JPH11153751A - 距離検出装置 - Google Patents
距離検出装置Info
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- JPH11153751A JPH11153751A JP9319233A JP31923397A JPH11153751A JP H11153751 A JPH11153751 A JP H11153751A JP 9319233 A JP9319233 A JP 9319233A JP 31923397 A JP31923397 A JP 31923397A JP H11153751 A JPH11153751 A JP H11153751A
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Abstract
及びエリアセンサを備えた距離検出装置において、演算
時間の短縮を図るとともに、撮影倍率が上昇した場合で
も測距エリアの密度を十分に維持して確実な被写体への
測距を行うことができる距離検出装置を提供する。 【解決手段】 ラインセンサを有する距離検出装置で
は、測距エリアL1〜L4の間隔16〜18が異なるよ
うにしている。また、1対のエリアセンサから抽出手段
で測距エリアの情報を抜き出して測距演算を行う距離検
出装置では、測距エリアが不均等となるように配置され
ている。
Description
カメラ、SVC(スチルビデオカメラ)等でオートフォ
ーカス等のために用いられる距離検出装置に関する。
では図17に示すようにカメラ等の撮影画面10に対し
て水平に1ラインの測距エリアL1で測距を行うものが
あった。しかしながら、上述の従来の距離検出装置で
は、図17に示すように測距エリアL1が撮影画面10
の中央を横切るだけであり、被写体15が撮影画面10
の下部又は上部に位置するときには測距が不可能となっ
ていた。
とができるようにするため、複数対のラインセンサを設
けた測距センサやをエリアセンサを利用した距離検出装
置が考えられている。前者の場合、例えば図18に示す
ように、測距エリアL1〜L5を複数ラインとすること
により広い範囲で測距を行うことができるようになる。
このとき、ラインセンサがにらむ測距エリアL1〜L5
を多く設けるほど、被写体15の検出が確実となり、ま
た、多くのラインセンサを用いて被写体15の検出がで
きるようになるので距離検出精度の向上も可能となる。
測距センサは、図19に示すような構成となっており、
5対のラインセンサ90〜94を備えている。各ライン
センサ90〜94は受光部列22と、この受光部列22
で発生した光電荷を画素ごとに順番に出力処理する処理
部21とから成る。また、測距センサの左右を分ける中
心に上記光電荷の出力処理に必要なクロックを生成する
制御回路20が設けられている。従来では図19に示す
ように5対のラインセンサ90〜94は受光部列22と
処理部21が同一方向を向くように配置されており、各
受光部列22の間隔は一定となっていた。
距センサでは測距エリアが増えることにより、ラインセ
ンサを制御するための回路の規模が大きくなるため、測
距センサのサイズが大きくならざるを得なかった。ま
た、被写体までの距離を演算するマイクロコンピュータ
(以下「マイコン」という)では、データ処理が増大し
て演算に長時間を要し、測距にタイムラグが発生してし
まっていた。そのため、カメラ等ではオートフォーカス
が遅れることとなり操作性の低下を招いていた。
倍光学系を有する銀塩カメラにおいては、撮影倍率の低
い場合には図20(a)に示すように、測距エリアL1
〜L5が撮影画面10の全体に配置されていたとして
も、撮影倍率が高くなった場合には図19(b)に示す
ように撮影画角が狭くなるので撮影画面10に対して測
距エリアL1〜L5の間隔が広がり、測距エリアL3を
除いて撮影画面10からはみ出してしまうこともあっ
た。したがって、実質的に測距エリアを増やしたことに
はならず、被写体15の確実な検出を行えなくなってし
まうという問題があった。
検出装置では、図21(a)に示すように、測距エリア
E1〜E9のように全体を均等に9分割し、各エリアE
1〜E9で被写体15の検出及び被写体までの距離の検
出を行っていた。
報で測距を行っているのでマイコンでのデータ処理が増
大して演算時間が長くなってしまっていた。また、変倍
光学系を有した銀塩カメラでは、撮影倍率が高くなると
図21(b)に示すように、測距エリアE5を除いて撮
影画面10から測距エリアがはみ出してしまい、実質的
に測距エリアを増やしたことにならなくなるという問題
もあった。
対のラインセンサを有する測距用センサ及びエリアセン
サを備えた距離検出装置において、演算時間の短縮を図
るとともに、撮影倍率が上昇した場合でも測距エリアの
密度を十分に維持して確実な被写体への測距を行うこと
ができる距離検出装置を提供することを目的とする。
に本発明では、被写体像を結像する光学系と、前記光学
系の略結像面に配置された3個以上のラインセンサを有
する測距用センサと、前記測距用センサの出力に基づい
