JP2670460B2 - 受光装置 - Google Patents
受光装置Info
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- JP2670460B2 JP2670460B2 JP2114600A JP11460090A JP2670460B2 JP 2670460 B2 JP2670460 B2 JP 2670460B2 JP 2114600 A JP2114600 A JP 2114600A JP 11460090 A JP11460090 A JP 11460090A JP 2670460 B2 JP2670460 B2 JP 2670460B2
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- Japan
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- light
- light receiving
- distance
- signal
- receiving means
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、物体までの距離に関連した信号を形成する
ための受光装置の改良に関するものである。
ための受光装置の改良に関するものである。
従来、カメラ等に於いて、複写体に向けて信号光を投
射し、その信号光の反射光を受光することにより、三角
測量の原理に基づいて上記被写体までの距離を検出する
所謂アクティブ方式の測距装置が広く知られている。
射し、その信号光の反射光を受光することにより、三角
測量の原理に基づいて上記被写体までの距離を検出する
所謂アクティブ方式の測距装置が広く知られている。
更に近年、この種のアクティブタイプの測距装置に於
いて、上記反射光を受光する受光手段として半導体位置
検出器（PSD）を用いることで可動部なしに測距できる
測距位置も広く用いられる様になってきた。
いて、上記反射光を受光する受光手段として半導体位置
検出器（PSD）を用いることで可動部なしに測距できる
測距位置も広く用いられる様になってきた。
このPSDは、受光スポット光の重心位置に応じた信号
を出力する為、投光像の均一性は要求されないし、測距
レンジも広くとれるが、欠点として、PSDは抵抗層を有
する為に、抵抗ノイズが発生し、特に、反射光の光量が
低下する遠距離被写体に対しては、S/N比が劣化し、測
距精度が悪くなるという問題があった。更に、近年遠距
離撮影を可能にするズームカメラが登場するなか、この
遠距離に対する測距精度の低下は非常に大きな問題とな
っていた。
を出力する為、投光像の均一性は要求されないし、測距
レンジも広くとれるが、欠点として、PSDは抵抗層を有
する為に、抵抗ノイズが発生し、特に、反射光の光量が
低下する遠距離被写体に対しては、S/N比が劣化し、測
距精度が悪くなるという問題があった。更に、近年遠距
離撮影を可能にするズームカメラが登場するなか、この
遠距離に対する測距精度の低下は非常に大きな問題とな
っていた。
尚、この問題を解決する方法として２分割された一対
のシリコンホトルセル（SPC）を用い、その出力比によ
り反射光の受光位置の検出する方法も考えられるが、近
距離から遠距離迄の全測距範囲をこのPSC対でカバーし
ようとすると、基線長を長くすることが出来なくなり、
全体的な測距精度の低下を招く等のデメリットが生じて
くる。
のシリコンホトルセル（SPC）を用い、その出力比によ
り反射光の受光位置の検出する方法も考えられるが、近
距離から遠距離迄の全測距範囲をこのPSC対でカバーし
ようとすると、基線長を長くすることが出来なくなり、
全体的な測距精度の低下を招く等のデメリットが生じて
くる。
本発明は、以上の事情に鑑み為されたもので、物体迄
の距離に関連した信号を形成する装置の精度の向上を図
ろうとするものである。
の距離に関連した信号を形成する装置の精度の向上を図
ろうとするものである。
上記目的を達成するために本発明は、物体からの光を
受光するための第１の受光手段と、前記第１の受光手段
が物体からの光を受光できる距離範囲のうち遠距離側の
一部距離範囲に物体が存在する場合に該物体からの光を
受光する第２の受光手段と、前記第１、第２の受光手段
からの信号を選択的に積分する積分手段とを有し、前記
第１、第２の受光手段からのそれぞれの信号に対する前
記積分手段の積分信号に基づいて前記物体までの距離に
関連した信号を形成する受光装置とするものである。
受光するための第１の受光手段と、前記第１の受光手段
が物体からの光を受光できる距離範囲のうち遠距離側の
一部距離範囲に物体が存在する場合に該物体からの光を
受光する第２の受光手段と、前記第１、第２の受光手段
からの信号を選択的に積分する積分手段とを有し、前記
