JP2932858B2 - レベル変換回路 - Google Patents

レベル変換回路

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JP2932858B2
JP2932858B2 JP4261898A JP26189892A JP2932858B2 JP 2932858 B2 JP2932858 B2 JP 2932858B2 JP 4261898 A JP4261898 A JP 4261898A JP 26189892 A JP26189892 A JP 26189892A JP 2932858 B2 JP2932858 B2 JP 2932858B2
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一 永瀧
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レベル変換回路に関
し、特に電界効果トランジスタ(以下、FETという)
のみを用いた集積回路におけるCMOS−ECLレベル
変換回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のCMOS−ECLレベル変換回路
は、図3に示すように反転回路2により反転した入力端
子1からのCMSレベルの信号をPチャネルFET3の
ゲート端子に入力し、PチャネルFET3のソース端子
を正の電源電圧に接続し、ドレイン端子をECLレベル
出力端子4として出力する構成となっていた。
【0003】ECLレベル出力端子4とレベル変換の基
準となる電圧とを抵抗RLで終端して使用され、CMO
Sレベルの入力がLowレベルの場合、反転回路2によ
りHIレベルをPチャネルFET3のゲート端子に入力
し、PチャネルFET3をOFFさせ、ECLレベル出
力端子4をほぼ基準電圧と等しい電圧とすることでEC
LレベルでのLowレベルを実現している。
【0004】またCMOSレベルの入力がHIレベルの
場合、反転回路2により、PチャネルFET3のゲート
端子にLowレベルを入力し、PチャネルFETをON
させ、ECLレベル出力端子4より終端抵抗RLに電流
を流すことでECLレベルでのHIレベルを実現してい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来のレベル変換回路
では、ソース接地されたPチャネルFET3のドレイン
電流と終端抵抗RLによる電圧降下によりECLレベル
のHIレベルを作っているため、温度変化によりドレイ
ン電流が変動すると、HIレベルの出力電圧が変動す
る。このため、後段にバイパーラトランジスタを用いた
ECL論理回路を接続した場合、低温で出力電圧が上昇
し、バイパーラトランジスタが飽和して遅延が増大する
という欠点を有していた。
【0006】本発明の目的は、温度によるHIレベル電
圧の変動を低減したレベル変換回路を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るレベル変換回路は、反転回路と、電流
源と、Pチャネル電界効果トランジスタと、ECLレベ
ル出力端子とを有するレベル変換回路であって、反転回
路は、CMOSレベルで入力された信号を反転して出力
するものであり、電流源は、反転回路の出力により出力
電流をON,OFFする電界効果トランジスタにより構
成されたものであり、Pチャネル電界効果トランジスタ
は、ゲート端子に反転回路の出力信号が入力され、反転
回路の出力信号で制御された電流をドレイン端子から出
力するものであり、ECLレベル出力端子は、前記Pチ
ャネル電界効果トランジスタのドレイン電流から前記電
流源の出力電流を減じて出力するものである。
【0008】
【作用】CMOSレベルの入力電圧を反転回路2を介し
てPチャネルFET54のゲート端子に入力してPチャ
ネルFET54のドレイン電流をCMOSレベルの入力
電圧により制御する。PチャネルFET54のドレイン
電流の温度係数と同符号となるようにFETで構成した
電流源をPチャネルFET54のドレイン電流から引い
た電流を終端抵抗RLに流しECLレベルのHIレベル
電圧を作ることで、HIレベル電圧の温度による変動を
低減させることができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を図により説明する。
【0010】(実施例1)図1は、本発明の実施例1を
示す回路図である。
【0011】図1において、CMOSレベルの入力電圧
は、反転回路2を通してPチャネルFET54とNチャ
ネルFET52のゲート端子に入力される。Nチャネル
FET52のドレイン,ソース端子は、それぞれNチャ
ネルFET52のゲート,ソース端子に接続されてい
る。
【0012】またNチャネルFET52,53のソース端
子は、負側の電源電圧VSSに接続されている。Pチャネ
ルFET54のソース端子は、正側の電源電圧VDDに接
