JPH0743605A

JPH0743605A - 自動焦点装置

Info

Publication number: JPH0743605A
Application number: JP5211001A
Authority: JP
Inventors: Akio Kaneuma; 章夫金馬; Masataka Hamada; 正隆浜田; Hiroshi Ueda; 浩上田; Kazumi Sugitani; 一三杉谷; Hiroshi Otsuka; 博司大塚
Original assignee: Minolta Co Ltd
Current assignee: Minolta Co Ltd
Priority date: 1993-08-02
Filing date: 1993-08-02
Publication date: 1995-02-14
Also published as: US5597999A

Abstract

(57)【要約】【目的】コントラスト方式と位相差方式とを併用し
て、大きくピントがぼけた状態にあっても焦点検出がで
き、かつ、広い焦点検出エリアについて不感帯を生じる
ことなく焦点検出が可能な自動焦点装置を提供する。【構成】位相差方式の焦点検出により粗調を行い、コ
ントラスト方式の焦点検出により微調を行い、レンズを
合焦動作させる。また、位相差方式の検出感度域で測定
不能な場合は、コントラスト方式で焦点検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、オートフォーカスカメ
ラ等に使用される自動焦点装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の自動焦点装置としては、
撮影レンズを通して入射される被写体像が結像される予
定焦点面付近とその前後に受光センサを配置し、被写体
像の隣接する画素の光量差によりデフォーカス量を検出
し、この検出結果に基づいてレンズを駆動し、被写体像
に合焦させるコントラスト方式のもの（例えば、特開昭
５５−１５５３０８号公報）と、分割された２つの光束
による被写体の再結像の位相差によりデフォーカス量及
びその方向を検出して、レンズを駆動して被写体像に合
焦させる位相差方式のもの（特開平４−１７５６１９号
公報）が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、コント
ラスト方式の焦点検出においては、検出可能なデフォー
カス量の範囲が狭いため、大きくピントがずれている状
態では、焦点検出が困難になる。また、位相差方式の焦
点検出においては、検出可能なデフォーカス量の範囲は
広いが、焦点検出エリアに不感帯が生じてしまうといっ
た問題がある。

【０００４】本発明は上述した問題点を解決するもの
で、コントラスト方式と位相差方式とを併用して、大き
くピントがぼけた状態にあっても焦点検出ができ、か
つ、広い焦点検出エリアについて不感帯を生じることな
く焦点検出が可能な自動焦点装置を提供することを目的
とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、位相差方式により焦点検出を行う光学系及
び受光センサからなる焦点検出手段と、コントラスト方
式により焦点検出を行う光学系及び受光センサからなる
焦点検出手段と、位相差方式焦点検出手段での焦点検出
とコントラスト方式焦点検出手段での焦点検出とを組み
合わせ用いることによりデフォーカス量を求め、レンズ
を合焦動作させる制御手段とを備えた自動焦点装置であ
る。

【０００６】

【作用】上記の構成によれば、位相差方式の焦点検出に
より粗調を行い、コントラスト方式の焦点検出により微
調を行い、レンズを合焦動作させる。また、位相差方式
の検出感度域で測定不能な場合は、コントラスト方式で
焦点検出する。

【０００７】

【実施例】図１は、本発明の第１実施例によるオートフ
ォーカス（ＡＦ）カメラの焦点検出装置を構成するＡＦ
センサモジュールを示す。ＡＦセンサモジュールは、位
相差方式焦点検出とコントラスト方式焦点検出のための
光学系及び受光センサから構成される。位相差方式焦点
検出の構成は、撮影レンズを通して入射した被写体の撮
影光が結像するフィルム等価面１の後方に位置して、撮
影光を２つの光束に分割するコンデンサレンズ２と、撮
影光を再結像させる２つのセパレータレンズ３と、被写
体像を電気的な画像情報に変換するＣＣＤ等のラインセ
ンサ４とからなる。コントラスト方式焦点検出の構成
は、撮影光の一部を反射させる半透過ミラー５，６と、
エリアセンサ７とからなる。図２は、上記の構成にさら
に、もう一つのフィルム等価面８の後方に配置した、露
光制御信号を得るための測光エリアセンサ９を有してい
る。