第１、第２の受光手段からのそれぞれの信号に対する前
記積分手段の積分信号に基づいて前記物体までの距離に
関連した信号を形成する受光装置とするものである。
また、本発明は、物体からの光を受光するための第１
の受光手段と、前記物体の距離が変化することにより変
位する前記第１の受光手段の前記物体からの光の受光位
置の変位方向とは異なる位置に設けられ、前記第１の受
光手段が物体からの光を受光できる距離範囲のうちの一
部距離範囲に物体が存在する場合に該物体からの光を受
光する第２の受光手段と、前記第１、第２の受光手段か
の信号を選択的に積分する積分手段とを有し、前記第
１、第２の受光手段からのそれぞれの信号に対する前記
積分手段の積分信号に基づいて前記物体までの距離に関
連した信号を形成する受光装置とするものである。
の受光手段と、前記物体の距離が変化することにより変
位する前記第１の受光手段の前記物体からの光の受光位
置の変位方向とは異なる位置に設けられ、前記第１の受
光手段が物体からの光を受光できる距離範囲のうちの一
部距離範囲に物体が存在する場合に該物体からの光を受
光する第２の受光手段と、前記第１、第２の受光手段か
の信号を選択的に積分する積分手段とを有し、前記第
１、第２の受光手段からのそれぞれの信号に対する前記
積分手段の積分信号に基づいて前記物体までの距離に関
連した信号を形成する受光装置とするものである。
また、本発明は、物体からの光を受光し、該光の受光
位置に応じて前記物体までの距離に相応した信号を出力
する第１の受光手段と、物体からの光を受光し、該光の
受光位置に応じて前記物体までの距離に相応した信号を
出力する、前記第１の受光手段とは異なる特性の第２の
受光手段と、前記第１、第２の受光手段からの信号を選
択的に積分する積分手段とを有し、前記第１、第２の受
光手段からのそれぞれの信号に対する前記積分手段の積
分信号に基づいて前記物体までの距離に関連した信号を
形成する受光装置とするものである。
位置に応じて前記物体までの距離に相応した信号を出力
する第１の受光手段と、物体からの光を受光し、該光の
受光位置に応じて前記物体までの距離に相応した信号を
出力する、前記第１の受光手段とは異なる特性の第２の
受光手段と、前記第１、第２の受光手段からの信号を選
択的に積分する積分手段とを有し、前記第１、第２の受
光手段からのそれぞれの信号に対する前記積分手段の積
分信号に基づいて前記物体までの距離に関連した信号を
形成する受光装置とするものである。
また、本発明は、物体からの光を受光し、該光の受光
位置に応じて前記物体までの距離に相応した信号を出力
する第１の受光手段と、前記第１の受光手段が物体から
の光を受光できる距離の遠距離側に物体が存在する場合
に該物体からの光を受光する、前記第１の受光手段とは
異なる特性の第２の受光手段と、前記第１、第２の受光
手段からの信号を選択的に積分する積分手段とを有し、
前記第１、第２の受光手段からのそれぞれの信号に対す
る前記積分手段の積分信号に基づいて前記物体までの距
離に関連した信号を形成する受光装置とするものであ
る。
位置に応じて前記物体までの距離に相応した信号を出力
する第１の受光手段と、前記第１の受光手段が物体から
の光を受光できる距離の遠距離側に物体が存在する場合
に該物体からの光を受光する、前記第１の受光手段とは
異なる特性の第２の受光手段と、前記第１、第２の受光
手段からの信号を選択的に積分する積分手段とを有し、
前記第１、第２の受光手段からのそれぞれの信号に対す
る前記積分手段の積分信号に基づいて前記物体までの距
離に関連した信号を形成する受光装置とするものであ
る。
以下本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明に係るアクティブ型測距装置に於ける
信号光の反射光を受光する受光手段としての受光センサ
の構造を示す外形図である。第１図（ａ）はそのセンサ
構造の第１の実施例を示し、図中10及び11はSPCで、第
２の受信手段としての１対のSPCセンサを構成してい
る。12及び13は、各々SPC10及び11からの出力リード線
である。14は第１の受信手段としてのPSDで、15及び16
は、その２出力リード線である。
信号光の反射光を受光する受光手段としての受光センサ
の構造を示す外形図である。第１図（ａ）はそのセンサ
構造の第１の実施例を示し、図中10及び11はSPCで、第
２の受信手段としての１対のSPCセンサを構成してい
る。12及び13は、各々SPC10及び11からの出力リード線
である。14は第１の受信手段としてのPSDで、15及び16
は、その２出力リード線である。
17は投光素子（IRED）より投射された信号光が遠距離
側にて反射された場合の反射光の受光スポット像、IRED
17より投射された信号光が近距離側にて反射された場合
の反射光の受光スポット像である。そして遠距離側で
