JP2003066079A

JP2003066079A - 電磁妨害波測定装置

Info

Publication number: JP2003066079A
Application number: JP2001261590A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Kanai; 健金井
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 2001-08-30
Filing date: 2001-08-30
Publication date: 2003-03-05

Abstract

(57)【要約】【課題】電子機器などの電磁波ノイズを測定し、その
発生源を特定・解析し、これに対する対策を施すのに好
都合な電磁妨害波測定装置を実現する。【解決手段】電子機器などの被測定物と電磁波ノイズ
の検出素子との位置関係を視差情報による三次元位置計
測をすることで、その位置関係を容易、且つ再現性よく
保持できるので、測定の精度と容易性とが両立する。ま
た、被測定物の映像と測定した電磁波ノイズ分布などと
をスーパーインポーズ表示し、被測定物と電磁波ノイズ
分布との関係を直感的に把握できるので、被測定物の電
磁波ノイズ対策を的確、迅速に実行できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器、家電製
品、構成部品等が稼働時に発生する電磁波ノイズを測定
する技術に係わり、特にその分布の測定に適した測定装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、電子機器の高機能化、高クロック
化にともない電磁波障害が益々問題となってきている。
電磁波障害の対策にはまず現象の的確な把握が重要で、
電磁波源逆解析等により電磁波ノイズの発生源を特定
し、発生状態を分析する等が必要となる。

【０００３】例えば、特開平１１−８３９１８号公報に
示されているように電磁界センサを直線ステージで移動
して、複雑な形状の電子機器から発生する電磁波分布を
測定する装置が提案されている。この装置は、電子機器
の近傍電磁界を測定する電磁界プローブと、電磁界プロ
ーブと電子機器との距離を測定する距離センサと、測定
されたデータを処理する演算処理部と、処理した結果を
表示する表示部とから構成されている。

【０００４】電磁界プローブと距離センサとを一体とし
て、Ｘ、Ｙ、Ｚの方向へ移動しなが測定する。凹凸のあ
る電子機器に対して、所定の間隔を保つように距離セン
サのデータを基にＺ方向を制御し、Ｘ、Ｙ方向にスキャ
ンする。電子機器の表面からの距離による誤差を含まな
い近傍電磁界分布の測定が可能であり、この分布から電
子機器の電磁波ノイズの発生源を推定している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】Ｘ、Ｙ、Ｚの各軸に対
して個々にその位置を求める方法では、電子機器などの
測定対象（以下、構造体と称す）と測定装置との位置合
わせに手間がかかる。通常は、一度構造体の形状に対応
した電磁波ノイズ（電磁界強度）の分布の測定を行って
から、電磁波障害の対策後に再度電磁波ノイズ（電磁界
強度）の分布の測定を行う。障害対策の前後での位置対
応が付くよう、再度位置合わせをする非常に手間がかか
ると言う問題点がある。

【０００６】また、構造体の視覚からのイメージと測定
結果としての電磁界分布のディスプレイ表現との対応関
係が直感的に分かりにくい。特に、構造体の凹凸が大き
ければ、尚更対応が付け難くなり、電磁波障害の適切な
対策に多大な工数を要し、場合によっては最良な状態へ
到達できないことにもなる。

【０００７】更に、複雑に形状変化している構造体に対
応してデータを取得し、処理し、表現するための合理的
なデータの処理方法が重要である。例えば、構造体とそ
こから発する電磁界強度分布とを対応付けて、どのよう
に表示、表現すればより適切に情報を伝えることができ
るか等の問題がある。本発明の目的は、総合すると、電
磁波障害の対策者にとって、合理的にデータが取得で
き、対策を検討し易い形で情報を提供できる電磁妨害波
測定装置を実現することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明による電磁妨害波
測定装置の基本は、電磁妨害波を検出する電磁界プロー
ブに能動素子（例えば、発光素子、光反射素子、超音波
発生素子等）を固定し、能動素子の発する信号を検知す
る受動素子（例えば、カメラ等の受光素子，超音波セン
サ等）を少なくとも２つ設け、２つの受動素子の視差に
より能動素子の位置、即ち電磁界プローブの位置を３次
元的に計測することにある。これにより計測時の位置合
わせに非常に手間がかかるという問題点が解決される。

