JP3025787B2

JP3025787B2 - レンズメータ

Info

Publication number: JP3025787B2
Application number: JP2006722A
Authority: JP
Inventors: 浩久中尾
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1990-01-16
Filing date: 1990-01-16
Publication date: 2000-03-27
Anticipated expiration: 2015-03-27
Also published as: JPH03211437A

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明は、被測定光学部品の光学特性をスクリーン
に図形表示させ及び、受光センサの受光状態を表示させ
るようにしたレンズメータに関するものである。

（従来の技術）従来のレンズメータには、被測定レンズの球面度数，
円柱度，円柱軸の軸方向，プリズム量等その他の光学特
性を自動的に測定する様にしたオートレンズメータがあ
る。

この種のオートレンズメータの測定光学系には、種々
の原理のものが採用されている。例えば、その一例とし
ては、照明光源からの光束を被測定レンズに照射すると
共に、この被測定レンズを透過した光束をマスクのスリ
ットを介して一次元のフォトダイオードアレイ或は二次
元のエリアCCD等の受光センサーに投影することによ
り、受光センサー上にスリットパターンを結像させ、こ
のスリットパターン像による受光センサーの出力信号か
ら被測定レンズの光学特性を演算により自動的に求める
ようにしたものがある。

この様な原理以外にも測定原理は種々のものがある
が、受光センサー上での光束位置を検出する方法はいず
れの原理でも同じである。

例えば、一次元のフォトダイオードアレイを受光セン
サーとすると共に、間隔をおいた平行な２つの直線状の
スリットをマスクに設けて、この２つのスリットを通過
した２つの光束を受光センサー上に間隔をおいて投影さ
せるようにした場合、第４図に示したような受光状態を
示す出力波形が受光センサーから得られる。

ここで、V1は光束１による受光センサーからの出力、
V2は光束２による受光センサーからの出力、Ｉは出力V1
が出力される位置（受光センサーの一端からの位置）、
Ｗは出力V1,V2間のピッチを示す。

この様なV1,V2,I,Wの値を演算により求めることで、
被測定レンズの光学特性を知ることができる。

（発明が解決しようとする課題）ところで、この様なレンズメータを使用して被測定レ
ンズの光学特性を測定する場合、被測定レンズの汚れ，
傷，ゴミ等で受光センサーに投影される光束が乱れるこ
とも考えられる。この場合には、測定データにも影響が
でる。

しかし、従来のレンズメータでは、被測定レンズがど
の程度汚れ，傷つき，ゴミ等が付着したなら、測定デー
タにどの程度の影響があるのかが確認できないものであ
った。この点は、レンズメータの測定光学系でも同様で
あ。

そこで、この発明は、被検レンズ或は測定光学系等の
被測定光学部の汚れ，傷つき，ゴミ等の付着の状態を簡
易且つ迅速に確認することのできるレンズメータを提供
することを目的とするものである。

（課題を解決するための手段）この目的を達成するため、請求項１の発明は、照明光
源の光束を被測定レンズに投影する照明光学系と、前記
光束を受光センサーに導く測定光学系と、前記被測定レ
ンズの光学特性データを表示させるための表示手段と、
前記受光センサーの出力から前記被測定レンズの光学特
性データを演算により求めて表示手段に数値で表示させ
る演算処理部を備えるレンズメータであって、光学系は
前記受光センサに複数の測定光束を案内すると共に、前
記演算処理部は、前記複数の測定光束により前記受光セ
ンサーから出力される測定信号を演算処理して、該演算
処理の結果に基づいて前記受光センサ上での測定光束の
乱れを前記表示手段に表示させる様に設定されているレ
ンズメータとしたことを特徴とする。

また、請求項２の発明は、測定光束の乱れの表示は受
光センサ上での測定光束の位置ずれや受光センサからの
出力の低下の値であることを特徴とする。

（実施例）以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。

第１図において、１はレンズメータの本体で、この本
体１の下端にはキーボード２が設けられている。

また、本体１の中間部正面には、上下に間隔をおいて
光学系収納用の突部3,4が設けられ、突部３には測定光
学系が収納され、突部４には照明光学系が収納されてい
る。しかも、突部３の上面には逆円錐台状で筒状のレン
ズ受５が測定光学系の一部として一体に設けられ、この
レンズ受５の上に被測定レンズＬが載置されるようにな
っている。そして、突部４内の照明光学系からはレンズ
受５に向けて照明光束が照射されるようになっている。
この測定光学系には特開昭58−73840号公報に開示され
た構成が採用されている。尚、測定光学系の受光センサ
ーには、一次元のものも二次元のものでも使用できる。
以下、一次元センサーを用いたものを例にとり説明す
る。

本体１の上部にはモニターTV（画像表示部）６が画像
表示手段として設けられている。第１図中、6aはモニタ
ーTV6のスクリーンである。

上述の測定光学系は第２図に示したように受光センサ
ー７を有し、この受光センサー７には、第２図に示した
ような一次元のリニアフォトダイオードアレイが用いら
れている。この受光センサー７から出力される測定信号
は、測定信号処理部に８に入力されて、演算処理に必要
な出力に変換される。この変換された信号は演算処理部
９に入力される。

この演算処理部９は、測定信号処理部８からの出力を
基に被測定レンズＬの光学特性を演算処理して、演算に
より得られた光学特性データ、即ち球面度S,円柱度C,乱
視軸の軸方向角度A,プリズム量Ｐ等を算出し、グラフィ
ックキャラクタインターフェイス10に入力する。また、
グラフィックキャラクタインターフェイス10は、上記球
面度S,円柱度C,乱視軸の軸方向角度A,プリズム量Ｐ等を
数値データとしてモニターTV6のスクリーン6aにディジ
タル表示させると共に、被測定レンズＬの輪郭11に対す
る乱視軸12の向きを表示させる。

