JP2845363B2 - 内部電圧発生装置 - Google Patents

内部電圧発生装置

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JP2845363B2
JP2845363B2 JP9164707A JP16470797A JP2845363B2 JP 2845363 B2 JP2845363 B2 JP 2845363B2 JP 9164707 A JP9164707 A JP 9164707A JP 16470797 A JP16470797 A JP 16470797A JP 2845363 B2 JP2845363 B2 JP 2845363B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体素子の内部電
圧発生装置に関し、特に高電位(Vpp)発生機の動作を
電位検出装置のフィードバック(feedback)ではなくタ
イミングにより制御させた内部電圧発生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図1と図2は、ロードキャパシタンスが
付いた従来の内部電圧(第3の電位)発生装置の構成例
を記載したブロック図であり、一定の信号群(信号1、
信号2)により蓄電容量が変化する場合を示したもので
ある。この際、第3の電位(内部電圧)発生装置は二つ
の電圧発生装置を含んでいる。第1の電圧発生装置(1
1,21)は小さい消費電力で電位検出器によるフィー
ドバック信号を利用して第3の電位の値を一定の誤差以
内の指定された値に維持させる。これに対し、第2の電
圧発生装置(12,22)は蓄電容量の変化により第3
の電位に速やかな変化が生じる場合に、この変化を短時
間内に逆転させ第3の電位が指定された値を大幅に外れ
ないようにする役割を果す。従って、第2の電圧発生装
置(12,22)は第1の電圧発生装置(11,21)
と異なり速やかな反応速度を必要とする。
【0003】図3は、従来技術で用いられる第2の電圧
発生装置36の内部構造を示したブロック図である。
【0004】従来技術での第2の電圧発生装置36は、
第1の電圧発生装置31のように電位検出器35による
フィードバック信号に依存して作動するため、第3の電
位の変化が一定の値を超えた時から第2の電圧発生装置
36が動作する時までの時間遅延があることになり、こ
れにより図4に見られるように第3の電位の振動が発生
するという問題題点があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明では電
位検出器のフィードバックによる遅延を無くすことによ
り、遅延による高電位端の電位振動を低減した内部電圧
発生装置を提供することにその目的がある。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
半導体装置の内部電圧発生装置において、パワーアップ
信号が起動される時、一定の周期のパルスを発生させる
オシレータと、内部電圧発生装置内の電圧発生装置の基
本作動周期を決定するオシレータの出力、及び入力信号
群に従い適切なタイミングを発生させるタイミング発生
手段と、オシレータからのパルス信号が、タイミング発
生手段から発生した一定周期のパルス信号により制御さ
れ電圧発生装置が一定の位相を有して動作するよう制御
する電圧制御手段と、電位を第3の電位まで昇圧させて
出力する電圧出力手段と、を備えることを特徴とする。
【0007】また、請求項2記載の発明は、請求項1記
載の内部電圧発生装置において、タイミング発生手段
は、動作タイミングをプログラムするため、接点及び導
体配列の接触状態に従い他のタイミングを発生する論理
回路で構成されたこと、を特徴とする。
【0008】更にまた、請求項3記載の発明は、請求項
1記載の内部電圧発生装置において、タイミング発生手
段は、動作タイミングをプログラムするため、ディレイ
値を替えることができる多段階遅延回路及び論理回路で
構成された半導体装置を用いたこと、を特徴とする。