【０００９】本発明は、電磁波ノイズの発生源が搭載さ
れた構造体からの電磁波ノイズを測定する電磁界プロー
ブと、電磁界プローブの位置を計測するための少なくと
も第一と第二の検知部と、電磁界プローブには該検知部
が検知する信号を発射または反射する部位とを基本の構
成とし、第一の検知部と第二の検知部とを結ぶ距離線の
距離及び該部位と第一の検知部とを結ぶ線が該距離線と
なす角度及び該部位と第二の検知部とを結ぶ線が該距離
線となす角度を基に該電磁界プローブの位置を特定する
機能を有する電磁妨害波測定装置である。好ましくは、
電磁界プローブに発光素子を固定し、第一と第二のカメ
ラで発光素子を検知し、電磁界プローブの位置を特定す
る電磁妨害波測定装置である。電磁界プローブの位置が
特定できると同時に、カメラに構造体も撮像できるの
で、構造体と電磁界プローブとの位置関係を、即ち、構
造体と計測された電磁界強度分布（電磁波ノイズ）とを
重ね合わせた直感的に把握しやすい表現形態なども可能
になる。

【００１０】本発明の更なる電磁妨害波測定装置は、構
造体から発生する電磁波ノイズを測定する電磁界プロー
ブと、電磁界プローブに装着された発光素子と、少なく
とも発光素子を撮像する２つ以上のカメラと、電磁界プ
ローブの出力信号を処理するスペクトラムアナライザ
と、発光素子の制御信号を出力しカメラ及びスペクトラ
ムアナライザの出力信号を演算する中央制御回路とで構
成し、２つのカメラ間の距離とカメラの焦点距離とカメ
ラで撮像された発光素子のの座標値を基にする視差情報
により発光素子の３次元位置計測する機能を提供するこ
とにより、構造体の電磁波ノイズの発生源の特定を容易
にし、改善対策を的確、且つ迅速に実施することを可能
にさせる。

【００１１】好ましくは、中央制御回路で求めた発光素
子の位置情報を表示する表示装置を備え、表示装置は電
磁波ノイズの測定点に対応する格子図を表示し、格子点
に測定済マークまたは未測定マークを表示させ、又、格
子図は複数の平面で構成し、且つ各平面の格子間隔は任
意に設定させる機能を持たすことで、測定者は常に測定
すべき位置を認識できるので、データ取得での過ちがな
く、又、疑似的な三次元表現で直感的な把握を容易にす
る。

【００１２】中央制御回路で求めた発光素子の位置情報
を表示する表示装置を備え、表示装置には構造体の映像
と共に測定された特定周波数の電磁波ノイズの等高線図
を表示する機能を持たせることで、構造体の電磁波ノイ
ズの発生源の特定を容易にさせる。

【００１３】電磁界プローブの複数の所定部位に発光素
子を装着し、発光素子相互の位置関係から電磁界プロー
ブの向きを識別し、又、発光素子の発光波長や発光タイ
ミングから外光と区別する。これにより測定の誤差やミ
スを避けることができる。

【００１４】電磁界プローブの出力をスペクトラムアナ
ライザにより解析し、中央制御回路で処理したその出力
のデータを周波数ごとに記憶する記憶装置を備え、外部
からの要求信号に応じて中央制御回路を介し該記憶装置
から指定された周波数のデータを読み出す機能をもつこ
とを特徴とする電磁妨害波測定装置である。記憶装置内
の過去データの加工、比較等の技法を加味することで、
電磁波ノイズの改善対策が容易になる。更に、測定中の
各種トラブルへの対策、構造体からの電磁波ノイズ以外
のノイズの混入の対策、音声などによる測定者への直接
的な作用等の機能を持たせた電磁妨害波測定装置であ
る。

