JP3383291B2 - 測距装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、測距装置、詳しく
は、撮影画面内の複数のポイントに対応する被写体距離
を測距可能な測距装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】被写体に光束を照射し、被写体からの反
射光を受光手段にて受光して距離情報を得る測距装置を
有するカメラは一般に普及しているが、従来、この種の
カメラでは画面内の１つのポイント、主として中央部で
しか測距することができない。そのため、主要被写体が
このポイントから外れると、所謂、“中抜け”と呼称さ
れる状態になって主要被写体にピントが合わないピンボ
ケ写真が撮れてしまうことになる。

【０００３】そこで、画面内の複数のポイントに複数の
スポット光を照射し、これらの反射光から被写体距離を
求めて中抜けを防止するようにした多点測距装置が、例
えば特開昭５８−９０１３号公報や、特開昭５８−７６
７１５号公報等に提案されている。この種多点測距装置
においては、測距された複数のポイントの距離情報の
内、最も近い距離のポイントに被写体がいる可能性が高
いことから、その最も近い距離に撮影レンズを駆動制御
するようになっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、複数の
測距ポイントに対して測距する際に測距エリア内に他の
距離の被写体が混入し、測距に誤差を生じる場合があ
る。例えば、被写体にスポット光を照射する測距装置で
は、有限な拡がりを有するスポット光の全てが被写体に
照射されれば正確に測距できるが、被写体のエッヂにス
ポット光が当たるとスポット光の一部しか反射されない
ので、誤測距が生じることになってしまう。そこで、図
９Ａ〜図１１Ｂに基づいてこの誤測距の問題を説明す
る。

【０００５】図９Ａは被写体１１上のスポット光２１の
様子を、図９Ｂは受光素子（ＰＳＤ）４上の反射光２１
ａの様子をそれぞれ示している。

【０００６】図９Ａのように、スポット光が被写体１１
の中に完全に入ってしまう場合には、反射光２１ａはＰ
ＳＤ４上に理想的に入射し、ＰＳＤ４はその重心位置か
ら正しい測距出力をする。そして重心位置は、被写体距
離に応じてＰＳＤ４上の無限遠に相当する位置から至近
に相当する位置まで移動する。

【０００７】しかし、図１０Ａ，図１１Ａのように、被
写体１１がスポット光２１の位置から少しだけ横にずれ
て、スポット光が完全に反射しない場合、その反射した
光だけの重心位置から測距出力をするため、図９Ａと同
じ距離にいる被写体１１に対しても、図１０Ａの場合は
重心位置が図１０Ｂに示すようにＰＳＤ上で近距離側に
移り、図９Ａ，図９Ｂよりも近距離側に寄った測距出力
をする。反対に図１１Ａの場合には、図１１Ｂに示すよ
うに遠距離側に寄った測距出力をしてしまう。

【０００８】１つのＰＳＤで１つのスポット光を受光す
る場合には、この誤測距の量は比較的少なくてすむが、
１つのＰＳＤで複数のスポット光を受光する多点測距装
置の場合には、１つのスポット光に対する無限遠から至
近までのＰＳＤ上の移動量が小さいことから、前記の
“スポット光はずれ”による誤測距は大きなものとな
る。

【０００９】さらに、このスポット光外れによる誤測距
は、各スポット光について生じる危険性があり、多点測
距装置は１点測距装置に比べて危険性は、多点の数だけ
増すことになり、しかも近距離側に寄った測距出力を測
距結果としてしまうため、ピントがずれた写真を撮影し
てしまうことがあった。