【0009】この請求項1乃至3記載の発明によれば、
半導体装置の内部電圧発生装置が、パワーアップ信号が
起動される時、一定の周期のパルスを発生させるオシレ
ータを備え、また、内部電圧発生装置内の電圧発生装置
の基本作動周期を決定するオシレータの出力及び入力信
号群に従い適切なタイミングを発生させ、オシレータか
らのパルス信号が、その適切なタイミングにより発生し
た一定周期のパルス信号により制御されて電圧発生装置
が一定の位相を有して動作するようにし、その電位を第
3の電位まで昇圧させて出力することにより、内部電圧
の周期を調節して時間遅延による発生信号の変動幅を低
減することができるようになる。
【0010】請求項4記載の発明は、半導体装置の内部
電圧発生装置において、パワーアップ信号が起動される
時、一定の周期のパルスを生成させるオシレータと、内
部電圧発生装置内の電圧発生装置の基本作動周期を決定
するオシレータの出力、及び信号群に従い適切なタイミ
ングを発生させるタイミング発生手段と、オシレータか
らのパルス信号が、タイミング発生手段から発生した一
定周期のパルス信号により制御され電圧発生装置が一定
な位相を有して動作するよう制御する電圧制御手段と、
電位を第3の電位に昇圧させ出力する電圧発生装置と、
タイミング発生手段のカウンティングにより電圧発生装
置の動作が完了したにも拘らず第3の電位がまだ低い
時、タイミング発生手段によりタイミング信号を1パル
ス長程長い周期の信号として出力するよう制御する電位
検出手段と、を備えることを特徴とする。
【0011】この請求項4記載の発明によれば、半導体
装置の内部電圧発生装置が、パワーアップ信号が起動さ
れる時、一定の周期のパルスを生成させるオシレータを
備え、また、内部電圧発生装置内の電圧発生装置の基本
作動周期を決定するオシレータの出力及び信号群に従い
適切なタイミングを発生させることにより、オシレータ
からのパルス信号を、その適切なタイミングにより発生
した一定周期のパルス信号により制御して電圧発生装置
が一定な位相を有して動作するようにし、その電位を第
3の電位に昇圧して出力すること、また、電圧発生装置
の動作が完了したにも拘らず第3の電位がまだ低い際
に、タイミング発生手段によりタイミング信号を1パル
ス長程長い周期の信号として出力することにより、より
速やかな反応速度と安定性をもって、内部電圧の周期を
調節して時間遅延による発生信号の変動幅を低減するこ
とができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図を参照しつつ本発明の実
施の形態の詳細を説明する。
【0013】[第1の実施の形態]本発明の第一の実施
の形態の詳細を説明する。
【0014】図5は、第2の電圧発生装置(Second Vol
tage Pump)の基本作動周期を決定するオシレータ4
2、及び信号群S1、S2の出力に従い適切なタイミン
グを発生させるタイミング発生器46を利用して第2の
電圧発生装置を駆動する回路例を示したブロック図であ
る。
【0015】図5記載の構成は、パワーアップ信号が起
動される際、一定の周期のパルスを生成させるオシレー
タ42と、電圧発生装置の基本作動周期を決定するオシ
レータの出力及び信号群に従い適切なタイミングを発生
させるタイミング発生器46と、前記オシレータ42か
らのパルス信号が前記タイミング発生器46から発生し
た一定期間の間のパルス信号により制御され、電圧発生
装置45が一定の位相を有して動作するよう制御する電
圧段駆動装置44と、電圧を第3の電位に昇圧させ出力
する電圧発生装置45とを備える。
【0016】図6は、本発明の核心部分であるタイミン
グ発生器46の構成例を記載したブロック図である。
【0017】この例では、第2の電圧発生装置のオシレ
ータ出力(OSC)をパルス計数器により計数し、一定の
パルス数の長さを持つタイミング信号(E)を発生させ
る方法を示すものである。ここで、カウンタ出力Q
[0.....N−1]及び〜Q[0.....N−1]は、それ
ぞれのリセット信号の終了後にパルスの個数を2進符号
及びその1の符号で出力したものである。信号Sが第1
