JP2909947B2 - チップ型電子部品 - Google Patents
チップ型電子部品Info
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- electronic component
- type electronic
- chip
- external electrode
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- Ceramic Capacitors (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Description
関するもので、特に、その外部電極の構造の改良に関す
るものである。
ップ型電子部品に備える電子部品本体1が斜視図で示さ
れている。この電子部品本体1は、たとえば、チップ型
の圧電セラミックフィルタのためのものであり、圧電セ
ラミックス板2の両面に外装樹脂3および4が付与され
た構造を有している。圧電セラミックス板2の両面に
は、図示しないが、複数の振動電極が形成され、これら
振動電極にそれぞれ電気的に接続される端子電極5、6
および7が、圧電セラミック板2の端縁にまで届くよう
に形成される。
らびに4つの側面10,11,12,13を有する直方
体状をなしている。上述した端子電極5〜7は、電子部
品本体1の1つの側面10に露出している。このような
電子部品本体1の外表面上には、図4において破線で示
すように、上面8および下面9ならびに相対向する2つ
の側面10および12を取巻き、かつ端子電極5〜7に
それぞれ電気的に接続されるように、外部電極14、1
5および16が形成される。このようにして、完成品と
してのチップ型電子部品が得られる。
型的には、次のまたはの方法により形成されてい
た。
し、焼付けた後、半田ディップ処理を行なう。
たの方法では、半田ディップにより、半田の「つの」
や「こぶ」が出やすく、そのため、外部電極の形状が不
安定となり、また、半田ディップのためのコストが高く
つくという問題がある。
って与えられることになるので、チップ型電子部品を回
路基板上に半田付けするとき、半田くわれを起こしやす
く、半田くわれを起こさない程度の膜厚とするために
は、スパッタまたは真空蒸着を何度も繰返す必要がある
等、コストが高くつくことになる。上述した薄膜電極の
厚みを補いながら、その半田ぬれ性の劣化を防止するな
どの目的で、薄膜電極の上にめっきを施すこともある。
このめっき処理には、通常、バレル回転電解めっきが採
用されるが、このとき、薄膜からなる電極が角の部分で
削り取られ、角の部分にめっき膜が付与されないという
問題が発生する。
ような問題を解決し得る、チップ型電子部品における外
部電極の構造を提供しようとすることである。
び4つの側面を有する直方体状であって、側面の少なく
とも1つに露出する電気的要素を内部に形成する、電子
部品本体と、電子部品本体の外表面上で前記上下面およ
び相対向する2つの前記側面を取巻きかつ前記電気的要
素に電気的に接続されるように形成される、外部電極と
を備える、チップ型電子部品に向けられるものであっ
て、上述した技術的課題を解決するため、次のような構
成を備えることを特徴としている。
置する第1の部分は、導電ペーストの焼付による厚膜か
らなる下地層を備え、かつ、外部電極の、前記側面上に
位置する第2の部分は、スパッタまたは真空蒸着による
薄膜からなる下地層を備える。さらに、これら厚膜下地
層および薄膜下地層を共通に覆うように、めっき膜が形
成される。
は、1回の印刷工程で、20〜50μm程度の厚みを与
えることができる。また、外部電極の第2の部分では、
薄膜がスパッタまたは真空蒸着により形成されるので、
電子部品本体内部の電気的要素との電気的接続の信頼性
を高めることができる。また、この第2の部分における
薄膜下地層として、半田くわれ防止効果のある金属材料
を有利に用いることができる。また、めっき膜には、半
田ぬれ性の優れた金属材料を用いることができる。
ずに、めっき膜によって半田ぬれ性の向上および維持を
図ることができるので、前述した半田ディップに起因す
る問題を解決することができ、外部電極としての所望の
形状を安定に得ることができる。このように、外部電極
の形状が安定すれば、チップ型電子部品の取扱いが安定
する。
の部分における膜厚が小さくても、第1の部分において
大きな膜厚を容易に与えることができるので、めっき膜
を形成するためのめっき処理において、角の部分が削り
取られることがあっても、この削り取りは膜厚の大きな
第1の部分において生じる。そのため、めっき膜が、角
の部分において断線されることがなく、高品質の外部電
極を得ることができる。
電子部品17の外観を示す斜視図である。図2は、図1
の線II−IIに沿う拡大断面図である。なお、チップ
型電子部品17は、前述の図4に示した電子部品本体1
と実質的に同様の構造を有する電子部品本体1を備えて
おり、したがって、以下の説明において、対応する要素
には同様の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
面上には、図4に示した外部電極14〜16と同じ位置
に、外部電極18、19および20がそれぞれ形成され
ている。これら外部電極18〜20は、次のように形成
