JPH10253351A - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JPH10253351A
JPH10253351A JP7913097A JP7913097A JPH10253351A JP H10253351 A JPH10253351 A JP H10253351A JP 7913097 A JP7913097 A JP 7913097A JP 7913097 A JP7913097 A JP 7913097A JP H10253351 A JPH10253351 A JP H10253351A
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distance
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JP7913097A
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Koji Toda
浩司 戸田
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Kyocera Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被写体の位置にしたがって基線長を定めるよ
うにして測距精度を可能なるかぎり高めた測距装置を提
供すること。 【解決手段】 光電変換素子20a、20b、20cを
一直線上に配設すると共に、特定の光電変換素子20a
と他の各々の光電変換素子20b、20cとの間の間隔
を基線長d1、d2に定めて、基線長の異なる光電変換
素子対(20a、20bまたは20a、20c)を設
け、近くの被写体に応じて一方の光電変換素子対(20
a、20b)を、遠くの被写体に応じて他方の光電変換
素子対(20a、20c)を各々選択し、選択した光電
変換素子対の各光電変換素子に結像した被写体像の位相
差より被写体距離を測定する構成としてある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、2つの光電変換
素子に光学的に結像させた被写体像の位相差より被写体
距離を測定する測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は撮影レンズとは別に測距用レンズ
を備えたカメラの測距装置を示す光学図である。図示す
るように、この測距装置は、CCD等のセンサアレイな
どからなる光電変換素子10a、10bが基線長Dの間
隔をおいて配置され、また、これら各光電変換素子10
a、10bの前側には測距用レンズ11a、11bが設
けられている。
【0003】このような測距装置は、距離L1の被写体
A、或いは、距離L2の被写体Bの被写体像がレンズ1
1aを通って光電変換素子10aに、また、その光学像
がレンズ11bを通って光電変換素子10bに各々結像
する。
【0004】このように結像した光電変換素子10a、
10bの光電変換出力は演算回路に導かれ、この演算回
路によって光電変換素子10a、10bに結像した被写
体像の位相差より素子AまたはBの距離L1またはL2
が演算され、測距信号が出力される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したような測距装
置の測距誤差は、基線長Dに逆比例し、被写体距離L1
またはL2の2乗に比例して増大する。また、この測距
誤差は、基線の一端から見たときの角度(観測誤差)△
θに比例する。
【0006】このことから、測距精度を上げるために
は、基線長Dを大きくし、角度△θを正確に測ってその
読み取り誤差を小さくすれば良いことになる。
【0007】しかしながら、基線長Dを長く設定すると
次のような問題が生ずる。一般的な被写体はその背景を
含む奥行きのもった立体のものとなり、このような被写
体の光学像を光電変換素子10a、10bの平面的な光
学面に結像させることになるから、基線長Dを長くする
と、被写体像の相似性が崩れ測距誤差を大きくする原因
となる。
【0008】図6は基線長DをD1に延ばした場合を想
定した説明図であり、図7は基線長をDとD1に設定し
たときの光電変換素子出力を示した波形図である。な
お、図6に示したa1、a2はAと共に被写体を示して
いる。基線長をDに設定すると、光電変換素子10aの
出力波形が図7(a)となり、光電変換素子10bの出
力波形が図7(b)のようになり、これら出力波形が相
似したものとなる。
【0009】しかし、基線長D1に設定すると、光電変
換素子10bの出力波形が図7(c)のように変化し、
