JPH0465630A - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JPH0465630A
JPH0465630A JP2178398A JP17839890A JPH0465630A JP H0465630 A JPH0465630 A JP H0465630A JP 2178398 A JP2178398 A JP 2178398A JP 17839890 A JP17839890 A JP 17839890A JP H0465630 A JPH0465630 A JP H0465630A
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修 野中
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山内 和浩
Akira Inoue
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    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/30Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
    • G02B7/32Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、カメラ等の測距装置、更に詳しくは、被写体
にスポット状の光束を照射し、被写体からの反射光を受
光素子で受光して距離情報を得る測距装置に関する。
[従来の技術] 被写体に光束を照射し、被写体からの反射光を受光手段
にて受光して距離情報を得る測距装置を有するカメラは
一般に普及しているが、従来、この種のカメラでは画面
内の1つのポイント、主として中央部でしか測距するこ
とができない。そのため、主要被写体がこのポイントか
ら外れると、所謂、“中抜け゛と呼称される状態になっ
て主要被写体にピントか合わないピンボケ写真が撮れて
しまうことになる。
そこで、画面内の複数のポイントに複数のスポット光を
照射し、これらの反射光から被写体距離を求めて中抜け
を防止するようにした多点測距装置が、例えば特開昭5
8−9013号や、特開昭58−76715号等に提案
されている。この種多点測距装置においては、測距され
た複数のポイントの距離情報の内、最も近い距離のポイ
ントに被写体がいる可能性が高、いことから、その最も
近い距離に撮影レンズを駆動制御するようになっている
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、被写体にスポット光を照射する測距装置
では、有限な拡がりを有するスポット光の全てが被写体
に照射されれば正確に測距できるが、被写体のエッヂに
スポット光が当たるとスポット光の一部しか反射されな
いので、誤測距が生じることになってしまう。そこで、
第9A〜11B図に基づいてこの誤測距の問題を説明す
る。
第9A図は被写体11上のスポット光21の様子を、第
9B図は受光素子(PSD)4上の反射光21aの様子
をそれぞれ示している。
第9A図のように、スポット光が被写体11の中に完全
に入ってしまう場合には、反射光21aはPSDJ上に
理想的に入射し、PSD4はその重心位置から正しい測
距出力をする。そして重心位置は、被写体距離に応して
PSD4上の無限遠に相当する位置から至近に相当する
位置まで移動する。
しかし、第10A、IIA図のように、被写体11がス
ポット光21の位置から少したけ横にずれて、スポット
光が完全に反射しない場合、その反射した光だけの重心
位置から測距出力をするため、第9A図と同じ距離にい
る被写体11に対しても、第10A図の場合は重心位置
が第10B図に示すようにPSD上で近距離側に移り、
第9A。
9B図よりも近距離側に寄った測距出力をする。
反対に第11A図の場合には、第11B図に示すように
遠距離側に寄った測距出力をしてしまう。
1つのPSDで1つのスポット光を受光する場合には、
この誤測距の量は比較的少なくてすむが、1つのPSD
で複数のスポット光を受光する多点l#j距装置の場合
には、1つのスポット光に対する無限遠から至近までの
PSD上の移動量が小さいことから、前記の“スポット
光はずれ”による誤測距は大きなものとなる。
さらに、このスポット光外れによる誤測距は、各スポッ
ト光について生じる危険性かあり、多点測距装置は1点
側距装置に比べて危険性は、多点の数たけ増すことにな
り、しかも近距離側に寄った測距出力を測距結果として
しまうため、ピントかずれた写真を撮影してしまうこと
があった。