て被写体までの距離を演算する手段とを備えた距離検出
装置において、前記ラインセンサ間の受光部列の間隔が
異なっている部分を有するようにしている。
ラインセンサのそれぞれで被写体像が写し出されている
いるか判断し、被写体像の写し出されている場合に、マ
イコン等の演算する手段によって例えば三角測距の原理
を応用して被写体までの距離検出を行っている。このと
き、ラインセンサを有する測距用センサはラインセンサ
間の受光部列の間隔が異なっており、間隔は全て同一に
はなっていない。そのため、測距にとって重要な部分に
ついては間隔を小さくし、重要でない部分については間
隔を大きくすることにより、間隔を全て同一にした従来
のラインセンサに比べて測距の精度の維持を図りながら
ラインセンサ数の低減が図られている。そのため、被写
体までの距離を演算するマイコン等の手段では、演算時
間の短縮が図られている。
学系と、前記光学系の略結像面に配置された3個以上の
ラインセンサを有する測距用センサと、前記測距用セン
サの出力に基づいて被写体までの距離を演算する手段と
を備えた距離検出装置において、前記ラインセンサは前
記光学系を通過した前記被写体像を受光する複数の画素
より成る受光部列及びこの受光部列で発生した光電荷を
出力処理する処理部列とから成り、前記受光部列の間隔
が異なっている部分を有するようにしている。
ダイオード等から成る受光部列と、受光部列での光電荷
を出力処理する処理部列とから成る。例えば、処理部列
はクロックの入力により上記光電荷を各画素ごとに順に
転送するCCD(Charge Coupled Device)となってお
り、測距用センサから出力が行われる。
に前記間隔は所定方向に漸次大きくなっている。このよ
うな構成では、前記間隔は例えば一方向に漸次大きくな
っている。このとき、例えばカメラの撮影画面では下部
側で間隔が小さくなるようにすることにより、被写体が
画面下部にある可能性が高い場合には測距の確実さを増
大することが可能となる。
間隔は前記測距用センサの中央では小さくなっている。
このような構成では、例えばカメラの撮影画面では中央
付近に測距エリアを多く設けることができるので、画面
中央での測距精度の向上を図ることができる。
間隔が大きくなっている場所に前記ラインセンサを制御
する制御回路が挿入されるようにしている。このような
構成では、間隔の大きくなったところに制御回路が設け
られているので、その間隔が有効に利用でき、測距用セ
ンサの小型化を図ることができる。
ごとに受光部と処理部がL字状パターンを形成するとと
もに、隣接画素の前記パターンがそれに噛み合う如く配
列されて上記受光部列と処理部列を構成するようにして
いる。
配置としたときには、その対称軸となるところに、上記
パターンが配列されたラインセンサを設けることによ
り、それに両隣に接するラインセンサとの間隔を狭く保
つことが可能となる。
学系と、前記光学系の略結像面に配置されたエリアセン
サを有する測距用センサと、前記測距用センサの出力に
基づいて被写体検出エリアの情報を抽出する抽出手段
と、前記情報に基づいて前記被写体までの距離を演算す
る手段とを備えた距離検出装置において、前記被写体検
出エリアが前記エリアセンサに対して不均等となるよう
に設けられている。
エリアセンサの全領域のデータ処理を行う必要がなく、
銀塩カメラ等の撮影画面の中央部又は下部に重点的に密
度を高めて被写体検出エリアを設けて、それ以外では密
度を下げるようにすることにより、マイコン等の演算手
段では測距精度の低下等を抑制しつつ測距のデータ処理
が減少する。
被写体検出エリアは前記エリアセンサの中央になるほど
高密度に設けられるようにしている。このような構成で
は、エリアセンサの周辺部では測距にとって重要でない
ので、被写体検出エリアの密度を低減して演算時間の短
縮を図っている。また、被写体検出エリアがエリアセン
サの一端に向かって漸次密度が高くなるようにすること
により、例えば撮影画面の下部側に重点的に被写体の検
出が可能となる。
被写体検出エリアの密度の高い部分には前記被写体検出
エリアが部分的に重なっている構造を有している。この
ような構成によると、例えば変倍光学系を備えた銀塩カ
メラ等において、撮影倍率が高くなっても撮影範囲のな
かに多くの被写体検出エリアを確保することができる。
の実施形態について説明する。図1は本実施形態の距離
検出装置8を搭載した銀塩カメラ等の撮像装置1のブロ
ック図である。撮像装置1は撮像光学系5によって被写
体を銀塩等の撮像手段7に結像する。距離検出装置8は
前記被写体までの距離を検出する。そして、距離検出装
置8に内蔵されているマイコン4は検出した被写体まで
の距離に基づいてモータ等から成る駆動手段6によって
撮像光学系5を矢印Aのように移動させてオートフォー
カスを行う。
1対の測距用の光学系2a、2bと、光学系2a、2b
の略結像面に配置された複数対のラインセンサを有する
測距センサ3と、測距センサ3からの信号により被写体
への距離を求める演算を行う手段であるマイコン4とか
ら成る。測距センサ3では制御回路3cと光学系2a、
2bによって受ける1対のラインセンサ3a、3bのみ