【００１５】

【発明の実施の形態】本発明の電磁妨害波測定装置の原
理を、図１〜図４を用いて説明する。図１は、本装置を
用いて構造体１の電磁波ノイズを測定する全体構成の一
例を示す。中央制御装置２に入力装置３、表示装置４、
スペクトラムアナライザ５、発光素子６、カメラＡ７−
１、カメラＢ７−２、記憶装置８が電気的に接続され、
電磁界プローブ９のケーブルはスペクトラムアナライザ
５に接続されている。

【００１６】次に、ある物体の視差による３次元計測を
行う原理について説明する。図２は、計測する物体Ｐｈ
とカメラＡ、カメラＢの各座標系を示したものである。
Ｐｈ（Ｘｈ，Ｙｈ，Ｚ）に対して、カメラＡ、カメラＢ
で撮影した画像座標をそれぞれカメラＡ座標、カメラＢ
座標とする。カメラＡ、カメラＢの焦点距離をｆとし、
カメラＡ座標、カメラＢ座標でのＰｈの座標をＰ１、Ｐ
２とし、カメラＡ、カメラＢの距離をｂｎとする。

【００１７】図３，図４にＹ軸から見た図２の座標系を
示す。図３について三角形の相似から以下の式が成り立
つ。

【００１８】

【数１】ｃ／Ｚｈ＝−Ｘｌ／ｆ（１）ｄ／Ｚｈ＝Ｘｒ／ｆ（２）

【００１９】ここで、ｄｎ＝（−Ｘｌ＋Ｘｒ）とすれ
ば、以下の式が成り立つ。

【００２０】

【数２】Ｚｈ＝ｆ×ｂｈ／ｄｎ（３）

【００２１】同様に図４について三角形の相似から以下
の式が成り立つ。

【００２２】

【数３】−Ｘｌ／ｆ＝（ａ−Ｘｈ）／ｄ（４）Ｘｒ／ｆ＝（ａ＋Ｘｒ）／ｄ（５）

【００２３】これから以下の式が成り立つ。

【００２４】

【数４】Ｘｈ＝ｂｈ×（Ｘｌ＋Ｘｒ）／（２ｄｈ）（６）

【００２５】同様に以下の式が成り立つ。

【００２６】

【数５】Ｙｈ＝ｂｈ×（Ｙｌ＋Ｙｒ）／（２ｄｈ）（７）

【００２７】（３）、（６）、（７）からカメラ間の距
離，カメラでの物体の座標値，カメラの焦点距離が分か
れば物体の３次元位置計測は可能である。

【００２８】次に、図１に従って具体的な処理手順の例
を示す。先ず測定格子点の座標を決定する。基準とする
位置を基準点１、基準点２、基準点３として、発光素子
６を光らせた状態で電磁界プローブ９を各基準点に位置
合わせして入力装置３に所定の入力を行う。

【００２９】入力すると、中央制御装置２によりカメラ
Ａ７−１、カメラＢ７−２から画像情報を取り出す。中
央制御装置２は画像情報からの位置情報と、カメラＡ７
−１とカメラＢ７−２との間の距離と、そのカメラの焦
点距離とを用い各基準点の位置を計算し，記憶装置８に
記憶する。

【００３０】次に入力装置３から測定面と測定対象の距
離、ｘ方向、ｙ方向の測定点数、解析周波数を入力する
と、中央制御装置２で測定格子メッシュを計算し、記憶
装置８に記憶するとともに表示装置４に表示する。中央
制御装置２は発光素子６を発光させ，カメラＡ７−１と
カメラＢ７−２で撮像し、リアルタイムで発光素子６の
位置を計算し、表示装置４に測定格子メッシュと共に発
光素子６の位置を表示する。

