JP2984423B2 - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JP2984423B2
JP2984423B2 JP3194108A JP19410891A JP2984423B2 JP 2984423 B2 JP2984423 B2 JP 2984423B2 JP 3194108 A JP3194108 A JP 3194108A JP 19410891 A JP19410891 A JP 19410891A JP 2984423 B2 JP2984423 B2 JP 2984423B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、信号を投射し、その反
射信号を受信することにより対象物までの距離に関連し
た信号を形成する測距装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、カメラ等に於て、被写体に向
けて信号光を投射し、その信号光の反射光を受光するこ
とにより、三角測量の原理に基づいて上記被写体までの
距離を検出する所謂アクテイブ方式の測距装置が広く知
られている。
【0003】更に近年、この種のアクテイブタイプの測
距装置に於て、上記反射光を受光する受光手段として半
導体位置検出器(PSD)を用いることで、可動部なし
に測距できる測距装置も広く用いられる様になってき
た。
【0004】このPSDは、受光スポツト光の重心位置
に応じた信号を出力する為、投光像の均一性は要求され
ないし、測距レンジも広くとれるが、欠点として、PS
Dは抵抗層を有する為に、抵抗ノイズが発生し、反射光
の光量が低下する遠距離被写体に対しては、S/N比が
劣化し、測距精度が悪くなるという問題があった。特に
近年、遠距離撮影を可能にするズームカメラが登場する
なか、この遠距離に対する測距精度の低下は非常に大き
な問題となっていた。
【0005】尚、この問題を解決する方法として2分割
された一対のシリコンホトルセル(SPC)を用い、そ
の出力比により反射光の受光位置を検出する方法も考え
られるが、近距離から遠距離迄の全測距範囲をこのSP
C対でカバーしようとすると、基線長を長くすることが
出来なくなり、全体的な測距精度の低下を招く等のデメ
リツトが生じてくる。
【0006】そこで、本出願人は、特願平2ー1146
00号にて、信号を投射し、その反射信号を受信するこ
とにより対象物迄の距離を測定する測距装置に於て、近
距離から遠距離の範囲で反射される上記信号の反射信号
を受信する為のPSDによる第1の受信手段と、遠距離
で反射される上記信号の反射信号を受信する為のSPC
対による第2の受信手段とを備え、遠距離側の測距精度
を高めると共に全体的な測距精度の低下を招くこともな
い測距装置を提案している。
【0007】しかし乍ら、この装置では上記反射信号
が、上記第1の受信手段と上記第2の受信手段とにまた
がって受信される為、1つの受信手段の受信できる信号
の量が少なく、測距能力及び精度が落ちてしまう欠点が
あった。
【0008】(発明の目的) 本発明は以上の事情に鑑みなされたもので、測距精度の
低下を招くことなく、測距可能距離範囲を広げることの
できる測距装置を提供しようとするものである。上記目
的を達成するために本発明は、物体に対して投光し、該
投光による対象物からの反射光の受光位置に応じて前記
物対までの距離に相応した信号を出力する受光手段を有
し、物体までの距離に関連した信号を形成する測距装置
において、前記受光手段として、主に第1の範囲に存在
する物体に対しての距離を測定する第1の受光部と、前
記第1の範囲よりも遠距離の主に第2の範囲に存在する
物体に対しての距離を測定する第2の受光部と、前記第
1の範囲よりも近距離の主に第3の範囲に存在する物体
に対しての距離を測定する第3の受光部を設けるととも
に、前記第2と第3の受光部は物体からの前記反射光の
距離に応じての受光位置の変位方向に並んで配設される
とともに、前記第1の受光部は前記第2と第3の受光部
に対して平行に配設し、基線長を長くすることなく、各
距離範囲に対して精度の良い測距を行う、測距装置を提
供するものである。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
【0010】図1は、本発明の実施例に係わるアクテイ
ブ型測距装置に於る投射された信号光の反射光を受光す
る受光センサの構造を示す外形図である。図1に於て、
1は図2に示されるように主に中距離範囲に存在する対
象物に対する距離を測定する為のPSDで構成される第
1の受光センサ、2は第1の受光センサ1の遠側出力リ
ード線、3は第1の受光センサの近側出力リード線であ
る。4は図2に示されるように主に近距離範囲に存在す
る対象物に対する距離を測定する為のPSDで構成され
る第2の受光センサ、5は第2の受光センサ4の遠側出
力リード線、6は第2の受光センサの近側出力リード線
である。7、8は図2に示されるように主に遠距離範囲