は、受光スポット像17によるSPC10及び11の出力電流を
後述する電気回路により演算し、測距情報を得るもので
ある。又、近距離側では、受光スポット像18によるPSD1
4からの出力電流により同様の回路演算を行い測距情報
を得るものである。第１図（ｂ）は受光センサの構造の
第２の実施例を示すもので、第１図（ａ）との相異点
は、SPC10′及び11′が三角形の形状をしている点にあ
る。この目的は、２受光素子10′及び11′に測距可能範
囲を拡大する点にある。
側にて反射された場合の反射光の受光スポット像、IRED
17より投射された信号光が近距離側にて反射された場合
の反射光の受光スポット像である。そして遠距離側で
は、受光スポット像17によるSPC10及び11の出力電流を
後述する電気回路により演算し、測距情報を得るもので
ある。又、近距離側では、受光スポット像18によるPSD1
4からの出力電流により同様の回路演算を行い測距情報
を得るものである。第１図（ｂ）は受光センサの構造の
第２の実施例を示すもので、第１図（ａ）との相異点
は、SPC10′及び11′が三角形の形状をしている点にあ
る。この目的は、２受光素子10′及び11′に測距可能範
囲を拡大する点にある。
以上のSPC及びPSDは単一シリコンチップ上に構成され
てもよいし、別チップ上に作られハイブリッド状にアセ
ンプリされてもかまわない。尚、第１図中FSPC及びNSPC
は各々遠側及び近側のSPC出力を表わし、FPSD及びNPSD
は各々遠側及び近側のPSD出力を表わしている。
てもよいし、別チップ上に作られハイブリッド状にアセ
ンプリされてもかまわない。尚、第１図中FSPC及びNSPC
は各々遠側及び近側のSPC出力を表わし、FPSD及びNPSD
は各々遠側及び近側のPSD出力を表わしている。
第２図は第１図の受光センサの出力を入力する電気回
路の実施例を示す回路図である。第２図中19は前述のア
クティブ方式の測距を行う為に測距方向に信号光を投射
する信号投射手段としてのIRED、20はIRED19を駆動する
駆動回路、21は前記受光センサを構成するPSD及びSPCの
遠距離（FAR）側信号増巾用のOPアンプ、22はその負帰
還抵抗、23及び24はアナログスイッチで、SPC出力とPSD
出力の選択を行う。25は前記受光センサを構成するPSD
及びSPCの近距離（NEAR）側信号増巾用のOPアンプ、26
はその負帰還抵抗、27及び28はアナログスイッチで、SP
C出力とPSD出力の選択を行う。29及び30はハイパスフィ
ルターを構成するコンデンサ、35は反転増巾器を構成す
るOPアンプである。31、32及び36は抵抗で加算器を構成
する。33、34、37及び38はアナログスイッチで、そのオ
ン−オフにより前記受光センサのFAR側の信号とNEAR側
の信号を、加算したり、一方の信号のみを増巾したりす
る選択を行う。41はOPアンプで抵抗39及び40で、増巾度
１の反転増巾器を構成する。46は積分器を構成するOPア
ンプで、47はその負帰還路に設けられた積分用のコンデ
ンサ、48はコンデンサ47をリセットする為のアナログス
イッチ、42及び43は積分電流を決定する抵抗、44及び45
はアナログスイッチでIRED19の点滅周期と同期してオン
−オフし、IRED19から投射される信号光の反射光を同期
検波するものである。49はコンパレータ、61、62、63は
インバータ、50は以上の各アナログスイッチのオン、オ
フや、IRED19の駆動を制御したり、測距演算等を行う為
のマイクロコンピュータ等で構成される制御回路であ
る。
路の実施例を示す回路図である。第２図中19は前述のア
クティブ方式の測距を行う為に測距方向に信号光を投射
する信号投射手段としてのIRED、20はIRED19を駆動する
駆動回路、21は前記受光センサを構成するPSD及びSPCの
遠距離（FAR）側信号増巾用のOPアンプ、22はその負帰
還抵抗、23及び24はアナログスイッチで、SPC出力とPSD
出力の選択を行う。25は前記受光センサを構成するPSD
及びSPCの近距離（NEAR）側信号増巾用のOPアンプ、26
はその負帰還抵抗、27及び28はアナログスイッチで、SP
C出力とPSD出力の選択を行う。29及び30はハイパスフィ
ルターを構成するコンデンサ、35は反転増巾器を構成す
るOPアンプである。31、32及び36は抵抗で加算器を構成
する。33、34、37及び38はアナログスイッチで、そのオ
ン−オフにより前記受光センサのFAR側の信号とNEAR側
の信号を、加算したり、一方の信号のみを増巾したりす
る選択を行う。41はOPアンプで抵抗39及び40で、増巾度
１の反転増巾器を構成する。46は積分器を構成するOPア
ンプで、47はその負帰還路に設けられた積分用のコンデ
ンサ、48はコンデンサ47をリセットする為のアナログス
イッチ、42及び43は積分電流を決定する抵抗、44及び45