を示しているが、後述するように測距センサ3には複数
ラインで測距できるように複数のラインセンサが設けら
れている。
示すように撮影画面10に対して4ラインの測距エリア
L1〜L4を備えるものである。画面10の上部の測距
エリアL1とL2の間隔16が大きくなっており、下部
側の測距エリアL2〜L4の各間隔17、18は間隔1
6よりも小さくなっている。被写体15は撮影画面10
の下方に位置する可能性が高いので、測距にとってあま
り重要でない画面上部では測距エリアの密度が下げら
れ、重要性の高い下方にしたがって密度が高くなってい
る。
間隔で測距エリアを設けた場合に比べ、重要部分では被
写体の確実な検出を確保しつつ測距エリア数を少なくす
ることができる。そのため、マイコン4(図1参照)で
の演算時間の短縮化が図られている。
っている。実際には上下に逆向きに設けられているが、
図2に示す測距エリアL1〜L4との比較の便宜を図っ
ている。測距エリアL1〜L4のそれぞれに対応して4
対のラインセンサ30〜33が設けられている。ライン
センサ30〜33はいずれも被写体像を受光する複数の
画素より成る受光部列22及びこの受光部列22で発生
した光電荷を出力処理する処理部21とから成ってい
る。前記受光素子は例えばホトダイオードであり、受光
部列22には各画素に対応して複数の受光素子が設けら
れている。
られ、制御回路20が挿入されている。3個のラインセ
ンサ31〜33は各受光部列22と処理部21が同一方
向に向くように配置されているので、これらのラインセ
ンサ31〜33の各受光部列22のそれぞれの間隔が等
しくなっている。このように、ラインセンサ30〜33
間の受光部列22の間隔はすべて等しいという形態でな
く、異なっている部分がある。尚、制御回路20は各ラ
インセンサ30〜33に対してデータ転送用のクロック
を生成している。また、ラインセンサ30と31の間に
制御用の制御回路20を挿入してその間隔を有効に利用
しているので測距センサ30のサイズの拡大が抑えられ
ている。
係を図4に示す。処理部21は増幅器25、スイッチ2
6及びシフトレジスタ27から成る。受光部列22では
受光により発生した光電荷が画素ごとに蓄積される。そ
して、クロックCKTが制御回路20(図3参照)から
送られてくることによりスイッチ26はオン/オフ制御
され、クロックCKTに応じて上記光電荷は受光部列2
2から増幅器25及びスイッチ26を介してシフトレジ
スタ27に送られる。
3参照)からの転送用のクロックCKRが供給され、上
記光電荷の信号は各画素ごとに順番に矢印Bの方向に転
送される。尚、クロックCKRは主として2相又は3相
のクロックである。そして、出力側に存在する浮遊拡散
容量28及び増幅器29によって信号電圧Voとなって
測距センサ3(図3参照)から出力される。このように
本実施形態の測距センサ3はCCD(Charge Coupled D
evice)デバイスである。
ンサ3からの信号に基づいて被写体までの距離を三角測
距の原理を応用した演算で求めている。この演算につい
て簡単に説明する。
被写体像が写し出されているラインを選び出す。そし
て、左右の対となってラインセンサでの測距センサ3上
での被写体像と像との間隔を求める。距離検出装置の各
モジュールでは、あらかじめ被写体までの距離と被写体
像間の間隔との関係が測定されており、マイコン4には
その測定結果が記憶されている。そして、測距の際に
は、この記憶されている測定結果に基づいて被写体まで
の距離を求める。
きに被写体像間の間隔がx、被写体までの距離が2mで
あるときに被写体像間の間隔がyになるとあらかじめ測
定されている場合に、測距センサ3からの信号に基づき
被写体像間の間隔がこのxとyの中間の値となるときに
は、マイコン4は被写体までの距離を約1.5mである
と判断するような処理を行っている。また、複数ライン
から被写体像が得られている場合には、各ラインで被写
体までの距離を演算で求め、これらの演算結果を集計す
ることにより検出精度の向上を図ることも可能である。
実施形態について説明する。本実施形態は上記第1の実
施形態と同様のブロック構成(図1)となっている。図
5に示すように4ラインの測距エリアL1〜L4で測距
を行うが、撮影画面10の下端から上方に向かって測距
エリアL1〜L4の各間隔37、36、35は漸次小さ
くなるような配置となっている。
っている。測距センサ3は上述のように実際には上下逆
向きに設けられている。測距エリアL1〜L4のそれぞ
れに対応して4個のラインセンサ40〜43が設けられ
ている。ラインセンサ40〜43はいずれも被写体像を
受光する複数の画素より成る受光部列22及びこの受光
部列22で発生した光電荷を出力処理する処理部21と
から成っている。
られ、クロック生成用の制御回路20が挿入されてい
る。2対のラインセンサ41、42は各受光部列22と
処理部21が同一方向を向くように配置されている。そ
して、最下段の測距エリアL4に対応する1個のライン
センサ43はその受光部列21がラインセンサ42の受
光部列21と向かい合うように配置されている。したが