【０００８】図３、図４は、ＡＦカメラにおける撮影画
面に対する焦点検出（測距）エリアの例を示す。ＡＦカ
メラ１３のファインダ１１内において、斜線部１２はコ
ントラスト方式による焦点検出エリアを示し、矩形部
は位相差方式による焦点検出エリアを示す。図３の
例では、コントラスト方式による焦点検出エリア１２の
中に位相差方式による焦点検出エリアが重ね合わせに配
置されている。図４の例では、位相差方式による焦点検
出エリアはコントラスト方式焦点検出エリアの左右
外側に配置されている。

【０００９】図５は、ＡＦカメラ１３における自動焦点
装置のブロック構成を示す。撮像レンズ１４を通った撮
影光は、メインミラー１５、サブミラー１６を経てＡＦ
センサモジュール内のＣＣＤ１７に導かれる。受光量に
応じてＣＣＤ１７に溜った電荷は、ＡＦインタフェイス
ＩＣ１８に取り込まれる。ＣＣＤ１７から出力する画素
範囲は、マイコン１９の制御のもとに任意の部分を取り
出すこともできる。このＣＣＤ１７からの電荷のアナロ
グデータは、インタフェイスＩＣ１８でＡ／Ｄ変換さ
れ、メモリに記憶される。マイコン１９は、この記憶さ
れたデータを用いて演算することにより、ピントのずれ
量すなわちデフォーカス量を算出し、その算出したデフ
ォーカス量に応じてフォーカシングレンズ駆動用モータ
２０を駆動することによって合焦動作を行う。

【００１０】図６は、本自動焦点装置の動作を示すフロ
ーチャートである。測距動作がスタートすると、ＣＣＤ
での積分を開始し（＃１）、所定の積分を終了すると
（＃２）、位相差方式によるデフォーカス量（Ｄｆ）を
演算する（＃３）。その結果を基に、ローコントラスト
（ローコンという）でなければレンズを駆動し（＃
５）、次いで、コントラスト方式によるデフォーカス量
演算を行う（＃６）。ローコンであればレンズを駆動す
ることなく＃６に進む。＃６の結果、ローコンであれば
ローコンスキャンを行う（＃８）。ローコンでなければ
レンズを駆動し（＃９）、合焦しているかを調べ（＃１
０）、合焦していなければ＃１へ戻る。合焦していれば
合焦表示を行い（＃１１）、レリーズスイッチ（Ｓ２）
がＯＮされるのを＃１０〜＃１２のループで待ち、同ス
イッチＯＮで主ミラーを駆動し（＃１３）、露出制御が
行われる（＃１４）。

【００１１】図７は、ファインダ１１内のエリアセンサ
による多点測距領域の分布を示す。測距（焦点検出）領
域２２はファインダ１１の面積比で１／４以上つまり
縦、横の長さ比で１／２以上の相対的な大きさを持ち、
図示のように複数の測距領域２２ａ〜２２ｔに分割され
ている。その測距領域ごとに測距データ（デフォーカス
量）を記憶し、この測距分布データを用いて主被写体検
知を行う。図８（ａ），（ｂ），（ｃ）は図７のライン
ａ，ｂ，ｃでのデフォーカス量分布例を示し、図９は３
次元的なデフォーカス量分布例を示す。また、カメラに
測距領域切換えスイッチを備えておれば、それによって
選び出された測距領域のみのデータをエリアセンサから
読み出し、そのデータを用いてフォーカスレンズを駆動
し、焦点を合わせればよい。

【００１２】図１０は、ファインダ１１内のラインセン
サによる多点測距領域分布を示す。一つのアイランドは
複数のブロックに分けられ、それぞれより測距値が算出
される。また、カメラに測距領域固定スイッチが設けら
れておれば、測距領域を測距領域固定スイッチによって
固定することができる。

