JP2874708B2 - ディジタル導通試験方式 - Google Patents
ディジタル導通試験方式Info
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- JP2874708B2 JP2874708B2 JP8005842A JP584296A JP2874708B2 JP 2874708 B2 JP2874708 B2 JP 2874708B2 JP 8005842 A JP8005842 A JP 8005842A JP 584296 A JP584296 A JP 584296A JP 2874708 B2 JP2874708 B2 JP 2874708B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、適するディジタル
導通試験方式に関し、特に、交換機システムの保守運用
に使用され、交換機システムの局建時、回線増設時、定
期試験時等に行われる交換局側と局内回線終端装置（以
後、一部を除いてＯＣＵと記す）、宅内回線終端装置
（以後、一部を除いてＤＳＵと記す）との間のディジタ
ル導通試験を行うディジタル導通試験方式に関する。
導通試験方式に関し、特に、交換機システムの保守運用
に使用され、交換機システムの局建時、回線増設時、定
期試験時等に行われる交換局側と局内回線終端装置（以
後、一部を除いてＯＣＵと記す）、宅内回線終端装置
（以後、一部を除いてＤＳＵと記す）との間のディジタ
ル導通試験を行うディジタル導通試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種のディジタル導通試験方式は、例
えば、特開平５−２６８２９７号公報にて開示されてい
る。この公報に開示されたディジタル導通試験方式は、
試験用端末からの試験指示があると、制御装置の制御に
よって被試験回線を試験装置に引き込み、回線終端装置
の折り返しを設定し、試験装置から試験用パターンを送
出し、折り返されたデータをチェックするというもので
ある。
えば、特開平５−２６８２９７号公報にて開示されてい
る。この公報に開示されたディジタル導通試験方式は、
試験用端末からの試験指示があると、制御装置の制御に
よって被試験回線を試験装置に引き込み、回線終端装置
の折り返しを設定し、試験装置から試験用パターンを送
出し、折り返されたデータをチェックするというもので
ある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した例をも含め、
字ゅらいのディジタル導通試験方式においては、試験装
置の試験用パターン送信部および受信部とハイウエイの
タイムスロットリソースとの被試験回線がそれぞれ一対
一に対応しており、一度に試験可能な試験回線数は数回
線というのが実情である。このため、例えば何千回線も
の試験を行う場合には、多大な時間を要するという問題
点がある。
字ゅらいのディジタル導通試験方式においては、試験装
置の試験用パターン送信部および受信部とハイウエイの
タイムスロットリソースとの被試験回線がそれぞれ一対
一に対応しており、一度に試験可能な試験回線数は数回
線というのが実情である。このため、例えば何千回線も
の試験を行う場合には、多大な時間を要するという問題
点がある。
【０００４】また、上記問題点の対策として、試験装置
側の設備数を増やして対応した場合には、試験回線当た
りの試験側設備と集線／分配スイッチとの間のタイムス
ロットリソースとが一体一に対応しているので、設備数
に比例して、試験装置のコストや、試験装置と集線／分
配スイッチとの間のタイムスロットリソースを消費する
という問題点がある。
側の設備数を増やして対応した場合には、試験回線当た
りの試験側設備と集線／分配スイッチとの間のタイムス
ロットリソースとが一体一に対応しているので、設備数
に比例して、試験装置のコストや、試験装置と集線／分
配スイッチとの間のタイムスロットリソースを消費する
という問題点がある。
【０００５】本発明の課題は、試験設備のコストを増や
すことなく、一度に試験可能な回線数を増やし、またタ
イムスロットリソースを有効に利用できるディジタル導
通試験方式を提供することである。
すことなく、一度に試験可能な回線数を増やし、またタ
イムスロットリソースを有効に利用できるディジタル導
通試験方式を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、交換機
システムに含まれる集線／分配スイッチと局内回線終端
装置との間の回線、および集線／分配スイッチと宅内回
線終端装置との間の回線についてディジタル導通試験を
行うディジタル導通試験方法において、集線／分配スイ
ッチには、試験用ディジタルパターンを送受信する時分
