JP2580700B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明は、半導体位置検出素子を用いた能動型測距装
置に関する。
置に関する。
B.従来の技術 従来から半導体位置検出素子（Position Sensitive D
evice:以降、PSDと呼ぶ）を用いた能動型の測距装置が
知られており、そのPSDは、第７図に示すように、高抵
抗シリコン基板である真性半導体Ｉ層と、この表面にＰ
型不純物をドープし高抵抗分割膜を形成したＰ層と、シ
リコン基板の裏面にＮ型不純物をドープしたＮ層の３層
から構成され、Ｎ層に共通電極１が、Ｐ層の上面両端に
一対の電極2,3がそれぞれ配設されている。
evice:以降、PSDと呼ぶ）を用いた能動型の測距装置が
知られており、そのPSDは、第７図に示すように、高抵
抗シリコン基板である真性半導体Ｉ層と、この表面にＰ
型不純物をドープし高抵抗分割膜を形成したＰ層と、シ
リコン基板の裏面にＮ型不純物をドープしたＮ層の３層
から構成され、Ｎ層に共通電極１が、Ｐ層の上面両端に
一対の電極2,3がそれぞれ配設されている。
第８図は、PSDの等価回路を示したものである。Ｐ層
は上述のように均一分布する電流分割抵抗層としても働
き、電極間抵抗はRieである。Ｇは電流源、Ｄは理想的
ダイオード、Cjは接合容量、Rshは並列抵抗である。
は上述のように均一分布する電流分割抵抗層としても働
き、電極間抵抗はRieである。Ｇは電流源、Ｄは理想的
ダイオード、Cjは接合容量、Rshは並列抵抗である。
このようなPSDのＰ層表面に入射した光は、入射光の
強さに応じて光電変換され、光電流としてＰ層上の両端
に設けられた２つの電極2,3からその入射位置に応じた
分割比で出力される。
強さに応じて光電変換され、光電流としてＰ層上の両端
に設けられた２つの電極2,3からその入射位置に応じた
分割比で出力される。
すなわち、第７図において、Ｐ層表面の両端に取付け
られた電極２、電極３間の距離を2r、電極間抵抗をRi
e、PSDの２つの電極2,3から出力される光電流の大きさ
が等しくなる電気的中心位置Ｏから入射スポット光の重
心位置までの距離をｘ、入射光により生成された光電流
をI0、電極２および電極３より得られる光電流をそれぞ
れI1,I2とすると、I1,I2は次のようになる。
られた電極２、電極３間の距離を2r、電極間抵抗をRi
e、PSDの２つの電極2,3から出力される光電流の大きさ
が等しくなる電気的中心位置Ｏから入射スポット光の重
心位置までの距離をｘ、入射光により生成された光電流
をI0、電極２および電極３より得られる光電流をそれぞ
れI1,I2とすると、I1,I2は次のようになる。
ここで、I0に対するI1とI2の差を求めると、（１）式，
（２）式より、 となり、 とｒより、入射位置ｘを求めることができる。
（２）式より、 となり、 とｒより、入射位置ｘを求めることができる。
第７図に示したPSDを用いたカメラ等の測距装置の一
例を第９図に示す。図中、５は赤外光等を発光する投光
素子であり、投光素子５より投光レンズ６によって側距
物体７へ向けて投光されたスポット光束10は、測距物体
７へ反射されて受光レンズ８を通して受光素子であるPS
D9の受光面上に入射する。このとき、PSD9の電極間距離
は、設計上測距可能な最短距離にある物体（測距物体７
−１）と、設計上測距可能な最短距離にある物体（測距
物体７−２）からの反射スポット光束がそれぞれ入射可
能に定められる。
例を第９図に示す。図中、５は赤外光等を発光する投光
素子であり、投光素子５より投光レンズ６によって側距
物体７へ向けて投光されたスポット光束10は、測距物体
７へ反射されて受光レンズ８を通して受光素子であるPS
D9の受光面上に入射する。このとき、PSD9の電極間距離
は、設計上測距可能な最短距離にある物体（測距物体７
−１）と、設計上測距可能な最短距離にある物体（測距
物体７−２）からの反射スポット光束がそれぞれ入射可
能に定められる。
今、第９図において、Ｒの距離にある測距物体からの
反射スポット光束が、PSD9の電気的中心位置Ｏからｘの
距離に入射するものとし、投光レンズ６と受光レンズ８
との間の軸間距離をＤ、受光レンズ８からPSD9までの距
離をｆ、受光レンズ８の光軸からPSD9の電気的中心位置
までの距離をｔとすれば、被写体までの距離Ｒは、 のように表される。従って、（３）式により入射位置ｘ
が求められると、（４）式により測距物体までの距離が
求められる。
反射スポット光束が、PSD9の電気的中心位置Ｏからｘの
距離に入射するものとし、投光レンズ６と受光レンズ８
との間の軸間距離をＤ、受光レンズ８からPSD9までの距
離をｆ、受光レンズ８の光軸からPSD9の電気的中心位置
までの距離をｔとすれば、被写体までの距離Ｒは、 のように表される。従って、（３）式により入射位置ｘ
が求められると、（４）式により測距物体までの距離が
求められる。
ところで、最近ではこの様な測距装置を用いるカメラ
の測距範囲が、マクロ撮影や投影レンズの長焦点化など
によって広がる傾向にあり、例えば第10図に示す如く最
短測距距離７−２′を同７−２へ、最遠測距距離７−
３′を同７−３へ広げる必要がある。かかる測距範囲の
長大化に対処する方式として、 １）素子長2rを2r′に延長し、測距範囲が拡大しても、
入射スポット光がケラレないようにする。
の測距範囲が、マクロ撮影や投影レンズの長焦点化など
によって広がる傾向にあり、例えば第10図に示す如く最
短測距距離７−２′を同７−２へ、最遠測距距離７−
３′を同７−３へ広げる必要がある。かかる測距範囲の
長大化に対処する方式として、 １）素子長2rを2r′に延長し、測距範囲が拡大しても、
入射スポット光がケラレないようにする。
２）素子長をそのままに、PSD9から受光レンズ８までの
距離をｆからｆ′へ短くすることにより測距距離の変化
ΔＲに対する入射スポット光の移動量Δｘを小さくす
る。
距離をｆからｆ′へ短くすることにより測距距離の変化
ΔＲに対する入射スポット光の移動量Δｘを小さくす
る。
等が考えられる。
C.発明が解決しようとする問題点 しかしながら、従来の技術においては、測距範囲の拡
大などによりPSD9の素子長が長くなったり、測距距離の
変化に対するｘの変化量が小さくなると、以下のような
問題点があった。
大などによりPSD9の素子長が長くなったり、測距距離の
変化に対するｘの変化量が小さくなると、以下のような
問題点があった。
すなわち、第９図に示す如く、Ｒという距離にある被
写体がΔＲだけ移動したとき、PSD9上の入射点ｘがΔｘ
だけ移動したものとすると、このときの の変化 は（３）式より、 と表わすことができる。（５）式において、Δｘをその
ままにｒを大きくしたり、ｒをそのままにΔｘを小さく