【００１０】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、中抜けを防止すると共にスポ
ット光外れによる誤測距を防止した測距装置を提供する
ことにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明による測距装置は、撮影画面内の中央およびこ
れに隣接する複数の測距点に対応する測距用光を被写体
に向けて投射する投光手段と、上記被写体からの上記測
距用光の反射光を受光することにより、被写体距離に応
じた信号を出力する受光手段と、上記受光手段の出力に
基づいて、上記複数の測距点に対応する測距演算を行う
ことが可能な測距演算手段と、上記測距演算手段の演算
結果に基づいて、上記複数の測距点に対応する測距値の
いずれかを選択する手段であって、中央測距点の測距値
が第１の所定距離よりも遠距離であり、かつ、該第１の
所定距離よりも遠い第２の所定距離よりも近距離である
場合には、上記中央測距点の測距値を選択する第１の選
択を行い、上記中央測距点の測距値が上記第１の所定距
離よりも近距離であり、かつ、上記中央測距点に隣接す
る隣接測距点の測距値が上記第１の所定距離よりも遠距
離である場合には、さらに別の隣接測距点の測距値を考
慮して上記中央測距点又は上記隣接測距点の測距値のい
ずれかを選択する第２の選択を行い、上記中央測距点の
測距値が上記第１の所定距離よりも遠距離であり、か
つ、上記第２の所定距離よりも遠距離である場合には、
上記隣接測距点の測距値を選択する第３の選択を行う選
択手段と、上記選択手段により選択された測距値に基づ
いて撮影レンズの繰り出しの制御を行う制御手段と、具
備することを特徴とする。

【００１２】本発明の第２の測距装置は、上記第１の測
距装置において、上記選択手段は、上記第２の選択にお
いて、さらに上記隣接測距点の測距値が上記第１の所定
距離よりも近距離である場合には上記中央測距点の測距
値を選択することを特徴とする。

【００１３】本発明の第３の測距装置は、上記第１の測
距装置において、上記選択手段は、上記第２の選択にお
いて、さらに上記隣接測距点の測距値が上記第１の所定
距離よりも遠距離である場合には上記隣接測距点の測距
値を選択することを特徴とする。

【００１４】本発明の第４の測距装置は、上記第１の測
距装置において、上記選択手段は、上記第３の選択にお
いて、さらに上記隣接測距点の複数の測距値のうち最至
近値を選択することを特徴とする。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。

【００１６】まず、この実施形態の動作を説明する前
に、図２Ａ〜図２Ｄを用いて本発明の測距装置の基本的
な考え方を、また図３を用いてＰＳＤによる公知の一実
用測距装置を、それぞれ説明する。

【００１７】図２Ａは図１に示した測距装置を用いて直
径約２００ｍｍの人間の顔をチャート測距したときの測
距結果を示す線図で、図２Ｂがその実験方法である。図
において、被写体距離ｌ0は２ｍ付近とし、上記チャー
トをｌ0に略直角なｘ方向にシフトしながら測距を行な
うと、図２Ａに示したように、スポット外れによる誤差
が大きく近距離側に出るポイントｘ1 ，ｘ2 ，ｘ4 と、
遠距離側に測距誤差が出るポイントｘ3 ，ｘ5 ，ｘ6 と
が明らかとなる。

【００１８】本発明は、このうち、ｘ2 ，ｘ4 付近で生
じる測距誤差を隣接する測距データを使用することによ
って改善しようとするもので、ｘ2 ，ｘ4 で至近距離相
当のデータが出力された場合、これを無視する。

【００１９】ここで、実際に至近距離のものを測距した
場合と、スポット外れによって至近距離相当の測距出力
が出力された場合との判別は、隣接する２点が共に、近
距離比較値ｌN より至近寄りのデータとなるか否かで行
なうことにする。例えば、１ｍ未満の距離に在る被写体
を撮影するようなマクロ撮影においては、ＩＲＥＤスポ
ットの間隔ｄ1 （図２Ｂ参照）が ｄ1 ＝ｌtan θ より比較的短いので、図２Ｃに示すように隣接する投光
スポットＬ，Ｃ，Ｒのうちの２点共、同様に、近距離比
較値ｌNより至近寄りのデータを出力すると考えられる
からである。

【００２０】一方、投光スポットＣが図２Ｄに示すよう
にスポット外れによって至近相当の結果が出力されると
きは、かなり高い確率で他の点は至近以外のの結果を出
力するものと考えられる。そして、これらの判定，繰り
出し距離の決定は後述するＣＰＵ７で行なうようにして
いる。以上が、本発明の測距装置の基本的な考え方の説
明である。