割ハイウエイを介して試験装置を接続し、送信モードで
は、試験制御装置の指示により試験装置から試験用固定
マルチフレームパターンを送出し、集線／分配スイッチ
によって各被測定回線に試験用固定マルチフレームパタ
ーンを分配し、試験制御装置の指示により局内回線終端
装置および宅内回線終端装置での折り返しを制御し、受
信モードでは、折り返された試験用パターンを集線／分
配スイッチによって各回線グループ毎にハイウエイ多重
し、さらに、所定のタイムスロットにマルチフレームビ
ットを付加し、マルチフレーム化を行って試験装置へ送
出し、試験装置によってマルチフレームパターンを各回
線毎のデータに分離すると共に、各回線ごとに分離され
たデータを試験結果としてチェックして判定結果を出力
するものであり、前記試験装置は、前記各回線毎に分離
された試験結果としてのデータのそれぞれについて、所
定の複数回の履歴を残すようにシフトして書き込めるメ
モリを備えており、該メモリに書きこんだ試験結果とし
てのデータが前記試験用固定マルチフレームパタンに応
じたものであるか否かによって導通試験結果を判定する
ことを特徴とするディジタル導通試験方式が得られる。
システムに含まれる集線／分配スイッチと局内回線終端
装置との間の回線、および集線／分配スイッチと宅内回
線終端装置との間の回線についてディジタル導通試験を
行うディジタル導通試験方法において、集線／分配スイ
ッチには、試験用ディジタルパターンを送受信する時分
割ハイウエイを介して試験装置を接続し、送信モードで
は、試験制御装置の指示により試験装置から試験用固定
マルチフレームパターンを送出し、集線／分配スイッチ
によって各被測定回線に試験用固定マルチフレームパタ
ーンを分配し、試験制御装置の指示により局内回線終端
装置および宅内回線終端装置での折り返しを制御し、受
信モードでは、折り返された試験用パターンを集線／分
配スイッチによって各回線グループ毎にハイウエイ多重
し、さらに、所定のタイムスロットにマルチフレームビ
ットを付加し、マルチフレーム化を行って試験装置へ送
出し、試験装置によってマルチフレームパターンを各回
線毎のデータに分離すると共に、各回線ごとに分離され
たデータを試験結果としてチェックして判定結果を出力
するものであり、前記試験装置は、前記各回線毎に分離
された試験結果としてのデータのそれぞれについて、所
定の複数回の履歴を残すようにシフトして書き込めるメ
モリを備えており、該メモリに書きこんだ試験結果とし
てのデータが前記試験用固定マルチフレームパタンに応
じたものであるか否かによって導通試験結果を判定する
ことを特徴とするディジタル導通試験方式が得られる。
【０００７】尚、前記送信モードにおける試験用固定マ
ルチフレームパターンが、その所定のタイムスロットに
試験用パターンを持っていてもよい。
ルチフレームパターンが、その所定のタイムスロットに
試験用パターンを持っていてもよい。
【０００８】また、前記試験制御装置には、データ転送
網を介して保守センタ端末が接続されており、データ転
送網を通して導通試験の指示および試験結果が送受信さ
れるようにしてもよい。
網を介して保守センタ端末が接続されており、データ転
送網を通して導通試験の指示および試験結果が送受信さ
れるようにしてもよい。
【０００９】
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
よるディジタル導通試験方式を説明する。
よるディジタル導通試験方式を説明する。
【００１１】本発明では、試験用ディジタルパターンが
送受信される時分割ハイウエイにおいて、マルチフレー
ム構成を組んでいる。
送受信される時分割ハイウエイにおいて、マルチフレー
ム構成を組んでいる。
【００１２】図１は、本発明の実施の形態によるディジ
タル導通試験方式（システム）の構成を示すブロック図
である。図１において、加入者端末１はＤＳＵ２（ＤＳ
Ｕ＃０〜ＤＳＵ＃１１９）と接続されており、ＤＳＵ２
は加入者線３を介してＯＣＵ４（ＯＣＵ＃０〜ＯＣＵ＃
１１９）と接続されている。また、ＯＣＵ４は、集線／
分配スイッチ５（ＬＣＳＷ５）に収容されている。ここ
で、ＤＳＵ２〜ＬＣＳＷ５の間およびＯＣＵ４〜ＬＣＳ
Ｗ５の間の回線が、ディジタル導通試験の対象となる系
である。また、ＬＣＳＷ５には試験装置６が接続され、
試験装置６は制御装置７に制御される。制御装置７は、
データ転送網８を介して、保守センタ端末９と接続され
ている。試験装置６は、後述するように、パターンゲネ
レータと、受信パターンチェックメモリとを備えてい
る。
タル導通試験方式（システム）の構成を示すブロック図
である。図１において、加入者端末１はＤＳＵ２（ＤＳ
Ｕ＃０〜ＤＳＵ＃１１９）と接続されており、ＤＳＵ２
は加入者線３を介してＯＣＵ４（ＯＣＵ＃０〜ＯＣＵ＃