【００１３】図１１は、多点での位相差方式焦点検出の
ための光学系を示す。この光学系は、被写体の撮影光が
結像するフィルム等価面１の後方に位置するコンデンサ
レンズ２と、セパレータレンズ３と、基準部と参照部を
有したＣＣＤ４とからなる。フィルム等価面１に記載し
た枠は、複数に分割された焦点検出エリアを仮想的に表
したものである。図１２は位相差方式の焦点検出光学系
に用いられる絞りマスクを示す。絞りマスク２５は、セ
パレータレンズ３の前面に配されてＣＣＤ４上に結像さ
せる光束を規制するもので、この例では透光部を円形に
している。これにより、迷光を防止することができる。
図１３は位相差方式に用いられる２つのＣＣＤ（ＣＣＤ
１，ＣＣＤ２）を１つのチップに搭載した例を示す。図
１４は、上記絞りマスクを用いた場合に、チップ上の光
の当たる円形部分のみＣＣＤを配置した例を示し、図１
５は、ＣＣＤ全体に光が当たるようにＡＦ光学系を構成
した例を示す。

【００１４】図１６は位相差方式焦点検出においてエリ
アセンサからデータを取出す状況を説明する図である。
位相差方向にデータをダンプし、隣りまたは何個かおき
にデータを取出し、低輝度被写体による暗出力である部
分を除いて画素出力差のあるラインのみ測距演算（焦点
検出）する。これにより測距精度を高めることができ
る。なお、図１６には、１つのエリアセンサのみを示し
ているが、これと同等のエリアセンサが並設されてお
り、両者で基準部と参照部を構成している。図１７は位
相差方向にデータをダンプしたときの画素出力例を示
す。また、図１８は位相差方向と垂直な方向に何列かお
きにデータを取出した画素出力例を示す。垂直方向に差
の絶対値をとっていき、低輝度被写体による暗出力であ
る領域は測距演算しないようにする。なお、図１７、図
１８にはいずれも１ライン分のデータしか示していない
が、実際には複数ラインのデータを取出して演算する。
また、図１９は位相差の方向と垂直な方向の複数のデー
タを加算してから測距演算してもよいことを示してい
る。

【００１５】次に、第２実施例を説明する。第２実施例
では、位相差方式の焦点検出の構成説明は省略し、これ
と併用されるコントラスト方式の焦点検出のための構成
を説明する。コントラスト方式では位相差方式に比べて
広いエリアについて焦点検出ができ、また、本実施例で
はデフォーカス方向も検出できるようにしている。図２
０は第２実施例による一眼レフＡＦカメラにおいてコン
トラスト方式の焦点検出構成を示している。図２０にお
いて、撮影レンズ１４を透過した撮影光３２は、クイッ
クリターンミラー１５によって２分割され、反射した光
３２ｅはフィルム面３１と等価位置にあるフォーカシン
グスクリーン３４、ペンタプリズム３５で構成されたフ
ァインダ光学系に導かれる。一方、クイックリターンミ
ラー１５を透過した光３２ｄは、サブミラー１６によっ
て反射されて下方の焦点検出装置（ＡＦモジュール）に
導かれる。焦点検出装置は、再結像レンズ３７と、光路
分割光学系３８と、エリアセンサ３９（以下、ＣＣＤと
いう）と、測光センサ４０とから構成される。

【００１６】光路分割光学系３８の詳細を図２２ととも
に説明する。サブミラー１６で反射した光３２ｄは、再
結像レンズ３７を通ってハーフミラー４１ａによって光
３２ａと光３２ｆに分割される。ハーフミラー４１ａを
透過した光３２ａはＣＣＤ３９ａに導かれ、ハーフミラ
ー４１ａで反射した光３２ｆは、ハーフミラー４１ｂで
反射する光３２ｂと透過する光３２ｃとに分割される。
ハーフミラー４１ｂで反射した光３２ｂはＣＣＤ３９ｂ
に導かれ、透過した光３２ｃは測光センサ４０に導かれ
る。ＣＣＤ３９ａ，３９ｂは、光路長に関してそれらの
間に仮想的な再結像面４２がくるように配置される。こ
れにより、ＣＣＤ３９ａ，３９ｂまたはレンズを動かさ
ずに、デフォーカス（Ｄｆ）方向を検知することができ
る。