【００２１】次に、図３を用いて本発明の基本となるＰ
ＳＤ４を使用した公知の一点用測距装置を説明する。

【００２２】ＩＲＥＤ３′が投光レンズ１を介して被写
体11に測距用光を投射すると、受光レンズ２は被写体上
での測距用光の反射光を集光し、ＰＳＤ４上に被写体像
を結像する。このとき、反射光の入射位置ｘは三角測距
の原理より、次式のように被写体距離ｌの関数となる。

【００２３】ｘ＝Ｓ・ｆ／ｌ ………(1) ここで、Ｓは投受光レンズの主点間距離（基線長）であ
り、ｆは受光レンズ２の焦点距離で、この位置にＰＳＤ
４が配置される。ＰＳＤ４は、この測距用信号光の入射
位置ｘの関数である２つの光電流信号Ｉ1 ，Ｉ2 を出力
する。今、ＩＲＥＤ３′の発光中心と投光用レンズ１の
主点を結んだ線と平行な線を、受光用レンズ２の主点か
ら延ばしたとき、ＰＳＤ４とクロスする点を、ＰＳＤ４
のＩＲＥＤ側の端部からの長さａの点にとり、全信号光
電流をＩp0、ＰＳＤ４の全長をｔとすると、 Ｉ1 ＝｛（ａ＋ｘ）／ｔ｝Ｉp0 ……(2) Ｉ2 ＝［｛ｔ−(a+x) ｝／ｔ］Ｉp0 ……(3) となるから、上記(2),(3) 式より光電流比Ｉ1 ／（Ｉ1
＋Ｉ2 ）を演算によって求めることができる。

【００２４】 Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）＝（ａ＋ｘ）／ｔ ＝（１／ｔ）｛ａ＋（Ｓ・ｆ／ｌ）｝ ………(4) ところで、上記(4) 式において、ＰＳＤ４の全長ｔ、Ｐ
ＳＤ４のＩＲＥＤ側端子からの長さａ，基線長Ｓ、およ
び受光レンズの焦点距離ｆはそれぞれ定数なので、光電
流比Ｉ1 ／（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が求まれば、被写体距離ｌの
逆数１／ｌを求めることができる。以上がＰＳＤによる
公知の一点用測距装置の説明である。

【００２５】次に、本発明の一実施形態を示す測距装置
を説明する。図１は、本発明の一実施形態を示す測距装
置を用いたカメラの構成ブロック図である。このカメラ
は、投光用レンズ１と複数の発光素子（ＩＲＥＤ）３と
ＩＲＥＤ用ドライバ６とからなる発光部と、受光用レン
ズ２とＰＳＤ４とアナログ演算用ＩＣ（ＡＦＩＣ）５と
から成る受光部と、ＡＦＩＣ５の出力結果を補正演算し
て撮影距離を決定すると共に、モータドライバ８を介し
て撮影レンズ駆動用モータ９を制御する、ワンチップマ
イコン等で構成される演算制御回路（ＣＰＵ）７とから
成っている。なお、上記ＩＲＥＤ３は、その中央に配置
された第１投光手段としてのＩＲＥＤ３Cと、その両側
に配置された第２投光手段としてのＩＲＥＤ３R ，３L
とからなる。また、符号１０はレリーズ用スイッチ、１
１は被写体である。

【００２６】図１に示したレリーズ用スイッチ１０の閉
成によってＣＰＵ７は、ＡＦＩＣ５に対し、測距開始信
号を送出する。このとき、ＩＲＥＤ発光用ドライバ６
は、同じくＣＰＵ７によって第１投光手段としての中央
のＩＲＥＤ３ｃが発光するように、これをイネーブル状
態にしている。そして、実際の発光タイミングはＡＦＩ
Ｃ５によって決定される。このＡＦＩＣ５については、
本出願人が先に提案した特開昭６３−１３２１１０号公
報や特開平１−１１４７０７号公報に詳述されている
が、ここでは、図４に示すような、特開平１−１１４７
０７号公報に開示されたものと同じ動作原理によるＡＦ
回路を簡単に説明する。

