JP2874752B2 - 画像処理の位置検出方法 - Google Patents

画像処理の位置検出方法

Info

Publication number
JP2874752B2
JP2874752B2 JP62172891A JP17289187A JP2874752B2 JP 2874752 B2 JP2874752 B2 JP 2874752B2 JP 62172891 A JP62172891 A JP 62172891A JP 17289187 A JP17289187 A JP 17289187A JP 2874752 B2 JP2874752 B2 JP 2874752B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
position detecting
detecting means
image
image processing
horizontal position
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62172891A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6417169A (en
Inventor
祥雅 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP62172891A priority Critical patent/JP2874752B2/ja
Publication of JPS6417169A publication Critical patent/JPS6417169A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2874752B2 publication Critical patent/JP2874752B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は画像処理の位置検出方法に関するものであ
る。 (背景技術) 自動化機器においては対象物の情報を取り出すことが
不可欠であり、そのため、画像処理により種々の測定を
行えるようにした画像処理装置が広く用いられている。 この種の画像処理装置は、対象物の外観を撮影する撮
像装置と、撮影した対象物の画像を所定の番地に画像デ
ータとして格納する画像メモリと、種々の画像処理機能
を有した画像処理部とを備え、画像メモリに格納された
画像データを用いて寸法測定等の種々の画像処理が行わ
れるようになっている。 ところで、画像処理により例えば対象物の特定部位の
寸法を測定する場合、画像メモリの番地上に測定ライン
を設定するわけであるが、対象物が移動する場合には測
定ラインをその移動に応じて補正しなければならず、そ
のために対象物の位置を検出する必要が出てくる。ま
た、このような場合に限らず、一つの情報として対象物
の位置を検出しなければならない場合もある。 しかしながら、従来の画像処理の位置検出にあっては
充分な方法がなく、後述するように種々の難点があり、
特に、 対象物に傾きが発生する場合や複数の対象物が別々に
移動する場合等に充分な精度で位置検出が行えない欠点
があった。 (発明の目的) 本発明は上記の点に鑑み提案されたものであり、その
目的とするところは、正確に対象物の位置検出を行える
画像処理の位置検出方法を提供することにある。 (発明の開示) 以下、本発明の好ましい実施例について図面に沿って
説明する。 第1図および第2図は本発明の画像処理の位置検出方
法の一実施例を示す図であり、第3図ないし第5図は比
較のために示した従来の位置検出方法の説明図である。
なお、画像処理としては対象物の特定の部位の寸法を測
定する場合を例としている。 しかして、従来は第3図の如く対象物1の画像の所定
の部位に対して測定ラインL1,L2を指定すると共に、一
端に水平位置検出手段2と垂直位置検出手段3とを指定
し、対象物1が破線で示す1′の位置に移動した場合、
水平方向の移動距離ΔX,垂直方向の移動距離ΔYを水平
位置検出手段2と垂直位置検出手段3とで検出し、その
結果に応じて測定ラインL1,L2を破線で示すL1′,L2′の
ように補正して測定を行うようにしていた。 しかしながら、この従来の方法では、第4図のように
対象物1がθだけ傾いて破線の1′のようになった場合
には水平位置検出手段2,垂直位置検出手段3では移動距
離ΔX,ΔYがほとんど検出されないため、測定ライン
L1,L2の補正もほとんど行われず、にもかかわらず測定
ラインL1については対象物1′から大きくズレてしまう
ため測定が行えないという不都合があった。また、第5
図に示すように複数の対象物1A,1Bが別々に移動する場
合にも一方の対象物1Aについては測定ラインL1の補正が
行えるが、他方の対象物1Bについては測定ラインL2の補
正が行えないという不都合があった。 そこで、本発明の実施例では第1図および第2図に示
すように、水平位置検出手段と垂直位置検出手段との対
を複数設け、第1図のように長い対象物1には測定ライ
ンL2,L1の近傍に水平位置検出手段2A,垂直位置検出手段
3Aの対と水平位置検出手段2B,垂直位置検出手段3Bの対
とをそれぞれ設け、第2図のように別々に移動する複数
の対象物1A,1Bには水平位置検出手段2A,垂直位置検出手
段3Aの対と水平位置検出手段2B,垂直位置検出手段3Bの
対とをそれぞれ設け、測定ラインL1,L2の補正を別々に
行うようにしている。 しかして、第1図の場合、対象物1は移動して破線の
1′となり、この例では右端の移動は小さく、左端の移
動は大きくなるが、それぞれの測定ラインL2,L1の近傍
に指定された水平位置検出手段2A,垂直位置検出手段3A
の対と水平位置検出手段2B,垂直位置検出手段3Bの対と
により個別に位置検出が行われて移動距離が求められ、
個別に補正が行われ、従来のように一方の寸法測定が行
えないという不都合がなくなるものである。 また、第2図の場合、対象物1A,1Bは移動して破線の1
A′,1B′となり、この例では対象物1Aは右下に移動し、
対象物1Bは右上に移動しているが、それぞれの対象物1
A,1Bに指定された水平位置検出手段2A,垂直位置検出手
段3Aの対と水平位置検出手段2B,垂直位置検出手段3Bの
対とにより個別に移動距離が求められ、個別に測定ライ
ンL1,L2の補正が行われるので、従来のように一方の寸
法測定が行えないという不都合がなくなるものである。 (発明の効果) 以上のように本発明の画像処理の位置検出方法にあっ
ては、撮像装置により対象物の外観を撮影し、この撮影
した対象物の画像を画像メモリの所定の番地に画像デー
タとして格納し、この格納した任意の番地の画像データ
を処理し、かつ画像メモリに水平位置検出手段とこの水
平位置検出手段を指定する対象物における垂直位置検出
手段とを予め指定すると共に、この水平位置検出手段と
垂直位置検出手段とを対として対象物の位置を検出する
画像処理の位置検出方法であって、対となるこれらの水
平位置検出手段と垂直位置検出手段を画像の所定の位置
の寸法を測定する各測定ラインの近傍に各々配置するの
で、 特に対象物に傾きが発生する場合や複数の対象物が別
々に移動する場合に正確に位置検出が行える効果があ
る。
【図面の簡単な説明】 第1図および第2図は本発明の画像処理の位置検出方法
の一実施例を示す図、第3図ないし第5図は従来の位置
検出方法を示す図である。 1,1′,1A,1B,1A′,1B′……対象物、 2,2A,2B……水平位置検出手段、 3,3A,3B……垂直位置検出手段