そこで本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたもので
、その目的は、中抜けを防止すると共にスポット光外れ
による誤測距を防止した測距装置を提供するにある。
[課題を解決するための手段および作用コ本発明の測距
装置は、画面中央部の被写体に対して測距用光を投射す
る第1投光手段と、画面周辺部の被写体に対して測距用
光を投射する第2投光手段と、上記画面中央部の被写体
からの反射光を受光し、被写体距離に応じて第1の距離
情報を出力する第1測距演算手段と、上記画面周辺部の
被写体からの反射光を受光し、被写体距離に応じて第2
の距離情報を出力する第2測距演算手段と、上記第1お
よび第2距離情報に基づいて撮影距離を決定する撮影距
離決定手段とからなり、上記撮影距離決定手段は、上記
撮影距離情報が所定の距離範囲内にある場合には、その
第1距離情報を撮影距離とする第1判定部と、上記第1
距離情報が上記所定の距離範囲よりも近距離にあり、か
つ第2距離情報も所定の距離よりも近距離にある場合に
は、第1もしくは第2距離情報のいずれかを撮影距離と
する第2判定部と、上記第1距離情報が上記所定の距離
範囲よりも遠距離にある場合には、上記第1距離情報を
撮影距離とする第3判定部と、を具備することを特徴と
するものである。
[実 施 例] 以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する。
この実施例の動作を説明する前に、第2A〜2D図を用
いて本発明の測距装置の基本的な考え方を、また第3図
を用いてPSDによる公知の一点用測距装置を、それぞ
れ説明する。
第2A図は第1図に示した測距装置を用いて直径的20
[)mmの人間の顔をチャート測距したときの測距結果
を示す線図で、第2B図がその実験方法である。図にお
いて、被写体距離fIoは2m付近とし、上記チャート
をp。に略直角なX方向にシフトしなから測距を行なう
と、第2A図に示したように、スポット外れによる誤差
が大きく近距離側に出るポイントx1.x2.x4と、
遠距離側に測距誤差が出るポイントX 3 r−X 5
 r  X eとが明らかとなる。
本発明は、このうち、X 2 +  X i、付近で生
じる測距誤差を隣接する測距データを使用することによ
って改善しようとするもので、X 2 +  X 4で
至近距離相当のデータが出力された場合、これを無視す
る。
ここで、実際に至近距離のものを測距した場合と、スポ
ット外れによって至近距離相当の測距出力が出力された
場合との判別は、隣接する2点が共に、近距離比較値1
1Nより至近寄りのデータとなるか否かで行なうことに
する。例えば、1m未満の距離に在る被写体を撮影する
よう゛なマクロ撮影においては、IREDスポットの間
隔d、(第2B図参照)が d1纏J) tan θ より比較的短かいので、第2C図に示すように隣接する
投光スポットL、C,Hのうちの2点共、同様に、近距
離比較値gNより至近寄りのデータを出力すると考えら
れるからである。
一方、投光スポットCが第2D図に示すようにスポット
外れによって至近相当の結果が出力されるときは、かな
り高い確率で他の点は至近以外のの結果を出力するもの
と考えられる。そして、これらの判定、繰り出し距離の
決定は後述するCPU7で行なうようにしている。以上
が、本発明の測距装置の基本的な考え方の説明である。
次に、第3図を用いて本発明の基本となるPSD4を使
用した公知の一点用測距装置を説明する。
IRED3’が投光レンズ1を介して被写体11に測距
用光を投射すると、受光レンズ2は被写体上での測距用
光の反射光を集光し、PSDJ上に被写体像を結像する
。このとき、反射光の入射位置Xは三角測距の原理より
、次式のように被写体距離gの関数となる。
X−5−f/11  ・・・・・・・・・(1)ここで
、Sは投受光レンズの主点間距離(基線長)であり、f
は受光レンズ2の焦点距離で、この位置にPSD4が配
置される。PSD4は、この測距用信号光の入射位置X
の関数である2つの光電流信号1.、I2を出力する。
今、IRED3’の発光中心と投光用レンズ1の主点を
結んだ線と平行な線を、受光用レンズ2の主点から延ば
したとき、PSD4とクロスする点を、PSD4のIR
ED側の端部からの長さaの点にとり、全信号光電流を
1.。、PSD4の全長をtとすると、1  = f(
a+x)/l)  I     −−・(2)1   
             p。
’ 2−r (t−(a”x) l / t] ’ p
o +++ +++ (3)となるから、上記(2>、
(3)式より1、/(1,+12) を演算によって求めることができる。
1  / (11+1.、)−(a十x)/1=  (