って、図5に示すように測距エリアL3と測距エリアL
4の間隔37を最も小さくなっている。
撮影画面10の下方ほど被写体15の検出にとって重要
度の高い領域の測距エリアが上記第1の実施形態と比べ
てさらに高密度となっている。そのため、撮影画面10
の下側で被写体15の検出が確実となっている。また、
測距精度の向上を図ることができる。
実施形態について説明する。本実施形態は上記第1の実
施形態と同様のブロック構成(図1)となっている。図
7(a)に示すように、5ラインの測距エリアL1〜L
5が設けられ、測距エリアL3を対称軸として上下対称
となるように測距エリアL1〜L5が設けられている。
エリアL2〜L3の間隔39では、撮影画面10の中央
に位置する測距エリアL3に近づくにつれて間隔が狭く
なるようになっている。したがって、撮影画面10の中
心付近に測距エリアの間隔が小さくなっている。被写体
15が画面10の中心に存在する可能性が高い場合に適
した測距エリアL1〜L5の配置となっている。比較的
重要度の低い撮影画面の上部又は下部では、測距エリア
の密度が低くなっている。
させることができる変倍光学系を有するものがあり、撮
影倍率を高倍率に変化させることによって図7(a)か
ら図7(b)に撮影画面10が変化する。そのとき、測
距エリアL1、L5は撮影画面10からはみ出してしま
うが、測距エリアL2〜L4は間隔が小さく設けられて
いるので撮影画面10から追いやられてしまうことがな
い。そのため、被写体15の測距の精度が低下しないよ
うになっている。
っている。測距エリアL1〜L5(図7参照)に対応し
て5個のラインセンサ50〜54が設けられている。ラ
インセンサ50〜54はいずれも被写体像を受光する複
数の画素より成る受光部列22及び受光部列22で発生
した光電荷を出力処理する処理部21とから成ってい
る。
部がL字状パターンを形成するとともに、隣接画素のパ
ターンがそれに噛み合うように配列されて受光部列と処
理部が構成されている。
れぞれの受光部列22が各処理部21よりも中央部に近
くなるように配置されている。そのため、中央部にある
ラインセンサ51〜53の受光部列22の互いの間隔は
小さくなり、上部又は下部方向に対応するラインセンサ
50、51と53、54の間の受光部列22の間隔が大
きくなっている。
撮影画面10の上部又は下部では測距エリアの間隔が大
きくなっている。したがって、重要部分では検出の精度
を確保しながら測距エリア数の低減を行っている。その
ため、マイコン4(図1参照)でのデータ処理が軽減さ
れるので、測距の演算に要する時間が長時間とならず、
オートフォーカスでの処理が遅れずユーザに負担となる
こともない。尚、変倍光学系を有するカメラにおいて倍
率を高くして図7(b)に示すような状態となったとき
には、測距エリアL1及びL5について測距を行う必要
はない。
実施形態について説明する。本実施形態は上記第1の実
施形態と同様のブロック構成(図1)となっている。図
9(a)に示すように、7ラインの測距エリアL1〜L
7が設けられている。測距エリアL1〜L7の間隔は測
距エリアL4を中心に小さくなっており、測距エリアL
4から離れるにつれて漸次大きくなっている。このよう
に、測距エリアL1〜L7が7ラインと多くなっている
ので被写体15の検出が確実となり、検出精度の向上も
図ることができる。また、撮影画面10の中央ほど測距
エリアL1〜L7の間隔が狭まっており、撮影画面10
の中心に被写体15の検出が確実となるようにしてい
る。
するものがあり、撮影倍率を高倍率に変化させることに
よって図9(a)から図9(b)に撮影画面10が変化
する。そのとき、測距エリアL1、L7は撮影画面10
からはみ出してしまうが、5ラインの測距エリアL2〜
L6は撮影画面10から追いやられてしまわうことな
く、有効な測距を行うことができる。
撮影画面10の上部に位置する測距エリアL1、L2の
間隔44と、下部に位置する測距エリアL6、L7の間
隔49とでは、被写体15の検出にとって撮影画面10
の下部側が重要であるため、間隔49の方が狭くなるよ
うにしている。
ような構成となっている。測距エリアL1〜L5(図
9)に対応して7個のラインセンサ60〜66が設けら
れている。ラインセンサ60〜66の左右を分ける位置
に制御回路20が存在し、信号転送用のクロックを生成
する。
ぞれ対応するラインセンサ63、66は、受光部と処理
部がL字状パターンを形成するとともに、隣接画素の前
記パターンがそれに噛み合う如く配列されて受光部列と
処理部列を構成している。ラインセンサ61、62、6
4、65は受光部列22が処理部21よりもラインセン
サ63に近いように配置されている。
向かい合うように配列されており、各受光部列22の間
隔67が大きく開けられている。また、それによって
も、間隔67にそれぞれの処理部21が設けられている
ので測距センサ3の拡大が極力抑制されている。
はラインセンサ66が上記パターンより形成されている
ので、間隔67よりも小さくなっている。このことは、
図9において、測距エリアの間隔44が間隔49よりも
大きいことに対応している。
実施形態について説明する。図11は本実施形態の距離