光電変換素子10bの出力波形(図7(a))との相似
性がなくなる。この結果、基線長D1のように長くする
と、光電変換素子10a、10bに結像した各々の被写
体像の相似性が崩れるために、これら被写体像の位相差
検出に誤差が生じ、このため、測距精度を低下させるこ
とになる。
【0010】このように、基線長を長くしたときの問題
は、被写体Aから2つの光電変換素子10a、10bを
見た角度θが大きくなるほど、つまり、被写体Aが近距
離にあるほど大きく影響し、また、上記角度θが小さく
なるほど、つまり、被写体Aが遠距離にあるほどその影
響が小さくなる。
【0011】そこで、本発明では上記した実情にかんが
み、被写体の位置にしたがって基線長を選択するように
して測距精度を可能なるかぎり高めた測距装置を提案す
ることを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明では、2つの光電変換素子に光学的に結像
した各々の被写体像の位相差より、被写体距離を測定す
る測距装置において、複数の光電変換素子を配設すると
共に、特定の光電変換素子と他の各々の光電変換素子と
の間の間隔を他の各々の光電変換素子毎に変えて基線長
の異なる2組以上の光電変換素子対を設け、測定する被
写体距離に応じて一つの光電変換素子対を選択し、選択
した光電変換素子対の各光電変換素子に結像した被写体
像の位相差より被写体距離を測定する構成としたことを
特徴とする測距装置を提案する。
【0013】
【作用】この測距装置では被写体距離に応じて一つの光
電変換素子対が選択される。つまり、被写体が近くに位
置しているほど基線長の短い光電変換素子対が選択さ
れ、この反対に被写体が遠くなるほど基線長の長い光電
変換素子対が選択される。
【0014】そして、このように選択された光電変換素
子対の各々の光電変換素子出力が測距演算手段に導か
れ、2つの光電変換素子に光学的に結像した被写体像の
位相差が検出され、その位相差にしたがって被写体距離
が演算される。
【0015】
【発明の実施の形態】次に、本発明をカメラの測距装置
として実施した一実施形態について図面に沿って説明す
る。図1は測距装置の簡略的な光学系図で、20a、2
0b、20cは、CCD等のセンサアレイなどからなる
光電変換素子であり、また、これら光電変換素子20
a、20b、20c各々の前側には測距用レンズ21
a、21b、21cが各々設けてある。
【0016】そして、測距用レンズ21a、21b、2
1cはカメラ前面に一直線に沿って配設し、光電変換素
子20a、20b、20cがこれにレンズ21a、21
b、21cと共に基線長d1、d2の間隔となるように
してある。
【0017】つまり、特定の光電変換素子20aと光電
変換素子20bとの間隔が基線長d1、特定の光電変換
素子20aと光電変換素子20cとの間隔が基線長d2
となるように配設してある。
【0018】また、この実施形態では、被写体が所定距
離以内、つまり、近い測距は光電変換素子20a、20
bを選択し、被写体が所定距離より離れているとき、つ
まり、遠い測距は光電変換素子20a、20cを選択す
る。ここで具体的には、最初に光電変換素子20a、2
0bを選択して測距を行ない、その結果、被写体が所定
距離より離れているときは、光電変換素子20a、20
cを選択し、これら光電変換素子対に結像した被写体像
の位相差を検出して測距演算する構成としてある。
【0019】上記図1は被写体Aが距離LL1の近距離
にある場合の測距状態を示し、a1、a2は他の被写体
を示している。なお、この実施形態では、被写体A、a
1、a2は同じ高さの筒状物であることを想定して説明
する。
【0020】この測距においては光電変換素子20a、
20bに被写体A、a1の光学像が結像し、光電変換素
子20cに被写体A、a1、a2の光学像が結像する。
【0021】この結果、光電変換素子20aの出力が図
3(a)に示す出力波形となり、光電変換素子20bの
出力が図3(b)に示す出力波形となる。また、光電変
換素子20cの出力が図3(c)に示す出力波形とな
る。
【0022】これらの図面から分かるように、光電変換
素子20aと光電変換素子20bとは相似する出力波形
となるが、光電変換素子20aと光電変換素子20cと
の出力波形は相似しない。
【0023】しかし、この近い距離の測距では光電変換
素子20aと光電変換素子20bとが選択されるので、
図3(a)、(b)に示すような互いに相似波形の光電
変換素子出力が演算回路に導かれ、これら出力波形の位
相差にしたがって測距演算される。
【0024】図2は被写体が距離LL2のように比較的
に遠方にある場合、つまり、遠い距離の測距の状態を示
