JP3073897B2 - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JP3073897B2 JP06337451A JP33745194A JP3073897B2 JP 3073897 B2 JP3073897 B2 JP 3073897B2 JP 06337451 A JP06337451 A JP 06337451A JP 33745194 A JP33745194 A JP 33745194A JP 3073897 B2 JP3073897 B2 JP 3073897B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、測距対象へ向けて光を
投射する投光手段を備えたアクティブ方式の測距装置の
改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のカメラにおいて、投光手段から光
を被写体に投射し、その被写体からの反射光を受光して
その受光量又は受光位置から被写体の距離を算出するい
わゆるアクティブ方式の測距装置は広く知られている。
【0003】このアクティブ方式の測距装置は、パッシ
ブ方式の測距装置に比べ、低コントラスト被写体にも強
く、又暗中でも補助光無しで測距できるなどの長所があ
る反面、コントラストを持つ被写体や投光ビームが被写
体に全部当らない場合に、誤測距するという欠点を持っ
ている。その原因は、投光ビームの反射スポットの光重
心位置がコントラストや欠けによって変化するからであ
る。
【0004】この欠点を解決する為に、本願出願人によ
る特願平5−287280号において、更にもう1つの
受光手段を、投光手段を中心に基線長方向の非対称な位
置に配置し、2つの受光手段の出力からコントラスト被
写体による光重心位置の変化をキャンセルする方式が提
案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記方式は、原理的に
コントラストに依存しないアクティブAF装置を提供す
るものでその効果は大であるが、2つの受光手段と投光
手段はそれぞれ異なる間隔で配置しているので、被写体
距離が至近になると、投光手段に対して基線長方向の間
隔が広い方の受光手段上の受光像がセンサ面よりはみ出
してしまい、誤測距する問題点が有る。
【0006】図5は距離(X軸)に対する測距演算結果
(Y軸)を示しており、距離が至近になると上記理由に
よりリニアリティが無くなっている。
【0007】(発明の目的)本発明の目的は、遠距離か
ら近距離までのみならず、至近距離まで精度の良い測距
を行うことのできる測距装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1記載の本発明は、投光手段と第1の距離
を隔てて配置される第1の受光手段と、投光手段と前記
第1の距離よりも短い第2の距離を隔てて、第1の受光
手段とは前記投光手段を挟んだ反対側に配置される第2
の受光手段と、前記第1と第2の受光手段の出力レベル
の差を求め、この差が所定レベル以上の場合は、前記第
2の受光手段の信号のみにより測距情報を算出し、所定
レベルに達しない場合は、前記第1と第2の受光手段か
らの出力それぞれに基づいて測距情報を算出する演算手
段とを設け、第1と第2の受光手段の出力レベルの差が
所定レベル以上の場合は、投光手段との距離が短い(間
隔が狭い)方の第2の受光手段の信号のみにより測距情
報を算出し、所定レベルに達しない場合は、第1と第2
の受光手段の両方の出力を用いて測距情報を算出するよ
うにしている。
【0009】また、上記の目的を達成するために、請求
項2記載の本発明は、投光手段と第1の距離を隔てて配
置される第1の受光手段と、投光手段と前記第1の距離
よりも短い第2の距離を隔てて、前記第1の受光手段と
は投光手段を挟んだ反対側に配置される第2の受光手段
と、該第2の受光手段の出力にて測距演算を行い、この
結果が所定の距離よりも近い場合は、この測距演算によ
り得られた情報を測距情報を算出し、所定の距離よりも
遠い場合は、前記第1と第2の受光手段からの出力それ
ぞれに基づいて測距情報を算出する演算手段とを設け、
投光手段との距離が短い(間隔が狭い)方の第2の受光
手段の出力にて測距演算を行い、この結果が所定の距離
よりも近い場合は、この測距演算により得られた情報を
測距情報とし、所定の距離よりも遠い場合は、第1と第
2の受光手段の両方の出力を用いて測距情報を算出する
ようにしている。
【0010】また、上記の目的を達成するために、請求
項3記載の本発明は、投光手段と一定の距離を隔てて配
置される第1の受光手段と、該第1の受光手段よりも受
光面の基線長方向の長さが長い、投光手段と一定の距離
を隔てて配置される第2の受光手段と、前記第1と第2
の受光手段の出力レベルの差を求め、この差が所定レベ