続されている。PチャネルFET54のドレイン端子
は、抵抗R1とNチャネルFET51,53から構される
電流源回路に接続され、ECLレベル出力端子4として
出力されている。
【0013】またECLレベル出力端子4は、基準電圧
Tと終端抵抗RLにより終端されている。
【0014】次に動作について説明する。CMOSレベ
ル入力端子1にLowレベルが入力された場合、反転回
路2によりCMOSレベルのHIレベルがNチャネルF
ET52とPチャネルFET54のゲート端子に入力され
る。このため、PチャネルFET54ではゲート・ソー
ス間電圧がしきい値電圧以下となり、OFFする。
【0015】またNチャネルFET52は線形領域で動
作するため、NチャネルFET51,53では、ゲート・
ソース間電圧がしきい値電圧以下となりOFFする。し
たがってECLレベル出力端子4はほぼVTと等しい電
圧となる。
【0016】次にCMOSレベル入力端子にHIレベル
が入力された場合、反転回路2によりCMOSレベルの
HIレベルがNチャネルFET52とPチャネルFET
4のゲート端子に入力される。このためNチャネルF
ET52ではゲート・ソース間の電圧がしきい値電圧以
下となりOFFし、NチャネルFET51,53はONし
電流源として動作する。
【0017】またPチャネルFET54もONするた
め、ECLレベル出力端子4は(1)式で表わされる電
圧となる。 VT+(I1−I2)RL ……(1)
【0018】ここで、I1,I2はそれぞれPチャネルF
ET54とNチャネルFET53のドレイン電流である。
Lは抵抗RLの抵抗値である。
【0019】(1)式でPチャネルFET54のドレイ
ン電流I1が温度により変動した場合、NチャネルFE
T53のドレイン電流I2もI1と同一の方向に変化す
る。このためECLレベル出力端子4の電圧の温度によ
る変動は低減される。PチャネルFET54のドレイン
電流I1とNチャネルFET53のドレイン電流I2の比
を2:1とすれば、温度によるECLレベル出力端子の
変動は50%程度低減される。同一チップ内での温度は
等しく、PチャネルFETとNチャネルFETの温度係
数は同等号のためである。
【0020】(実施例2)図2は、本発明の実施例2を
示す回路図である。本実施例は図1の抵抗R1をPチャ
ネルFET55の線形動作に変更したものである。これ
により、PチャネルFET54のドレイン電流I1とNチ
ャネルFET53のドレイン電流I2は、PチャネルFE
Tのしきい値電圧のばらつきに対して同一方向に変化す
るため、PチャネルFETのしきい値電圧の製造ばらつ
きも補償することができる。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、FETの
みを用いた集積回路におけるレベル変換回路の出力端子
に電流源を付加したことにより、HIレベル出力電圧の
温度による変動を50%程度低減でき、後段にバイパー
ラトランジスタを用いたECL論理回路を接続した場合
のバイパーラトランジスタの飽和による遅延による増大
を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1を示す回路図である。
【図2】本発明の実施例2を示す回路図である。
【図3】従来のレベル変換回路を示す回路図である。
【符号の説明】
1 CMOSレベル入力端子 2 反転回路 4 ECLレベル出力端子 51〜53 NチャネルFET 54,55 PチャネルFET R1 抵抗 VDD 正側電源電圧 VSS 負側電源電圧 RL 終端抵抗 VT 基準電圧

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 反転回路と、電流源と、Pチャネル電界
    効果トランジスタと、ECLレベル出力端子とを有する
    レベル変換回路であって、 反転回路は、CMOSレベルで入力された信号を反転し
    て出力するものであり、 電流源は、反転回路の出力により出力電流をON,OF
    Fする電界効果トランジスタにより構成されたものであ
    り、 Pチャネル電界効果トランジスタは、ゲート端子に反転
    回路の出力信号が入力され、反転回路の出力信号で制御
    された電流をドレイン端子から出力するものであり、 ECLレベル出力端子は、前記Pチャネル電界効果トラ
    ンジスタのドレイン電流から前記電流源の出力電流を減
    じて出力するものであることを特徴とするレベル変換回
    路。
JP4261898A 1992-09-30 1992-09-30 レベル変換回路 Expired - Lifetime JP2932858B2 (ja)

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JPH06112808A JPH06112808A (ja) 1994-04-22
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