検出装置72を搭載した銀塩カメラ等の撮像装置1のブ
ロック図である。撮像装置1は撮像光学系5によって被
写体を銀塩等の撮像手段7に結像する。距離検出装置7
2は測距センサ70を用いて前記被写体までの距離を検
出する。
うに抽出手段71を用いて測距エリアの情報を抽出し、
抽出された情報がマイコン4に送られその測距エリアで
被写体までの距離検出を行う。そして、距離検出装置7
2は被写体までの距離に基づいてモータ等から成る駆動
手段6によって撮像光学系5を矢印Aのように移動させ
てオートフォーカスを行う。
る1対の測距用の光学系2a、2bと、光学系2a、2
bの略結像面に配置された測距センサ70と、測距セン
サ70からの信号により被写体への距離を求める演算を
行う手段であるマイコン4とから成る。測距センサ70
は左右に対となって存在するエリアセンサ70a、70
b及びクロック生成用の制御回路70cから成る。
1によって図12に示すように、撮影画面10に対して
9箇所の測距エリアE1〜E9が抽出され、測距エリア
E1〜E9のそれぞれについて被写体15の有無を判断
し、被写体15を検出したときには被写体15までの距
離を求める演算を行う。本実施形態では測距エリアE1
〜E9はそれぞれ大きさ及び形状は等しくなっている。
E1〜E9は重なることなく、全体に配置されていた
が、本実施形態では図12に示すように、測距エリアE
1〜E9は一部重複している部分がある。また、撮影画
面10の中央付近では5箇所の測距エリアE3〜E7が
設けられて高密度となってなっているが、撮影画面10
の上部及び下部では、測距エリアの密度は小さくなって
いる。また、測距エリアE3〜E9では部分的に重なっ
ている構造となっている。
付近に存在する可能性が高い場合には、この付近での測
距エリアを高密度とすることにより被写体15の検出が
確実になるようにしている。また、撮影画面10に対し
て上部又は下部では測距エリアの密度が低下しているの
で、マイコン4(図11参照)での負担が軽減されるこ
とになる。
ことができる変倍光学系を有するものがあり、撮影倍率
を高倍率に変化させることによって図12(a)から図
12(b)に撮影画面10が変化する。そのとき、測距
エリアE1〜E3及びE7〜E9の各エリアの大部分が
撮影画面10より追いやられてしまうので測距の意義が
薄れてしまうが、被写体15に対して3箇所の測距エリ
アE4〜E6で測距を行うことは有効である。
倍率が高倍率となると1箇所の測距エリアE5のみ有効
となってしまっていたが、本実施形態ではそれより多く
3箇所の測距エリアE4〜E6で測距することができ
る。そのため、被写体15の検出が確実となり、また検
出精度の向上も可能となっている。
Device)イメージセンサであり、図13に示すように
データ転送用クロックを生成する制御回路70cと、制
御回路70cを挟んで左右に一対のエリアセンサ70
a、70bが設けられている。エリアセンサ70a、7
0bは各領域がホトダイオード等の受光素子による画素
で2次元的に配列されている。
照)に対応して、エリアセンサ70aでは被写体検出エ
リアL1〜L9と、エリアセンサ70bでは被写体検出
エリアR1〜R9が設けられている。エリアL1〜L9
及びR1〜R9の各領域では例えば縦横に数十画素ずつ
設けられるている。制御回路70cで生成された転送用
クロックでエリアセンサ70a、70bの全領域の情報
が測距センサ70より順次転送され、抽出手段71によ
ってエリアL1〜L9とR1〜R9の情報がそれぞれ抽
出された後マイコン4へ送られる。
アの情報に基づいてマイコン4では、被写体像の有無を
判断し、被写体像が写し出されているときには上記第1
の実施形態の同様に三角測距の原理を応用した演算で求
めている。すなわち、上述したようにあらかじめ被写体
までの距離と、被写体像の測距センサ70上での間隔と
の関係が測定されており、マイコン4にはその測定結果
が記憶されている。そして、実際の測距の際には、この
記憶されている測定結果に基づいて被写体までの距離を
判断する。また、被写体15がエリアE1〜E9はそれ
ぞれ独立であるので、どのエリアに写し出されているか
によって被写体15の方向を判断することもできる。
アセンサに対して不均等となるように被写体検出エリア
を設けており、測距にとって重要部分について重点的に
測距を行うことができ、重要でない部分の処理を少なく
しているので測距演算を高速に行うことができる。尚、
エリアセンサ70a、70bについて、エリアL1〜L
9、R1〜R9以外では受光素子はあってもなくてもよ
い。
実施形態について説明する。本実施形態は上記第5の実
施形態と同様のブロック構成(図11)となっている。
また、測距センサ70については図13に示すCCDイ
メージセンサが用いられ、抽出手段71によって抽出さ
れる測距エリアが異なっている。
アE1〜E49が設けられている。測距の際には測距エ
リアE1〜E49のそれぞれについてマイコン4は被写
体15の有無の判断と、被写体15が写し出されている
場合に、上述の演算によって被写体15までの距離を求
める。
