JP2960060B1 - テープ状物の穿孔機 - Google Patents

テープ状物の穿孔機

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JP2960060B1 JP27820198A JP27820198A JP2960060B1 JP 2960060 B1 JP2960060 B1 JP 2960060B1 JP 27820198 A JP27820198 A JP 27820198A JP 27820198 A JP27820198 A JP 27820198A JP 2960060 B1 JP2960060 B1 JP 2960060B1
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Abstract

【要約】 【課題】不良孔や残置される未穿孔を検出して修正穿孔
加工をする穿孔機を提供する。 【解決手段】繰出し機構でテープ状物101を繰出し、
撮像手段2でそのテープ状物101に開孔されている穿
孔パターンSを穿孔パターンS毎に撮像し画像解析して
座標データを得る。それをティーチングデータと比較し
て不良孔位置や未穿孔位置の座標及び穿孔形状を特定す
る。芯出し検出部16で不良孔や未穿孔位置を芯出した
後、制御部が修正用穿孔部3を制御動し、所望する適正
なパンチ13aを不良孔や未穿孔位置真上に到達させ、
パンチ13a打動で修正穿孔する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、セラミックスグリ
ーンシート、フレキシブル基板や、TAB(Tape
Automated Bonding)、TCP(Ta
pe Carrier Package)等のテープ状
物の穿孔機に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、このセラミックスグリーンシー
ト、フレキシブル基板等のテープ状物の穿孔機として特
公平7−47279号公報や特公平7−47280号公
報等が存在している。前者は、異なる形状、大きさのパ
ンチ、ダイスを装着した複数のパンチングユニットから
なる穿孔部と、繰出し機構と巻取り機構とを備えた供給
部と、その供給部をX軸線方向、Y軸線方向に制御動さ
せる移動部とを備え、その移動部で供給部を制御動させ
てテープ状物に穿孔を施す。また、後者は、前記する供
給部を固定的とし、複数のパンチングユニットからなる
穿孔部をX軸線方向、Y軸線方向に制御動させて、テー
プ状物に穿孔を施す。両者のメリットは、切断ぜすにテ
ープ状のまま穿孔することができることから、切断ワー
クのように枠状ホルダーへの固定作業や印刷機への搬入
用のスタック機構が不要であるばかりでなく、印刷機へ
の供給機構も非常に簡素(繰出しローラと巻取りローラ
で済む)な点等である。ところで、パンチ切損による穿
孔ミス、かす(打抜きチップ)上がりによる穿孔の閉鎖
等が生じた場合、打抜き工程、プレス積層工程、印刷工
程等を経て製品化されると、需要者に甚大な損害を与え
てしまう。
【0003】そのため、従来では穿孔済みのロール原反
をホールカウンターを備えた検査専用機に移し替え、更
に繰出し機構、巻取り機構間で間欠送りしながらホール
カウンターで所定エリア毎の穿孔数が所要の数がどうか
の検査を行い、所要の数であれば打抜き工程等を経て、
製品化へと継続し、所要の数未満であれば打抜き工程を
経て廃棄処分している。しかしながら、材料が無駄に消
費され、低廉な製品の提供を難しくするばかりでなく、
検査専用機の使用は設備コストを高騰させ、また穿孔機
からの検査専用機へのロール原反の移し替え作業も台車
等を使用した面倒この上ないのが現実があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記従来事情
に鑑みてなされたもので、その目的とする処は、不良孔
や残置される未穿孔を検出して修正穿孔加工をする穿孔
機を提供することにある。そして、他の目的とする処
は、テープ状物への穿孔加工と、その不良孔やそれに残
置される未穿孔の検出と、修正穿孔加工とを実行する穿
孔機を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を解決するため
に講じた技術的手段は、請求項1は、ロール状に巻回さ
れたテープ状物をX軸方向に繰出す繰出し機構とそのテ
ープ状物をロール状に巻き取る巻き取り機構との間に、