【００３１】この状態で、表示装置４を見ながら、各測
定点へ発光素子付きの電磁界プローブ９を持って行き、
位置合わせをする。測定点と発光素子付きの電磁界プロ
ーブ９の位置が一致した時、検出された電磁波ノイズの
内からスペクトラムアナライザ５により解析された特定
周波数を抽出し、記憶装置８に記憶する。全ての測定点
での特定周波数の電磁波ノイズが測定され、記憶できた
ら、中央制御装置２により表示装置４に特定周波数の電
磁波ノイズの等高線図として表示する。

【００３２】

【実施例】図５には、表示装置４に表示する測定格子メ
ッシュの一実施例を示した。格子点に図のような、未測
定マークと測定済マークの表示を行ことで、電磁波ノイ
ズ測定の取りこぼしを防げる。この測定格子メッシュの
表示に、測定対象の構造体１の映像をスーパーインポー
ズして表示すれば、測定者は未測定部分が構造体１の何
処なのか一目で認識できる。次に、スーパーインポーズ
する別の実施例を説明する。先ず測定の始めで構造体１
をカメラＡで撮影し、中央制御装置２に取り込み、記憶
装置８に記憶しておく。全ての格子点の計測が終わって
解析結果を表示する時に表示装置４に測定対象の構造体
１の映像に特定周波数の電磁波ノイズの等高線図をスー
パーインポーズして表示する。これにより測定対象と解
析結果の位置関係が直感的にわかるようになる。

【００３３】次に、測定対象面に凹凸がある場合の処理
方法について説明する。図６は、構造体１の測定面が面
Ａと面Ｂの高さが異なる平面で構成され場合を例とする
ものである。入力装置３（図１）で、先ず定義する面の
数（この場合は２）を入力してから、面Ａの基準点１、
基準点２、基準点３、そして面Ｂの基準点１，基準点
２、基準点３の座標位置、測定面の測定対象基準からの
面Ａと面Ｂの距離を入力する。これに基づいて、面Ａと
面Ｂの測定格子メッシュを生成し、図５に説明した処理
を各面について行う。この例に限らず、凹凸に応じて複
数の面に分割し、複雑な表面の構造体１についてもより
正確な計測が可能となった。

【００３４】基準点１、基準点２、基準点３の座標位
置、Ｘ方向の格子点数、Ｙ方向の格子点数の他にＺ方向
の格子点数、Ｚ方向の格子点間隔を入力し、３次元の測
定格子メッシュを生成測定する。これにより、測定面の
法線方向のノイズの分布を知ることができる。

【００３５】次に、測定面上で場所により、電磁波ノイ
ズの強度分布の変動の著しく異なる場合の扱い例を説明
する。図７（ａ）は、面Ｃでは電磁波ノイズの強度分布
の変動の弱く、面Ｄでは強度分布の変動の強い場合の例
で、（ｂ）にそれに対応するメッシュ格子を示す。先
ず、入力装置３で定義する面の数（この場合２）を入力
する。次に面Ｃの基準点１，基準点２，基準点３，そし
て面Ｄの基準点１，基準点２，基準点３の座標を入力
し、それぞれの面での格子数，格子間隔を入力する。こ
れに基づいて測定格子メッシュを生成，計測を行う。こ
のように電磁波ノイズの分布が急激に変わるところを細
かく計測しながら、変化の少ないところでは粗く計測す
る。必要な測定精度を確保し、且つ測定点数が膨大なも
のとなるという問題を排除できる。

【００３６】電磁波ノイズの発生方向に対して、電磁界
プローブ９の向きが異なると検出強度が変わってしまう
ので、電磁界プローブ９の向きの認識が重要になる。図
８は電磁界プローブ９の上下に発光素子６を付けた場合
である。２つのカメラ７の視差による電磁界プローブの
位置計測を行う時に、２つの発光素子６の位置関係を計
測する。Ｘ軸方向の電磁界成分（電磁波ノイズの）を計
測する時は、２つの発光素子６が上下方向に、Ｙ軸方向
の電磁界成分を計測する時は２つの発光素子が水平方向
になければならない。この条件に合致してない時は、例
えば表示装置４に「電磁界プローブの向きが不適正」と
表示して，使用者に電磁界プローブの向きの変更を促
す。これによりプローブの測定面に対する接線方向の向
きが正確にわからないという問題が解決される。