【００２７】図において、符号４は、前記図１と同じＰ
ＳＤで、１２ａ，１２ｂは、ＰＳＤ４からＤＣ状態で出
力される光電流を除去し、パルス状にＰＳＤ４に入射す
るＩＲＥＤ信号光電流のみを増幅するプリアンプであ
る。

【００２８】このプリアンプ出力Ｉx ，Ｉy は、各々圧
縮ダイオ―ド１３，１４に電流信号として注入され、圧
縮電圧信号に変換される。１５，１６はバッファで、そ
の出力である圧縮電圧信号ＶA ，ＶB がＮＰＮトランジ
スタ１７，１８、定電流源１９および電流−電圧変換回
路２０等から構成された伸張演算回路に入力される。

【００２９】ここで、サーマルボルテージをＶT 、ダイ
オ―ド１３，１４及びトランジスタ１７，１８の逆方向
飽和電流をＩs とすると、図４中に示す記号Ｖ0 ，ＶZ
を用いて ＶA ＝ＶT ｌn （Ｉa ／Ｉs ）＋ＶZ ＝Ｖ0 ＋ＶT ｌn （Ｉy ／Ｉs ） ………(5) ＶB ＝ＶT ｌn （Ｉb ／Ｉs ）＋ＶZ ＝Ｖ0 ＋ＶT ｌn （Ｉy ／Ｉs ） ………(6) なる関係式が成立する。上記(5),(6) 式より Ｉb ＝（Ｉa ／Ｉx ）・Ｉy ………(7) という関係式が導かれるが、 Ｉa ＋Ｉb ＝Ｉ0 ………(8) より Ｉa ＝｛Ｉx ／（Ｉx ＋Ｉy ）｝Ｉ0 ……(9) Ｉx ，Ｉy は、それぞれ前記図２中のＩ1 ，Ｉ2 に比例
しているので、上記(4),(9) 式より Ｉa ＝（Ｉ0 ／ｔ）｛ａ＋（Ｓ・ｆ）／ｌ｝ ………(10) となり、 Ｉa ∝ 1/ｌ および Ｉa ∝ ａ が成立する。

【００３０】このコレクタ電流Ｉa は、電流−電圧変換
回路２０でＡＦＩＣ５より出力され、ＣＰＵ７に内蔵さ
れたＡ／Ｄ変換回路で、ＣＰＵ７にディジタル値として
取り込まれ、被写体距離の逆数１／ｌが 1/ｌ＝｛ｔ・（Ｉa ／Ｉ0 ）−ａ｝・1/Ｓ・ｆ………(11) によって演算される。但し、この１／ｌ演算において図
１，図３に示すように、左，右を測距する場合には、投
受光レンズ１，２の焦点距離が等しいとき、(11)式にお
けるａを各々ａ−α，ａ＋αに変える必要がある。

【００３１】このようにして得られた距離情報ｌによっ
て、ＣＰＵ７は合焦用レンズの繰り出し距離を決定する
が、このためのアルゴリズムを図５以下のフローチャー
トに従って以下に説明する。

【００３２】まず、中央の投光スポットＣにより第１距
離情報ｌcを測距し、この測距結果ｌc が近距離比較値
ｌN より近いか否かを判定する（ステップＳ１，Ｓ
２）。この近距離比較値ｌN は、１ｍとし、常焦点距離
２ｍ付近より近距離側とする。この結果がｌN より近け
れば、スポット外れによる誤測距か、本当にその被写体
が近いか、２通りが考えられる。そこで、図における左
列に配置されたステップＳ７〜Ｓ１１からなる第２判定
部で、右側または、左側の第２投光手段による第２距離
情報を参考にして、何れかに判定する。