はアナログスイッチでIRED19の点滅周期と同期してオン
−オフし、IRED19から投射される信号光の反射光を同期
検波するものである。49はコンパレータ、61、62、63は
インバータ、50は以上の各アナログスイッチのオン、オ
フや、IRED19の駆動を制御したり、測距演算等を行う為
のマイクロコンピュータ等で構成される制御回路であ
る。
以上の様に構成された本回路は公知の二重積分動作に
より測距情報を得るものであるが、二重積分により測距
情報を得る方式そのものはUSP4720723等で公知であるの
でここでは詳述はしない。
より測距情報を得るものであるが、二重積分により測距
情報を得る方式そのものはUSP4720723等で公知であるの
でここでは詳述はしない。
次に第２図の回路の動作を制御回路50の動作を示す第
４図のフローチャートに従って説明する。
４図のフローチャートに従って説明する。
不図示のシャッタレリーズ釦の第１ストロークに応答
して制御回路50はアナログスイッチ23及び28をオンし、
アナログスイッチ24及び27をオフして、PSDモードを選
択する。この状態では、OPアンプ21及び25の出力には第
１図のPSD14のFAR側及びNEAR側の出力電流に対応した電
圧が発生する。次に制御回路50より駆動回路20へ信号が
送られ、IRED19の点滅駆動が開始される。そして、制御
回路50はアナログスイッチ33及び38をオンにし、アナロ
グスイッチ34及び37をオフにすると、抵抗32とアナログ
スイッチ38の接続点の電位はVcになる為、OPアンプ25の
NEAR側の出力は、加算されず、OPアンプ35の出力には、
OPアンプ21のFAR側出力のみが増巾されて出力されるこ
とになる。この出力とOPアンプ41の反転出力とアナログ
スイッチ44及び45の周期検波作用により、積分用コンデ
ンサ47は第３図に示す如く、Ｔ期間（一定）下降積分さ
れていくことになる。Ｔ期間が終了すると、アナログス
イッチ33及び37がオンし、アナログスイッチ34及び38は
オフして、OPアンプ21のFAR側出力及びOPアンプ25のNEA
R側出力ともOPアンプ35で加算され、該OPアンプ35の出
力は（FAR＋NEAR）の信号に対応することになる。この
出力とOPアンプ41の反転出力と、アナログスイッチ44及
び45の周期検波作用により、積分用コンデンサー47は第
３図に示す如く、今度は上昇積分されていくことにな
る。この積分出力がVcレベルに達すること、コンパレー
タ49の出力CPはＨレベルに反転し、積分動作を終了す
る。そして制御回路50はこの上昇積分時間ｔにより被写
体距離情報を算出する。
して制御回路50はアナログスイッチ23及び28をオンし、
アナログスイッチ24及び27をオフして、PSDモードを選
択する。この状態では、OPアンプ21及び25の出力には第
１図のPSD14のFAR側及びNEAR側の出力電流に対応した電
圧が発生する。次に制御回路50より駆動回路20へ信号が
送られ、IRED19の点滅駆動が開始される。そして、制御
回路50はアナログスイッチ33及び38をオンにし、アナロ
グスイッチ34及び37をオフにすると、抵抗32とアナログ
スイッチ38の接続点の電位はVcになる為、OPアンプ25の
NEAR側の出力は、加算されず、OPアンプ35の出力には、
OPアンプ21のFAR側出力のみが増巾されて出力されるこ
とになる。この出力とOPアンプ41の反転出力とアナログ
スイッチ44及び45の周期検波作用により、積分用コンデ
ンサ47は第３図に示す如く、Ｔ期間（一定）下降積分さ
れていくことになる。Ｔ期間が終了すると、アナログス
イッチ33及び37がオンし、アナログスイッチ34及び38は
オフして、OPアンプ21のFAR側出力及びOPアンプ25のNEA
R側出力ともOPアンプ35で加算され、該OPアンプ35の出
力は（FAR＋NEAR）の信号に対応することになる。この
出力とOPアンプ41の反転出力と、アナログスイッチ44及
び45の周期検波作用により、積分用コンデンサー47は第
３図に示す如く、今度は上昇積分されていくことにな
る。この積分出力がVcレベルに達すること、コンパレー
タ49の出力CPはＨレベルに反転し、積分動作を終了す
る。そして制御回路50はこの上昇積分時間ｔにより被写
体距離情報を算出する。
次にこの距離情報が遠距離と判定された時は、アナロ
グスイッチ24及び27をオン、アナログスイッチ23及び28
をオフにしてSPCモードを選択する。このモードで更に
再度、前述の様な二重積分動作を行い、測距情報を出し
直す。尚、前記距離情報が近距離と判定された時は、こ
の再測距動作は行わない。
グスイッチ24及び27をオン、アナログスイッチ23及び28
をオフにしてSPCモードを選択する。このモードで更に
再度、前述の様な二重積分動作を行い、測距情報を出し
直す。尚、前記距離情報が近距離と判定された時は、こ