【００３７】図９は電磁界プローブ９の上下と軸の部分
に発光素子６を固定した実施例を示した。３つの発光素
子６の相互の位置関係を計測し、電磁界プローブ９の軸
の向きが測定面の法線方向にない場合は中央制御装置２
により表示装置４に「電磁界プローブの向きが不適正」
と表示したり、音声で使用者に磁界プローブ９の向きの
変更を促す。これによりプローブの測定面に対する法線
方向の向きが正確にわからないという問題点が解決でき
る。

【００３８】次に、解析データの処理の実施例を説明す
る。この実施例では例えば電磁界プローブ９からの電磁
波ノイズをスペクトラムアナライザ５に送り、周波数解
析して中央制御装置２にスペクトルデータを転送する
時，特定周波数のデータだけではなく、解析できた全て
のスペクトルデータをを転送，記憶装置８に記憶して，
全ての測定点で測定を行う。測定が完了したら表示装置
４に「解析周波数を選択する」指示を出し、入力装置３
からの入力に応じた解析周波数のデータを基に等高線図
を生成、表示装置４に表示する。別の周波数の等高線図
を表示するには、再度表示装置４に「解析周波数を選択
する」指示を出せばよい。即ち、従来の解析周波数を選
択する度に再測定するという手間の問題を解決できる。

【００３９】全ての測定点で電磁波ノイズを計測し、解
析したデータから等高線図を生成して表示装置４に表示
すると同時に、その等高線図のデータを記憶装置８に記
憶ししておく。そして表示装置４のメニュー画面から
「再度計測を行う」を入力装置３で選び、再度計測した
解析周波数のデータから等高線図を生成して表示装置４
に表示する。更に、表示装置４のメニュー画面から「前
の計測結果の表示」を入力装置３で選び、記憶装置８に
記憶されている前の解析周波数のデータから等高線図デ
ータを呼び出し、前回の等高線図を生成して表示装置４
に表示する。これにより、前に計測した結果との違いが
直感的に分かるようになり、改善対策などが容易にな
る。

【００４０】更に、記憶装置８のデータとの比較表示の
方法では、表示装置４のメニュー画面から「前の計測結
果との差分表示」を入力装置３で選び，記憶装置８に記
憶されている前の解析周波数のデータからの等高線図デ
ータと今回計測した解析周波数のデータからの等高線図
データとの差分を計算し、差分の等高線図を表示装置４
に表示する。これにより前に計測した結果との違いが数
値として分からないという問題が解決できる。

【００４１】電磁界プローブ９の位置計測を行う度に、
位置データも記憶装置８に解析周波数のデータと一緒に
記憶しておく。そして位置計測を行う度びに前の位置デ
ータを記憶装置８から読出し、比較し、移動距離を算出
する。移動距離がある一定量を超えた場合に表示装置に
「位置計測エラー」を表示する。図１０に計測した位置
データの測定ごとの変化を示す。Ｐ１〜Ｐ４は位置計測
された位置データで、例えばＰ２とＰ３との距離は、
（Ｘ３−Ｘ２）^２＋（Ｙ３−Ｙ２）^２＋（Ｚ３−Ｚ
２）^２の平方根で距離を計算する。これにより位置計
測時にエラーが発生しても使用者が分からないという問
題点が解決できる。

【００４２】発光素子６の識別を確実にする手段の実施
例を説明する。電磁界プローブ９の位置計測を行う時，
中央制御装置２による制御で発光素子６をある時間間隔
で点滅させる。点滅に同期させて２つのカメラで画像を
とり視差による電磁界プローブ９の位置計測を行う。こ
れにより位置計測時に外部の可視光の影響を低減でき、
又強い光度で発光ささせても常時発光に比較して使用者
への不快感も低減できる。発光素子６を可視光以外の光
を放射する素子、例えば赤外線発光素子にする。このと
き、カメラはその光波長に感度のあるものを使用する。
このような方法で外部の可視光の影響を除外することも
できる。