すると、 は小さくなる。
写体がΔＲだけ移動したとき、PSD9上の入射点ｘがΔｘ
だけ移動したものとすると、このときの の変化 は（３）式より、 と表わすことができる。（５）式において、Δｘをその
ままにｒを大きくしたり、ｒをそのままにΔｘを小さく
すると、 は小さくなる。
すなわち、同じ被写体の変化量ΔＲに対して、電極間
距離2rに対する入射点の変化量Δｘが小さくなると、 と表わされる測距検出信号の変化量が小さくなり、それ
だけ測距精度が低下したことになる。更に、素子長が長
くなる原因であるマクロレンズや長焦点距離レンズの場
合には、被写界深度が浅いために、従来の測距精度より
も精度を上げる必要があるにもかかわらず、上述した測
距範囲の拡大方式を採用すると測距精度が益々不足する
という問題点があった。
距離2rに対する入射点の変化量Δｘが小さくなると、 と表わされる測距検出信号の変化量が小さくなり、それ
だけ測距精度が低下したことになる。更に、素子長が長
くなる原因であるマクロレンズや長焦点距離レンズの場
合には、被写界深度が浅いために、従来の測距精度より
も精度を上げる必要があるにもかかわらず、上述した測
距範囲の拡大方式を採用すると測距精度が益々不足する
という問題点があった。
本発明の目的は、測距範囲の拡大などに対処して素子
長を長くしたり、被写体の移動量ΔＲに対する入射光の
変化量Δｘを小さくした場合においても、高い測距精度
を得ることができる半導体位置検出素子を用いた測距装
置を提供することにある。
長を長くしたり、被写体の移動量ΔＲに対する入射光の
変化量Δｘを小さくした場合においても、高い測距精度
を得ることができる半導体位置検出素子を用いた測距装
置を提供することにある。
D.問題点を解決するための手段 本発明に係る測距装置は、クレーム対応図である第１
図に示すとおり、撮影画面内の複数領域の測距を行うこ
とが可能な測距装置に適用され、撮影画面内の複数領域
に対応した被写界に向けて投光する複数の投光素子203
と、被写界からの光を受光する受光部を有し、この受光
部の両端に設けられた両端電極および該両端電極の間に
設けられた中間電極から光電流を出力可能な受光素子20
8と、受光素子208の両端電極および中間電極の中から、
複数の投光素子203にそれぞれ対応する複数対の電極を
選択する選択手段210と、選択された複数対の電極から
の出力に基づいて複数の測距値を演算する演算手段211
とを備えることにより、上記目的は達成される。
図に示すとおり、撮影画面内の複数領域の測距を行うこ
とが可能な測距装置に適用され、撮影画面内の複数領域
に対応した被写界に向けて投光する複数の投光素子203
と、被写界からの光を受光する受光部を有し、この受光
部の両端に設けられた両端電極および該両端電極の間に
設けられた中間電極から光電流を出力可能な受光素子20
8と、受光素子208の両端電極および中間電極の中から、
複数の投光素子203にそれぞれ対応する複数対の電極を
選択する選択手段210と、選択された複数対の電極から
の出力に基づいて複数の測距値を演算する演算手段211
とを備えることにより、上記目的は達成される。
請求項２に記載された発明は、請求項１に記載の測距
装置において、複数の投光素子203にそれぞれ対応して
選択される電極対の間の受光部が部分的に重なるよう
に、複数の投光素子203ごとに両端電極および中間電極
の中から２つの電極を選択するように選択手段210を構
成するものである。
装置において、複数の投光素子203にそれぞれ対応して
選択される電極対の間の受光部が部分的に重なるよう
に、複数の投光素子203ごとに両端電極および中間電極
の中から２つの電極を選択するように選択手段210を構
成するものである。
請求項３に記載された発明は、撮影画面内の所定領域
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた両端電極および該両端電
極の間に設けられた中間電極から光電流を出力可能な受
光素子208と、両端電極からの出力に基づいて測距値を
演算する第１の演算手段211と、この第１の演算手段211
の演算結果に基づいて、両端および前記電極の中から２
つの電極を選択する選択手段210と、選択された２つの
電極からの出力に基づいて測距値を演算する第２の演算
手段211とを備えることにより、上記目的は達成され
る。
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた両端電極および該両端電
極の間に設けられた中間電極から光電流を出力可能な受
光素子208と、両端電極からの出力に基づいて測距値を
演算する第１の演算手段211と、この第１の演算手段211
の演算結果に基づいて、両端および前記電極の中から２
つの電極を選択する選択手段210と、選択された２つの
電極からの出力に基づいて測距値を演算する第２の演算
手段211とを備えることにより、上記目的は達成され
る。
請求項４に記載された発明は、第１の演算手段211に
よって演算された測距値が所定値以内の場合には中間電
極を選択するように選択手段210を構成するものであ
る。
よって演算された測距値が所定値以内の場合には中間電
極を選択するように選択手段210を構成するものであ
る。
請求項５に記載された発明は、撮影画面内の所定領域
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた両端電極および該両端電
極の間に設けられた中間電極から光電流を出力可能な受
光素子208と、受光素子208の両端電極および中間電極の
中から２つの電極を選択する選択手段210と、選択され
た２つの電極からの出力に基づいて測距値を演算する演
算手段211とを有し、選択手段210により選択された２つ
の電極間以外の電極間を短絡させることにより、上記目
的は達成される。
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた両端電極および該両端電
極の間に設けられた中間電極から光電流を出力可能な受
光素子208と、受光素子208の両端電極および中間電極の
中から２つの電極を選択する選択手段210と、選択され
た２つの電極からの出力に基づいて測距値を演算する演
算手段211とを有し、選択手段210により選択された２つ
の電極間以外の電極間を短絡させることにより、上記目
的は達成される。
請求項６に記載された発明は、撮影画面内の所定領域
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた両端電極および該両端電
極の間に設けられた中間電極から光電流を出力可能な受
光素子208と、受光素子208の両端電極および中間電極の
中から２つの電極を選択する選択手段210と、選択され