の再測距動作は行わない。
以上の様に、この実施例ではまずPSDモードで測距動
作を行い、その結果が遠距離の場合は再度SPCモードで
測距を行うことにより、遠距離側での測距精度向上を計
っているものである。
作を行い、その結果が遠距離の場合は再度SPCモードで
測距を行うことにより、遠距離側での測距精度向上を計
っているものである。
次に、本発明の他の実施例を示す。
本実施例ではまずSPCを選択して、遠側の測距動作を
行い、このSPCから出力電流が発生しない場合は、PSDを
選択して近距離側の測距動作を行わせる様にしたもので
ある。
行い、このSPCから出力電流が発生しない場合は、PSDを
選択して近距離側の測距動作を行わせる様にしたもので
ある。
第５図は第２図の受光センサの出力を入力する本実施
例の電気回路である。本回路は第２図の回路とほとんど
同じであるが、後述するSMALL1レベル及びSMALL2レベル
を作る為に、抵抗51、52及び56、アナログスイッチ53、
54及び55が付加されている。尚、第５図中第２図と同様
の構成には同一の符号を付して説明は省略する。SMALL1
レベル判定の時はアナログスイッチ55がオン、アナログ
スイッチ53及び54がオフして、抵抗52と56の分圧点の電
圧レベルが、コンパレータ49の参照レベルになる。SMAL
L2レベル判定の時はアナログスイッチ54がオン、アナロ
グスイッチ53及び54がオフして抵抗51と52の分圧点の電
圧レベルがコンパレーター49の参照レベルになる。アナ
ログスイッチ53がオンでアナログスイッチ54及び55がオ
フの時はVcが参照レベルになり、通常の上昇積分の打切
り判定に使われる。
例の電気回路である。本回路は第２図の回路とほとんど
同じであるが、後述するSMALL1レベル及びSMALL2レベル
を作る為に、抵抗51、52及び56、アナログスイッチ53、
54及び55が付加されている。尚、第５図中第２図と同様
の構成には同一の符号を付して説明は省略する。SMALL1
レベル判定の時はアナログスイッチ55がオン、アナログ
スイッチ53及び54がオフして、抵抗52と56の分圧点の電
圧レベルが、コンパレータ49の参照レベルになる。SMAL
L2レベル判定の時はアナログスイッチ54がオン、アナロ
グスイッチ53及び54がオフして抵抗51と52の分圧点の電
圧レベルがコンパレーター49の参照レベルになる。アナ
ログスイッチ53がオンでアナログスイッチ54及び55がオ
フの時はVcが参照レベルになり、通常の上昇積分の打切
り判定に使われる。
次に、第５図の回路の動作を第６図のフローチャート
に従って説明すると、まず、アナログスイッチ24及び27
をオンし、アナログスイッチ23及び28をオフしてSPCを
選択し、IRED19の点滅駆動を行う。次に、第２図の実施
例で説明したのと同様にFAR側の信号で下降積分をＴ時
間（一定）を行う。この積分レベル（INT）がSMALL1レ
ベル以下となった時は、被写体が遠距離側にあるという
ことで次に（FAR側＋NEAR側）の信号で上昇積分を行
い、ｔの時間より測距情報を演算する。一方上記FAR側
の下降積分値がSMALL1レベルに達しない場合は、この積
分値をアナログスイッチ48によりリセットし、PSDに切
換える。次にPSDのFAR側の信号で下降積分をＴ時間行
う。この積分レベル（INT）がSMALL2レベル以下となっ
た時は、被写体がPSDの測距可能範囲内にあるというこ
とで、次に（FAR側＋NEAR側）の信号で上昇積分を行い
ｔの時間より測距情報を演算する。一方、上記FAR側の
下降積分値がSMALL2レベルに達していない場合は、SPC
からもPSDからも出力信号がないいうことになるので測
距情報は無限遠と判定される。
に従って説明すると、まず、アナログスイッチ24及び27
をオンし、アナログスイッチ23及び28をオフしてSPCを
選択し、IRED19の点滅駆動を行う。次に、第２図の実施
例で説明したのと同様にFAR側の信号で下降積分をＴ時
間（一定）を行う。この積分レベル（INT）がSMALL1レ
ベル以下となった時は、被写体が遠距離側にあるという
ことで次に（FAR側＋NEAR側）の信号で上昇積分を行
い、ｔの時間より測距情報を演算する。一方上記FAR側
の下降積分値がSMALL1レベルに達しない場合は、この積
分値をアナログスイッチ48によりリセットし、PSDに切
換える。次にPSDのFAR側の信号で下降積分をＴ時間行
う。この積分レベル（INT）がSMALL2レベル以下となっ
た時は、被写体がPSDの測距可能範囲内にあるというこ
とで、次に（FAR側＋NEAR側）の信号で上昇積分を行い
ｔの時間より測距情報を演算する。一方、上記FAR側の
下降積分値がSMALL2レベルに達していない場合は、SPC
からもPSDからも出力信号がないいうことになるので測
距情報は無限遠と判定される。
次に、本発明の更に他の実施例を第７図に示す。第７