【００４３】発光素子６の検出光度がある閾値より下が
った場合、表示装置に「位置計測エラー」を表示する。
位置計測時に使用者の体等でカメラ映像から発光素子６
が消えても使用者が分からないという問題点が解決でき
る。また、カメラ７をもう１台付加して、発光素子６の
検出光度がある閾値より下がった場合、別の２つのカメ
ラの視差で電磁界プローブ９の位置計測を行う。作業の
連続性がなくなるという問題点が解決できる。

【００４４】電磁界プローブ９を所定の計測位置へ移動
する際に、本装置の使用者を誘導して測定効率を高める
実施例について説明する。視差による位置計測で電磁界
プローブ９が測定位置に来た時、中央制御装置２からの
信号によりブザーを鳴らす。電磁界プローブ９の測定格
子点の通過時に表示装置４を見て位置を確認する手間が
省ける。本装置に音声合成装置を付加し、視差による位
置計測で電磁界プローブ９の位置を計測し、測定位置ま
での差を計算して、音声合成装置より「上」とか「右」
とか発声して使用者を誘導する。図１１のように、電磁
界プローブ９に小型表示装置１０を付加する。視差によ
る位置計測で電磁界プローブ９の位置を計測し、測定位
置までの差を計算して、小型表示装置１０に「上」とか
「右」とか表示して使用者を誘導する。騒音のある場所
でプローブを移動させる時、表示装置４を見なくても、
手元の小型表示装置１０の誘導で測定を進めることが出
来る。

【００４５】本測定装置自体が発する電磁波ノイズの影
響を低減する方策が必要となる。一つには、発光素子６
と中央制御装置２との間にノイズフィルターを挿入し、
発光素子６からの電磁波ノイズが発生するという問題点
が解決できる。また、電磁界プローブ９で電磁波ノイズ
を計測する直前に中央制御装置２により発光素子６ある
いは小型表示装置１０への信号出力を停止、計測後に信
号出力を再開する。これにより発光素子６あるいは小型
表示装置１０から電磁波ノイズが発生するという問題点
が解決できる。

【００４６】電磁界プローブ９からの電磁波ノイズをス
ペクトラムアナライザ５で周波数解析し中央制御装置２
を介してスペクトルデータを記憶装置８へ転送すること
を所定の時間間隔で複数回行い、全ての測定点で測定し
データを記憶する。測定が完了したら、記憶装置８から
の解析周波数のデータを基に等高線図を生成，表示する
際、それぞれの測定点での複数回データから求めた最大
値と最小値をも一緒に表示する。これにより、ある一定
時間の間での電磁波ノイズの変動量が一目して分かるよ
うになる。

【００４７】又、電磁波ノイズをスペクトラムアナライ
ザ５で周波数解析して中央制御装置２へ転送した時点
で、中央制御装置２は特定周波数のノイズ強度を判別
し、その強度に応じてブザーの音量を変える信号を出力
し、ブザーを鳴らす。これにより、計測の最中にも、ノ
イズの強度を知ることができる。

【００４８】電磁界プローブ９とスペクトラムアナアラ
イザ５とを用いて、電磁波ノイズがピークとなる周波数
を予め把握しておき、実際の計測ではピークとなる周波
数のスペクトラムデータのみを記憶装置８に転送し、ま
た表示する。これにより、効率的なデータ処理ができ、
測定も簡易化できる。

【００４９】カメラ７の設置台数を増加させ、構造体１
の一面のみの計測でなく、多面や全周囲を周回すること
もなく、視差の原理を利用した測定も可能である。測定
対象物である構造体１の発する電磁波ノイズが他の物体
に反射してから電磁界プローブ９で検出され、測定誤差
の原因になる。そこで、例えば、構造体１を電波吸収材
の上におき、床面からの電磁波ノイズの反射を低減させ
ている。