【００１７】図２１は光路分割光学系３８の他の例を示
し、分割された光路長の差をさらに拡げたものである。
これは、図２０の光路分割光学系３８を用いてもコント
ラスト方式でのデフォーカス方向が判明できないときに
使用される。ミラー４１ｅを移動させることによって、
ミラー４１ａで反射された光は、ミラー４１ｂ，４１
ｃ，４１ｄで反射され、ＣＣＤ３９ｂに入射する。これ
によって、光路長は伸ばされ、ＣＣＤ３９ｂ方向に焦点
があれば、同ＣＣＤ３９ｂでのぼけ量が小さくなりデフ
ォーカス方向が分かる。一方、同ＣＣＤ３９ｂ側でもぼ
け量が大きい場合は、反対側に焦点があることが分か
る。従って、デフォーカス量が大きいときでもデフォー
カス方向が分かる。

【００１８】また、図２０、図２１のＣＣＤ３９ａ，３
９ｂは２枚のエリアセンサを使うのではなく、１枚のエ
リアセンサを２つに分割して使用する。これにより、１
枚のエリアセンサで２枚のエリアセンサの効果が得られ
る。さらに、２枚のエリアセンサの場合、調整を個々に
しなければならないが、１枚のエリアセンサの場合は１
枚についてのみ調整すればよいので、調整が容易で、低
コストとなる。また、エリアセンサは、図２３のよう
に、２つに分割してしまうと、ＣＣＤ３９ａとＣＣＤ３
９ｂの境界辺りで、ＣＣＤ３９ａに当たるべき光がＣＣ
Ｄ３９ｂに当たったり、ＣＣＤ３９ｂに当たるべき光が
ＣＣＤ３９ａに当たったりする可能性が製作上の公差で
生じる。そこで、図２４に示すように、予め２つに分割
した範囲より小さい範囲（斜線部）に結像するようにし
ておくことにより、お互いの領域を侵さないようにす
る。また、測光センサ４０は、ＣＣＤ３９ａ，３９ｂの
積分制御用のモニタも兼ねている。

【００１９】図２５は測光センサ４０を含んだ測光回路
構成を示す。測光センサ４０の出力により得られた信号
のＡ／Ｄ変換値は露光制御のための信号となり、また、
ＣＣＤ３９ａ，３９ｂの積分制御のためのモニタ信号と
してマイコンに入力される。

【００２０】次に、撮像レンズのＦＮｏ．による光路の
けられについて図２６を用いて説明する。ＦＮｏ．の大
きいレンズでは、光束の最も下を通る光線Ｌ２′と最も
上を通る光線Ｌ２は、全てサブミラー１６に当たってＡ
Ｆモジュール側に導かれる。それに対して、ＦＮｏ．の
小さいレンズでは、光束の最も下を通る光線Ｌ１′はサ
ブミラー１６に当たってＡＦモジュールに導かれるが、
最も上を通る光線Ｌ１はサブミラー１６に当たらずＡＦ
モジュールに導かれない。そのため、ＦＮｏ．が大きい
場合は光束がけられないので、ＣＣＤ上では、図２８
（ａ）のように、ぼける（但し、ピントが合っていない
とき）のに対して、ＦＮｏ．が小さい場合は一部の光束
がけられるので、図２８（ｂ）のように、ぼけてしま
う。