そのテープ状物に施されている穿孔パターンを撮像する
撮像手段と、形状、大きさの異なるパンチ、ダイスを装
着し各パンチを独立打動可能とした複数のパンチングユ
ニットからなるX軸・Y軸方向に制御動可能な修正用穿
孔部とを上流側から順に配し、前記撮像手段に受像され
た画像信号の画像解析で不良孔や未穿孔を検出する画像
処理装置を連絡してなり、該画像処理装置は穿孔パター
ンの座標データ及びその穿孔形状をティーチングデータ
として記憶して前記撮像手段で受像された画像信号の画
像解析から得られる穿孔パターンの座標データ及びその
穿孔形状をそのティーチングデータと比較して不良孔、
未穿孔の座標及びその穿孔形状を解析し、前記修正用穿
孔部は、テープ状物の間欠送りの度にその不良孔、未穿
孔を芯出しする芯出し検出部を固定的に有し、芯出し検
出部で不良孔、未穿孔を芯出しした時その不良孔、未穿
孔直上に所望のパンチが位置するように前記修正用穿孔
部を制御動してパンチ打動させる制御部を連絡している
ことを要旨とする。また請求項2は、請求項1記載のテ
ープ状物が穿孔加工を施していないバージンワークであ
り、且つ撮像手段の上流側に形状、大きさの異なるパン
チ、ダイスを装着し各パンチを個別打動可能とした複数
のパンチングユニットまたはギャングダイからなる穿孔
部を備えていることを要旨とする。尚、ここで不良孔と
は、かす(打抜きチップ)上がりで閉鎖状になっている
穿孔や完全に開孔されていない穿孔を指す。
【0006】(作用)前記技術的手段によれば下記の作用
を奏する。 (請求項1)本テープ状物の穿孔機は、繰出し機構でテー
プ状物を繰出し、撮像手段でそのテープ状物に開孔され
ている穿孔パターンを穿孔パターン毎に撮像し画像解析
して座標データを得る。それをティーチングデータと比
較して不良孔位置や未穿孔位置の座標及び穿孔形状を特
定する。そして、芯出し検出部で不良孔や未穿孔位置を
芯出すると、修正用穿孔部が制御動されて所望する適正
なパンチを不良孔や未穿孔位置真上に到達させ、パンチ
打動で修正穿孔する。 (請求項2)本テープ状物の穿孔機は、撮像手段上流側
に配設された穿孔部(形状、大きさの異なるパンチ、ダ
イスを装着し各パンチを個別打動可能とした複数のパン
チングユニットまたはギャングダイ)で開孔される穿孔
パターンを撮像手段で撮像して前記請求項1と同様に修
正穿孔する。
【0007】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1乃至図3は本実施の形態テー
プ状物の穿孔機の第1の実施の形態を示し、図4は第2
の実施の形態を示している。
【0008】まず、第1の実施の形態を説明すると、符
号Aがその穿孔機である。この穿孔機Aは、テープ状物
の供給部1、穿孔パターンの撮像手段2、修正用穿孔部
3、画像処理装置4、機構制御部5等を備えている。
【0009】テープ状物の供給部1は、セラミックスグ
リーンシート、フレキシブル基板等の穿孔加工が既に施
されているテープ状物や、TAB(Tape Auto
mated Bonding)、TCP(Tape Ca
rrier Package)のタブテープ(穿孔加工
済みのもの)、所謂テープ状物101を保持して供給し
且つ巻き取るものであり、ロール原反100からテープ
状物101を繰出す繰出しロール11aとそのテープ状
物101に裏張りされた補強テープ101a用の方向変
換ロール11bとを上下に備えテープ状物100から補
強テープ101aを剥離しながら双方を繰出す繰出し機
構11と、そのテープ状物101を再び補強テープ10
1aを裏張りして巻き取る巻き取りロール21aとその
補強テープ101aの方向変換ロール21bとを上下に
備えた巻き取り機構21とから構成されている。無論、
繰出しロール11aと、巻き取りロール21aには共に
サーボモータからなる駆動源が直結されている。尚、符
号31は、テープ状物101の両長手縁部分にその長さ
方向に適宜間隔をおいて穿孔されている係合溝101b
…に係止して、テープ状物101をX軸方向に定量繰出
し可能とするスプロケットホイールであり、繰出しロー
ル11a、巻き取りロール21aと同調するようにサー
ボモータからなる駆動源が直結されている。
【0010】撮像手段2は、修正用穿孔部3の上流側に
設けられ、テープ状物101の穿孔エリアS毎に施され
ている穿孔パターン認識を行うカメラであり、アナログ
画像信号で出力するようになっている。
【0011】修正用穿孔部3は、中央の空間部をワーク