1/l)  (a+  (S −f/(1)1・・・・
・・・・・(4) ところで、上記(4)式において、PSD4の全長t、
PSD4のI RED側端子からの長さa基線長S、お
よび受光レンズの焦点距離fはそれぞれ定数なので、光
電流比 I /(11+12)■ か求まれば、被写体距離ρの逆数 1/l  を求める
ことができる。以上がPSDによる公知の一点用測距装
置の説明である。次に、本発明の一実施例を示す測距装
置を説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示す測距装置を用いたカ
メラの構成ブロック図である。このカメラは、投光用レ
ンズ1と複数の発光素子(IRED)3とIRED用ド
ライバ6とからなる発光部と、受光用レンズ2とPSD
4とアナログ演算用IC(AFIC)5とから成る受光
部と、AFIC5の出力結果を補正演算して撮影距離を
決定すると共に、モータドライバ8を介して撮影レンズ
駆動用モータ9を制御する、ワンチップマイコン等で構
成される演算制御回路(CPU)7とから成っている。
なお、上記IRED3は、その′中央に配置された第1
投光手段としてのIRED3Cと、その両側に配置され
た第2投光手段としてのI RE D 3R,3t、と
からなる。また、符号10はレリーズ用スイッチ、11
は被写体である。
第1図に示したレリーズ用スイッチ10の閉成によって
CPU7は、AFIC5に対し、測距開始信号を送出す
る。このとき、IRED発光用ドライバ6は、同じ< 
CPU7によって第1投光手段としての中央のIRED
3cが発光するように、これをイネーブル状態にしてい
る。そして、実際の発光タイミングはAFIC5によっ
て決定される。このAFIC5については、本出願人が
先に提案した特開昭63−132110号や特開平1−
114707号に詳述されているが、ここでは、第4図
に示すような、特開平1−114707号に開示された
ものと同じ動作原理によるAF回路を簡単に説明する。
図において、符号4は、前記第1図と同じPSDで、1
2a、12bは、PSD4からDC状態で圧力される光
電流を除去し、パルス状にPSD4に入射するIRED
信号光電流のみを増幅するプリアンプである。
このプリアンプ出力Ix、Iyは、各々圧縮ダイオード
13.14に電流信号として注入され、圧縮電圧信号に
変換される。15,16はバッファで、その出力である
圧縮電圧信号VA、VBがNPN)ランジスタ17.1
8、定電流源19および電流−電圧変換回路20等から
構成された伸張演算回路に入力される。
二こで、サーマルボルテージを■T1ダイオード13.
14及びトランジスタ17.18の逆方向飽和電流をI
sとすると、第4図中に示す記号VD 、Vzを用いて VA−VTl) n (Ia /Is )+Vz−Vo
+VTjlln  (Iy/Is)・・・・・・・・・
(5) VB−vTI!n (lb/Is)十Vz−Vo−+V
TII n  (Iy / Is )・・・・・・・・
・(6) なる関係式が成立する。上記(5)、(6)式よりIb
 −(Ia / IX ) ・Iy  ・・・・・・・
・(7)という関係式が導かれるか、 I a + Ib = I    −−−(8)より Ia = fix / (Ix + Iy ) ) I
o−−−−−−(9)lx、Iyは、それぞれ前記第2
図中の11゜I2に比例しているので、上記(4) 、
 (9)式よりIa = (Io / t)  (a+
 (S−f) /fl l・・・・・・・・・(10) となり、 IacX:1/j;) および Iaex   a が成立する。
このコレクタ電流1aは、電流−電圧変換回路20でA
FIC5より出力され、CPU7に内蔵されたA/D変
換回路で、CPU7にディジタル値として取り込まれ、
被写体距離の逆数1/itがL12−(t ・(Ia 
/ Io)−a)弓/S −f・・・・・・・・−(1
1) によって演算される。但し、この1/l演算において第
1.3図に示すように、左、右を測距する場合には、投
受光レンズ1,2の・焦点距離が等しいとき、(11)
式にお↓するaを各々a−α、a+αに変える必要があ
る。
このようにして得られた距離情報(によって、CPU7
は合焦用レンズの繰り出し距離を決定するが、このため
のアルゴリズムを第5図以下のフローチャートに従って
以下に説明する。
まず、中央の投光スポットCにより第1距離情報jlc
を測距し、この測距結果ICが近距離比較値INより近
いか否かを判定する(ステ・ツブSl。
S2)。この近距離比較値fINは、1mとし、常焦点
距離2m付近より近距離側とする。この結果がpNより
近ければ、スポット外れによる誤測距か、本当にモの被