１１９）と接続されている。また、ＯＣＵ４は、集線／
分配スイッチ５（ＬＣＳＷ５）に収容されている。ここ
で、ＤＳＵ２〜ＬＣＳＷ５の間およびＯＣＵ４〜ＬＣＳ
Ｗ５の間の回線が、ディジタル導通試験の対象となる系
である。また、ＬＣＳＷ５には試験装置６が接続され、
試験装置６は制御装置７に制御される。制御装置７は、
データ転送網８を介して、保守センタ端末９と接続され
ている。試験装置６は、後述するように、パターンゲネ
レータと、受信パターンチェックメモリとを備えてい
る。
【００１３】図２は（ａ）は後述する送信モード時の試
験装置６からの送信イメージを示す図であり、図２
（ｂ）は参照点における受信パターンを示す図である。
図３（ａ）は後述する受信モード時の試験装置６への受
信イメージを示す図であり、図３（ｂ）は参照点におけ
る受信パターンを示す図である。図４は、試験装置６の
後述する受信パターンチェックメモリ内容を示す図であ
る。
験装置６からの送信イメージを示す図であり、図２
（ｂ）は参照点における受信パターンを示す図である。
図３（ａ）は後述する受信モード時の試験装置６への受
信イメージを示す図であり、図３（ｂ）は参照点におけ
る受信パターンを示す図である。図４は、試験装置６の
後述する受信パターンチェックメモリ内容を示す図であ
る。
【００１４】次に、図１〜図４を参照して、本ディジタ
ル導通試験方式の動作について説明する。ディジタル導
通試験を実施する場合には、まず、保守センタ端末９よ
りデータ転送網８を介して制御装置７に試験指示が送信
される。制御装置７は、保守センタ端末９から試験指示
を受信すると、ＬＣＳＷ５を制御して被試験対象回線を
引き込み、試験装置６と接続する。また、タイムスロッ
トに埋め込まれた制御情報により、ＯＣＵ４またはＤＳ
Ｕ２の折り返しを設定する。
ル導通試験方式の動作について説明する。ディジタル導
通試験を実施する場合には、まず、保守センタ端末９よ
りデータ転送網８を介して制御装置７に試験指示が送信
される。制御装置７は、保守センタ端末９から試験指示
を受信すると、ＬＣＳＷ５を制御して被試験対象回線を
引き込み、試験装置６と接続する。また、タイムスロッ
トに埋め込まれた制御情報により、ＯＣＵ４またはＤＳ
Ｕ２の折り返しを設定する。
【００１５】送信モードでは、図２（ａ）に示すように
試験装置６はそのパターンジェネレータにより図２
（ｂ）に例を示す試験用固定マルチフレームパターンを
出力する。本実施の形態では、試験用固定マルチフレー
ムパターンは、そのタイムスロットＴＳ１が試験用パタ
ーンを示し、タイムスロットＴＳ１が‘ＦＦ’である８
フレームと、タイムスロットＴＳ１が‘００’である８
フレームとを交互に繰り返すデータである。ＬＣＳＷ５
は、試験装置６からの試験用固定マルチフレームパター
ンについて、各被測定回線にタイムスロットＴＳ１の試
験用パターンを分配する（各回線に対して、同一のデー
タを分配する）。試験用パターンは、ＯＣＵ４またはＤ
ＳＵ２の折り返しポイントで折り返される。
試験装置６はそのパターンジェネレータにより図２
（ｂ）に例を示す試験用固定マルチフレームパターンを
出力する。本実施の形態では、試験用固定マルチフレー
ムパターンは、そのタイムスロットＴＳ１が試験用パタ
ーンを示し、タイムスロットＴＳ１が‘ＦＦ’である８
フレームと、タイムスロットＴＳ１が‘００’である８
フレームとを交互に繰り返すデータである。ＬＣＳＷ５
は、試験装置６からの試験用固定マルチフレームパター
ンについて、各被測定回線にタイムスロットＴＳ１の試
験用パターンを分配する（各回線に対して、同一のデー
タを分配する）。試験用パターンは、ＯＣＵ４またはＤ
ＳＵ２の折り返しポイントで折り返される。
【００１６】受信モードでは、図３（ａ）に示すよう
に、まず、ＬＣＳＷ５が、１５回線からなる回線グルー
プ毎（回線＃０〜＃１４、回線＃１５〜＃２９等）にハ
イウエイ多重を行い、さらに、図３（ｂ）のごとくタイ
ムスロットＴＳ０にマルチフレーム番号‘０１’〜‘０
８’を付加し、８マルチフレーム化を行い、そのマルチ
フレームデータを試験装置６へ送出する。試験装置６で
は、図３（ｂ）に示すマルチフレームデータを受信後、
分離部（図３（ａ））によってそのタイムスロットＴＳ
０のマルチフレーム番号‘０１’〜‘０８’に基づい
て、まず前述した回線グループ毎に分離し、次にタイム
スロット番号（１〜１５）により、各回線の受信データ
に分離する。そして、分離された受信データは、試験装
置６内に備えた図４に示す受信パターンチェックメモリ
にそれぞれ過去４回の履歴を残すようにシフトして書き
込まれる。試験装置６は、受信パターンチェックメモリ
への書き込み時毎に、過去４回のデータが‘ＦＦ、０
０、ＦＦ、００’または‘００、ＦＦ、００、ＦＦ’で
あるかどうかをチェックすることで、導通試験結果を判