搬入空間13a’とする側面視横向きコ型状を呈し、上
半部に形状、大きさを異にするパンチ13aを、下半部
にそのパンチ13aと対応してダイ13bを各々備えた
複数個のパンチングユニット13…を図1、図2に示す
ようにY軸方向を向いて取付台23に並設し、その取付
台23を機台A’にX軸方向・Y軸方向に制御動可能に
設置して構成されている。符号33が修正用穿孔部3を
X軸方向・Y軸方向に制御動するボールネジ機構、即ち
X・Y軸移動機構である。また、この修正用穿孔部3に
は、カメラユニット6が並設されている。このカメラユ
ニット6は、芯出しカメラ(芯出し検出部)16を装着
している。
【0012】画像処理装置4は、撮像手段用のINF
(インターフェース)14と、モニタ用INF24とR
AM34、ROM44と、CPU54と、交信用のIN
F64とを備えてなり、バスを介して相互に連絡されて
いる。撮像手段用のINF14は、CPU54の指令に
基づいて撮像手段2からのアナログ画像信号をしきい値
でもって画素毎に2値化する。モニタ用INF24は、
2値化された画像を出力するための回路である。RAM
34は、穿孔パターンの座標データ及びその穿孔形状の
ティーチングデータを2値化画像データとして記憶する
メモリエリアと、前記撮像手段2での撮像信号の画像解
析上の座標データ、その穿孔形状のデータを記憶するメ
モリエリアと、CPU54がROM44に格納された制
御プログラムを実行する場合に用いるレジスタ、フラグ
等のエリアとを有している。ROM44は、画像解析に
関する制御プログラムが記憶されている。CPU54
は、ROM44に格納された制御プログラムを実行し
て、取り込んだアナログ画像信号を2値化し、この2値
化された画像と前記するティーチングデータとの比較計
測でもって不良孔、未穿孔の座標及びその穿孔形状を解
析し、その結果を、交信用INF64を介して機構制御
部(制御部)5に転送する一連の制御を行うものであ
る。
【0013】機構制御部(制御部)5は、交信用INF
15と、RAM25と、CPU35と、ROM45、修
正用穿孔部3のX・Y軸移動機構用INF55とを備え
て構成されており、相互に連絡されている。交信用IN
F15は、画像処理装置4と各種データ及び指令の交信
を行う回路である。RAM25は、CPU35がROM
45の制御プログラムを実行する場合に用いるレジス
タ、フラグ等を実行するエリアと、穿孔エリアS毎の基
準点S1を原点としたパンチ形状に対応したパンチング
ユニット番号(パンチ形状のデータ)を格納するエリ
ア、芯出しカメラ16の中心を座標原点として各パンチ
13a…の中心とする距離データを格納するエリア、画
像処理装置4から交信用INF64を介して転送された
修正データ(不良孔、未穿孔の座標及びその穿孔形状の
データ)を格納するエリア等を有している。これらの穿
孔に要するデータは、タッチパネル等の手段で入力可能
になっている。
【0014】ROM45は、CPU35が実行する修正
穿孔に関するプログラムが記憶されている。CPU35
は、ROM45に格納されている制御プログラムを実行
して、穿孔機Aの全体を制御する。前記する各穿孔エリ
アS毎の基準点S1を芯出しカメラ16で芯出しした時
にRAM25に格納されている不良孔、未穿孔の座標及
びその穿孔形状の修正データに基づいて、修正用穿孔部
3をX・Y軸移動機構33で制御動する指令を出すよう
になっている。
【0015】以上のように構成されているテープ状物の
穿孔機の一連の動作を説明すると、まずテープ状物10
1と補強テープ101aの遊端を2個の方向変換ロール
11b、21b等を経由して巻き取りロール21aに巻
き取り可能に巻着する。穿孔エリアSの基準点S1中心
を原点として、各々のパンチングユニット13…で修正
穿孔できるように各パンチのパンチングユニット番号を
入力する。そして、テープ状物101を定量送りする度
にテープ状物101の穿孔エリアS毎を撮像手段2で撮
像し2値化された画像と前記するティーチングデータと
の比較計測でもって不良孔、未穿孔の座標及びその穿孔
形状を解析し記憶する。次に、穿孔エリアSの基準点S
1が修正用穿孔部3直下まで定量送りされて、芯出しカ
メラ(芯出し検出部)16でその基準点S1が芯出しさ
れると、その基準点S1から不良孔や未穿孔の座標まで
の離間距離とその穿孔形状が特定できることから、基準
点S1からの該当パンチ13aとの固定的離間距離と前
記離間距離との演算でもってその不良孔や未穿孔の座標