写体が近いか、2通りが考えられる。そこで、図におけ
る左列に配置されたステップ57〜S11からなる第2
判定部で、右側または、左側の第2投光手段による第2
距離情報を参考にして、何れかに判定する。
まず右側(R)の第2投光手段から測距用光を投射して
第2距離情報gRを測距しくステップS7)、この測距
結果pRも同様に近距離比較値fINより近距離であれ
ば(ステップS8)、中央の測距結果は正しいものとし
、中央の投光スポットCによる測距結果pcに従ってレ
ンズの繰出しを行なう(ステップ512)。また、右側
の投光スポットRによる第2距離情報ρ、が近距離比較
値gNより遠くても、左側の投光スポットLによる第2
距離情報pLを測距しくステップS9)、この測距結果
g が、近距離比較値11Nより近いし 値を示すなら(ステップ5IO)、やはり中央の投光ス
ポットCによる測距結果は正しいものとし、中央の測距
結果に従って、合焦制御を行なう(ステップ512)。
これらのレンズ制御は、既に前記第1図で述べたように
、CPU7がモータドライバ8を介してモータ9によっ
て行ない、また、右(R)、左(L)へのIRED光投
光の切り換えは、やはりCPU7がIREDドライバ6
を制御して行なうものとする。
このように、中央と左、または中央と右のそれぞれの投
光スポットが同様にして、近距離比較値gN以近めデー
タを出力するときは、このアルゴリズムではスポット外
れではないと判定し、中央の投光スポットによる第1距
離情報IC重視のピント合わせを行なう。しかし、中央
の投光スポットCによる第1距離情報ICのみがIN以
近のデータを出力するときは、中央の投光スポットCが
、スポット外れを起こして誤測距していると考えられる
。そこで、第2A図のちょうどx2点に被写体がいると
判断して、上記ステップS9で求めた投光スポットLの
測距結果g、に従ってピント合わせを行なう(ステップ
511)。次に、中央の投光スポットCによる第1距離
情報11Cが遠距離比較値IPより遠い結果を出力(ス
テップ53)−した場合について考える。
この場合、1点しか測距のできない従来のオートフォー
カスで、しばしば問題となった中抜は現象が起きている
と考えられる。これは第6A図のように二人が並んだよ
うな被写体に対し、測距用光が二人の間を抜けてしまい
、背景にピントが合ってしまうという現象である。この
場合、本発明では、左(L)、右(R)のαj距点を第
6B図に示すように測距し、このうち近い測距結果を出
力する方にピント合わせを行なう。これは従来の多点測
距装置が行なってきている一般的な方法である。この場
合には、図における中央列に配置されたステップ84〜
S6からなる第3判定部で、上記ステップS7と同じ内
容のR点測距(ステップS4)を、および上記ステップ
S9と同じ内容のL点測距(ステップS5)を、それぞ
れ行なった後、上記各測距から得られた第2距離情報I
IRとILのうちの近い方の測距データに基づいてレン
ズの繰出しを行うことになる(ステップS6)。
最後に中央の投光スポットCによる第1距離情報ffc
が近距離比較値INから遠距離比較値J7Fの間に入っ
ているとき、これは、スポット外れでもなく、中抜けで
もないと判定し、図、における左列に配置されたステッ
プS12からなる第1判定部により、第1距離情報ρC
にピント合わせを行なう(ステップ512)。このよう
に中央に存在する被写体が、常焦点付近に存在する場合
は、左。
右は測距せず、第1距離情報ΩCにピント合わせを行な
うので、タイムラグを短かく抑えることができる 第7図は、上記第5図に示すフローの変形例で、このフ
ローが上記第5図と大きく異なる点は、マクロ撮影か右
側スポット外れかを判定する第2判定部での判断におい
て、投光スポットRによる第2測距情報Ω2の測距を止
め、投光スポットCとLのみによるフローにしたことで
ある。そこで、二の第7図においては、上記第5図と同
じルーチンには同じステップ番号を付して、その説明を
省略し、異なるルーチンについてのみ説明する。
第7図においてステップ53aはその内容において上記
第5図のステップS3と同じだか、不等号の向きが異な
るので、第7図の右側の列つまりステップ85〜S22
が第3判定部に、中央の列つまりステップ512が第1
判定部になる。一方、左側の列つまりステップ89〜S
llが上記第5図と同じように、第2判定部となる。ス
テップS2にて第1距離情報Reが近距離比較値gNよ
り小、つまり所定の距離範囲N N−,9Fよりも近距
離にあれば、上記第5図におけるステップS7゜S8を
介することなく、直ちにステップS9.S10、Sll
を実行する。この理由は、第1距離情報Reが所定の距