【００５０】本発明の電磁妨害波測定装置の各実施例を
以上に説明したが、これら例に限定されることなく、例
えば各実施例を組み合わせてもよいこと、又測定対象物
と測定素子との位置関係に依存する測定系ならば本発明
が適用可能である。

【００５１】

【発明の効果】請求項１，３によれば、視差を利用した
三次元位置情報を測定装置に取り込むことで、被測定物
と検出手段の位置合わせが非常に容易になる。請求項
２，３，７によれば、被測定物と検出結果とを対比的に
表示でき、結果が直感的に理解できるので、改善対策な
どでの測定結果への対応を迅速、的確にさせる。請求項
８によれば、電磁波ノイズの検出部の向きを判定でき、
向きによる検出感度の差異を補正することが可能にな
る。請求項１０，１１，１２，１３によれば、過去の測
定結果とを対比的に表示でき、その差異を直感的に理解
できるので、改善効果の把握、再対策などが容易にな
る。請求項５によれば、電磁波ノイズ分布の変化度に応
じて、間隔の異なる測定格子面を配列するので、測定点
数を大幅に増加せずに、測定精度を高められる。請求項
４，６，１４，１５，１７によれば、装置使用者への測
定点への誘導、測定エラーの通知などに、表示や音の手
段を選択的に用い、測定作業での使用者の負担を軽減し
ている。請求項９，１６，１９によれば、外部環境の影
響や測定装置自体が発する電磁波の影響を抑制、回避等
する手段を用い、測定精度を高めている。請求項１３，
１４によれば、記憶装置の事前計測データを効果的に利
用して、測定の効率を高めている。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の電磁妨害波測定装置を用い、電磁波ノ
イズを測定する全体構成の一例を示す図。