【００３３】まず右側（Ｒ）の第２投光手段から測距用
光を投射して第２距離情報ｌRを測距し（ステップＳ
７）、この測距結果ｌR も同様に近距離比較値ｌNより
近距離であれば（ステップＳ８）、中央の測距結果は正
しいものとし、中央の投光スポットＣによる測距結果ｌ
cに従ってレンズの繰出しを行なう（ステップＳ１
２）。また、右側の投光スポットＲによる第２距離情報
ｌR が近距離比較値ｌNより遠くても、左側の投光スポ
ットＬによる第２距離情報ｌL を測距し（ステップＳ
９）、この測距結果ｌL が、近距離比較値ｌN より近い
値を示すなら（ステップＳ１０）、やはり中央の投光ス
ポットＣによる測距結果は正しいものとし、中央の測距
結果に従って、合焦制御を行なう（ステップＳ１２）。

【００３４】これらのレンズ制御は、既に前記図１で述
べたように、ＣＰＵ７がモータドライバ８を介してモー
タ９によって行ない、また、右（Ｒ），左（Ｌ）へのＩ
ＲＥＤ光投光の切り換えは、やはりＣＰＵ７がＩＲＥＤ
ドライバ６を制御して行なうものとする。

【００３５】このように、中央と左、または中央と右の
それぞれの投光スポットが同様にして、近距離比較値ｌ
N 以近のデータを出力するときは、このアルゴリズムで
はスポット外れではないと判定し、中央の投光スポット
による第１距離情報ｌc 重視のピント合わせを行なう。
しかし、中央の投光スポットＣによる第１距離情報ｌc
のみがｌN 以近のデータを出力するときは、中央の投光
スポットＣが、スポット外れを起こして誤測距している
と考えられる。そこで、図２Ａのちょうどｘ2点に被写
体がいると判断して、上記ステップＳ９で求めた投光ス
ポットＬの測距結果ｌL に従ってピント合わせを行なう
（ステップＳ１１）。次に、中央の投光スポットＣによ
る第１距離情報ｌc が遠距離比較値ｌF より遠い結果を
出力（ステップＳ３）した場合について考える。

【００３６】この場合、１点しか測距のできない従来の
オートフォーカスで、しばしば問題となった中抜け現象
が起きていると考えられる。これは図６Ａのように二人
が並んだような被写体に対し、測距用光が二人の間を抜
けてしまい、背景にピントが合ってしまうという現象で
ある。この場合、本発明では、左（Ｌ），右（Ｒ）の測
距点を図６Ｂに示すように測距し、このうち近い測距結
果を出力する方にピント合わせを行なう。これは従来の
多点測距装置が行なってきている一般的な方法である。
この場合には、図における中央列に配置されたステップ
Ｓ４〜Ｓ６からなる第３判定部で、上記ステップＳ７と
同じ内容のＲ点測距（ステップＳ４）を、および上記ス
テップＳ９と同じ内容のＬ点測距（ステップＳ５）を、
それぞれ行なった後、上記各測距から得られた第２距離
情報ｌR とｌL のうちの近い方の測距データに基づいて
レンズの繰出しを行うことになる（ステップＳ６）。

【００３７】最後に中央の投光スポットＣによる第１距
離情報ｌc が近距離比較値ｌNから遠距離比較値ｌF の
間に入っているとき、これは、スポット外れでもなく、
中抜けでもないと判定し、図における左列に配置された
ステップＳ１２からなる第１判定部により、第１距離情
報ｌcにピント合わせを行なう（ステップＳ１２）。こ
のように中央に存在する被写体が、常焦点付近に存在す
る場合は、左，右は測距せず、第１距離情報ｌcにピン
ト合わせを行なうので、タイムラグを短かく抑えること
ができる。

【００３８】図７は、上記図５に示すフローの変形例
で、このフローが上記図５と大きく異なる点は、マクロ
撮影か右側スポット外れかを判定する第２判定部での判
断において、投光スポットＲによる第２測距情報ｌRの
測距を止め、投光スポットＣとＬのみによるフローにし
たことである。そこで、この図７においては、上記図５
と同じルーチンには同じステップ番号を付して、その説
明を省略し、異なるルーチンについてのみ説明する。