た２つの電極からの出力に基づいて測距値を演算する演
算手段211とを有し、撮影レンズ情報に応じて２つの電
極を選択するように選択手段210を構成することによ
り、上記目的は達成される。
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた両端電極および該両端電
極の間に設けられた中間電極から光電流を出力可能な受
光素子208と、受光素子208の両端電極および中間電極の
中から２つの電極を選択する選択手段210と、選択され
た２つの電極からの出力に基づいて測距値を演算する演
算手段211とを有し、撮影レンズ情報に応じて２つの電
極を選択するように選択手段210を構成することによ
り、上記目的は達成される。
請求項７に記載された発明は、請求項６に記載された
発明において、撮影レンズ情報を、該撮影レンズの焦点
距離情報としたものである。
発明において、撮影レンズ情報を、該撮影レンズの焦点
距離情報としたものである。
請求項８に記載された発明は、撮影画面内の所定領域
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた第１電極および第２電極
からなる両端電極と、第１電極および第２電極の中間点
よりも第１電極側に設けられた中間電極とを有する受光
素子208と、両端電極からの出力に基づいて、受光素子2
08の両端電極の２つの電極と、中間電極および第１電極
の２つの電極とのいずれか一方を選択する選択手段210
と、選択手段210で選択された２つの電極からの出力に
基づいて被写体までの距離を演算する演算手段211とを
備えることにより、上記目的は達成される。
の測距を行うことが可能な測距装置に適用され、撮影画
面内の所定領域に対応した被写界に向けて投光する投光
素子203と、被写界からの光を受光する受光部を有し、
この受光部の両端に設けられた第１電極および第２電極
からなる両端電極と、第１電極および第２電極の中間点
よりも第１電極側に設けられた中間電極とを有する受光
素子208と、両端電極からの出力に基づいて、受光素子2
08の両端電極の２つの電極と、中間電極および第１電極
の２つの電極とのいずれか一方を選択する選択手段210
と、選択手段210で選択された２つの電極からの出力に
基づいて被写体までの距離を演算する演算手段211とを
備えることにより、上記目的は達成される。
E.作用 請求項１に記載された発明では、複数の投光素子から
被写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光
素子208によって受光される。選択手段210は、受光素子
208の両端に設けられた両端電極と両端電極間に設けら
れた中間電極の中から、複数の投光素子にそれぞれ対応
する複数の電極を選択する。演算手段211は、選択手段2
10によって選択された複数対の電極からの出力に基づい
て複数の測距値を演算する。これにより、複数の測距領
域のそれぞれについて、精度の高い測距が行える。
被写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光
素子208によって受光される。選択手段210は、受光素子
208の両端に設けられた両端電極と両端電極間に設けら
れた中間電極の中から、複数の投光素子にそれぞれ対応
する複数の電極を選択する。演算手段211は、選択手段2
10によって選択された複数対の電極からの出力に基づい
て複数の測距値を演算する。これにより、複数の測距領
域のそれぞれについて、精度の高い測距が行える。
請求項２に記載された発明では、複数の投光素子203
にそれぞれ対応して選択される電極対の間の受光部が部
分的に重なるように、選択手段210によって電極対が選
択されるため、受光素子の長さを短くすることができ
る。
にそれぞれ対応して選択される電極対の間の受光部が部
分的に重なるように、選択手段210によって電極対が選
択されるため、受光素子の長さを短くすることができ
る。
請求項３に記載された発明では、投光素子203から被
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。第１の演算手段211は受光素
子208の両端にある両端電極からの出力に基づいて測距
離を演算し、この演算結果に基づいて選択手段210は両
端電極および中間電極の中から２つの電極を選択し、そ
の選択された電極からの出力に基づいて第２の演算手段
211は測距値を演算する。
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。第１の演算手段211は受光素
子208の両端にある両端電極からの出力に基づいて測距
離を演算し、この演算結果に基づいて選択手段210は両
端電極および中間電極の中から２つの電極を選択し、そ
の選択された電極からの出力に基づいて第２の演算手段
211は測距値を演算する。
請求項５に記載された発明では、投光素子203から被
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。選択手段210は受光素子208
の両端電極と両電極の間の中間電極の中から２つの電極
を選択する。選択されていない電極間を短絡させた状態
で、演算手段211は選択された２つの電極からの出力に
基づいて測距値を演算する。これにより、選択されてい
ない電極が測距演算に悪影響を及ぼさなくなる。
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。選択手段210は受光素子208
の両端電極と両電極の間の中間電極の中から２つの電極
を選択する。選択されていない電極間を短絡させた状態
で、演算手段211は選択された２つの電極からの出力に
基づいて測距値を演算する。これにより、選択されてい
ない電極が測距演算に悪影響を及ぼさなくなる。
請求項６に記載された発明では、投光素子203から被
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。選択手段210は撮影レンズ情
報に基づいて、受光素子208の両端電極と両電極の間の
中間電極の中から２つの電極を選択し、その選択された
２つの電極からの出力に基づいて、演算手段211は測距
値を演算する。
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。選択手段210は撮影レンズ情
報に基づいて、受光素子208の両端電極と両電極の間の
中間電極の中から２つの電極を選択し、その選択された
２つの電極からの出力に基づいて、演算手段211は測距
値を演算する。
請求項８に記載された発明では、投光素子203から被
