の第２高調
波レベルを測定しており、図６で説明したように記録パ
ワーに対して第２高調波レベルが２次曲線的に変化する
ため、最適記録パワーすなわち第２高調波レベルが最小
になる点を求めることが難しい。これに対して、本発明
の方式では図５に示すように記録パワーに対して検出出
力がほぼ比例して得られるため、最適記録パワーすなわ
ちエッジシフト量が０になる点を求めることが容易であ
り、求められた最適記録パワーの精度も良い。 ２） 従来方式では最適記録パワーの測定にデューティ
比５０％の特別なパルスパターンを使用しているため、
実際の記録データを用いて、最適記録パワーの確認を行
なうことが不可能であるが、本方式では、記録データの
確認の際に、エッジシフト量を用いて記録条件が良好か
どうか判断し、再度記録を行なうことが可能である。 ３） また、本方式では、記録パワーが最適記録パワー
より少しずれて、再生時のデータエラーに対するマージ
ンが減少している場合でも、その検出が可能であり、実
際のデータの記録を行いながら、記録条件の最適化が可
能である。通常の記録および再生状態でこれらが可能に
なるため、記録条件の最適化を行い、最適記録パワーの
大幅なずれが発生しないシステムを構築することができ
る。
波レベルを測定しており、図６で説明したように記録パ
ワーに対して第２高調波レベルが２次曲線的に変化する
ため、最適記録パワーすなわち第２高調波レベルが最小
になる点を求めることが難しい。これに対して、本発明
の方式では図５に示すように記録パワーに対して検出出
力がほぼ比例して得られるため、最適記録パワーすなわ
ちエッジシフト量が０になる点を求めることが容易であ
り、求められた最適記録パワーの精度も良い。 ２） 従来方式では最適記録パワーの測定にデューティ
比５０％の特別なパルスパターンを使用しているため、
実際の記録データを用いて、最適記録パワーの確認を行
なうことが不可能であるが、本方式では、記録データの
確認の際に、エッジシフト量を用いて記録条件が良好か
どうか判断し、再度記録を行なうことが可能である。 ３） また、本方式では、記録パワーが最適記録パワー
より少しずれて、再生時のデータエラーに対するマージ
ンが減少している場合でも、その検出が可能であり、実
際のデータの記録を行いながら、記録条件の最適化が可
能である。通常の記録および再生状態でこれらが可能に
なるため、記録条件の最適化を行い、最適記録パワーの
大幅なずれが発生しないシステムを構築することができ
る。
【図１】本発明の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に用いるエッジ平均化回路のブロック図
である。
である。
【図３】本発明に用いるエッジ平均化回路の波形図であ
る。
る。
【図４】本発明による記録パワー最適化のフローチャー
トである。
トである。
【図５】本発明による最適記録パワーの測定結果を示す
特性図である。
特性図である。
【図６】従来方式による最適記録パワーの測定結果を示
す特性図である。
す特性図である。
【図７】ピットエッジ記録方式を説明するタイムチャー
トである。
トである。
【図８】記録マーク長変動によるアイパターンの変動を
説明する図である。
説明する図である。
１ レーザダイオード ２ 光ディスク ３ フォトダイオード ４ プリアンプ ５ ＬＰＦ ６ ＡＧＣ回路 ７ 波形等化回路 ８，９ 入力 １０ コンパレータ １１ エッジ検出回路 １２ ＰＬＬ回路 １３ 位相比較器 １４ チャージポンプ １５ ＶＣＯ １６ 立ち上がりエッジタイミング平均化回路 １７ 立ち下がりエッジタイミング平均化回路 １８ 差信号発生回路 １９ Ａ／Ｄコンバータ ２０ コントローラ ２１ Ｄ／Ａコンバータ ２２ レーザダイオードドライバ ２３ 変調回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−122433（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−152512（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/005 G11B 20/10 G11B 20/14
Claims (1)
- 【請求項１】 光ディスクと、 該光ディスクに記録されたディジタル信号を再生して光
ディスク再生信号として取り出す再生手段と、 該光ディスク再生信号をスライスレベルと比較して二値
化出力を得るコンパレータと、 該コンパレータから得られる二値化出力のマーク長の立
ち上がりエッジと立ち下がりエッジとを検出したエッジ
信号を取り出すエッジ検出回路と、 該エッジ信号から再生クロックを再生し該再生クロック
と前記エッジ信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッ
ジとの位相差を検知したポンプアップ信号とポンプダウ
ン信号とを取り出すＰＬＬ回路と、 前記二値化出力と前記ポンプアップ信号と前記ポンプダ
ウン信号とから立ち上がりエッジタイミングの平均値に
比例する第一の電圧を取り出す立ち上がりタイミング平
均化回路と、 前記二値化出力と前記ポンプアップ信号と前記ポンプダ
ウン信号とから立ち下がりエッジタイミングの平均値に
比例する第二の電圧を取り出す立ち下がりタイミング平
均化回路と、 前記第一の電圧と前記第二の電圧との差分に比例しかつ
前記光ディスクへの前記ディジタル信号の記録パワーに
比例する差分電圧を取り出す差信号発生回路と、 前記光ディスクに記録用レーザビームを照射するレーザ
ダイオードと、 該レーザダイオードを駆動するレーザダイオードドライ
バと、 記録データによる変調出力を前記レーザダイオードドラ
イバに加えて前記記録用レーザビームを制御する変調回
路と、 前記差信号発生回路からの前記差分電圧に対応する制御
量を前記前記レーザダイオードドライバに加えて、前記
差分電圧と前記記録パワーとの比例関係を利用して、該
差分電圧が零に近づくように制御するコントローラと を
備えた光ディスクの記録方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3174746A JP3046403B2 (ja) | 1991-06-20 | 1991-06-20 | 光ディスクの記録方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3174746A JP3046403B2 (ja) | 1991-06-20 | 1991-06-20 | 光ディスクの記録方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04372722A JPH04372722A (ja) | 1992-12-25 |
| JP3046403B2 true JP3046403B2 (ja) | 2000-05-29 |
Family
ID=15983961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3174746A Expired - Fee Related JP3046403B2 (ja) | 1991-06-20 | 1991-06-20 | 光ディスクの記録方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3046403B2 (ja) |
-
1991
- 1991-06-20 JP JP3174746A patent/JP3046403B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04372722A (ja) | 1992-12-25 |
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