に存在する対象物に対する距離を測定する為の2分割S
PCで第3の受光センサを構成する。9は第3の受光セ
ンサ7、8の遠側SPC7の出力リード線、10は第3
の受光センサ7、8の近側SPC8の出力リード線であ
る。
【0011】11は後述する第1の投光素子より投射さ
れる第1の信号光が中距離対象物にて反射された場合に
第1の受光センサ1が受光する受光スポツト像で、この
受光スポツト像11の受光位置は対象物迄の距離に応じ
て変化する。そして受光センサ1の遠側及び近側出力リ
ード線1、2より出力される電流の割合が図3に示され
るようにこの受光スポツト像11の受光位置に応じて変
化するので、これを後述する回路にて演算し、距離情報
を得る。又12は後述する第2の投光素子より投射され
る投射光が近距離対象物にて反射された場合の第2の受
光センサ4の受光する受光スポツト像で、上記第1の受
光センサ1の場合と同様にこの受光スポツト像の位置を
遠側及び近側出力リード線5、6の出力電流の割合より
求めて距離情報を得る。更に13は上記第2の投光素子
より投射される投射光が遠距離対象物にて反射された場
合の第3の受光センサ7、8の受光する受光スポツト像
で、上記第1、第2の受光センサの場合と同様にこの場
合も、対象物の距離に応じて受光スポツト像13の受光
位置が変化し、この受光位置の変化に応じて遠側SPC
7及び近側SPC8の出力リード線9、10の出力電流
の割合が図3に示されるように変化するので、これに基
づいて距離情報を得る。
【0012】図4は、図1の受光センサを用いて距離測
定をする為の回路ブロツク図である。図4に於て、2
2、23は前述の第1、第2の投光素子でアクテイブ方
式の測距を行なう為に測距方向に向けて信号光を投射す
る。24は第1、第2の投光素子22、23を駆動する
為の駆動回路、20はこれら第1、第2の投光素子2
2、23の発光タイミングを選択する投光素子選択回路
である。1、4、7、8は図1で説明した第1、第2、
第3の受光センサで主に中距離範囲に存在する対象物に
対する距離を測定する第1の受光センサ1は、第1の投
光素子22により投射される信号光の反射光を受光し、
主に近距離及び遠距離範囲に存在する対象物に対する距
離を測定する第2、第3の受光センサ4及び7、8は第
2の投光素子23により投射される信号光の反射光を受
光する。
【0013】21は第1、第2、第3の受光センサのい
ずれかを選択する受光センサ選択回路、25は受光セン
サ選択回路21により選択された受光センサの出力によ
り、対象物迄の距離情報を演算する測距演算回路、26
は図3の回路全体を制御するマイクロコンピユータ等で
構成される制御回路である。
【0014】次に、図4の回路の動作を制御回路26の
動作を示す図5のフローチヤートに従って説明する。
【0015】まず選択回路20により投光素子22を選
択し(#101)、駆動回路24により投光素子22よ
り信号光を投射させる(#102)。次に受光センサ選
択回路21により第1の受光センサを選択し(#10
3)、第1の受光センサ1の出力電流により(#10
4)測距演算回路25にて距離情報を得る(#10
5)。この結果が中距離の場合は(#106)、測距完
となる。一方、この結果が遠距離の場合は、選択回路2
0により投光素子23を選択し(#107)駆動回路2
4により投光素子23にて信号光を投射する(#10
8)。次に受光センサ選択回路21により第3の受光セ
ンサ7、8を選択し(#109)、第3の受光センサ
7、8の出力電流により(#110)、測距演算回路2
5で距離情報を演算し(#111)、測距完となる。
【0016】又上記受光センサによる測距結果が近距離
の場合は選択回路20により投光素子23を選択し(#
112)、駆動回路24により投光素子23にて信号光
を投射する(#113)。次に受光センサ選択回路21
により第2の受光センサ4を選択し(#114)、第2
の受光センサ4の出力電流により(#115)、測距演
算回路25にて距離情報を演算し(#116)測距完と
なる。
【0017】この様にこの実施例では、まずPSD構成
された第1の受光センサ1で測距動作を行ないその結果
が遠距離の場合は再度SPCで構成された第3の受光セ
ンサ7、8にて測距を行ない、又近距離の場合はPSD
で構成された第2の受光センサ4にて測距を行なうこと
により近距離から遠距離の全域での測距精度の向上を図
っているものである。
【0018】図6は、受光センサの構造の他の実施例を
示すもので、上記第1の受光センサ1を改良し、測距精
度をより向上させながら、近距離から遠距離の全距離範
囲をカバーしようとするものである。
【0019】その為に、本実施例では、図6に示される
ように、上記実施例の第1の受光センサ1の遠側の寸法
を短くするようにしている。これは、図3からもわかる
ように受光スポツト像の受光位置変化に対する受光セン
サの出力電流の割合は、サンセの寸法が短くなるほど大
きく変化する、すなわち受光スポツト像の位置変化がよ
り明確に検知でき、これにより、より測距精度の向上を
図ろうとするものである。