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。この受光素子208は、両端に
設けられた第１電極および第２電極と、第１電極および
第２電極の中間点よりも第１電極側に設けられた中間電
極を有する。これら電極のうちいずれか２つが選択手段
210によって選択され、その選択された電極からの出力
に基づいて演算手段211は被写体までの距離を演算す
る。このため、必要に応じて短い電極間で測距でき、高
精度の測距結果が得られる。
写界に向けて投光された光は被写界で反射されて受光素
子208によって受光される。この受光素子208は、両端に
設けられた第１電極および第２電極と、第１電極および
第２電極の中間点よりも第１電極側に設けられた中間電
極を有する。これら電極のうちいずれか２つが選択手段
210によって選択され、その選択された電極からの出力
に基づいて演算手段211は被写体までの距離を演算す
る。このため、必要に応じて短い電極間で測距でき、高
精度の測距結果が得られる。
F.実施例 第２図〜第４図を用いて本発明一実施例について説明
する。
する。
第２図は本発明に係るPSDの断面図であり、上述と同
様に、Ｐ層、Ｉ層、Ｎ層の３層構造であり、そのＮ層に
共通電極１が設けられ、Ｐ層の表面両端、すなわち位置
検出範囲の両端に電極２および３が、電極２および電極
３の任意の中間部分、すなわち位置検出範囲内に所定間
隔で一対の中間電極４−１および４−２が設けられる。
かかるPSDにおいて、中間電極４−１と電極２、中間電
極４−２と電極３を短絡して電極４−１および電極４−
２から出力電流を取り出せば、電流４−１から電極４−
２までの長さを素子長2rとするPSD9と等価に使用するこ
とができる。また、中間電極４−１と電極２を短絡し
て、電極４−１および電極３から出力電流を取り出せ
ば、中間電極４−１から電極３までの長さを素子長2rと
するPSD9と等価に使用することができる。この様に、電
極2,3,4−1,4−２のうちの任意の２つの電極から出力電
流を取り出すことにより、その電極間の長さを素子長2r
とするPSD9として用いることができる。
様に、Ｐ層、Ｉ層、Ｎ層の３層構造であり、そのＮ層に
共通電極１が設けられ、Ｐ層の表面両端、すなわち位置
検出範囲の両端に電極２および３が、電極２および電極
３の任意の中間部分、すなわち位置検出範囲内に所定間
隔で一対の中間電極４−１および４−２が設けられる。
かかるPSDにおいて、中間電極４−１と電極２、中間電
極４−２と電極３を短絡して電極４−１および電極４−
２から出力電流を取り出せば、電流４−１から電極４−
２までの長さを素子長2rとするPSD9と等価に使用するこ
とができる。また、中間電極４−１と電極２を短絡し
て、電極４−１および電極３から出力電流を取り出せ
ば、中間電極４−１から電極３までの長さを素子長2rと
するPSD9と等価に使用することができる。この様に、電
極2,3,4−1,4−２のうちの任意の２つの電極から出力電
流を取り出すことにより、その電極間の長さを素子長2r
とするPSD9として用いることができる。
なお、第２図では中間電極を２本としたが、１本以上
あるいは３本以上でもよい。
あるいは３本以上でもよい。
次に、第２図に示したPSD9を用いた測距装置の一例を
第３図及び第４図により説明する。なお、第２図および
第７図と同様な箇所には同一の符号を付して説明する。
第３図及び第４図により説明する。なお、第２図および
第７図と同様な箇所には同一の符号を付して説明する。
第３図において、赤外光等を発光する投光素子５から
射出された光は、投光レンズ６により被写体上にスポッ
ト光束10を照射する。７−２は、設計上測距可能な最短
距離に位置する被写体であり、７−３は、設計上測距可
能な最遠距離に位置する被写体であり、７−４−1,7−
４−２は、それぞれマクロ撮影、遠距離撮影領域への測
距切り換え点に位置する被写体である。
射出された光は、投光レンズ６により被写体上にスポッ
ト光束10を照射する。７−２は、設計上測距可能な最短
距離に位置する被写体であり、７−３は、設計上測距可
能な最遠距離に位置する被写体であり、７−４−1,7−
４−２は、それぞれマクロ撮影、遠距離撮影領域への測
距切り換え点に位置する被写体である。
投光素子５から投射されたスポット光束10の被写体で
の反射光は、被写体が７−２にある場合には、受光レン
ズ８を介してPSD9上のＫ点へ入射し、被写体が７−４−
１の位置にある場合にはＭ点へ入射し、被写体が７−４
−２の位置にある場合にはＮ点へ入射し、被写体が７−
３の位置にある場合にはＬ点へ入射する。Ｋ〜Ｌ点には
電極があるので、電極上の部分は入射光に対して不感帯
となるが、電極はスポット光の大きさに対して極めて小
さいので問題とはならない。
の反射光は、被写体が７−２にある場合には、受光レン
ズ８を介してPSD9上のＫ点へ入射し、被写体が７−４−
１の位置にある場合にはＭ点へ入射し、被写体が７−４
−２の位置にある場合にはＮ点へ入射し、被写体が７−
３の位置にある場合にはＬ点へ入射する。Ｋ〜Ｌ点には
電極があるので、電極上の部分は入射光に対して不感帯
となるが、電極はスポット光の大きさに対して極めて小
さいので問題とはならない。
また、PSD9の電極2,4−1,4−2,3はそれぞれ電極切換
部31に接続され、いずれか２つの電極が短絡され、残余
の一対の電極の出力電流が選択されて制御部40内の測距
演算回路41に入力される。測距演算回路41は、入力され
る光電流に基づいて被写体までの測距値を演算し、CPU4
2に入力する。CPU42は、測距値に従って電極切換制御回
路43を通して電極切換部31を制御する。またCPU42は、
投光素子駆動制御回路44を介して投光素子５を駆動制御
する。CPU42にはレリーズ半押しスイッチ45も接続さ
れ、スイッチ45がオンすると第４図に示す手順で測距処
理が開始される。
部31に接続され、いずれか２つの電極が短絡され、残余
の一対の電極の出力電流が選択されて制御部40内の測距
演算回路41に入力される。測距演算回路41は、入力され
る光電流に基づいて被写体までの測距値を演算し、CPU4
2に入力する。CPU42は、測距値に従って電極切換制御回
路43を通して電極切換部31を制御する。またCPU42は、
投光素子駆動制御回路44を介して投光素子５を駆動制御
する。CPU42にはレリーズ半押しスイッチ45も接続さ
れ、スイッチ45がオンすると第４図に示す手順で測距処
理が開始される。
すなわち第４図において、先ずステップS1において、
電極２および電極３からPSD9に生ずる光電流を取り出せ
るように、電極切換制御回路43を介して電極切換部31を
駆動する。次いでステップS2において、投光素子駆動制
御回路44を介して投光素子５を発光させる。このときの