図はアクティブ型多点測距用の受光センサ構造を示すも
のである。図中56及び57は画面の中心部測距用のSPC
対、58は画面の中心部測距用のPSD、59及び60は画面の
両側周辺部測距用のPSDである。
図はアクティブ型多点測距用の受光センサ構造を示すも
のである。図中56及び57は画面の中心部測距用のSPC
対、58は画面の中心部測距用のPSD、59及び60は画面の
両側周辺部測距用のPSDである。
PSD58、59及び60のFAR側の出力端子は全て共通に接続
されFPSD端子として出力される。又、NEAR側の出力端子
も全て共通に接続されNPSD端子として出力される。SPC
対56、57のFAR側の出力端子及びNEAR側の出力端子は、
各々FSPC端子及びNSPC端子として出力される。
されFPSD端子として出力される。又、NEAR側の出力端子
も全て共通に接続されNPSD端子として出力される。SPC
対56、57のFAR側の出力端子及びNEAR側の出力端子は、
各々FSPC端子及びNSPC端子として出力される。
測距方式は、最初、画面の中心部に対して信号光を投
射し、その反射光を中心部測距用のSPC対56、57及びPS
D、58で受光し、前記実施例と同様に測距し、その後画
面の両側周辺部に対して順次信号光を投射し、その反射
光を周辺部測距用のPSD59及び60で受光し、前記実施例
と同様に測距すればよい。
射し、その反射光を中心部測距用のSPC対56、57及びPS
D、58で受光し、前記実施例と同様に測距し、その後画
面の両側周辺部に対して順次信号光を投射し、その反射
光を周辺部測距用のPSD59及び60で受光し、前記実施例
と同様に測距すればよい。
尚、上記信号光を投射する投光手段は３連のIREDを用
いればよい。又、周辺部測距でSPCを用いていないの
は、周辺部は中心部に比べて、それ程測距精度が要求さ
れないからである。
いればよい。又、周辺部測距でSPCを用いていないの
は、周辺部は中心部に比べて、それ程測距精度が要求さ
れないからである。
（発明と実施例の対応） 以上の実施例に於いて、PSD14又はPSD58が本発明の第
１の受光手段に、SPC10、11又は、SPC10′11′又は、SP
C56、57が本発明の第２の受光手段に、OPアンプ46、積
分用コンデンサ47が本発明の積分手段に、それぞれ相当
する。
１の受光手段に、SPC10、11又は、SPC10′11′又は、SP
C56、57が本発明の第２の受光手段に、OPアンプ46、積
分用コンデンサ47が本発明の積分手段に、それぞれ相当
する。
以上説明したように本発明によれば、物体迄の距離に
関連した信号を形成する装置の精度の向上が図れるもの
である。
関連した信号を形成する装置の精度の向上が図れるもの
である。
第１図は本発明に係る実施例の受光センサの構造を示す
外形図で、 第１図（ａ）はその第１の例、第１図（ｂ）はその第２
の例、 第２図は第１図の受光センサの出力を入力する電気回路
の実施例を示す回路図、 第３図は第２図の回路の積分波形図、 第４図は第２図の回路の動作を示すフローチャート、 第５図は第１図の受光センサの出力を入力する他の実施
例の電気回路を示す回路図、 第６図は第５図の回路の動作を示すフローチャート、 第７図は本発明の更に他の実施例を説明する受光センサ
の外形図である。 10、11……SPC 14……PSD 17、18……受光スポット像 46……OPアンプ 47……積分用コンデンサ 56、57……SPC 58、59、60……PSD
外形図で、 第１図（ａ）はその第１の例、第１図（ｂ）はその第２
の例、 第２図は第１図の受光センサの出力を入力する電気回路
の実施例を示す回路図、 第３図は第２図の回路の積分波形図、 第４図は第２図の回路の動作を示すフローチャート、 第５図は第１図の受光センサの出力を入力する他の実施
例の電気回路を示す回路図、 第６図は第５図の回路の動作を示すフローチャート、 第７図は本発明の更に他の実施例を説明する受光センサ
の外形図である。 10、11……SPC 14……PSD 17、18……受光スポット像 46……OPアンプ 47……積分用コンデンサ 56、57……SPC 58、59、60……PSD
Claims (4)
- 【請求項１】物体からの光を受光するための第１の受光
手段と、前記第１の受光手段が物体からの光を受光でき
る距離範囲のうち遠距離側の一部距離範囲に物体が存在
する場合に該物体からの光を受光する第２の受光手段
と、前記第１、第２の受光手段からの信号を選択的に積
分する積分手段とを有し、前記第１、第２の受光手段か
らのそれぞれの信号に対する前記積分手段の積分信号に
基づいて前記物体までの距離に関連した信号を形成する
ことを特徴とする受光装置。 - 【請求項２】物体からの光を受光するための第１の受光
手段と、前記物体の距離が変化することにより変位する