【００３９】図７においてステップＳ３ａはその内容に
おいて上記図５のステップＳ３と同じだが、不等号の向
きが異なるので、図７の右側の列つまりステップＳ５〜
Ｓ２２が第３判定部に、中央の列つまりステップＳ１２
が第１判定部になる。一方、左側の列つまりステップＳ
９〜Ｓ１１が上記図５と同じように、第２判定部とな
る。ステップＳ２にて第１距離情報ｌc が近距離比較値
ｌN より小、つまり所定の距離範囲ｌN 〜ｌF よりも近
距離にあれば、上記図５におけるステップＳ７，Ｓ８を
介することなく、直ちにステップＳ９，Ｓ１０，Ｓ１１
を実行する。この理由は、第１距離情報ｌc が所定の距
離範囲ｌN 〜ｌF よりも近距離である理由がスポット外
れのためであったとしても、このスポット外れは、前記
図１０Ａ，図１０Ｂで説明したように至近寄りに誤測距
する右側スポット外れなので、第１投光手段による投光
スポットＣより更に右側に投光する第２投光手段中のＩ
ＲＥＤ３R （図１参照）から投光する必要がないからで
ある。

【００４０】ステップＳ３ａで、第１距離情報ｌc が遠
距離比較値ｌF を超える場合は、第３判定部に進んでス
テップＳ５，Ｓ４を実行するが、図５におけるステップ
Ｓ６をこの図７では２つのルーチンＳ２１，Ｓ２２に分
割している。なお、第１判定部は図５と全く同じであ
る。この図７に示す変形例によれば、右側スポット外れ
かマクロ撮影かを判定する第２判定部で投光スポットＲ
による測距を行なわないので、マクロ撮影時のタイムラ
グを抑えることができる。

【００４１】図８Ａは、ＩＲＥＤを増やして、第１投光
手段、第２投光手段の外側に第３投光手段を設けた測距
装置におけるＣＰＵのレンズ繰り出し距離決定用のフロ
ーチャートで、被写体上における投光スポットは図８Ｂ
のように形成される。この図８Ａに示すフローでは、ス
テップＳ１２からなる第１判定部は、上記図５，図７と
同じである。またステップＳ７ａ〜Ｓ１１ａからなる第
２判定部も、第２投光手段による測距用光の被写体上に
おける投光スポットをＲ，ＬからＲ1 ，Ｌ1 に置換すれ
ば、上記図５，図７のフローと全く同じである。そこ
で、第１，２判定部についてはその説明を省略し、ステ
ップ番号でＳ３１以降の第３判定部について以下に説明
する。なお、この図８Ａのフローは、図８Ｂに示す相隣
接する投光スポット、例えばＲ1 ，Ｒ2 による第２，３
距離情報が近距離比較値・N より近いとき、スポット外
れではなくマクロ撮影であるとし、中央の投光スポット
Ｃに近い投光スポットＲ1 による第２距離情報・R1を選
ぶようにした例である。

【００４２】図８Ａにおいて、第１投光手段からの中央
の投光スポットＣによる第１距離情報ｌc が近距離比較
値ｌN より大きいと（ステップＳ１，Ｓ２）、この状態
は測距が正常に行なわれた場合の他、投光スポットＣが
中抜けあるいはマクロ撮影時における左側スポット外れ
（図１１Ａ，図１１Ｂ参照）している等が考えられる。
そこで、ステップＳ３に進んで第１距離情報ｌc を遠距
離比較値ｌF と比較し、同比較値ｌF より大きければ、
中抜けかマクロ撮影における左側スポット外れなので、
ステップＳ３１以下の第３判定部に進む。このステップ
Ｓ３１以下、第３判定部は、第２距離情報ｌR1，ｌL1を
第１距離情報とし、また、第３距離情報ｌR2，ｌL2を第
２距離情報とそれぞれみなし、撮影距離を決定するよう
にしている。