真上にその不良孔形状や未穿孔形状のパンチユニット1
3…を位置させるに必要な前記X・Y軸移動機構33の
制御動(修正制御動)距離が入手される。そして、制御
動し、不良孔、未穿孔形状に穿孔する。尚、前記穿孔エ
リアSの基準点S1として穿孔エリアSに対して所定位
置関係を有するある係合溝101bを使用しても良いも
のである。
【0016】次に第2の実施の形態を説明すると、この
実施の形態は、前記撮像手段2の下流に穿孔部7を設置
した場合、即ち、テープ状物への穿孔加工と、その不良
孔やそれに残置される未穿孔の検出と、修正穿孔加工と
を実行する穿孔機を示している。
【0017】この穿孔部7は、修正穿孔部3と同様の複
数個のパンチングユニット17…であり、その取付台2
7を機台A’に周知のボールネジ機構からなるX・Y軸
移動機構37を介して制御動可能に支持させてある。無
論、芯出しカメラ(芯出し検出部)18を装着するカメ
ラユニット8が並設されている。
【0018】この実施の形態では所定のプログラムに基
づいて穿孔加工が行われていないテープ状物101のバ
ージンワーク、即ちベースフィルムを穿孔部7で穿孔し
た穿孔パターンSを巻き取り機構21で巻き取る前に撮
像手段2で撮像して、前記実施の形態と同様に不良孔や
未穿孔を修正穿孔部3で穿孔する。
【0019】
【発明の効果】本発明は以上のように構成したから、テ
ープ状物を繰出し且つ巻き取りながら、不良孔や未穿孔
を画像処理により電気的に検出して修正穿孔加工する穿
孔機を提供することができる。しかも、請求項2では穿
孔加工と、それで発生する不良孔や残置される未穿孔の
検出と、修正穿孔加工との3作業を、テープ状物を繰出
し且つ巻き取る工程中で実行する多機能な穿孔機を提供
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態テープ状物の穿孔機の正面図。
【図2】要部の斜視図で一部切欠して示す。
【図3】制御関係を示すブロック図。
【図4】他の実施の形態の正面図。
【符号の説明】
11:繰出し機構 10
1:テープ状物 21:巻取り機構
3:修正用穿孔部 2:撮像手段
4:画像処理装置 5:機構制御部(制御部)
7:穿孔部 16、18:芯出し検出部(芯出しカメラ)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B26F 1/04 B26D 5/00 B26D 5/34

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ロール状に巻回されたテープ状物をX軸方
    向に繰出す繰出し機構とそのテープ状物をロール状に巻
    き取る巻き取り機構との間に、そのテープ状物に施され
    ている穿孔パターンを撮像する撮像手段と、形状、大き
    さの異なるパンチ、ダイスを装着し各パンチを独立打動
    可能とした複数のパンチングユニットからなるX軸・Y
    軸方向に制御動可能な修正用穿孔部とを上流側から順に
    配し、前記撮像手段に受像された画像信号の画像解析で
    不良孔や未穿孔を検出する画像処理装置を連絡してな
    り、該画像処理装置は穿孔パターンの座標データ及びそ
    の穿孔形状をティーチングデータとして記憶して前記撮
    像手段で受像された画像信号の画像解析から得られる穿
    孔パターンの座標データ及びその穿孔形状をそのティー
    チングデータと比較して不良孔、未穿孔の座標及びその
    穿孔形状を解析し、前記修正用穿孔部は、テープ状物の
    間欠送りの度にその不良孔、未穿孔を芯出しする芯出し
    検出部を固定的に有し、芯出し検出部で不良孔、未穿孔
    を芯出しした時その不良孔、未穿孔直上に所望のパンチ
    が位置するように前記修正用穿孔部を制御動してパンチ
    打動させる制御部を連絡していることを特徴とするテー
    プ状物の穿孔機。
  2. 【請求項2】前記テープ状物が穿孔加工を施していない
    バージンワークであり、且つ撮像手段の上流側に形状、
    大きさの異なるパンチ、ダイスを装着し各パンチを個別
    打動可能とした複数のパンチングユニットまたはギャン
    グダイからなる穿孔部を備えていることを特徴とする請
    求項1記載のテープ状物の穿孔機。
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