ル以上の場合は、前記第2の受光手段の信号のみにより
測距情報を算出し、所定レベルに達しない場合は、前記
第1と第2の受光手段からの出力それぞれに基づいて測
距情報を算出する演算手段とを設け、第1と第2の受光
手段の出力レベルの差が所定レベル以上の場合は、受光
面が長い(基線長方向の)方の第2の受光手段の信号の
みにより測距情報を算出し、所定レベルに達しない場合
は、第1と第2の受光手段の両方の出力を用いて測距情
報を算出するようにしている。
【0011】また、上記の目的を達成するために、請求
項4記載の本発明は、投光手段と一定の距離を隔てて配
置される第1の受光手段と、該第1の受光手段よりも受
光面の基線長方向の長さが長い、投光手段と一定の距離
を隔てて配置される第2の受光手段と、該第2の受光手
段の出力にて測距演算を行い、この結果が所定の距離よ
りも近い場合は、この測距演算により得られた情報を測
距情報を算出し、所定の距離よりも遠い場合は、前記第
1と第2の受光手段からの出力それぞれに基づいて測距
情報を算出する演算手段とを設け、受光面が長い(基線
長方向の)方の第2の受光手段の出力にて測距演算を行
い、この結果が所定の距離よりも近い場合は、この測距
演算により得られた情報を測距情報とし、所定の距離よ
りも遠い場合は、第1と第2の受光手段の両方の出力を
用いて測距情報を算出するようにしている。
【0012】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
【0013】図1は本発明の第1の実施例における測距
装置の要部構成を示すブロック図であり、カメラに適用
した場合を想定している。
【0014】同図において、1はiRED(赤外発光ダ
イオード)やランプやキセノン管等の投光素子であり、
2は投光素子1を駆動する駆動回路であり、3は投光素
子1にて投光された光(又は赤外光)を集光し、被写体
に向に投光する投光レンズであり、これらにより投光手
段を構成している。4,5は受光レンズで、この光軸は
投光レンズ3の光軸とは平行になる様に配置されてい
る。
【0015】ここで、投光レンズ3と受光レンズ4の間
隔をK1とし、投光レンズ3と受光レンズ5の間隔をK
2とすると、「K1≠K2」となる様に投光レンズ3と
受光レンズ5を配置する。本実施例では「K1>K2」
としている。
【0016】6,7は半導体位置検出器(PSD)等で
構成されている受光センサであり、被写体(測距対象)
に向けて投光された光は該被写体で反射し、その一部が
受光レンズ4,5にて集光され、センサ上に結像され
る。本実施例においては、受光センサにPSDを用いて
いるが、2分割SPD等を用いてもよい。この受光セン
サ6,7の両端からはF(投光側に近い方)とN(投光
側に遠い方)の信号電流が出力されており、受光像の重
心位置に応じて該信号出力F,Nの出力比が変る。受光
センサは2個有るので、それぞれF1,N1,F2,N
2とする。図1では、受光センサ6,7はそれぞれ横か
ら見た図となっている。ここで、「F1+N1」を第1
の受光信号、「F2+N2」を第2の受光信号とする。
【0017】8,9,10,11は、前記受光センサ
6,7の出力を電圧に変換し、交流増幅した信号を積分
する信号処理回路、12,13,14,15はアナログ
信号をディジタル信号に変換するA/Dコンバータ、1
6はマイコン等により構成される制御回路であり、上記
の投光手段を制御し、ディジタル化された受光信号を演
算処理して測距情報を得る。
【0018】次に、測距原理について、図2を用いて説
明する。尚、図1と同じ部分は同一符号を付してある。
【0019】 17は測距対象であるところの被写体
で、被写体までの距離をLとする。又、受光レンズ4,
5の焦点距離をfj、受光レンズ4と5の基線長方向の
間隔をK、被写体距離が∞のときの受光像の光学的重心
位置の間隔をP0、被写体距離がLのときの受光像の光
学的重心位置の間隔をP1とする。
【0020】被写体に当っている投光像の重心を頂点と
し、P1を底辺とする三角形と、被写体に当っている投
光像の重心を頂点とし、受光レンズ4,5の基線長方向
の間隔Kを底辺とする三角形は相似なので、 (L/K)=(L+fj)/P1 ………(1) である。上記(1)式を変形すると L=(fj×K)/(P1−K) ………(2) となる。上記(2)式中、fjとKは既に分っているの
で、P1を求めることにより距離が判る。
【0021】この方法だと、投光像が被写体の一部にし
か当っておらず、前記三角形の頂点が横にシフトして
も、上記(1)と(2)式の関係は変らないので、誤測
距しない。これがコントラスト被写体による光重心位置
が変化しても正しく測距できる原理である。
【0022】被写体距離が∞とLの時の受光センサ6上
の受光像の移動量をS1、同じく被写体距離が∞とLの