測距値は、電極2,3から出力され電極切換部31を介して
入力される光電流に基づき電極2,3間を素子長2rとして
測距演算回路41で演算される。そしてステップS3におい
て、測距値が７−４−１から７−４−２の範囲内にある
か否かを判定し、肯定されると、このときの測距値を以
後の撮影情報として所定の領域に記憶し測距処理を終了
する。
電極２および電極３からPSD9に生ずる光電流を取り出せ
るように、電極切換制御回路43を介して電極切換部31を
駆動する。次いでステップS2において、投光素子駆動制
御回路44を介して投光素子５を発光させる。このときの
測距値は、電極2,3から出力され電極切換部31を介して
入力される光電流に基づき電極2,3間を素子長2rとして
測距演算回路41で演算される。そしてステップS3におい
て、測距値が７−４−１から７−４−２の範囲内にある
か否かを判定し、肯定されると、このときの測距値を以
後の撮影情報として所定の領域に記憶し測距処理を終了
する。
ステップS3が否定されるとステップS4に進む。ステッ
プS4においては、測距値が７−４−１よりも至近にある
か否かを判定し、７−４−１の距離よりも至近であった
場合には、ステップS5において、電極２および電極４−
１から光電流が取り出せるように電極切換部31により使
用電極を切換える。また測距値が７−４−２の距離より
も遠方であった場合には、ステップS6において、電極４
−２および電極３から光電流が取り出せるように使用電
極を切り換える。次にステップS7において、発光素子５
を発光させ、そのときの光電流を測距演算回路41に取り
込んで測距値を演算し、この測距値を以後の撮影情報と
して用いるために所定の記憶領域に記憶して測距処理を
終了する。なお、ステップS7における至近時の測距演算
に当っては、電極2,4−１間距離を素子長2rとし、また
遠方時の測距演算に当っては、電極４−2,3間距離を素
子長2rとしてそれぞれ演算される。
プS4においては、測距値が７−４−１よりも至近にある
か否かを判定し、７−４−１の距離よりも至近であった
場合には、ステップS5において、電極２および電極４−
１から光電流が取り出せるように電極切換部31により使
用電極を切換える。また測距値が７−４−２の距離より
も遠方であった場合には、ステップS6において、電極４
−２および電極３から光電流が取り出せるように使用電
極を切り換える。次にステップS7において、発光素子５
を発光させ、そのときの光電流を測距演算回路41に取り
込んで測距値を演算し、この測距値を以後の撮影情報と
して用いるために所定の記憶領域に記憶して測距処理を
終了する。なお、ステップS7における至近時の測距演算
に当っては、電極2,4−１間距離を素子長2rとし、また
遠方時の測距演算に当っては、電極４−2,3間距離を素
子長2rとしてそれぞれ演算される。
この様な動作により、測距範囲が広がっても測距範囲
に最適な電極から出力電流を取り出すことにより、従来
よりも出力電流比 の分解能を大きく取ることが可能となり、高い精度の測
距装置を得ることができる。
に最適な電極から出力電流を取り出すことにより、従来
よりも出力電流比 の分解能を大きく取ることが可能となり、高い精度の測
距装置を得ることができる。
なお、以上の実施例では、いったん一対の電極2,3を
選択して測距値を演算したが、マクロレンズあるいは長
焦点レンズが装着されたことを判別して一対の電極を選
択するようにしてもよい。また中間電極を２本設けた
が、１本の中間電極によりPSD9上の領域を２分し、被写
体までの距離が遠いときは左側の一対の電極を、近いと
きは右側の一対の電極を用いるようにしてもよい。
選択して測距値を演算したが、マクロレンズあるいは長
焦点レンズが装着されたことを判別して一対の電極を選
択するようにしてもよい。また中間電極を２本設けた
が、１本の中間電極によりPSD9上の領域を２分し、被写
体までの距離が遠いときは左側の一対の電極を、近いと
きは右側の一対の電極を用いるようにしてもよい。
第５図は、本発明を多点測距装置に適用した第２の実
施例である。５−1,5−2,5−３は、赤外光などを発光す
る投光素子で、５−２は撮影画面の中央部にスポット光
束を投射し、５−１は撮影画面中央部よりも右側にスポ
ット光束を投射し、５−３は、撮影画面中央部よりも左
側にスポット光束を投射するように設けられている。投
射されるスポット光束は、同一直線上に並んでいても、
並んでいなくても良い。被写体で反射されたスポット光
束は、受光レンズ８によりPSD9で受光される。PSD9には
電極2,3および中間電極４−3,4−4,4−5,4−６が取り付
けられている。７−２は、設計上測距可能な最短距離に
位置する被写体であり、７−３は設計上測距可能な最遠
距離に位置する被写体である。
施例である。５−1,5−2,5−３は、赤外光などを発光す
る投光素子で、５−２は撮影画面の中央部にスポット光
束を投射し、５−１は撮影画面中央部よりも右側にスポ
ット光束を投射し、５−３は、撮影画面中央部よりも左
側にスポット光束を投射するように設けられている。投
射されるスポット光束は、同一直線上に並んでいても、
並んでいなくても良い。被写体で反射されたスポット光
束は、受光レンズ８によりPSD9で受光される。PSD9には
電極2,3および中間電極４−3,4−4,4−5,4−６が取り付
けられている。７−２は、設計上測距可能な最短距離に
位置する被写体であり、７−３は設計上測距可能な最遠
距離に位置する被写体である。
投光素子５−１から照射されたスポット光測10の被写
体での反射光は、被写体が７−２の位置にある場合には
PSD9上のＫ点へ入射する。また、被写体が７−３の位置
にある場合にはＰ点へ入射する。従って、被写体が最短
距離７−２から最遠距離７−３で連続的に移動すると、
入射点はＫ点からＰ点へ連続的に移動する。この場合、
測距値を得るための光電流を、PSD9の電極２および電極
４−４から取り出すことによって、電極2,3を使用して
光電流を取り出すよりも、電極間距離に対するスポット
光束の入射移動距離を大きく取ることができ、検出精度
を上げることができる。同様にして、投光素子５−２か
らの投射光は、Ｏ点からＳ点へ移動し、このときは光電
流を電極４−３および電極４−６から取り出し、また投
光素子５−３からの投射光は、Ｑ点からＬ点へ移動し、
このときは光電流を電極４−５および電極３から取り出
せば良い。これら使用電極の切換えと投光素子５−1,5
−2,5−３の駆動切換えは、上述した制御部40と同様に
次のように制御できる。
体での反射光は、被写体が７−２の位置にある場合には
PSD9上のＫ点へ入射する。また、被写体が７−３の位置
にある場合にはＰ点へ入射する。従って、被写体が最短
距離７−２から最遠距離７−３で連続的に移動すると、