している。この場合には、光電変換素子20a、20
b、20cに被写体A、a1の光学像が結像するから、
光電変換素子20aの出力波形が図4(a)、光電変換
素子20bの出力波形が図4(b)、光電変換素子20
cの出力波形が図4(c)に示すようになり、すべての
光電変換素子出力が相似波形のものとなる。
【0025】また、この遠い距離の測距では光電変換素
子20aと光電変換素子20cが選択されるので、図4
(a)、(c)に示すような相互に相似波形の光電変換
素子出力が演算回路に導かれ、これら出力波形の位相差
にしたがって測距演算される。
【0026】このように、近い距離の測距では基線長d
1の光電変換素子対(20a、20b)で測距し、遠い
距離の測距では長い基線長d2の光電変換素子対(20
a、20c)で測距するから、測距精度を高める上に極
めて有利となる。なお、上記のように求められた測距信
号が撮影レンズの駆動信号として利用できることは公知
の通りである。
【0027】一方、測距演算の結果、予め定めた距離値
以外となる場合、例えば、近い距離の測距において、演
算結果が遠距離の範囲に入ることとなるときは、自動的
に選択切換えを行ない、光電変換素子対(20a、20
c)を選択し、また、遠い距離の測距において、演算結
果が近距離の範囲に入ることとなるときは、光電変換素
子対(20a、20b)を自動的に選択するように構成
することができる。また、近い距離の測距では光電変換
素子20cを、遠い距離の測距では光電変換素子20b
を各々非動作に保つようにして一つの光電変換素子対を
選択する構成としてもよい。
【0028】以上、本発明の一実施形態について説明し
たが、本発明は次のように実施することが可能である。
3個以上の複数の光電変換素子を設け、特定の光電変換
素子と他の光電変換素子とで基線長の異なる複数の光電
変換素子対を形成する。
【0029】このようにすれば、近距離から遠距離まで
の間を数段階に別け、各々の段階別けした被写体距離に
対応する光電変換素子対を選択して測距することができ
る。なお、複数の光電変換素子は必ずしも一直線上に配
設する必要がない。特定の光電変換素子に対して異なっ
た基線長となる位置に他の光電変換素子を配設すればよ
い。
【0030】また、本発明は2つの光電変換素子を用い
て構成することができる。具体的には、一方の光電変換
素子または2つの光電変換素子を移動できる構成とし、
2つの光電変換素子間の間隔、つまり、基線長を被写体
の位置に応じて連続的に、または段階的に変える構成と
する。
【0031】
【発明の効果】上記した通り、本発明に係る測距装置に
よれば、被写体までの距離に応じた基線長の光電変換素
子対を選択し、2つの光電変換素子に結像した被写体像
の位相差より被写体距離を測定することができるので、
被写体の遠近にかかわらず精度の高い距離測定を行なう
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示し、近くに位置する被写
体の測距状態を示す光学系図である。
【図2】本発明の実施形態を示し、遠くに位置する被写
体の測距状態を示す光学系図である。
【図3】近くに位置する被写体の測距において出力され
る光電変換素子出力波形を示す図である。
【図4】遠くに位置する被写体の測距において出力され
る光電変換素子出力波形を示す図である。
【図5】従来の測距装置の光学系図である。
【図6】従来の測距装置を説明するための光学系図であ
る。
【図7】従来の測距装置の光電変換素子出力を示す波形
図である。
【符号の説明】
20a、20b、20c 光電変換素子 21a、21b、21c 測距用レンズ d1、d2 基線長 LL1、LL2 距離 A、a1、a2 被写体

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2つの光電変換素子に光学的に結像した
    各々の被写体像の位相差より、被写体距離を測定する測
    距装置において、複数の光電変換素子を配設すると共
    に、特定の光電変換素子と他の各々の光電変換素子との
    間の間隔を他の各々の光電変換素子毎に変えて基線長の
    異なる2組以上の光電変換素子対を設け、測定する被写
    体距離に応じて一つの光電変換素子対を選択し、選択し
    た光電変換素子対の各光電変換素子に結像した被写体像
    の位相差より被写体距離を測定する構成としたことを特
    徴とする測距装置。
JP7913097A 1997-03-14 1997-03-14 測距装置 Pending JPH10253351A (ja)

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