ここで上記構成において、測定光学系のマスク（図示
せず）に間隔をおいた平行な２つの直線状のスリットを
設けて、この２つのスリットを通過した２つの光束を受
光センサー７の長手方向に間隔をおいて投影させるよう
にした場合、第４図に示したような出力波形が受光セン
サー７から測定信号として得られる。

ここで、V1は光束１による受光センサー７からの出
力、V2は光束２による受光センサー７からの出力、Ｉは
出力V1が出力される位置（受光センサー７の一端からの
位置）、Ｗは出力V1,V2間のピッチを示す。即ち、これ
が受光センサーの受光状態を示している。

そして、この様なV1,V2,I,Wのデータを基に通常は上
記S,C,A,Pを演算処理部９により算出し、グラフィック
キャラクタインタフェイス10により表示させているだけ
であるが、ここでは受光センサーの受光状態を示すデー
タV1,V2,I,Wを処理して、第１図及び第４図に示したよ
うな棒グラフ等の図形Ａにし、グラフィックキャラクタ
インターフェイス10により、これをスクリーン6aに画像
表示させる。

この第４図では、，が第３図の光束1,2にそれぞ
れ対応している。また、第４図では、Ｘ軸を時間軸と
し、Ｙ軸を出力軸としているが、Ｘ軸を距離或は類似の
パラメータ軸とすることもできる。この第４図から、被
測定レンズの乱れ，傷，ホコリ（ゴミ）の付着等により
測定光束がけられるような場合、，の位置がずれた
り、，の出力が低くなったりする。

この結果、被測定レンズの測定値の信頼性の相関を知
ることができる。

この様な構成によれば、受光センサーの受光状態をス
クリーン6aに図形で画像表示させるようにしたので、こ
のスクリーン6aの図形の状態を確認することにより、被
測定レンズＬの光学特性や、被測定レンズＬの汚れ，
傷，ホコリ（ゴミ）の付着等による状態等が簡易に確認
できる。

また、この被測定レンズＬを測定光学系内に配置しな
い場合には、レンズメータの照明光学系の測定光学系の
汚れ，傷，ホコリ（ゴミ）の付着等による状態等も簡易
に確認できる。

以上説明した実施例では、受光センサーを一次元セン
サとし、受光状態を模擬的な図形として表示させたが、
二次元センサでも同様なことができる。また、センサ出
力をフレームメモリに入力した後、フレームメモリの出
力をビデオ表示しても同様である。

また、表示方法については第１図に示したように光学
特性と受光状態とを同一画面に表示しているが、これら
は同一画面でなくても例えばスイッチにより切り換えて
個別に表示させても良い。

（発明の効果）以上説明したように、請求項１の発明は、照明光源の
光束を被測定レンズに投影する照明光学系と、前記光束
を受光センサーに導く測定光学系と、前記被測定レンズ
の光学特性データを表示させるための表示手段と、前記
受光センサーの出力から前記被測定レンズの光学特性デ
ータを演算により求めて表示手段に数値で表示させる演
算処理部を備えるレンズメータであって、光学系は前記
受光センサに複数の測定光束を案内すると共に、前記演
算処理部は、前記複数の測定光束により前記受光センサ
ーから出力される測定信号を演算処理して、該演算処理
の結果に基づいて前記受光センサ上での測定光束の乱れ
を前記表示手段に表示させる様に設定されている構成と
したので、演算処理により得られ且つ表示手段に表示さ
れた受光センサ上での測定光束の位置や出力の値の変化
から被測定レンズ又は測定光学系の汚れ，傷つき，ホコ
リ（ゴミ）等の付着の状態を簡易且つ迅速に確認するこ
とができる。従って、請求項１〜３の発明によれば、従
来のようにシンクロスコープ等の大がかりな装置を別途
用いずにレンズメータを簡易に製造・調整することがで
きると共に、そのチェックテストも簡易且つ容易に行う
ことができる。これにより信頼性の高い測定結果が得ら
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に係るレンズメータの一実施例を示す
斜視図である。第２図は、第１図に示したレンズメータの制御回路図で
ある。第３図は、第２図に示した受光センサーの出力状態を示
す説明図である。第４図は、第１図の一部を拡大して示した説明図であ
る。１…本体６…モニターTV 6a…スクリーン７…受光センサー 10…画像処理部

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】照明光源の光束を被測定レンズに投影する
照明光学系と、前記光束を受光センサーに導く測定光学
系と、前記被測定レンズの光学特性データを表示させる
ための表示手段と、前記受光センサーの出力から前記被
測定レンズの光学特性データを演算により求めて表示手
段に数値で表示させる演算処理部を備えるレンズメータ
であって、光学系は前記受光センサに複数の測定光束を案内すると
共に、前記演算処理部は、前記複数の測定光束により前
記受光センサーから出力される測定信号を演算処理し
て、該演算処理の結果に基づいて前記受光センサ上での
測定光束の乱れを前記表示手段に表示させる様に設定さ
れていることを特徴とするレンズメータ。
【請求項２】測定光束の乱れの表示は受光センサ上での
測定光束の位置ずれや受光センサからの出力の低下の値
であることを特徴とする請求項１に記載のレンズメー
タ。