される。
体1の上面8および下面9上では、導電ペーストの焼付
による厚膜からなる下地層21、22および23がそれ
ぞれ形成される。これら厚膜下地層21〜23の形成の
ための導電ペーストの付与には、たとえば、印刷が適用
される。また、導電ペーストには、たとえば銅または銀
を含むものが用いられる。これら厚膜下地層21〜23
は、1回の印刷で、20〜50μm程度の厚みとされ
る。
(図4)が露出する側面10およびこれに対向する側面
12上には、スパッタまたは真空蒸着による薄膜からな
る下地層24、25および26が形成される。これら薄
膜下地層24〜26は、半田くわれ防止のため、たとえ
ば、CuNi合金から構成され、その厚みがたとえば約
1μmとされる。薄膜下地層24について図2に示され
ているように、これら薄膜下地層24〜26は、それぞ
れ、端子電極5〜7と電気的に接続される。
電解めっきのようなめっき処理に付される。これによっ
て、図1および図2に示すように、厚膜下地層21〜2
3ならびに薄膜下地層24〜26のそれぞれを共通に覆
うように、めっき膜27、28および29が形成され
る。このめっき膜27〜29の形成において、角の部分
が削り取られても、厚膜下地層21〜23の端縁部の一
部のみが削り取られるに過ぎないので、めっき膜27〜
29が断線することはない。めっき膜27〜29は、半
田ぬれ性の向上および維持を図るため、たとえば、Ni
Sn合金から構成され、その厚みが2〜3μm程度に選
ばれる。
部品17が得られる。なお、チップ型電子部品17は、
前述したように、チップ型の圧電セラミックフィルタを
意図したものであったが、この発明は、これに限らず、
たとえばチップ型のソリッドインダクタ等の他のチップ
型電子部品にも適用することができる。
を構成する厚膜下地層21〜23、薄膜下地層24〜2
6ならびにめっき膜27〜29に関して、その材料およ
び厚み等は、前述した実施例で述べたものに限定され
ず、任意に変更することができる。
7の全体の外観を示す斜視図である。
図1の線II−IIに沿う断面図である。
膜27〜29を形成する前の段階にある構造物を示す斜
視図である。
す斜視図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 上下面および4つの側面を有する直方体
状であって、前記側面の少なくとも1つに露出する電気
的要素を内部に形成する、電子部品本体と、前記電子部
品本体の外表面上で前記上下面および相対向する2つの
前記側面を取巻き、かつ前記電気的要素に電気的に接続
されるように形成される、外部電極とを備える、チップ
型電子部品において、 前記外部電極の、前記上下面上に位置する第1の部分
は、導電ペーストの焼付による厚膜からなる下地層を備
え、かつ、前記外部電極の、前記側面上に位置する第2
の部分は、スパッタまたは真空蒸着による薄膜からなる
下地層を備え、さらに、前記厚膜下地層および前記薄膜
下地層を共通に覆うように、めっき膜が形成されたこと
を特徴とする、チップ型電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1289493A JP2909947B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | チップ型電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1289493A JP2909947B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | チップ型電子部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06224340A JPH06224340A (ja) | 1994-08-12 |
JP2909947B2 true JP2909947B2 (ja) | 1999-06-23 |
Family
ID=11818106
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1289493A Expired - Lifetime JP2909947B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | チップ型電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2909947B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4134675B2 (ja) * | 2002-10-21 | 2008-08-20 | 株式会社村田製作所 | 積層電子部品及びその製造方法 |
JP6540069B2 (ja) * | 2015-02-12 | 2019-07-10 | Tdk株式会社 | 積層貫通コンデンサ |
-
1993
- 1993-01-28 JP JP1289493A patent/JP2909947B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06224340A (ja) | 1994-08-12 |
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