【0020】具体的には遠距離側の測距は第3の受光セ
ンサ7、8にて行なう為、第1の受光センサ1はその遠
距離側の受光スポツト像を受光する必要はなく、本実施
例では第1の受光センサ1は第3の受光センサ7、8に
切り換わる為に必要なデータが出力されるぎりぎりの長
さに構成されている。
【0021】尚、本実施例に於ける他の構成は上記実施
例と同様であるので説明を省略する。
【0022】図7は受光センサの更に他の実施例を示す
もので、図6の第1の受光センサ1を更に改良し、測距
精度の更なる向上と全距離範囲のカバーを図るようにし
たものである。
【0023】本実施例では、図6の構造に加えて、近距
離側の測距は第2の受光センサ4にて行う為、第1の受
光センサ1はその近距離側を測距する必要はなく、た
だ、対象物が中距離範囲内に存在しない場合に、第2の
受光センサ4と第3の受光センサ7、8のいずれに切り
換えればよいかを判断できればよいという観点に立ち、
第1の受光センサ1の近距離側の寸法を第2の受光セン
サへの切り換わりに必要なぎりぎりの長さまで縮めると
共にそこに単に対象物が近距離側に存在するか否かを判
定するだけの補助受光センサ1aを設けるようにしてい
る。
【0024】これにより遠距離から近距離の測距精度を
向上を満足しながら第1の受光センサの測距精度を著し
く向上させることが出来る。
【0025】尚、本実施例に於る他の構成は上記実施例
と同様であるので説明を省略する。
【0026】以上の実施例において、第1の受光センサ
ー1が第1の受光部に、第3の受光センサー7,8が第
2の受光部に、第2の受光センサー4が第3の受光部に
相当する。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、測
距精度の低下を招くことなく、測距可能距離範囲を広げ
ることのできる測距装置が提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係わるアクテイブ型測距装置
の受光センサの構造を示す外形図。
【図2】図1の受光センサの測距範囲を示す図。
【図3】図1の受光センサの出力電流の割合と受光位置
の関係を示す図。
【図4】図1の受光センサを用いた測距装置の回路ブロ
ツク図。
【図5】図4の回路の動作を示すフローチヤート。
【図6】本発明に係わる受光センサの構造の他の実施例
を示す外形図。
【図7】本発明に係わる受光センサの構造の更に他の実
施例を示す外形図。
【符号の説明】
1 第1の受光センサ 4 第2の受光センサ 7、8 第3の受光センサ 22 第1の投光素子 23 第2の投光素子
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−155801(JP,A) 特開 平3−137508(JP,A) 特開 平3−137510(JP,A) 特開 昭63−198817(JP,A) 特開 平1−112188(JP,A) 特開 平1−196510(JP,A) 特許2670460(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01S 7/48 - 7/51 G01S 17/00 - 17/95 G01C 3/06

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】物体に対して投光し、該投光による対象物
    からの反射光の受光位置に応じて前記物対までの距離に
    相応した信号を出力する受光手段を有し、物体までの距
    離に関連した信号を形成する測距装置において、 前記受光手段として、主に第1の範囲に存在する物体に
    対しての距離を測定する第1の受光部と、前記第1の範
    囲よりも遠距離の主に第2の範囲に存在する物体に対し
    ての距離を測定する第2の受光部と、前記第1の範囲よ
    りも近距離の主に第3の範囲に存在する物体に対しての
    距離を測定する第3の受光部を設けるとともに、前記第
    2と第3の受光部は物体からの前記反射光の距離に応じ
    ての受光位置の変位方向に並んで配設されるとともに、
    前記第1の受光部は前記第2と第3の受光部に対して平
    行に配設されることを 特徴とする測距装置。
  2. 【請求項2】 前記第1と第3の受光部はPSDにて構
    成され、第2の受光部はSPCにて構成される請求項1
    に記載の測距装置。
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2670460B2 (ja) 1990-04-26 1997-10-29 キヤノン株式会社 受光装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2670460B2 (ja) 1990-04-26 1997-10-29 キヤノン株式会社 受光装置

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