時の受光センサ7上の受光像の移動量をS2とすると、 P1−K=S1+S2 ………(3) となる。
【0023】各受光センサ毎に考えると、受光センサ上
の受光像の移動量と該受光センサの全長であるLPSD と
出力の比は、次式の様になる。
【0024】 S1/LPSD =N1/(F1+N1) ………(4) S2/LPSD =N2/(F2+N2) ………(5) 上記の(4),(5)式より S1+S2=LPSD {N1/(F1+N1)+N2/(F2+N2)} ………(6) ここで、受光センサ6と7の全長は同じLPSD であり、
受光レンズ4と5の焦点距離fjと有効径等は同じで、
受光像の全部が受光センサ6,7上に有る時には、 F1+N1=F2+N2 となる。ここで、 F1+N1=FN , F2+N2=FN とおくと、上記の(6)式は S1+S2=LPSD {(N1+N2)/FN} ………(7) となり、上記(7)式は(3)式より P1−K=LPSD {(N1+N2)/FN} ………(8) となる。又、上記(8)式を(2)式に代入すると、 L={(fj×K)/LPSD }・{FN/(N1+N2)} …(9) となり、fjとKとLPSD は分かっているので、「FN
/(N1+N2)」を測定して演算することにより、距
離が判る。
【0025】 FN/(N1+N2)=2FN/{2(N1+N2)} =(F1+N1+F2+N2)/ {2(N1+N2)} より、上記(9)式は L=(fj×K)/(2×LPSD )・{(F1+N1+F2+N2)/ (N1+N2)} ………(10) となり、「(F1+N1+F2+N2)/(N1+N
2)」を測定し、演算することにより、距離が判る
【0026】詳細に測定すると、2個の受光センサは感
度処理回路等のバラツキにより、「F1+N1≒F2+
N2」なので、上記(9)式より上記(10)式の方が
僅かに精度が良い。
【0027】
【0028】図3は、被写体距離と受光像の関係を示す
図であり、図中の1と3〜7は図1と同じである。又、
図3(a)に示す受光センサ6,7は横から見た図であ
り、図3(B)ではこれらを正面から見た図である。
【0029】被写体までの距離が遠距離の場合をL1,
近距離の場合をL2、至近距離の場合をL3とする。ま
た、19は被写体が遠距離のときの受光レンズ4による
受光像、20は被写体が遠距離のときの受光レンズ5に
よる受光像、21は被写体が近距離のときの受光レンズ
4による受光像、22は被写体が近距離のときの受光レ
ンズ5による受光像、23は被写体が至近距離のときの
受光レンズ4による受光像、24は被写体が至近距離の
ときの受光レンズ5による受光像である。
【0030】被写体が遠距離から近距離までの間に位置
する場合、受光像が受光センサ6,7上に有り、これら
の出力電流は等しいので「F1+N1=F2+N2」と
なり、上記(10)式にて測距可能となる。この場合、
被写体のコントラストや投光の欠けに依存しない測距が
可能となる。
【0031】従来の測距方法だと、被写体が近距離から
至近距離までの間に位置する場合、受光像24は受光セ
ンサ7上に有るが、受光像23は受光センサ6よりはみ
出してしまう為に「F1+N1<F2+N2」となるの
で、上記(10)式にて測距すると、測距演算結果と距
離の対応がおかしくなる。
【0032】そこで、本実施例では、近距離から至近距
離の間に被写体が位置する場合は、第2の受光手段であ
るところの受光センサ7のみで測距するようにしてい
る。
【0033】三角測距原理より、 L=(fj×K2)/S2 ………(11) となり、上記(5)式と上記の(11)より、 L=(fj×K2)/LPSD ・{(F2+N2)/N2} …(12) となり、fjとK2とLPSD は分っているので、「(F
2+N2)/N2」を測定演算することにより、上記の
(12)式より距離が判る。
【0034】 次に、図4のフローチャートにて全体の
動作説明をする。[ステップ101] 制御回路16よ
り投光信号を駆動回路2に出力し、投光素子1を発光さ
せる。これにより、その光は投光レンズ3を通り被写体
に向け投射される。 [ステップ102] 前記投光された光が被写体にて反
射し、その反射光の一部は受光レンズ4,5にて受光さ
れ、受光センサ6,7上に結像される。各受光センサ
6,7は受光した光信号を電気信号に変換し、次段の信
号処理回路8〜11へ出力する。 [ステップ103] 信号処理回路8〜11により入力
信号を増幅して積分し、次段のA/Dコンバータ12〜
15にてアナログ信号をディジタル信号に変換する。 [ステップ104] ここでは第1と第2の受光手段
(受光センサ6と7)の出力判定を行う部分であり、被
写体の距離が近距離より近くなると、第1の受光信号を
発生する受光センサ6上の受光像は該センサよりはみ出
してしまう為、受光した光信号のうちセンサ上の光しか
電気信号に変換されないので、「第1の受光信号<第2