【００４３】先ず、第２投光手段からの右側投光スポッ
ト Ｒ1 を測距し（ステップＳ３１）、結果として得ら
れた右側の第２距離情報ｌR1を近距離比較値ｌN と比較
する（ステップＳ３２）。もし、右側の第２距離情報ｌ
R1が近距離比較値ｌN より小さいつまり至近寄りなら、
第２投光手段からの右側投光スポットＲ1 が右側スポッ
ト外れ（図１０Ａ，図１０Ｂ参照）かマクロ撮影かなの
で、第３投光手段からの右側投光スポットＲ2 を測距し
（ステップＳ３３）、結果として得られた右側の第３距
離情報ｌR2を近距離比較値ｌN と比較する（ステップＳ
３４）。そして、右側の第３距離情報ｌR2が近距離比較
値ｌN より小さければ、右側の第２距離情報ｌR1も近距
離比較値ｌN より小さかったので（上記ステップＳ３
２）、投光スポットＲ1 ，Ｒ2 によるマクロ撮影と判断
し、中央の投光スポットＣに近い投光スポットＲ1 によ
る第２距離情報・R1の位置に撮影レンズを繰り出して
（ステップＳ３５）、このフローを終了する。

【００４４】上記ステップＳ３４に戻って、右側の第３
距離情報ｌR2が近距離比較値ｌN より大きいと、この状
態は投光スポットＲ1 が右側スポット外れか、投光スポ
ットＲ2が正常，左側スポット外れ，中抜けの何れかな
ので、ステップＳ３７に進んで右側の第３距離情報ｌR2
を遠距離比較値ｌF と比較する。そして、同比較値ｌF
を超えなければ、投光スポットＲ1 が右側スポット外れ
か、投光スポットＲ2が中抜け，左側スポット外れかな
ので、ステップＳ３８に進んで右側の第３距離情報・R2
の位置にレンズ繰り出しを行なってこのフローを終了す
る。一方、右側の第３距離情報ｌR2が遠距離比較値ｌF
より大きければ、投光スポットＲ1 が右側スポット外れ
か、投光スポットＲ2が正常かなので、後述するステッ
プＳ３７に進む。

【００４５】前記ステップＳ３２に戻って、右側の第２
距離情報ｌR1が近距離比較値ｌN より大きければ、投光
スポットｌR1が正常，左側スポット外れ，中抜けの何れ
かなので、上記右側の第２距離情報ｌR1を遠距離比較値
ｌFと比較し（ステップＳ３６）、同比較値ｌF より小
さければ、投光スポットＲ1 が正常なので、前記ステッ
プＳ３５に進むし、同比較値ｌF より大きければ、投光
スポットＲ1 が左側スポット外れ、中抜けの何れかなの
で、ステップＳ３１Ａの“Ｌ1 測距”に進む。このステ
ップＳ３１Ａ〜Ｓ３８Ａは、上記ステップＳ３１〜Ｓ３
８における投光スポットＲ1 ，Ｒ2 を投光スポットＬ1
，Ｌ2 に置換したに過ぎないので、同じステップ番号
の後にＡを付し、その説明を省略する。

【００４６】ステップＳ３６Ａで左側の第２距離情報ｌ
L1が遠距離比較値ｌF より大きければ、投光スポットＬ
1 が左側スポット外れか中抜けなので、“Ｌ2 測距”を
行ない（ステップＳ３９）、結果として得られた左側の
第３距離情報ｌL2を遠距離比較値ｌF と比較する（ステ
ップＳ４０）。そして、左側の第３距離情報ｌL2が遠距
離比較値ｌFより大きければ、第１距離情報ｌcで決めら
れる位置に、また遠距離比較値ｌFより小さければ左側
の第３距離情報ｌL2で決められる位置に、それぞれレン
ズ駆動してこのフローを終了する。

【００４７】上記図８Ａのフローによれば、５個のＩＲ
ＥＤを使用して５個の測距用光を被写体に投射している
ので、スポット外れとか中抜けが略完全に防止され、こ
れにより測距精度を向上することができる。

【００４８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
撮影画面の中央部に位置しない被写体に対しても中抜け
を防止すると共に、スポット光外れによる誤測距が防止
され、被写体距離を正確に測距することができるという
顕著な効果を奏することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態を示す測距装置を用いた
カメラの構成ブロック図である。

【図２】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係
り、（Ａ）は、チャート測距したときの測距結果を示す
線図、（Ｂ）はその実験方法を示す図、（Ｃ），（Ｄ）
は、被写体に照射される投光スポットの説明図である。