【００２１】光束のけられは像高によっても発生し得
る。これを図２７を用いて説明する。フィルム面５０の
中心に結像する光束の最も上を通る光線Ｌ３と最も下を
通る光線Ｌ３′は、全てサブミラー１６に当たってＡＦ
モジュールに導かれる。それに対して、ある像高ｘの所
に結像する光束の最も下を通る光線Ｌ４′はサブミラー
１６に当たってＡＦモジュールに導かれるが、最も上を
通る光線Ｌ４は、けられてＡＦモジュールに導かれな
い。そのため、フィルム面３１の中心に結像する光束
は、ＣＣＤ上で図２８（ａ）のようにぼける（但し、ピ
ントが合っていないとき）のに対して、像高をいくらか
持ったところに結像する光束は、一部の光束がけられる
ので、図２８（ｂ）のように、ぼける。このような光束
のけられは合焦検出に悪い影響を及ぼす。そこで、光束
のけられによる光量落ち分をＣＣＤの中心からの距離に
従って加重をかける。そのデータはカメラ本体またはレ
ンズに持たせる。

【００２２】図２９は第２実施例の変形例であり、ＡＦ
モジュールの配置構成を変えている。同図において、撮
影レンズ１４を通った光３２はペリクルミラー５１で光
路が分割される。反射光３２ｅはファインダの方に導か
れ、透過光はＡＦモジュールに導かれる。光路分割光学
系３８等の構成は上記と同様である。この変形例では、
露出時に、ペリクルミラー５１が５１′の位置に変わ
り、光３２はフィルム面３１に導かれフィルムは露光さ
れる。この露出時にも透過光はＡＦモジュールに導かれ
るので測距可能である。図３０はＡＦモジュールの配置
構成を変えた他の変形例である。この例では、ファイン
ダに導かれた光を分割することによってＡＦモジュール
に光を導くように構成されている。ＡＦモジュールの光
路分割光学系３８の構成は上記と同様である。

【００２３】図３１はさらに他の変形例であり、ＣＣＤ
３９が１枚のみの例である。ＣＣＤ３９が１枚でのコン
トラスト方式ではデフォーカス（Ｄｆ）方向が分からな
い。そこで、撮影レンズ１４を矢印５１のように前後に
振って撮像信号を求め、図３２に示すように、撮像信号
の高域成分に基づいた評価関数が高くなる方へレンズを
駆動する。つまり、レンズを振ることによってデフォー
カス方向を見つける。再結像レンズ２を矢印５２のよう
に振っても、ＣＣＤ３９自体を矢印５３のように振って
もよい。

【００２４】図３３は図２１の構成における焦点検出制
御のブロック構成を示す。マイコン５５は、測光測距ス
イッチＳ１、レリーズスイッチＳ２、レンズ１４のデー
タ、ＣＣＤ（ＡＦセンサ）３９、測光センサ（ＡＥセン
サ）４０等の信号を取り込み、主ミラー駆動部５６、Ａ
Ｆミラー駆動部５７、レンズ駆動部５８を駆動する。図
３４はＡＦセンサ３９とＡＥセンサ４０とマイコン５５
の機能ブロック構成を示している。ＡＥセンサ４０は測
光およびＡＦセンサの積分制御モニタの機能を兼ねてい
る。

【００２５】図３５は図２０の実施例のように２枚のエ
リアセンサ（ＣＣＤ）を配置したコントラスト方式での
焦点検出におけるデフォーカス量と評価関数の関係を示
す。２枚のＣＣＤの評価値が等しくなるときに合焦とな
る（ａ３，ｂ３）。また、非合焦のときは２枚のＣＣＤ
から算出した評価値の差によってデフォーカス（Ｄｆ）
の方向を検知し、レンズを駆動させた後の２回目の評価
値を算出し、これと前回の評価値とを使って評価関数の
近似値を算出して評価関数のピーク値を求め、レンズを
駆動する。