の受光信号」となる。第1の受光信号と第2の受光信号
を処理する回路や光学系のバラツキや回路のノイズによ
る誤判定を防止する為、しきい値αを設ける。
【0035】本実施例では、「第1の受光信号(F1+
N1)+α」と「第2の受光信号(F2+N2)」を比
較している。
【0036】この判定の結果、「(F1+N1+α)」
<「(F2+N2)」ならばステップ106へ、又
「(F1+N1+α)」≧「(F2+N2)」ならばス
テップ105へ、それぞれ移行する。 [ステップ105] 第1と第2の受光信号から、上記
の(10)式を使い、コントラスト等により誤測距しな
い測距を行う。 [ステップ106] 上記第2の受光信号から、上記
(12)式を使い、至近まで測距する。
【0037】図5〜図8において、X軸は距離であり、
左が遠側で右が近側である。
【0038】図6は、本実施例における第1の受光信号
と第2の受光信号の比をY軸に示した図で、L2より近
づくと、第1の受光信号を出力する受光センサ6上の受
光像が該センサよりはみ出してしまうので、「第1の受
光信号/第2の受光信号=0」に近づく。
【0039】図5,図7,図8は、距離(X軸)に対す
る測距演算結果(Y軸)を示した図であり、図5は従来
例で、既に述べた様に、従来は遠距離から近距離まで両
方の受光出力で「(F1+N1+F2+N2)/(N1
+N2)」を測定して距離を求めている為に、L2〜L
3の領域で測距演算結果にリニアリティが無くなってい
る為、誤測距してしまう。
【0040】図7と図8は本実施例の場合であり、「第
1の受光信号/第2の受光信号≒1」の領域であるとこ
ろの距離L1〜L2では「(F1+N1+F2+N2)
/(N1+N2)」で測距演算をして距離を求め、「第
1の受光信号<第2の受光信号」の領域であるところの
距離L2〜L3では、「(F2+N2)/N2」を測距
演算することにより、遠距離から至近距離まで測距可能
となる。
【0041】(第2の実施例)図9は本発明の第2の実
施例における動作を示すフローチャートであり、回路構
成等は第1の実施例と同じであるので、その説明は省略
する。なお、図9のフローチャートにおいて、第1の実
施例(図4)と同じ動作部分は同一のステップ番号を付
してある。
【0042】ステップ101,102,103は第1の
実施例と同じ動作を行う部分であり、被写体に向け投光
し、その反射光を受光し、その信号をA/Dコンバータ
を介して取り込む。
【0043】次のステップ106においては、第2の受
光信号で測距演算を行う。遠距離から至近距離まで測距
可能である。次いでステップ107においては、前記ス
テップ106にて得られた測距結果が所定距離(第2の
実施例ではL2)より近いか否かを判別し、近ければ測
距データはそのままとして動作を終了し、一方、所定距
離よりも遠い場合はステップ105へ移行し、両方の受
光信号で測距演算等を行う。
【0044】以上、測距範囲が至近距離から遠距離まで
測距可能な受光センサ7(第2の受光信号)で測距演算
を行い、求めた距離が両方の受光を使った測距演算がリ
ニアな領域である遠距離から近距離であるならば、両方
の受光を使った測距演算を行うことにより、測距対策に
コントラストが有っても誤測距しない測距装置を提供で
きる。
【0045】(第3の実施例)図10は第3の実施例に
おける測距装置の光学系配置図であり、図3と同じ部分
は同一符号を付してある。
【0046】第1の実施例と異なるのは、受光レンズ
4,5と投光レンズ3の間隔K1とK2が同じであり、
受光センサの長さLPSD1とLPSD2がそれぞれ違うことを
特徴としている。
【0047】受光センサの長さが短い方(受光センサ
6)を第1の受光手段、長い方(受光センサ7)を第2
の受光手段とし、第1の実施例、又は、第2の実施例と
同様な制御により、測距可能である。
【0048】以上の各実施例によれば、被写体が遠距離
から近距離(通常撮影距離)までの間に位置した場合に
は、被写体のコントラストや、投光の欠け等に依存しな
い精度の良い測距ができる。
【0049】また、近距離から至近距離(マクロ等の撮
影距離)までの間に位置した場合には、被写体が近づく
ので該被写体の方が投光像より大きく、投光の欠け等は
発生しにくく、又投光像が小さく、被写体のコントラス
トの影響は受けにくいので、第2の受光信号のみで至近
距離まで測距可能である。
【0050】以上、遠〜至近距離までコストアップする
ことなく、精度の良い測距装置を提供できる。
【0051】(発明と実施例の対応)本実施例におい
て、投光素子1,駆動回路2及び投光レンズ3が本発明
の投光手段に相当し、受光レンズ4及び受光センサ6が
本発明の第1の受光手段に相当し、受光レンズ5及び受
光センサ7が本発明の第2の受光手段に相当し、信号処
理回路8〜11、A/Dコンバータ12〜15及び制御
回路が本発明の演算手段に相当する。
【0052】以上が実施例の各構成と本発明の各構成の