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 1.撮像装置により対象物の外観を撮影し、この撮影し
    た対象物の画像を画像メモリの所定の番地に画像データ
    として格納し、この格納した任意の番地の画像データを
    処理し、かつ画像メモリに水平位置検出手段とこの水平
    位置検出手段を指定する対象物における垂直位置検出手
    段とを予め指定すると共に、この水平位置検出手段と垂
    直位置検出手段とを対として対象物の位置を検出する画
    像処理の位置検出方法であって、 対となるこれらの水平位置検出手段と垂直位置検出手段
    を画像の所定の位置の寸法を測定する各測定ラインの近
    傍に各々配置することを特徴とした画像処理の位置検出
    方法。
JP62172891A 1987-07-13 1987-07-13 画像処理の位置検出方法 Expired - Lifetime JP2874752B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62172891A JP2874752B2 (ja) 1987-07-13 1987-07-13 画像処理の位置検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62172891A JP2874752B2 (ja) 1987-07-13 1987-07-13 画像処理の位置検出方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5341669A Division JP2704933B2 (ja) 1993-12-10 1993-12-10 画像処理の位置検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6417169A JPS6417169A (en) 1989-01-20
JP2874752B2 true JP2874752B2 (ja) 1999-03-24

Family

ID=15950243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62172891A Expired - Lifetime JP2874752B2 (ja) 1987-07-13 1987-07-13 画像処理の位置検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2874752B2 (ja)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5851303B2 (ja) * 1979-07-05 1983-11-15 日本電気株式会社 簡易図形入力方式
JPS5864571A (ja) * 1981-10-13 1983-04-16 Toppan Printing Co Ltd 照合方法
JPH0679325B2 (ja) * 1985-10-11 1994-10-05 株式会社日立製作所 位置姿勢判定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6417169A (en) 1989-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH11148807A (ja) バンプ高さ測定方法及びバンプ高さ測定装置
JPH0810132B2 (ja) 対象パタ−ンの回転角検出方式
CN106705860A (zh) 一种激光测距方法
JP2874752B2 (ja) 画像処理の位置検出方法
JPH0882505A (ja) カメラパラメーターのキャリブレーション方法および物体の位置計測方法
JP3474772B2 (ja) センサキャリブレーション方法及び装置及びセンサキャリブレーションプログラムを記録した記録媒体
JP2704933B2 (ja) 画像処理の位置検出方法
JP7359906B1 (ja) 情報処理装置、測定装置および測定方法
JP3013255B2 (ja) 形状測定方法
JPS6312310B2 (ja)
JPH059222B2 (ja)
JP2001050714A (ja) ペースト高さ測定装置
JPH05172531A (ja) 距離計測方法
JPH03158710A (ja) 画像データ作成装置
JP2000088555A (ja) 文字または図形の位置ずれ検査方法およびその装置
JPS63108736A (ja) ウエハプロ−バ装置
JPH0735515A (ja) 対象物の直径測定装置
JP2635303B2 (ja) ウェハのオリフラ検出装置
JP2959017B2 (ja) 円形画像判別方法
JP2797703B2 (ja) 電子部品の検査枠の設定方法
JP2514257B2 (ja) 道路案内線の特徴算出点設定装置
JPH11173817A (ja) 寸法測定方法及びその実施に使用する装置
JP2965155B2 (ja) 位置決め方法
JPS60200377A (ja) 位置検出方式
JPH0550784B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080114

Year of fee payment: 9