【００２６】図３６はコントラスト方式の場合のデフォ
ーカス量に応じた焦点検出動作を説明する図である。上
記図２０の実施例では、フィルム等価面の前後にＣＣＤ
３９ａ，３９ｂが配置されていることによって小さいデ
フォーカス量の時はその方向を検出できる。この様子を
同図（ａ）に示す。受光素子位置Ａ，ＢがＣＣＤ３９
ａ，３９ｂに相当する。ところが、デフォーカス量が大
きくなると、図２０のＣＣＤ３９ａ，３９ｂでの結像が
ともに大きくぼけてしまい、デフォーカス方向が分から
なくなる。そこで、上述した図２１の構成では、ミラー
４１ｅを外して光路長を伸ばすことで、デフォーカス方
向を検出可能にしている。この様子を同図（ｂ）（ｃ）
に示す。受光素子位置Ｃが光路長を長くした場合のＣＣ
Ｄ３９に相当する。（ｂ）でも、ぼけ量が大きくデフォ
ーカス方向が分からない場合は、（ｃ）に示すように、
反射側に焦点があることが分かる。こうして、デフォー
カス量が大きいときでもその方向が分かるため、ピエゾ
素子などを用いてレンズを振るといったことを行うこと
なく、デフォーカス方向が分かる。

【００２７】図３７は図２１の実施例での焦点検出動作
のフローチャートである。１回目測距（＃２１）に基づ
いて、ＣＣＤの２つともがローコンかを判定し（＃２
２）、ローコンでなければＡＦミラー（ミラー４１ｅに
相当）が切換えられているかを調べ（＃２３）、切換え
られていなければデフォーカス方向に基づいてレンズを
駆動し（＃２４）、２回目の測距を行う（＃２５）。そ
して、合焦かを調べ（＃２６）、合焦でなければ、デフ
ォーカス演算を行い（＃２７）、それに基づいてレンズ
駆動し（＃２８）、合焦するまで測距を繰り返す（＃２
９）。合焦すれば、合焦表示を行い（＃３０）、レリー
ズスイッチＳ２がＯＮされるのを待って（＃３１）、主
ミラーを駆動し（＃３２）、露出制御を行う（＃３
３）。

【００２８】＃２２で２つともローコンであれば図３６
の矢印Ｑ方向へのレンズ駆動の有無を調べ（＃３４）、
無ければＡＦミラーが切換えられているかを調べ（＃３
５）、切換えられていなければ、ＡＦミラーを切換えて
光路長を変更し（＃３６）、＃２１に戻って上記の動作
を繰り返す。＃３５でＡＦミラーが切換えられている場
合は矢印Ｑ方向にレンズを駆動し（＃３７）、ＡＦミラ
ーをリターンつまり光路長を元に戻して（＃３９）、再
び＃２１から上記の動作を繰り返す。上記＃３６を経た
直後に＃２２で１つでもローコンでなくなって＃２３に
進むとＡＦミラーが切換えられているので、＃３８に進
んで、図３６のＰ方向にレンズを駆動し（＃３８）、＃
３９を経て＃２１へ戻って同様の動作を繰り返す。ま
た、上記＃３７を経た後に＃２２で未だ２つともローコ
ンであれば、＃３４から＃４０に進みローコンとする。

【００２９】図３８、図３９は第２実施例のさらに他の
変形例を示す。コントラスト方式で広い範囲に亘ってデ
フォーカス量および方向を検出可能とするには、ミラー
からセンサまでの光路長が長くなったり、大きいセンサ
が必要となる傾向にあるが、以下に示すような構成を採
用することで、その問題を解消できる。すなわち、図３
８はサブミラー１６ａを凹面鏡にして被写体像をより縮
小して投影させる。また、図３９はサブミラー１６ｂを
フレネルレンズにして被写体像をフィルムサイズよりも
縮小して投影する。このような構成によりＡＦ光学系を
小形化することができる。

【００３０】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、コントラ
スト方式焦点検出と位相差方式焦点検出とを併用し、先
に位相差方式によりデフォーカス方向を検出するように
しているので、両者が互いに補間し合ってコントラスト
方式での焦点検出エリアに関し不感帯の生じ易い点とコ
ントラスト方式での大きくピントがぼけた状態でのデフ
ォーカス方向の焦点検出が困難な点とを共に解消でき、
広い焦点検出エリアについて不感帯を生じることなく焦
点検出ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例による焦点検出装置を構成
するＡＦセンサモジュール装置の構成図である。