対応関係であるが、本発明は、これら実施例の構成に限
定されるものではなく、請求項で示した機能、又は実施
例がもつ機能が達成できる構成であればどのようなもの
であってもよいことは言うまでもない。
【0053】(変形例)本発明は、一眼レフカメラ,レ
ンズシャッタカメラ,ビデオカメラ,TVカメラ等のカ
メラや車の衝突防止装置、更にはその他の光学機器に適
用することができるものである。
【0054】更に、本発明は、以上の各実施例、又はそ
れらの技術を適当に組み合わせた構成にしてもよい。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第1と第2の受光手段の出力レベルの差が所定レベル以
上の場合は、投光手段との距離が短い(間隔が狭い)方
の第2の受光手段の信号のみにより測距情報を算出し、
所定レベルに達しない場合は、第1と第2の受光手段の
両方の出力を用いて測距情報を算出するようにしてい
る。
【0056】また、本発明によれば、投光手段との距離
が短い(間隔が狭い)方の第2の受光手段の出力にて測
距演算を行い、この結果が所定の距離よりも近い場合
は、この測距演算により得られた情報を測距情報とし、
所定の距離よりも遠い場合は、第1と第2の受光手段の
両方の出力を用いて測距情報を算出するようにしてい
る。
【0057】また、本発明によれば、第1と第2の受光
手段の出力レベルの差が所定レベル以上の場合は、受光
面が長い(基線長方向の)方の第2の受光手段の信号の
みにより測距情報を算出し、所定レベルに達しない場合
は、第1と第2の受光手段の両方の出力を用いて測距情
報を算出するようにしている。
【0058】また、本発明によれば、受光面が長い(基
線長方向の)方の第2の受光手段の出力にて測距演算を
行い、この結果が所定の距離よりも近い場合は、この測
距演算により得られた情報を測距情報とし、所定の距離
よりも遠い場合は、第1と第2の受光手段の両方の出力
を用いて測距情報を算出するようにしている。
【0059】よって、遠距離から近距離までのみなら
ず、至近距離まで精度の良い測距を行うことのできる測
距装置を提供可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における測距装置の構成
を示すブロック図である。
【図2】図1の測距装置の光学系配置図である。
【図3】本発明の第1の実施例において距離と受光像位
置の関係を示す図である。
【図4】本発明の第1の実施例における測距装置の動作
を示すフローチャートである。
【図5】従来の測距装置において測距演算結果と距離の
関係を示す図である。
【図6】本発明の第1の実施例において第1の受光信号
と第2の受光信号の比を示す図である。
【図7】本発明の第1の実施例において第1と第2の受
光信号による測距演算結果と距離の関係を示す図であ
る。
【図8】本発明の第1の実施例において第2の受光信号
のみに基づいた測距演算結果と距離の関係を示す図であ
る。
【図9】本発明の第2の実施例における測距装置の動作
を示すフローチャートである。
【図10】本発明の第3の実施例の測距装置において距
離と受光像位置の関係を示す図である。
【符号の説明】
1 投光素子 2 駆動回路 3 投光レンズ 4,5 受光レンズ 6,7 受光センサ 8〜11 信号処理回路 12〜15 A/Dコンバータ 16 制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01C 3/06 G02B 7/28 - 7/32 G03B 13/36

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測距対象に向かって光を投射する投光手
    段と、該投光手段と第1の距離を隔てて配置される第1
    の受光手段と、前記投光手段と前記第1の距離よりも短
    い第2の距離を隔てて、第1の受光手段とは前記投光手
    段を挟んだ反対側に配置される第2の受光手段と、前記
    第1と第2の受光手段の出力レベルの差を求め、この差
    が所定レベル以上の場合は、前記第2の受光手段の信号
    のみにより測距情報を算出し、所定レベルに達しない場
    合は、前記第1と第2の受光手段からの出力それぞれに
    基づいて測距情報を算出する演算手段とを備えた測距装
    置。
  2. 【請求項2】 測距対象に向かって光を投射する投光手
    段と、該投光手段と第1の距離を隔てて配置される第1
    の受光手段と、前記投光手段と前記第1の距離よりも短
    い第2の距離を隔てて、前記第1の受光手段とは前記投
    光手段を挟んだ反対側に配置される第2の受光手段と、
    該第2の受光手段の出力にて測距演算を行い、この結果
    が所定の距離よりも近い場合は、この測距演算により得