の水平方向及び垂直方向のいずれにおいても中央付近が
測距エリアが高密度となるように、測距エリアの間隔7
5〜77について画面中心から離れるにつれて広がるよ
うになっている。これにより、エリアセンサ70a、7
0b(図13参照)の全領域について測距の演算を行わ
なくてもよいのでマイコン4での演算時間の短縮にもな
る。
させることができる変倍光学系を有するものがあり、撮
影倍率を高倍率に変化させることによって図14(a)
から図14(b)に撮影画面10が変化する。このと
き、測距エリアE16〜E20、E23〜E27、E3
0〜E34以外の測距エリアについては撮影画面10か
ら追いやられてしまい、被写体15の検出の意義が失わ
れるが、中央付近に高密度となるように測距エリアが設
けられているため、測距の精度の大きな低下にはならな
い。また、撮影画面からはみ出した測距エリアについて
は、測距演算が不必要なので、これを省略することによ
って演算時間の短縮を図ることができる。
実施形態について説明する。本実施形態は上記第5の実
施形態と同様のブロック構成(図11)となっている。
また、測距センサ70については図13に示すCCDイ
メージセンサが用いられ、抽出手段71によって抜き出
される測距エリアが異なっている。
E1〜E9が設けられている。測距の際には測距エリア
E1〜E9のそれぞれについてマイコン4は被写体15
の有無の判断と、被写体15が写し出されている場合
に、上述の演算によって被写体15までの距離を求め
る。
側に高密度となるように測距エリアE1〜E9が設けら
れている。したがって、撮影画面10の下部側に重点的
に測距を行うことができ、被写体15が撮影画面10の
下部に位置する可能性の高いことに対応している。逆
に、被写体15が撮影画面10の上部に位置する可能性
が低いので、撮影画面10の上部側では測距エリアの密
度を低くし、マイコン4(図11参照)での演算時間の
短縮を図っている。
実施形態について説明する。本実施形態は上記第5の実
施形態と同様のブロック構成(図11)となっている。
また、測距センサ70については図13に示すCCDイ
メージセンサが用いられ、抽出手段71によって抜き出
される測距エリアが異なっている。
アE1〜E25が設けられている。測距の際には測距エ
リアE1〜E25のそれぞれについてマイコン4は被写
体15の有無の判断と、被写体15が写し出されている
場合に、上述の演算によって被写体15までの距離を求
める。
列の測距エリアE1〜E5は互いに等間隔に設けられて
いるが、2列目の測距エリアE6〜E10とは間隔80
が設けられている。そして、2列目の測距エリアE6〜
E10と3列目の測距エリアE11〜E15の間隔81
は間隔80よりも小さくなっている。3列目の測距エリ
アE11〜E15と4列目の測距エリアE16〜E20
の間隔82は間隔81よりもさらに小さくなっている。
4列目の測距エリアE16〜E20と最下列の測距エリ
ア21〜E25の間隔はなく接触している。尚、上記各
列については測距エリアは最上列と同様に、測距エリア
は等間隔に設けられている。
的に測距を行うことができ、被写体15が撮影画面10
の下部に位置する可能性の高いことに対応している。逆
に、被写体15が撮影画面10の上部に位置する可能性
が低いので、撮影画面10の上部側では測距エリアの密
度を低くし、マイコン4(図11参照)での演算時間の
短縮を図っている。
本発明によれば、測距エリアの間隔が異なっており、被
写体が位置する可能性の低い重要でない部分について測
距エリアの間隔を広くとることにより被写体の検出を確
保しつつラインセンサ数を少なくでき、回路規模を縮小
することができる。そのため、測距センサのサイズの縮
小も可能となっている。また、ラインセンサ数の減少に
より測距のための演算時間も短縮され、カメラのオート
フォーカス等にタイムラグが生じないようになる。尚、
重要部分では測距エリアの密度が高くなっているので、
従来のように等間隔に測距エリアを設けた場合に比べて
も被写体の検出もれや検出精度の劣化にはならない。ま
た、変倍光学系を有するカメラの場合には、撮影倍率が
高くなると撮影画面から測距ラインがはみ出すこともあ
るが、重要でない部分をはみ出すようにし、測距エリア
を高密度とした部分を撮影画面に残しておくようにする
ことにより、被写体の確実な検出及び測距精度の向上を
図ることが可能となる。
部列で生成した光電荷をCCD等の処理部列によって測
距用センサから出力される。
エリアの間隔が例えば一方向に漸次大きくなっているの
で、前記測距エリアが高密度となっている。そのため、
例えば撮影画面の下部付近が被写体の検出にとって重要
であるならば、そこに重点的に測距を行うことが可能で
ある。
で間隔が小さくなっているので、被写体が撮影画面の中
央にいる可能性の高いときに有効である。
くなっているところに制御回路が挿入されているので、
測距センサの配置を有効に利用してサイズを縮小を図る
ことができる。
部列を向かい合わせることによりラインセンサによる測
距エリアの間隔の短いところを設けることができる。
荷を出力処理する処理部列を向かい合わせることによ