【図２】ＡＦセンサモジュール装置の他の例を示す構成
図である。

【図３】撮影画面に対する焦点検出エリアの例を示す図
である。

【図４】撮影画面に対する焦点検出エリアの他の例を示
す図である。

【図５】ＡＦカメラにおける自動焦点装置のブロック構
成図である。

【図６】自動焦点装置の動作を示すフローチャートであ
る。

【図７】ファインダ内のエリアセンサによる多点測距領
域の分布図である。

【図８】（ａ）（ｂ）（ｃ）は図７のラインａ，ｂ，ｃ
でのデフォーカス量分布例を示す図である。

【図９】３次元的なデフォーカス量分布例を示す図であ
る。

【図１０】ファインダ内のラインセンサによる多点測距
領域分布例を示す図である。

【図１１】多点での位相差方式焦点検出のための光学系
の斜視図である。

【図１２】位相差方式の焦点検出光学系に用いられる絞
りマスクを示す正面図である。

【図１３】２つのＣＣＤを１つのチップに搭載した例を
示す図である。

【図１４】チップ上の光の当たる円形部分のみＣＣＤを
配置した例を示す図である。

【図１５】ＣＣＤ全体に光が当たるようにＡＦ光学系を
構成した例を示す図である。

【図１６】エリアセンサからのデータの取出しを説明す
る図である。

【図１７】位相差方向にデータをダンプしたときの画素
出力例を示す図である。

【図１８】位相差方向と垂直な方向に何列かおきにデー
タを取出した画素出力例を示す図である。

【図１９】位相差方向と垂直な方向の複数データを加算
して測距演算することを示す図である。

【図２０】第２実施例におけるコントラスト方式による
焦点検出構成を示す図である。

【図２１】第２実施例における光路分割光学系の他の例
を示す図である。

【図２２】光路分割光学系の詳細を示す斜視図である。

【図２３】エリアセンサを２つに分割した場合の図であ
る。

【図２４】エリアセンサの結像させる範囲を示す図であ
る。

【図２５】測光回路の構成図である。

【図２６】撮像レンズのＦＮｏ．による光路のけられを
説明する図である。

【図２７】像高によって発生する光束のけられを説明す
る図である。

【図２８】（ａ）（ｂ）は光束のけられが有る場合と無
い場合のＣＣＤ上でのぼけを示す図である。

【図２９】第２実施例においてＡＦモジュールの配置の
変形例を示す図である。

【図３０】ＡＦモジュールの配置構成の他の変形例を示
す図である。

【図３１】さらに他の変形例を示す図である。

【図３２】レンズ位置と撮像信号の評価関数の関係を示
す図である。

【図３３】図２１の実施例の場合における焦点検出制御
のブロック構成図である。

【図３４】焦点検出制御の詳細ブロック構成図である。

【図３５】コントラスト方式焦点検出のデフォーカス量
と評価関数の関係図である。

【図３６】デフォーカス量に応じたコントラスト方式焦
点検出動作を説明する図である。

【図３７】図２１の実施例の場合における焦点検出動作
のフローチャートである。

【図３８】第２実施例のさらに他の変形例を示す図であ
る。

【図３９】第２実施例のさらに他の変形例を示す図であ
る。

【符号の説明】

２コンデンサレンズ３セパレータレンズ４ラインセンサ７エリアセンサ１９，５５マイコン３８光路分割光学系３９エリアセンサ（ＣＣＤ）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者上田浩大阪市中央区安土町二丁目３番13号大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者杉谷一三大阪市中央区安土町二丁目３番13号大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者大塚博司大阪市中央区安土町二丁目３番13号大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】位相差方式により焦点検出を行う光学系
及び受光センサからなる焦点検出手段と、コントラスト方式により焦点検出を行う光学系及び受光
センサからなる焦点検出手段と、位相差方式焦点検出手段での焦点検出と、コントラスト
方式焦点検出手段での焦点検出とを組み合わせ用いるこ
とによりデフォーカス量を求め、レンズを合焦動作させ
る制御手段とを備えたことを特徴とする自動焦点装置。