前記第１の受光手段の前記物体からの光の受光位置の変
位方向とは異なる位置に設けられ、前記第１の受光手段
が物体からの光を受光できる距離範囲のうちの一部距離
範囲に物体が存在する場合に該物体からの光を受光する
第２の受光手段と、前記第１、第２の受光手段からの信
号を選択的に積分する積分手段とを有し、前記第１、第
２の受光手段からのそれぞれの信号に対する前記積分手
段の積分信号に基づいて前記物体までの距離に関連した
信号を形成することを特徴とする受光装置。 - 【請求項３】物体からの光を受光し、該光の受光位置に
応じて前記物体までの距離に相応した信号を出力する第
１の受光手段と、物体からの光を受光し、該光の受光位
置に応じて前記物体までの距離に相応した信号を出力す
る、前記第１の受光手段とは異なる特性の第２の受光手
段と、前記第１、第２の受光手段からの信号を選択的に
積分する積分手段とを有し、前記第１、第２の受光手段
からのそれぞれの信号に対する前記積分手段の積分信号
に基づいて前記物体までの距離に関連した信号を形成す
ることを特徴とする受光装置。 - 【請求項４】物体からの光を受光し、該光の受光位置に
応じて前記物体までの距離に相応した信号を出力する第
１の受光手段と、前記第１の受光手段が物体からの光を
受光できる距離の遠距離側に物体が存在する場合に該物
体からの光を受光する、前記第１の受光手段とは異なる
特性の第２の受光手段と、前記第１、第２の受光手段か
らの信号を選択的に積分する積分手段とを有し、前記第
１、第２の受光手段からのそれぞれの信号に対する前記
積分手段の積分信号に基づいて前記物体までの距離に関
連した信号を形成することを特徴とする受光装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2114600A JP2670460B2 (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | 受光装置 |
| US07/692,199 US5210585A (en) | 1990-04-26 | 1991-04-26 | Range finder having a plurality of signal reception means |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2114600A JP2670460B2 (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | 受光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH049609A JPH049609A (ja) | 1992-01-14 |
| JP2670460B2 true JP2670460B2 (ja) | 1997-10-29 |
Family
ID=14641917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2114600A Expired - Lifetime JP2670460B2 (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | 受光装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5210585A (ja) |
| JP (1) | JP2670460B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2984423B2 (ja) | 1991-08-02 | 1999-11-29 | キヤノン株式会社 | 測距装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5485262A (en) * | 1991-08-02 | 1996-01-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Distance measuring apparatus, having plural positioning sensors to measure different distance ranges |
| JP3078069B2 (ja) * | 1991-12-16 | 2000-08-21 | オリンパス光学工業株式会社 | 測距装置 |
| US5534991A (en) * | 1992-03-13 | 1996-07-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Active distance measuring apparatus |
| JP3252293B2 (ja) * | 1992-10-29 | 2002-02-04 | セイコープレシジョン株式会社 | 測距装置 |