入射点はＫ点からＰ点へ連続的に移動する。この場合、
測距値を得るための光電流を、PSD9の電極２および電極
４−４から取り出すことによって、電極2,3を使用して
光電流を取り出すよりも、電極間距離に対するスポット
光束の入射移動距離を大きく取ることができ、検出精度
を上げることができる。同様にして、投光素子５−２か
らの投射光は、Ｏ点からＳ点へ移動し、このときは光電
流を電極４−３および電極４−６から取り出し、また投
光素子５−３からの投射光は、Ｑ点からＬ点へ移動し、
このときは光電流を電極４−５および電極３から取り出
せば良い。これら使用電極の切換えと投光素子５−1,5
−2,5−３の駆動切換えは、上述した制御部40と同様に
次のように制御できる。
投光素子５−1,5−2,5−３を、CPU42の制御により投
光素子駆動制御回路44を介して時系列的に発光させ、ま
た、各素子の発光に同期して電極切換部31が上述のよう
な最適な電極から光電流を取り出すようにし、選択され
た電極間距離を素子長2rとして測距演算回路41で測距離
を演算する。測距演算回路41は、各々の測距値を記憶す
ることができ、上記３箇所の測距が終了すると、それら
の測距離が予め用意されたプログラムによって適切な測
距値を求め、以後の撮影情報として所定の記憶領域に記
憶される。例えば３箇所の測距値の中で至近距離が選択
される。
光素子駆動制御回路44を介して時系列的に発光させ、ま
た、各素子の発光に同期して電極切換部31が上述のよう
な最適な電極から光電流を取り出すようにし、選択され
た電極間距離を素子長2rとして測距演算回路41で測距離
を演算する。測距演算回路41は、各々の測距値を記憶す
ることができ、上記３箇所の測距が終了すると、それら
の測距離が予め用意されたプログラムによって適切な測
距値を求め、以後の撮影情報として所定の記憶領域に記
憶される。例えば３箇所の測距値の中で至近距離が選択
される。
また、上記各測距時において、１回の測距に必要なPS
D9の出力電極の数は２本であるので、他の電極は電気的
に浮いている状態にある。これが測距値に悪影響を及ぼ
す場合は、電極切換部31によりPSD9上の測距に使用する
電極以外で、測距に用いる電極よりも外側にある電極
を、内側の電極に短絡すれば良い。
D9の出力電極の数は２本であるので、他の電極は電気的
に浮いている状態にある。これが測距値に悪影響を及ぼ
す場合は、電極切換部31によりPSD9上の測距に使用する
電極以外で、測距に用いる電極よりも外側にある電極
を、内側の電極に短絡すれば良い。
すなわち第６図において、符号Ａを光電流I1が入力さ
れる測距演算回路41の端子として、符号Ｂを光電流I2が
入力される測距演算回路41の端子として説明する。投光
素子５−１が発光し、撮影画面右側を測距した場合に
は、光電流はPSD9の出力電極２および４−４から出力さ
れるので、第６図に示す如く測距演算回路41の入力端子
Ａには、PSD9の出力電極２を接続し、端子Ｂには出力電
極４−4,4−5,4−６および３を接続する。同様にして、
投光素子５−２が発光する場合には、端子Ａに出力電極
２および４−３を、端子Ｂに出力電極４−６および３を
接続し、投光素子５−３が発光する場合には、端子Ａに
出力電極2,4−3,4−４および４−５を、端子Ｂに出力電
極３を接続すれば良い。なお、この場合、第４図で説明
したと同様に、上記電極の切り換えは投光素子の切り換
えと同期して行われるので、誤測距の心配はない。な
お、電極の切り換えと投光素子の切り換えを機械的に同
期させることもできる。
れる測距演算回路41の端子として、符号Ｂを光電流I2が
入力される測距演算回路41の端子として説明する。投光
素子５−１が発光し、撮影画面右側を測距した場合に
は、光電流はPSD9の出力電極２および４−４から出力さ
れるので、第６図に示す如く測距演算回路41の入力端子
Ａには、PSD9の出力電極２を接続し、端子Ｂには出力電
極４−4,4−5,4−６および３を接続する。同様にして、
投光素子５−２が発光する場合には、端子Ａに出力電極
２および４−３を、端子Ｂに出力電極４−６および３を
接続し、投光素子５−３が発光する場合には、端子Ａに
出力電極2,4−3,4−４および４−５を、端子Ｂに出力電
極３を接続すれば良い。なお、この場合、第４図で説明
したと同様に、上記電極の切り換えは投光素子の切り換
えと同期して行われるので、誤測距の心配はない。な
お、電極の切り換えと投光素子の切り換えを機械的に同
期させることもできる。
また、第５図では各投光素子に対する被写体からの反
射光のPSD上での入射範囲がそれぞれ重なる場合につい
て示してあるが、上記入射範囲が重ならない場合におい
ても本発明を適用することができる。この場合、電極４
−3,4−４および４−5,4−６はそれぞれどちらか一方あ
れば良いので、中間電極を２本に減らすことができる。
またこの多点測距装置では、３つの投光素子を用いて被
写体の３つの領域を照射せしめたが、１つの投光素子を
被写体上で光軸と直交する左右方向に走査して各領域を
照射してもよい。
射光のPSD上での入射範囲がそれぞれ重なる場合につい
て示してあるが、上記入射範囲が重ならない場合におい
ても本発明を適用することができる。この場合、電極４
−3,4−４および４−5,4−６はそれぞれどちらか一方あ
れば良いので、中間電極を２本に減らすことができる。
またこの多点測距装置では、３つの投光素子を用いて被
写体の３つの領域を照射せしめたが、１つの投光素子を
被写体上で光軸と直交する左右方向に走査して各領域を
照射してもよい。
以上のように、PSDの入射位置検出範囲内に中間電極
を設け、物体の照射領域に応じて、光電流を取り出す一
対の電極を選択するようにしたので、測距範囲が広がっ
て素子長が長くなる場合においても高い精度で測距値を
得ることができる。また、第１の実施例において、本発
明を測距範囲が従来と同じである測距装置に応用した場
合には、従来の測距精度を更に高めることができる。
を設け、物体の照射領域に応じて、光電流を取り出す一
対の電極を選択するようにしたので、測距範囲が広がっ
て素子長が長くなる場合においても高い精度で測距値を
得ることができる。また、第１の実施例において、本発
明を測距範囲が従来と同じである測距装置に応用した場
合には、従来の測距精度を更に高めることができる。
また、第２の実施例の多点測距においては、従来のPS
Dを用いた場合のように各入射光の入射範囲を全てカバ
ーできる長いSPDを使用するため精度が低下してしまう
ということがなく、精度の高い距離検出が可能な測距装
置が得られる。更に、第２の実施例において各反射光の
入射範囲が重ならない場合には、本実施例のPSDを用い
ることにより、従来のPSDを各入射範囲毎に設ける必要
がなく、各PSD間の取り付け位置調整が不用となり、低