【図３】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係
り、ＰＳＤを用いた公知の一点用測距装置の光学配置を
示した図である。

【図４】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係
り、図１におけるＡＦＩＣの要部を示した回路図であ
る。

【図５】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係
り、図１におけるＣＰＵのレンズ繰り出し距離決定用の
フローチャートである。

【図６】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係
り、（Ａ）、（Ｂ）は、共に中抜け現象を説明する図で
ある。

【図７】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係
り、図５における第２判定部を簡略化したフローチャー
トである。

【図８】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係
り、（Ａ）は本実施形態に係るＣＰＵのレンズ繰り出し
距離決定用のフローチャートであり、（Ｂ）は投光スポ
ットの配置図である。

【図９】 従来の測距装置において、（Ａ）は投光スポ
ットの被写体上における関係位置を示す図であり、
（Ｂ）は反射光スポットのＰＳＤ上における関係位置を
示す図である。

【図１０】 従来の測距装置において、（Ａ）は投光ス
ポットの被写体上における関係位置を示す図であり、
（Ｂ）は反射光スポットのＰＳＤ上における関係位置を
示す図である。

【図１１】 従来の測距装置において、（Ａ）は投光ス
ポットの被写体上における関係位置を示す図であり、
（Ｂ）は反射光スポットのＰＳＤ上における関係位置を
示す図である。

【符号の説明】 ３C …………ＩＲＥＤ（第１投光手段） ３L ，３R …ＩＲＥＤ（第２投光手段） ５……………ＡＦＩＣ（第１〜３測距演算手段） ７……………ＣＰＵ（撮影距離決定手段）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平１−259313（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−276106（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−14017（ＪＰ，Ａ)

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 撮影画面内の中央およびこれに隣接する
   複数の測距点に対応する測距用光を被写体に向けて投射
   する投光手段と、 上記被写体からの上記測距用光の反射光を受光すること
   により、被写体距離に応じた信号を出力する受光手段
   と、 上記受光手段の出力に基づいて、上記複数の測距点に対
   応する測距演算を行うことが可能な測距演算手段と、 上記測距演算手段の演算結果に基づいて、上記複数の測
   距点に対応する測距値のいずれかを選択する手段であっ
   て、中央測距点の測距値が第１の所定距離よりも遠距離
   であり、かつ、該第１の所定距離よりも遠い第２の所定
   距離よりも近距離である場合には、上記中央測距点の測
   距値を選択する第１の選択を行い、 上記中央測距点の測距値が上記第１の所定距離よりも近
   距離であり、かつ、上記中央測距点に隣接する隣接測距
   点の測距値が上記第１の所定距離よりも遠距離である場
   合には、さらに別の隣接測距点の測距値を考慮して上記
   中央測距点又は上記隣接測距点の測距値のいずれかを選
   択する第２の選択を行い、 上記中央測距点の測距値が上記第１の所定距離よりも遠
   距離であり、かつ、上記第２の所定距離よりも遠距離で
   ある場合には、上記隣接測距点の測距値を選択する第３
   の選択を行う選択手段と、 上記選択手段により選択された測距値に基づいて撮影レ
   ンズの繰り出しの制御を行う制御手段と、 具備することを特徴とする測距装置。
2. 【請求項２】 上記選択手段は、上記第２の選択におい
   て、さらに上記隣接測距点の測距値が上記第１の所定距
   離よりも近距離である場合には上記中央測距点の測距値
   を選択することを特徴とする請求項１に記載の測距装
   置。
3. 【請求項３】 上記選択手段は、上記第２の選択におい
   て、さらに上記全ての隣接測距点の測距値が上記第１の
   所定距離よりも遠距離である場合には上記隣接測距点の
   測距値を選択することを特徴とする請求項１に記載の測
   距装置。
4. 【請求項４】 上記選択手段は、上記第３の選択におい
   て、さらに上記隣接測距点の複数の測距値のうち最至近
   値を選択することを特徴とする請求項１に記載の測距装
   置。