離範囲IN−ρ、よりも近距離である理由がスポット外
れのためであったとしても、このスポット外れは、前記
第10A、10B図で説明したように至近寄りに誤測距
する右側スポット外れなので、第1投光手段による投光
スポラ)Cより更に右側に投光する第2投光手段中のI
RED3R(第1図参照)から投光する必要がないから
である。
ステップ53aで、第1距離情報iceが遠距離比較値
g、を超える場合は、第3判定部に進んでステップS5
.S4を実行するが、第5図におけるステップS6をこ
の第7図では2つのルーチン521、S22に分割して
いる。なお、第1判定部は第5図と全く同じである。こ
の第7図に示す変形例によれば、右側スポット外れかマ
クロ撮影かを判定する第2判定部で投光スポットRによ
る測距を行なわないので、マクロ撮影時のタイムラグを
抑えることかできる。
第8A図は、IREDを増やして、第1投光手段、第2
投光手段の外側に第3投光手段を設けたρ1距装置にお
けるCPUのレンズ繰り出し距離決定用のフローチャー
トで、被写体上における投光スポットは第8B図のよう
に形成される。この第8A図に示すフローでは、ステッ
プS12からなる第1判定部は、上記第5.7図と同じ
である。
またステップ57a−Sllaからなる第2判定部も、
第2投光手段による測距用光の被写体上における投光ス
ポットをR,LからR1,L、に置換すれば、上記第5
.7図のフローと全く同じである。そこで、第1,2判
定部についてはその説明を省略し、ステップ番号で83
1以降の第3判定部について以下に説明する。なお、こ
の第8A図のフローは、第8B図に示す相隣接する投光
スポット、例えばRt 、R2による第2,3距離情報
が近距離比較値INより近いとき、スポット外れてはな
くマクロ撮影であるとし、中央の投光スポットCに近い
投光スポットR1による第2距離情報Ω7□を選ぶよう
にした例である。
第8A図において、第1投光手段からの中央の投光スポ
ットCによる第1距離情報Reか近距離比較値ρNより
大きいと(ステップSl、S2)、この状態は測距が正
常に行なわれた場合の他、投光スポットCが中抜けある
いはマクロ撮影時における左側スポット外れ(第11A
、 118図参照)している等が考えられる。そこで、
ステップS3に進んで第1距離情報ΩCを遠距離比較値
輸と比較し、同比較値g、より大きければ、中抜けかマ
クロ撮影における左側スポット外れなので、ステップ8
31以下の第3判定部に進む。このステップ331以下
の第3判定部の動作がクレーム(2)に対応したもので
、第2距離情報Ω2□、ρL1を第1距離情報とし、ま
た、第3距離情報ΩR2’ IIL2を第2距離情報と
それぞれみなし、撮影距離を決定するようにしている。
先ず、第2投光手段からの右側投光スポットR1を測距
しくステップ531)、結果として得られた右側の第2
距離情報IR□を近距離比較値INと比較する(ステッ
プ532)。もし、右側の第2距離情報p が近距離比
較値gNより小さいつまり至近寄りなら、第2投光手段
からの右側投光スポットR1が右側スポット外れ(第1
OA。
10B参照)かマクロ撮影かなので、第3投光手段から
の右側投光スポットR2を測距しくステップ833)、
結果として得られた右側の第3距離情報g を近距離比
較値pNと比較する(ステラブ534)。そして、右側
の第3距離情報’R2が近距離比較値J?Nより小さけ
れば、右側の第2距離情報I ”も近距離比較値INよ
り小さかったので(上記ステップ532)、投光スポッ
トR1゜R2によるマクロ撮影と判断し、中央の投光ス
ポットCに近い投光スポットR1による第2距離情報I
R1の位置に撮影レンズを繰り出して(ステップ535
)、このフローを終了する。
上記ステップS34に戻って、右側の第3距離情報g 
が近距離比較値pNより大きいと、この状態は投光スポ
ットR1が右側スポット外れか、投光スポットR2が正
常、左側スポット外れ、中抜けの何れかなので、ステッ
プS37に進んで右側の第3距離情報g を遠距離比較
値Ω、と比較する。そして、同比較値1を超えなければ
、投光スポットR1が右側スポット外れか、投光スポッ
トR2が中抜け、左側スポット外れかなので、ステップ
838に進んで右側の第3距離情報”R2の位置にレン
ズ繰り出しを行なってこのフローを終了する。一方、右
側の第3距離情報ρ2□が遠距離比較値p より大きけ
れば、投光スポットR1が右側スポット外れか、投光ス
ポットR2が正常かなので、後述するステップS37に
進む。
前記ステップS32に戻って、右側の第2距離情報g 
が近距離比較値pNより大きければ、投光スポラ”R1
が正常、左側スポット外れ、中抜けの何れかなので、上
記右側の第2距離情報IR工を遠距離比較値g、と比較