| JP3150243B2 (ja) * | 1993-10-25 | 2001-03-26 | キヤノン株式会社 | 測距装置及びカメラ |
| US5521694A (en) * | 1994-05-10 | 1996-05-28 | Innova Laboratories, Inc. | Laser beam path profile sensor system |
| WO1996012932A1 (en) * | 1994-10-20 | 1996-05-02 | Automotive Systems Laboratory, Inc. | Optical distance measuring system having range limit detection |
| JP3609559B2 (ja) * | 1996-10-17 | 2005-01-12 | 松下電器産業株式会社 | 位置検出素子及び距離センサ |
| US6122039A (en) * | 1998-10-28 | 2000-09-19 | Banner Engineering Corp. | Method and apparatus to detect and report object displacement utilizing optical triangulation principles |
| JP2000330011A (ja) * | 1999-05-21 | 2000-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
| WO2005008271A2 (en) * | 2002-11-26 | 2005-01-27 | Munro James F | An apparatus for high accuracy distance and velocity measurement and methods thereof |
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|---|---|---|---|---|
| US3443502A (en) * | 1966-08-23 | 1969-05-13 | Eastman Kodak Co | Automatic focusing for cameras |
| US4065778A (en) * | 1976-06-17 | 1977-12-27 | Eastman Kodak Company | Automatic rangefinder and focusing apparatus |
| US4655586A (en) * | 1984-03-19 | 1987-04-07 | Honeywell Inc. | Adjustable zone proximity sensor |
| JPS61155801A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-15 | Toshiba Corp | 複合形半導体位置検出素子 |
| JP2559393B2 (ja) * | 1987-02-12 | 1996-12-04 | オリンパス光学工業株式会社 | 距離検出装置 |
| GB2211047B (en) * | 1987-10-12 | 1992-08-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | Distance measuring device |
| US4943824A (en) * | 1987-11-12 | 1990-07-24 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Device for measuring object distance used for camera |
-
1990
- 1990-04-26 JP JP2114600A patent/JP2670460B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-04-26 US US07/692,199 patent/US5210585A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2984423B2 (ja) | 1991-08-02 | 1999-11-29 | キヤノン株式会社 | 測距装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049609A (ja) | 1992-01-14 |
| US5210585A (en) | 1993-05-11 |
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