定する。
に、まず、ＬＣＳＷ５が、１５回線からなる回線グルー
プ毎（回線＃０〜＃１４、回線＃１５〜＃２９等）にハ
イウエイ多重を行い、さらに、図３（ｂ）のごとくタイ
ムスロットＴＳ０にマルチフレーム番号‘０１’〜‘０
８’を付加し、８マルチフレーム化を行い、そのマルチ
フレームデータを試験装置６へ送出する。試験装置６で
は、図３（ｂ）に示すマルチフレームデータを受信後、
分離部（図３（ａ））によってそのタイムスロットＴＳ
０のマルチフレーム番号‘０１’〜‘０８’に基づい
て、まず前述した回線グループ毎に分離し、次にタイム
スロット番号（１〜１５）により、各回線の受信データ
に分離する。そして、分離された受信データは、試験装
置６内に備えた図４に示す受信パターンチェックメモリ
にそれぞれ過去４回の履歴を残すようにシフトして書き
込まれる。試験装置６は、受信パターンチェックメモリ
への書き込み時毎に、過去４回のデータが‘ＦＦ、０
０、ＦＦ、００’または‘００、ＦＦ、００、ＦＦ’で
あるかどうかをチェックすることで、導通試験結果を判
定する。
【００１７】試験装置６の判定結果は、制御装置７に読
み取られ、データ通信網８を介して保守センタ端末９に
返送される。そして、導通不良がある場合には、所定の
処置がなされる。
み取られ、データ通信網８を介して保守センタ端末９に
返送される。そして、導通不良がある場合には、所定の
処置がなされる。
【００１８】
【発明の効果】本発明によるディジタル導通試験方式
は、集線／分配スイッチには、試験用ディジタルパター
ンを送受信する時分割ハイウエイを介して試験装置を接
続し、送信モードでは、試験制御装置の指示により試験
装置から試験用固定マルチフレームパターンを送出し、
集線／分配スイッチによって試験用固定マルチフレーム
パターンを各被測定回線に分配し、試験制御装置の指示
により局内回線終端装置および宅内回線終端装置での折
り返しを制御し、受信部モードでは、折り返された試験
用パターンを集線／分配スイッチによって各回線グルー
プ毎にハイウエイ多重し、さらに、所定のタイムスロッ
トにマルチフレームビットを付加し、マルチフレーム化
を行って試験装置へ送出し、試験装置によってマルチフ
レームパターンを各回線毎のデータに分離すると共に、
各回線ごとに分離されたデータを試験結果としてチェッ
クして判定結果を出力するため、試験装置側の設備数を
増やすことなく、一度の試験指示で試験可能な回線数を
増加させることができる。また、マルチフレーム構成を
組むことにより、試験装置と集線／分配スイッチとの間
のタイムスロットリソースを多大に消費することもなく
効率的に使用することができる。
は、集線／分配スイッチには、試験用ディジタルパター
ンを送受信する時分割ハイウエイを介して試験装置を接
続し、送信モードでは、試験制御装置の指示により試験
装置から試験用固定マルチフレームパターンを送出し、
集線／分配スイッチによって試験用固定マルチフレーム
パターンを各被測定回線に分配し、試験制御装置の指示
により局内回線終端装置および宅内回線終端装置での折
り返しを制御し、受信部モードでは、折り返された試験
用パターンを集線／分配スイッチによって各回線グルー
プ毎にハイウエイ多重し、さらに、所定のタイムスロッ
トにマルチフレームビットを付加し、マルチフレーム化
を行って試験装置へ送出し、試験装置によってマルチフ
レームパターンを各回線毎のデータに分離すると共に、
各回線ごとに分離されたデータを試験結果としてチェッ
クして判定結果を出力するため、試験装置側の設備数を
増やすことなく、一度の試験指示で試験可能な回線数を
増加させることができる。また、マルチフレーム構成を
組むことにより、試験装置と集線／分配スイッチとの間
のタイムスロットリソースを多大に消費することもなく
効率的に使用することができる。
【図１】本発明の実施の形態によるディジタル導通試験
方式を示すブロック図である。
方式を示すブロック図である。
【図２】図１に示すディジタル導通試験方式の動作を説
明するための図であり、（ａ）は送信モード時の試験装
置からの送信イメージを示す図であり、（ｂ）は参照点
における受信パターンを示す図である。
明するための図であり、（ａ）は送信モード時の試験装
置からの送信イメージを示す図であり、（ｂ）は参照点
における受信パターンを示す図である。
【図３】図１に示すディジタル導通試験方式の動作を説
明するための図であり、（ａ）は受信モード時の試験装
置への受信イメージを示す図であり、（ｂ）は参照点に
おける受信パターンを示す図である。
明するための図であり、（ａ）は受信モード時の試験装
置への受信イメージを示す図であり、（ｂ）は参照点に
おける受信パターンを示す図である。
【図４】図１に示すディジタル導通試験方式における試
験装置の受信パターンチェックメモリ内容を示す図であ