コストでしかも高精度の測距装置を提供することができ
る。
Dを用いた場合のように各入射光の入射範囲を全てカバ
ーできる長いSPDを使用するため精度が低下してしまう
ということがなく、精度の高い距離検出が可能な測距装
置が得られる。更に、第２の実施例において各反射光の
入射範囲が重ならない場合には、本実施例のPSDを用い
ることにより、従来のPSDを各入射範囲毎に設ける必要
がなく、各PSD間の取り付け位置調整が不用となり、低
コストでしかも高精度の測距装置を提供することができ
る。
G.発明の効果 以上説明したように、本発明の請求項１に記載の発明
によれば、撮影画面内の複数領域の測距を行うことが可
能な測距装置でも、受光素子に中間電極を設け、それぞ
れ複数領域に対応して受光素子を分割させて測距値を得
ることができるので、どの測距領域においても高精度の
測距値を得ることができる。
によれば、撮影画面内の複数領域の測距を行うことが可
能な測距装置でも、受光素子に中間電極を設け、それぞ
れ複数領域に対応して受光素子を分割させて測距値を得
ることができるので、どの測距領域においても高精度の
測距値を得ることができる。
また、請求項３に記載の発明によれば、まず両端電極
間の出力を用いて測距値を演算し、その演算結果に応じ
てさらに電極を選択しなおし、測距値の演算を行うよう
にしたため、両端電極間で得られた測距値よりさらに高
精度の測距値を得ることができる。
間の出力を用いて測距値を演算し、その演算結果に応じ
てさらに電極を選択しなおし、測距値の演算を行うよう
にしたため、両端電極間で得られた測距値よりさらに高
精度の測距値を得ることができる。
また、請求項５に記載の発明によれば、選択された電
極間以外の電極間を短絡させることにより、選択されて
いない他の電極が測距値に悪影響を及ぼさなくなる。
極間以外の電極間を短絡させることにより、選択されて
いない他の電極が測距値に悪影響を及ぼさなくなる。
また、請求項６に記載の発明によれば、撮影レンズ情
報に応じて電極を選択するので、例えば望遠レンズでは
遠距離側を短い電極間で測距を行わせ、またマクロレン
ズでは至近距離を短い電極間で測距を行わせることによ
り、撮影レンズの用途に応じて高精度の測距値を得るこ
とができる。
報に応じて電極を選択するので、例えば望遠レンズでは
遠距離側を短い電極間で測距を行わせ、またマクロレン
ズでは至近距離を短い電極間で測距を行わせることによ
り、撮影レンズの用途に応じて高精度の測距値を得るこ
とができる。
また、請求項８に記載の発明によれば、受光素子に両
端電極である第１の電極および第２の電極を設けるとと
もに、第１電極および第２電極の中間点よりも第１電極
側に中間電極を設け、両端電極からの出力に基づいて、
２つの両端電極を選択するか、中間電極および第１電極
の２つを選択するかを切り換えて、測距値を演算するよ
うにしたため、必要に応じて短い電極間で測距を行え、
測距値の精度を向上させることができる。
端電極である第１の電極および第２の電極を設けるとと
もに、第１電極および第２電極の中間点よりも第１電極
側に中間電極を設け、両端電極からの出力に基づいて、
２つの両端電極を選択するか、中間電極および第１電極
の２つを選択するかを切り換えて、測距値を演算するよ
うにしたため、必要に応じて短い電極間で測距を行え、
測距値の精度を向上させることができる。
第１図はクレーム対応図である。 第２図は本発明に係るPSDの一実施例を示す断面図であ
る。 第３図は第２図に示したPSDを用いた測距装置の一例を
示す図である。 第４図はその測距手順例を示すフローチャートである。 第５図は第２図に示したPSDを用いた多点測距装置の一
例を示す図である。 第６図は第５図に示す多点測距装置における使用電極を
説明する図である。 第７図は従来のPSDの断面図である。 第８図は従来のPSDの等価回路を示す図である。 第９図は三角測距による能動型測距装置の原理図であ
る。 第10図は測距範囲が広がった場合のPSDの対応を示す図
である。 1:共通電極 ２〜4:出力電流検出用電極 5:投光素子、6:投光レンズ 7:測距物体、8:受光レンズ 9:SPD、10:スポット光束 31:電極切換部、40:制御部 41:測距演算回路、42:CPU 43:電極切換制御回路 44:投光素子駆動制御回路 201:物体、202:スポット光束 203:投光手段 105,204,205:電極 206:中間電極 207:半導体位置検出素子 208:受光手段 209:選択手段 210:電極切換手段 211:演算手段
る。 第３図は第２図に示したPSDを用いた測距装置の一例を
示す図である。 第４図はその測距手順例を示すフローチャートである。 第５図は第２図に示したPSDを用いた多点測距装置の一
例を示す図である。 第６図は第５図に示す多点測距装置における使用電極を
説明する図である。 第７図は従来のPSDの断面図である。 第８図は従来のPSDの等価回路を示す図である。 第９図は三角測距による能動型測距装置の原理図であ
る。 第10図は測距範囲が広がった場合のPSDの対応を示す図
である。 1:共通電極 ２〜4:出力電流検出用電極 5:投光素子、6:投光レンズ 7:測距物体、8:受光レンズ 9:SPD、10:スポット光束 31:電極切換部、40:制御部 41:測距演算回路、42:CPU 43:電極切換制御回路 44:投光素子駆動制御回路 201:物体、202:スポット光束 203:投光手段 105,204,205:電極 206:中間電極 207:半導体位置検出素子 208:受光手段 209:選択手段 210:電極切換手段 211:演算手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大谷 忠 東京都品川区西大井１丁目６番３号 株 式会社ニコン大井製作所内 (56)参考文献 特開 昭62−14017（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−158508（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−167211（ＪＰ，Ａ)
Claims (8)
- 【請求項１】撮影画面内の複数領域の測距を行うことが
可能な測距装置において、 前記撮影画面内の複数領域に対応した被写界に向けて投
光する複数の投光素子と、 被写界からの光を受光する受光部を有し、この受光部の
両端に設けられた両端電極および該両端電極の間に設け
られた中間電極から光電流を出力可能な受光素子と、 前記受光素子の前記両端電極および前記中間電極の中か
ら、前記複数の投光素子にそれぞれ対応する複数対の電
極を選択する選択手段と、 前記選択された前記複数対の電極からの出力に基づいて
