JP2926236B2 - 容器のピンホール検査装置 - Google Patents

容器のピンホール検査装置

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JP2926236B2
JP2926236B2 JP63304480A JP30448088A JP2926236B2 JP 2926236 B2 JP2926236 B2 JP 2926236B2 JP 63304480 A JP63304480 A JP 63304480A JP 30448088 A JP30448088 A JP 30448088A JP 2926236 B2 JP2926236 B2 JP 2926236B2
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、アルミニウム箔製容器のピンホールを自
動的に検査する装置に関する。
従来の技術 従来、この種の検査は、暗室内で作業者の目視により
行われていた。
発明が解決しようとする課題 上記のように作業者による検査では、つぎのような種
々雑多な問題点があった。第1に、作業者によって検査
精度にばらつきがあり、不良品を見落とすことがある。
第2に、作業が単調で作業者が疲れやすい。第3に、作
業者の手で容器が取り扱われるために、容器が2次汚染
をするおそれがある。
この発明の目的は、上記事情に鑑みて、容器のピンホ
ールを作業者によることなく自動的に検査することので
きるピンホール検査装置を提供することにある。
課題を解決するための手段 この発明による容器のピンホール検査装置は、供給ス
テーションから検査ステーションを越えて排出ステーシ
ョンにかけて配置されかつ光通過孔が検査ステーション
に設けられている水平受台と、容器がフランジを光通過
孔上端開口周縁部で受けられた状態で所定時間停止する
ように容器を伏せた状態で受台上を供給ステーションか
ら検査ステーションを経由して排出ステーションまで搬
送する搬送手段と、光通過孔の上方に配置されている光
源と、検査ステーションにおける受台の下方に光通過孔
と連通するように設けられている暗室と、暗室に接続さ
れているサクションブロワと、受光部を暗室内において
光通過孔にその下方より臨ませるように上向きに配置さ
れている受光器とより、暗室が、受台の光通過孔の周囲
の部分を頂壁とする箱型状に形成され、遮光シャッタ
が、受光部の上方に進退しうるように配置されているも
のである。
作用 この発明による容器のピンホール検査装置には、供給
ステーションから検査ステーションを越えて排出ステー
ションにかけて配置されかつ光通過孔が検査ステーショ
ンに設けられている水平受台と、容器がフランジを光通
過孔上端開口周縁部で受けられた状態で所定時間停止す
るように容器を伏せた状態で受台上を供給ステーション
から検査ステーションを経由して排出ステーションまで
搬送する搬送手段と、光通過孔の上方に配置されている
光源と、検査ステーションにおける受台の下方に設けら
れている暗室と、暗室に接続されているサクションブロ
ワと、受光部を暗室内において光通過孔にその下方より
臨ませるように上向きに配置されている受光器とが備わ
っているから、容器は搬送手段で供給ステーションから
検査ステーションに搬入されかつそこから排出ステーシ
ョンに排出され、検査ステーションに搬入された容器に
ピンホールがあると、光源から発せられた光はピンホー
ルを通過して光通過孔を介して暗室内に進入し、検査に
際し、容器のフランジが光通過孔上端開口周縁部で受け
られると、暗室内が負圧となって同フランジが光通過孔
上端開口周縁部に吸着されて両者の間から光が洩れるこ
とが防止され、暗室内に進入した光を受光器が検出す
る。
さらに、暗室が、受台の光通過孔の周囲の部分を頂壁
とする箱型状に形成されているから、暗室に光通過孔を
通じてのみ光が導入される。
また、遮光シャッタが、受光部の上方に進退しうるよ
うに配置されているから、検査時にシャッタを開き、そ
れ以外はシャッタを閉じることにより、無用な光を受光
器に当てなくて済む。
実施例 この発明の実施例を図面を参照して次に説明する。
容器のピンホール検査装置は、容器Cを水平受台11上
を滑らせながら供給ステーションS1から検査ステーショ
ンS2を経由して排出ステーションS3まで前から後に搬送
する間に、検査ステーションS2で容器Cのピンホールを
検査する装置であって、受台11が供給ステーションS1か
ら検査ステーションS2を越えて排出ステーションS3にか
けて配置されているものである。
容器11は、アルミニウム箔で側壁Aおよび底壁Bより
なるカップ状に形成されたものであり、口縁部にフラン
ジFを有している。
受台11における供給ステーションS1にはごみ等落し孔
12が、検査ステーションS2には光通過孔13がそれぞれ複
数個ずつ左右方向に列をなして設けられている。ごみ等
落し孔12には金網14が詰められている。光通過孔13の上
端開口周縁部でフランジFが受けられるようになってい
る。
ごみ等落し孔12の上方にはストッカ15が配置されてい
る。ストッカ15には多数の容器Cが上下逆様で積重ね状
態に収容されており、詳しく説明しないが、ストッカ15
から容器Cが1つずつ落下し、このときに、容器Cに付
着していたごみ等がごみ等落し孔12からその下方に落下
するようになっている。
受台11にはプッシャ16が配置されている。プッシャ16
は、列の両端の容器Cに当接しうる長さをもつ左右方向
にのびた水平棒状のものである。プッシャ16の後方に
は、それと同じ高さの所に水平回転板17が配置されてお
り、これの外周部の一点とプッシャ16の長さの中程とに
連結ロッド18が渡されており、回転板17の回転により、
プッシャ16が、供給ステーションS1と検出ステーション
S2の間を往復動するようになっている。