【図２】本発明による位置計測の原理を説明するため
の、計測する物体ＰｈとカメラＡ、カメラＢの各座標系
を示す図。

【図３】図２をＹ軸から見た一つの図。

【図４】図２をＹ軸から見た別の図。

【図５】測定格子メッシュの一例を示す図。

【図６】凹凸のある被測定物を測定する場合で、高さの
異なる２つの測定面を設定し、基準点を設ける例を示す
図。

【図７】（ａ）は電磁波ノイズの強度分布変動の状態を
模式的に示し、（ｂ）はそれに対応して設定するメッシ
ュ格子を示す図。

【図８】電磁界プローブの上下に発光素子を付けた例を
示す図。

【図９】電磁界プローブの上下と軸に発光素子を付けた
例を示す図。

【図１０】計測した位置データが測定ごとに変化してい
る例を説明する図。

【図１１】電磁界プローブに小型表示装置を付加した例
を示す図。

【符号の説明】

１構造体２中央制御装置３入力装置４表示装置５スペクトラムアナライザ６発光素子７−１カメラＡ７−２カメラＢ８記憶装置９電磁界プローブ１０小型表示装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電磁波ノイズの発生源が搭載された構造
体からの電磁波ノイズを測定する電磁界プローブと、該電磁界プローブの位置を計測するための少なくとも第
一と第二の検知部と、該電磁界プローブには該検知部が検知する信号を発射ま
たは反射する部位とを有し、第一の検知部と第二の検知部とを結ぶ距離線の距離及び
該部位と第一の検知部とを結ぶ線が該距離線となす角度
及び該部位と第二の検知部とを結ぶ線が該距離線となす
角度を基に該電磁界プローブの位置を特定することを特
徴とする電磁妨害波測定装置。
【請求項２】電磁界プローブの該部位が発光素子から
なり、第一と第二の検知部がカメラからなることを特徴
とする請求項１記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項３】構造体から発生する電磁波ノイズを測定
する電磁界プローブと、該電磁界プローブに装着された
発光素子と、少なくとも発光素子を撮像する２つ以上の
カメラと、電磁界プローブの出力信号を処理するスペク
トラムアナライザと、該発光素子の制御信号を出力し該
カメラ及び該スペクトラムアナライザの出力信号を演算
する中央制御回路とから構成された装置であって、２つのカメラ間の距離とカメラの焦点距離とカメラで撮
像された該発光素子のの座標値を基にする視差情報によ
り該発光素子の３次元位置計測することを特徴とする電
磁妨害波測定装置。
【請求項４】該中央制御回路で求めた該発光素子の位
置情報を表示する表示装置を備え、該表示装置は電磁波
ノイズの測定点に対応する格子図を表示し、格子点に測
定済マークまたは未測定マークを表示することを特徴と
する請求項３に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項５】該格子図は複数の平面で構成され、各平
面の格子間隔は任意に設定できることを特徴とする請求
項４に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項６】該格子点と該発光素子の位置情報とを比
較し、格子点と発光素子との距離が所定の範囲内にあれ
ば該中央制御回路からアラーム信号を出力することを特
徴とする請求項４に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項７】該中央制御回路で求めた該発光素子の位
置情報を表示する表示装置を備え、該表示装置には該構
造体の映像と共に測定された特定周波数の電磁波ノイズ
の等高線図を表示することを特徴とする請求項３に記載
の電磁妨害波測定装置。
【請求項８】該発光素子は該電磁界プローブの複数の
所定部分に装着されたものであって、位置計測された発
光素子相互の位置関係から該電磁界プローブの軸又はル
ープ面の向きを識別することを特徴とする請求項３に記
載の電磁妨害波測定装置。
【請求項９】該発光素子の発光波長または発光タイミ
ングにより、該発光素子の光と外光とを判別する機能を
備えたことを特徴とする請求項３に記載の電磁妨害波測
定装置。
【請求項１０】該スペクトラムアナライザにより解析
された該電磁界プローブの出力信号のデータを所定の周
波数ごとに記憶する記憶装置を備え、外部からの要求信
号に応じて該中央制御回路を介し該記憶装置から特定の
周波数のデータを読み出すことを特徴とする請求項３に
記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項１１】該スペクトラムアナライザからのデー
タと該記憶装置から読み出したデータとを該中央制御回
路で比較し、その差分に応じた出力信号を表示する機能
を備えたことを特徴とする請求項１０に記載の電磁妨害
波測定装置。
【請求項１２】該記憶装置から読み出した所定の時間
間隔分の該データの最大値と最小値を該中央制御回路で
演算し、出力することを特徴とする請求項１０に記載の
電磁妨害波測定装置。
【請求項１３】電磁波ノイズが最大となる特定の周波
数を予め把握しておき、特定の周波数のデータのみを該
記憶装置に記憶することを特徴とする請求項１０に記載
の電磁妨害波測定装置。
【請求項１４】該記憶装置には該発光素子の位置の測
定データが記憶され、該記憶装置から読み出した前回の
測定データと今回の測定データとを比較して求めた位置
の差が所定値を超えた時にアラーム信号を出力すること
を特徴とする請求項１０に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項１５】該発光素子の測定された光強度が所定
値以下の時には、アラーム信号を出力するか又は別の該
カメラに切り換えて測定することを特徴とする請求項３
に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項１６】計測された電磁波ノイズと自己から発
生する電磁波との差分を計測することを特徴とする請求
項３に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項１７】計測された電磁波ノイズの大きさに応
じて音量が変化する音発生部を備えたことを特徴とする
請求項３に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項１８】該構造体の複数の方向から同時に計測
する構成を有することを特徴とする請求項３に記載の電
磁妨害波測定装置。
【請求項１９】該構造体から発生し反射した電磁波ノ
イズが該電磁界プローブへ入射するのを防止する構成を
有することを特徴とする請求項３に記載の電磁妨害波測
定装置。