しくステップ536)、同比較値gFより小さければ、
投光スポットR1が正常なので、前記ステップS35に
進むし、同比較値g より大きければ、投光スポットR
1か左側スポット外れ、中抜けの何れかなので、ステッ
プ531Aの“Ll測距”に進む。このステップ531
A−338Aは、上記ステップS31〜S38における
投光スポットR,,R2を投光スポットLl、L2に置
換したに過ぎないので、同しステップ番号の後にAを付
し、その説明を省略する。
ステップ536Aで左側の第2距離情報J7Llが遠距
離比較値fI11.より大きければ、投光スポットL 
が左側スポット外れか中抜けなので、“L2測距”を行
ない(ステップ539)、結果として得られた左側の第
3距離情報’ R2を遠距離比較値1Fと比較する(ス
テップ540)。そして、左側の第3距離情報IL2が
遠距離比較値g、より大きければ、第1距離情報11c
で決められる位置に、また遠距離比較値IPより小さけ
れば左側の第3距離情報’ R2で決められる位置に、
それぞれレンズ駆動してこのフローを終了する。
上記第8A図のフローによれば、5個のIREDを使用
して5個の測距用光を被写体に投射しているので、スポ
ット外れとか中抜けが略完全に防止され、これにより測
距精度を向上することかできる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明によれば、撮影画面の中央部
に位置しない被写体に対しても、中抜けを防止すると共
にスポット光外れによる誤測距か防止され、被写体距離
を正確に測距することができるという顕著な効果が発揮
される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示す測距装置を用いたカ
メラの構成ブロック図、 第2A、2B図は、チャート測距したときの測距結果を
示す線図とその実験方法で、第2C。 2D図は、被写体に照射される投光スポットの説明図、 第3図は、PSDを用いた公知の−点用測距装置の光学
配置図、 第4図は、上記第1図におけるAFICの要部回路図、 第5図は、上記第1図におけるCPUのレンズ繰り出し
距離決定用のフローチャート、第6A、6B図は、中抜
は現象の説明図、第7図は、上記第5図における第2判
定部を簡略化したフローチャート、 第8A、8B図は、第3投光手段を増設した測距装置に
おけるCPUのレンズ繰り出し距離決定用のフローチャ
ートと、投光スポットの配置図、第9A〜11.B図は
、投光スポットの被写体上における、また反射光スポッ
トのPSD上における、それぞれの関係位置を示す図で
ある。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)画面中央部の被写体に対して測距用光を投射する
    第1投光手段と、 画面周辺部の被写体に対して測距用光を投射する第2投
    光手段と、 上記画面中央部の被写体からの反射光を受光し、被写体
    距離に応じて第1の距離情報を出力する第1測距演算手
    段と、 上記画面周辺部の被写体からの反射光を受光し、被写体
    距離に応じて第2の距離情報を出力する第2測距演算手
    段と、 上記第1および第2距離情報に基づいて撮影距離を決定
    する撮影距離決定手段とからなり、上記撮影距離決定手
    段は、 上記第1距離情報が所定の距離範囲内にある場合には、
    その第1距離情報を撮影距離とする第1判定部と、 上記第1距離情報が上記所定の距離範囲よりも近距離に
    あり、かつ第2距離情報も所定の距離よりも近距離にあ
    る場合には、第1もしくは第2距離情報のいずれかを撮
    影距離とする第2判定部と、上記第1距離情報が上記所
    定の距離範囲よりも遠距離にある場合には、上記第2距
    離情報を撮影距離とする第3判定部と、 を具備することを特徴とする測距装置。
  2. (2)上記測距装置は、更に上記周辺部より外側の被写
    体に対して測距用光を投射する第3発光手段と、この被
    写体からの反射光を受光し、被写体距離に応じて第3の
    距離情報を出力する第3測距演算手段とを有し、 上記撮影距離決定手段は、上記第3判定部によって上記
    第1距離情報が上記所定の距離範囲よりも遠距離にある
    と判定した場合に、上記第2距離情報を上記第1距離情
    報とみなし、上記第3距離情報を上記第2距離情報とみ
    なして上記第1判定部および第2判定部によって撮影距
    離を決定することを特徴とする請求項1記載の測距装置
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