    られた情報を測距情報を算出し、所定の距離よりも遠い
    場合は、前記第1と第2の受光手段からの出力それぞれ
    に基づいて測距情報を算出する演算手段とを備えた測距
    装置。
  3. 【請求項3】 測距対象に向かって光を投射する投光手
    段と、該投光手段と一定の距離を隔てて配置される第1
    の受光手段と、該第1の受光手段よりも受光面の基線長
    方向の長さが長い、前記投光手段と一定の距離を隔てて
    配置される第2の受光手段と、前記第1と第2の受光手
    段の出力レベルの差を求め、この差が所定レベル以上の
    場合は、前記第2の受光手段の信号のみにより測距情報
    とし、所定レベルに達しない場合は、前記第1と第2の
    受光手段からの出力それぞれに基づいて測距情報を算出
    する演算手段とを備えた測距装置。
  4. 【請求項4】 測距対象に向かって光を投射する投光手
    段と、該投光手段と一定の距離を隔てて配置される第1
    の受光手段と、該第1の受光手段よりも受光面の基線長
    方向の長さが長い、前記投光手段と一定の距離を隔てて
    配置される第2の受光手段と、該第2の受光手段の出力
    にて測距演算を行い、この結果が所定の距離よりも近い
    場合は、この測距演算により得られた情報を測距情報と
    し、所定の距離よりも遠い場合は、前記第1と第2の受
    光手段からの出力それぞれに基づいて測距情報を算出す
    る演算手段とを備えた測距装置。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6026246A (en) * 1997-03-31 2000-02-15 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Distance measuring apparatus
US6259514B1 (en) * 1998-10-30 2001-07-10 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Rangefinder apparatus
US6476943B1 (en) * 1999-02-23 2002-11-05 Virtual Pro, Inc. Distance measurement apparatus
DE10059156A1 (de) * 2000-11-29 2002-06-06 Sick Ag Abstandsbestimmung
JP3946514B2 (ja) * 2001-12-26 2007-07-18 富士通株式会社 光学装置
JP4632640B2 (ja) * 2003-08-15 2011-02-16 富士フイルム株式会社 測距装置
US7684053B2 (en) * 2006-12-12 2010-03-23 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. Optical displacement sensor and distance measuring apparatus
JP5356123B2 (ja) * 2009-06-19 2013-12-04 シャープ株式会社 物体検出装置および電子機器
EP2434311B1 (de) 2010-09-27 2014-07-16 Sick Ag Verfahren zur optischen Überwachung eines Überwachungsbereiches und Reflexions-Lichttaster
JP2015137987A (ja) * 2014-01-24 2015-07-30 アズビル株式会社 距離センサおよび距離計測方法
EP3502744B1 (en) 2017-12-20 2020-04-22 Leica Geosystems AG Near-field pulse detection

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63235909A (ja) * 1987-03-24 1988-09-30 Fuji Photo Optical Co Ltd アクテイブ型オ−トフオ−カス機構
US5264893A (en) * 1991-06-06 1993-11-23 Olympus Optical Co., Ltd. Auto focus camera
JP3078069B2 (ja) * 1991-12-16 2000-08-21 オリンパス光学工業株式会社 測距装置
JP3150243B2 (ja) * 1993-10-25 2001-03-26 キヤノン株式会社 測距装置及びカメラ

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