複数の測距値を演算する演算手段とを備えることを特徴
とする測距装置。 - 【請求項２】前記選択手段は、前記複数の投光素子にそ
れぞれ対応して選択される電極対の間の受光部が部分的
に重なるように、前記複数の投光素子ごとに前記両端電
極および前記中間電極の中から２つの電極を選択するこ
とを特徴とする請求項１に記載の測距装置。 - 【請求項３】撮影画面内の所定領域の測距を行うことが
可能な測距装置において、 前記撮影画面内の所定領域に対応した被写界に向けて投
光する投光素子と、 被写界からの光を受光する受光部を有し、この受光部の
両端に設けられた両端電極および該両端電極の間に設け
られた中間電極から光電流を出力可能な受光素子と、 前記両端電極からの出力に基づいて測距値を演算する第
１の演算手段と、 この第１の演算手段の演算結果に基づいて、前記両端電
極および前記中間電極の中から２つの電極を選択する選
択手段と、 前記選択された２つの電極からの出力に基づいて測距値
を演算する第２の演算手段とを備えることを特徴とする
測距装置。 - 【請求項４】前記第１の演算手段によって演算された測
距値が所定値以内の場合には、前記選択手段は前記中間
電極を選択することを特徴とする請求項３に記載の測距
装置。 - 【請求項５】撮影画面内の所定領域の測距を行うことが
可能な測距装置において、 前記撮影画面内の所定領域に対応した被写界に向けて投
光する投光素子と、 被写界からの光を受光する受光部を有し、この受光部の
両端に設けられた両端電極および該両端電極の間に設け
られた中間電極から光電流を出力可能な受光素子と、 前記受光素子の前記両端電極および前記中間電極の中か
ら２つの電極を選択する選択手段と、 前記選択された２つの電極からの出力に基づいて測距値
を演算する演算手段とを有し、 前記選択手段により選択された２つの電極間以外の電極
間を短絡させることを特徴とする測距装置。 - 【請求項６】撮影画面内の所定領域の測距を行うことが
可能な測距装置において、 前記撮影画面内の所定領域に対応した被写界に向けて投
光する投光素子と、 被写界からの光を受光する受光部を有し、この受光部の
両端に設けられた両端電極および該両端電極の間に設け
られた中間電極から光電流を出力可能な受光素子と、 前記受光素子の前記両端電極および前記中間電極の中か
ら２つの電極を選択する選択手段と、 前記選択された２つの電極からの出力に基づいて測距値
を演算する演算手段とを有し、 前記選択手段は、撮影レンズ情報に応じて前記２つの電
極を選択することを特徴とする測距装置。 - 【請求項７】前記撮影レンズ情報は、該撮影レンズの焦
点距離情報であることを特徴とする請求項６に記載の測
距装置。 - 【請求項８】撮影画面内の所定領域の測距を行うことが
可能な測距装置において、 前記撮影画面内の所定領域に対応した被写界に向けて投
光する投光素子と、 被写界からの光を受光する受光部を有し、この受光部の
両端に設けられた第１電極および第２電極からなる両端
電極と、前記第１電極および前記第２電極の中間点より
も前記第１電極側に設けられた中間電極とを有する受光
素子と、 前記両端電極からの出力に基づいて、前記受光素子の前
記両端電極の２つの電極と、前記中間電極および前記第
１電極の２つの電極とのいずれか一方を選択する選択手
段と、 前記選択手段で選択された２つの電極からの出力に基づ
いて被写体までの距離を演算する演算手段とを備えたこ
とを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63090958A JP2580700B2 (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63090958A JP2580700B2 (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01262410A JPH01262410A (ja) | 1989-10-19 |
| JP2580700B2 true JP2580700B2 (ja) | 1997-02-12 |
Family
ID=14013001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63090958A Expired - Fee Related JP2580700B2 (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2580700B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2670461B2 (ja) * | 1990-06-20 | 1997-10-29 | キヤノン株式会社 | 測距装置 |
| JP3145729B2 (ja) * | 1991-05-28 | 2001-03-12 | チノン株式会社 | 多点測距装置 |
| JP2001208537A (ja) * | 2000-01-28 | 2001-08-03 | Mitsubishi Electric Corp | 位置検出回路 |
| AT508438B1 (de) * | 2009-04-16 | 2013-10-15 | Isiqiri Interface Tech Gmbh | Anzeigefläche und eine damit kombinierte steuervorrichtung für eine datenverarbeitungsanlage |
| JP5398333B2 (ja) * | 2009-04-16 | 2014-01-29 | シャープ株式会社 | 光学式測距装置、およびそれを用いた電子機器 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57158508A (en) * | 1981-03-26 | 1982-09-30 | Minolta Camera Co Ltd | Distance detecting device |
| JPS6214017A (ja) * | 1985-07-12 | 1987-01-22 | Canon Inc | 測距装置 |
| JPH0830653B2 (ja) * | 1986-12-27 | 1996-03-27 | オリンパス光学工業株式会社 | 距離検出装置 |
-
1988
- 1988-04-12 JP JP63090958A patent/JP2580700B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01262410A (ja) | 1989-10-19 |
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