り、測距エリアの間隔が大きいところを設けることがで
きる。また、その間隔を有効に利用しているので測距セ
ンサのサイズが拡大しないようにもなっている。
部列と処理部列がL字状パターンを形成するとともに、
隣接画素の前記パターンがそれに噛み合うように配列さ
れて受光部列と処理部列を構成しているので、隣接する
ラインセンサの受光部列との間隔を短くすることが可能
である。
アセンサを利用して測距を行う距離検出装置において、
測距エリアを不均等となるように抽出することにより被
写体検出にあまり重要でない部分での測距エリアを縮小
することができ、この測距用センサからの情報に基づく
測距演算の負担が低減され、例えばオートフォーカスに
タイムラグが生じないようにしている。
影画面に対して中央になるほど測距エリアが高密度に設
けられているので撮影画面の中央に被写体が存在する可
能性の高い場合に有効な測距エリアの配置となってい
る。
影画面の例えば下部に向かって漸次密度が高くなるよう
に測距エリアが設けられているので、被写体が撮影画面
の下部に存在する可能性の高い場合に有効な測距エリア
の配置となっている。
出手段では互いの測距エリアの一部が重複するように抽
出することができるので、測距エリアの高密度化は容易
である。
ク図。
係を示す図。
正面図。
図。
面と測距エリアの関係を示す図。
正面図。
面と測距エリアの関係を示す図。
正面図。
面と測距エリアの関係を示す図。
の正面図。
ック図。
係を示す図。
の正面図。
画面と測距エリアの関係を示す図。
画面と測距エリアの関係を示す図。
画面と測距エリアの関係を示す図。
関係の一例を示す図。
関係の別例を示す図。
の正面図。
係を示す図。
関係を示す図。
Claims (12)
- 【請求項1】 被写体像を結像する光学系と、前記光学
系の略結像面に配置された3個以上のラインセンサを有
する測距用センサと、前記測距用センサの出力に基づい
て被写体までの距離を演算する手段とを備えた距離検出
装置において、 前記ラインセンサ間の受光部列の間隔が異なっている部
分を有することを特徴とする距離検出装置。 - 【請求項2】 被写体像を結像する光学系と、前記光学
系の略結像面に配置された3個以上のラインセンサを有
する測距用センサと、前記測距用センサの出力に基づい
て被写体までの距離を演算する手段とを備えた距離検出
装置において、 前記ラインセンサは前記光学系を通過した前記被写体像
を受光する複数の画素より成る受光部列及びこの受光部
列で発生した光電荷を出力処理する処理部列とから成
り、前記受光部列の間隔が異なっている部分を有するこ
とを特徴とする距離検出装置。 - 【請求項3】 前記間隔は所定方向に漸次大きくなって
いることを特徴とする請求項2に記載の距離検出装置。 - 【請求項4】 前記間隔は前記測距用センサの中央では
小さいことを特徴とする請求項2に記載の距離検出装
置。 - 【請求項5】 前記間隔が大きくなっている場所に前記
ラインセンサを制御する制御回路が挿入されていること
を特徴とする請求項2乃至請求項4のいずれかに記載の
距離検出装置。 - 【請求項6】 前記受光部列が向かい合うように前記ラ
インセンサが配置されているラインセンサ対を有するこ
とを特徴とする請求項2乃至請求項5のいずれかに記載
の距離検出装置。 - 【請求項7】 前記処理部列が向かい合うように前記ラ
インセンサが配置されているラインセンサ対を有するこ
とを特徴とする請求項2乃至請求項6のいずれかに記載
の距離検出装置。 - 【請求項8】 画素ごとに受光部と処理部がL字状パタ
ーンを形成するとともに、隣接画素の前記パターンがそ
れに噛み合う如く配列されて上記受光部列と処理部列を
構成していることを特徴とする請求項1に記載の距離検
出装置。 - 【請求項9】 被写体像を結像する光学系と、前記光学
系の略結像面に配置されたエリアセンサを有する測距用
センサと、前記測距用センサの出力に基づいて被写体検
出エリアの情報を抽出する抽出手段と、前記情報に基づ
いて前記被写体までの距離を演算する手段とを備えた距
離検出装置において、 前記被写体検出エリアが前記エリアセンサに対して不均
等となるように設けられていることを特徴とする距離検
出装置。 - 【請求項10】 前記被写体検出エリアは前記エリアセ
ンサの中央になるほど高密度に設けられていることを特
徴とする請求項9に記載の距離検出装置。 - 【請求項11】 前記被写体検出エリアは前記エリアセ
ンサの一端に向かって漸次密度が高くなっていることを
特徴とする請求項9に記載の距離検出装置。 - 【請求項12】 前記被写体検出エリアの密度の高い部
分には前記被写体検出エリアが部分的に重なっている構
造を有していることを特徴とする請求項9乃至請求項1
1のいずれかに記載の距離検出装置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002196227A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-12 | Olympus Optical Co Ltd | 測距センサ及び測距装置 |