検査ステーションS2における光通過孔13の前方に可動
ストッパ19が、その後方に搬送用空気噴出ノズル20がそ
れぞれ配置されている。可動ストッパ19は、上下方向揺
動アーム21の先端に取付けられており、下方位置の可動
ストッパ19に容器Cが当接することにより、容器Cのフ
ランジFが光通過孔13の上端開口周縁部で受けられた状
態で容器Cが位置決めされるようになっている。空気噴
出ノズル20は前を向いており、可動ストッパ19が下方位
置から上方位置に移動すると、ノズル20から噴出される
空気により検査ステーションS2の容器Cが排出ステーシ
ョンS3へ搬送されようになっている。
検査ステーションS2における光通過孔13の上方には光
源22が配置されるとともに、光源22を取囲むように有蓋
垂直筒状反射器23が配置されている。光源22は、反射器
23の蓋に吊り下げられたハロゲンランプである。検査ス
テーションS2における受台11の下方には暗室24が設けら
れている。暗室24は、受台11における光通過孔13の周囲
の部分を頂壁とする垂直断面方形の箱型のものである。
暗室24の下方には、その底壁の連通孔25を介して連通し
た予圧室26が設けられている。予圧室26にはサクション
ブロワ27が備えられている。
受光器28がその受光部29を暗室内24において光通過孔
13にその下方より臨ませるように上向きに配置されると
ともに、受光部29の真上に位置するように凸レンズ30が
水平に配置されている。受光器28は、そのボディを暗室
24の底壁に貫通させた状態で同底壁に固定されている。
受光部29は、ホトダイオード、ホトトランジスタ、光電
池のような受光素子よりなる。凸レンズ30は、図示しな
いブラケット等で固定されている。また、凸レンズ30の
直ぐ上には上下方向揺動自在なシャッタ31が配置されて
いる。
いま、プッシャ16は後退限に位置し、可動ストッパ19
は下方位置に位置し、シャッタ31は閉じられているもの
とする。この状態でストッカ15より容器Cが1つ落下さ
せられると、プッシャ16が前進してその容器Cを供給ス
テーションS1から検査ステーションS2へ押動する。そう
すると、その容器Cは可動ストッパ19に当接した状態で
そのフランジFは光通過孔13の上端開口周縁部に密着さ
せられる。一方、光源22からは光が発せられており、光
源22から発せられた光は直接または反射器23で反射され
て容器Cに、その底壁Bには勿論側壁Aにも当てられ
る。そして、シャッタ31が開かれ、容器Cにピンホール
があると、光源22から発せられた光はそのピンホールを
通過して暗室24内に進入し、進入した光は凸レンズ30で
集められて受光器28で検出される。
発明の効果 この発明によれば、容器は搬送手段で供給ステーショ
ンから検査ステーションに搬入されかつそこから排出ス
テーションに排出され、検査ステーションに搬入された
容器にピンホールがあると、光源から発せられた光はピ
ンホールを通過して光通過孔を介して暗室内に進入し、
検査に際し、容器のフランジが光通過孔上端開口周縁部
で受けられると、暗室内が負圧となって同フランジが光
通過孔上端開口周縁部に吸着されて両者の間から光が洩
れることが防止され、暗室内に進入した光を受光器が検
出するから、ピンホールを自動的に検出することができ
る。
さらに、暗室に光通過孔を通じてのみ光が導入される
から、暗室内が負圧となって容器フランジが光通過孔上
端開口周縁部に吸着されて両者の間から光が洩れること
が防止されることと相俟って、検査ミスの発生が防止さ
れる。
また、検査時にシャッタを開き、それ以外はシャッタ
を閉じることにより、無用な光を受光器に当てなくて済
むから、受光器の受光ゲインを比較的小さいピンホール
を通過した弱い光を検出しうる程度に設定することによ
り、ピンホールを精度良く検出することができる。
【図面の簡単な説明】
図面はこの発明の実施例を示し、第1図は配置構成図、
第2図は第1図のII−II線断面図である。 11……受台、13……光通過孔、22……光源、24……暗
室、27……サクションブロワ、28……受光器、29……受
光部、31……シャッタ、C……容器、F……フランジ、
S1……供給ステーション、S2……検査ステーション、S3
……排出ステーション。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B65B 57/02 G01N 21/00 - 21/91

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】供給ステーションS1から検査ステーション
    S2を越えて排出ステーションS3にかけて配置されかつ光
    通過孔13が検査ステーションS2に設けられている水平受
    台11と、容器CがフランジFを光通過孔13上端開口周縁
    部で受けられた状態で所定時間停止するように容器Cを
    伏せた状態で受台11上を供給ステーションS1から検査ス
    テーションS2を経由して排出ステーションS3まで搬送す
    る搬送手段と、光通過孔13の上方に配置されている光源
    22と、検査ステーションS2における受台11の下方に光通
    過孔13と連通するように設けられている暗室24と、暗室
    24に接続されているサクションブロワ27と、受光部29を
    暗室24内において光通過孔13にその下方より臨ませるよ
    うに上向きに配置されている受光器28とよりなり、暗室
    24が、受台11の光通過孔13の周囲の部分を頂壁とする箱
    型状に形成され、遮光シャッタ31が、受光部29の上方に
    進退しうるように配置されている、容器のピンホール検
    査装置。
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