る。
験装置の受信パターンチェックメモリ内容を示す図であ
る。
１ 加入者端末 ２ 宅内回線終端装置（ＤＳＵ） ３ 加入者線 ４ 局内回線終端装置（ＯＣＵ） ５ 集合線／分配スイッチ（ＬＣＳＷ） ６ 試験装置 ７ 制御装置 ８ データ転送網 ９ 保守センタ端末
Claims (3)
- 【請求項１】 交換機システムに含まれる集線／分配ス
イッチと局内回線終端装置との間の回線、および集線／
分配スイッチと宅内回線終端装置との間の回線について
ディジタル導通試験を行うディジタル導通試験方法にお
いて、集線／分配スイッチには、試験用ディジタルパタ
ーンを送受信する時分割ハイウエイを介して試験装置を
接続し、送信モードでは、試験制御装置の指示により試
験装置から試験用固定マルチフレームパターンを送出
し、集線／分配スイッチによって各被測定回線に試験用
固定マルチフレームパターンを分配し、試験制御装置の
指示により局内回線終端装置および宅内回線終端装置で
の折り返しを制御し、受信モードでは、折り返された試
験用パターンを集線／分配スイッチによって各回線グル
ープ毎にハイウエイ多重し、さらに、所定のタイムスロ
ットにマルチフレームビットを付加し、マルチフレーム
化を行って試験装置へ送出し、試験装置によってマルチ
フレームパターンを各回線毎のデータに分離すると共
に、各回線ごとに分離されたデータを試験結果としてチ
ェックして判定結果を出力するものであり、前記試験装
置は、前記各回線毎に分離された試験結果としてのデー
タのそれぞれについて、所定の複数回の履歴を残すよう
にシフトして書き込めるメモリを備えており、該メモリ
に書きこんだ試験結果としてのデータが前記試験用固定
マルチフレームパタンに応じたものであるか否かによっ
て導通試験結果を判定することを特徴とするディジタル
導通試験方式。 - 【請求項２】 前記送信モードにおける試験用固定マル
チフレームパターンが、その所定のタイムスロットに試
験用パターンを持つ請求項１に記載のディジタル導通試
験方式。 - 【請求項３】 前記試験制御装置には、データ転送網を
介して保守センタ端末が接続されており、データ転送網
を通して導通試験の指示および試験結果が送受信される
請求項１または２に記載のディジタル導通試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8005842A JP2874708B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | ディジタル導通試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8005842A JP2874708B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | ディジタル導通試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09200335A JPH09200335A (ja) | 1997-07-31 |
| JP2874708B2 true JP2874708B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=11622278
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8005842A Expired - Lifetime JP2874708B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | ディジタル導通試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2874708B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5470233B2 (ja) * | 2010-12-17 | 2014-04-16 | エヌ・ティ・ティ・コムウェア株式会社 | 監視装置、監視方法及びプログラム |
| WO2024034081A1 (ja) * | 2022-08-10 | 2024-02-15 | 日本電信電話株式会社 | 加入者収容モジュールの試験機、加入者収容モジュールの試験機システム、及び加入者収容モジュールの試験方法 |
-
1996
- 1996-01-17 JP JP8005842A patent/JP2874708B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09200335A (ja) | 1997-07-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19981216 |