US6522839B2 (en) | 2000-07-14 | 2003-02-18 | Olympus Optical Co., Ltd. | Distance measuring device and camera having the same |
JP2013015807A (ja) * | 2011-06-09 | 2013-01-24 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
WO2019012789A1 (ja) * | 2017-07-11 | 2019-01-17 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 距離測定装置及び移動体装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2849311C (en) | 2011-09-29 | 2020-01-14 | ArthroCAD, Inc. | System and method for precise prosthesis positioning in hip arthroplasty |
US9597096B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-03-21 | Arthromeda, Inc. | Systems and methods for providing alignment in total knee arthroplasty |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4910548A (en) * | 1986-05-16 | 1990-03-20 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with a multi-zone focus detecting device |
JPH03100535A (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-25 | Minolta Camera Co Ltd | カメラのピント検出用光電変換装置 |
JPH0743605A (ja) * | 1993-08-02 | 1995-02-14 | Minolta Co Ltd | 自動焦点装置 |
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-
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-
1998
- 1998-11-19 US US09/195,670 patent/US6128445A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6522839B2 (en) | 2000-07-14 | 2003-02-18 | Olympus Optical Co., Ltd. | Distance measuring device and camera having the same |
CN1329775C (zh) * | 2000-07-14 | 2007-08-01 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 测距装置和具有测距装置的照相机 |
CN100419567C (zh) * | 2000-07-14 | 2008-09-17 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 测距装置和具有测距装置的照相机 |
CN100454130C (zh) * | 2000-07-14 | 2009-01-21 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 测距装置和具有测距装置的照相机 |
JP2002196227A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-12 | Olympus Optical Co Ltd | 測距センサ及び測距装置 |
JP2013015807A (ja) * | 2011-06-09 | 2013-01-24 | Nikon Corp | 焦点検出装置および撮像装置 |
WO2019012789A1 (ja) * | 2017-07-11 | 2019-01-17 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 距離測定装置及び移動体装置 |
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CN110603456B (zh) * | 2017-07-11 | 2023-12-01 | 索尼半导体解决方案公司 | 测距装置和包括测距装置的移动装置 |
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