の電位レベルにある際、タイミング発生器の出力信号E
は第2の電位に留まっており、カウンタ51にはリセッ
ト信号が入力され動作しない。信号Sが第2の電位に変
化する時、カウンタ51へのリセット信号が終りEの電
位は第1の電位に変化する。OSC端に入力されるパルス
の個数に従いカウンタ51は2進数出力を変化させる。
マルチプレクサ入力ANDゲートを利用したデコーダ53
は、このカウンタ出力信号をデコーディングマトリクス
(図8記載)により定められた数のパルスが計数された
時に、第1の電位を出力する。パルスの数はデコーディ
ングマトリクスの第2の導体層を利用してプログラムす
ることができる。デコーダ53の出力が第1の電位にな
ればカウンタ51にリセット信号が入力され、Eの電位
は第2の電位に変化する。図5でEの出力信号とOSCを
組み合わせ定められた数のパルスを電圧段駆動装置44
に入力する。
【0018】図7は、多数のデコーダを利用して信号群
S1、S2に従い多様なタイミングを発生させることが
できるタイミング発生器46を示した図である。
【0019】ここで、論理制御回路はデコーダ配列
[1....M]中一つをS[1....N]及びEの組み合せに
従い選択する回路を含む。
【0020】図9(a)は、カウンタを利用したタイミ
ング発生器46の応用例であり、二つのデコーダを利用
してS1、S2の組み合せに従い図9の(b)のようなタイ
ミングを発生させるための回路の構成ダイアグラムであ
る。(ここで、S1は第3の電位端の蓄電容量変化量によ
り必要なパルス個数を選択する信号で、S2は電圧発生装
置のトリガ(tirgger)信号を用いた。) 図10の(a)は、さらに他の応用例であり、Eの出力
にディレイを与えるため別途のデコーダ(デコーダ3、
デコーダ4)とT−フリップフロップ回路を追加したも
のである。
【0021】図11は、タイミングの選択のためのデコ
ーダ(図10a記載)及びデコーディングマトリクスの
代りにEEPROM(図11記載のtiny ROM 94)とコンパレ
ータを用いた例であり、電気的な方法でタイミングをプ
ログラムすることができる。
【0022】図12は、タイミング調節のために、ビッ
トカウンタ91に代わってバイパスヒューズでディレイ
値を変化させることができる直列接続されたバイナリ遅
延回路を記載したブロック図である。
【0023】このバイナリ遅延回路において、各遅延回
路のバイパスヒューズを絶縁(open)又は短絡(shor
t)させることにより出力タイミングを調節することが
できる。
【0024】図13は、図12のヒューズの代りにパス
ゲートを用いて遅延回路の全体の遅延量を調節する場合
を記載した図である。
【0025】以上のように、半導体装置の内部電圧発生
装置が、パワーアップ信号が起動される時、一定の周期
のパルスを発生させるオシレータを備え、また、内部電
圧発生装置内の電圧発生装置の基本作動周期を決定する
オシレータの出力及び入力信号群に従い適切なタイミン
グを発生させ、オシレータからのパルス信号が、その適
切なタイミングにより発生した一定周期のパルス信号に
より制御されて電圧発生装置が一定の位相を有して動作
するようにして、その電位を第3の電位まで昇圧させて
出力することにより、内部電圧の周期を調節して時間遅
延による発生信号の変動幅を低減することができるよう
になる。
【0026】[第2の実施の形態]第2の実施の形態で
は、第1の実施の形態における構成(図5記載)に電位
検出器を新たに設けて、出力される第3の電位の値を検
出し、その検出値が電圧発生装置の動作が完了したにも
拘らずまだ低い時に、タイミング発生器46にフィード
バックしてタイミング信号を1パルス長程更に長い信号
として出力するよう制御することにより、より速やかな
反応速度と安定性をもって内部電圧の周期を調節して時
間遅延による発生信号の変動幅を低減できるようにし
た。次に、本発明の第2の実施の形態の詳細を説明す
る。図14は、本発明の第2の実施の形態による内部電
圧発生装置の構成図であり、タイミング発生機の出力を
変更させるため電位検出器95の出力信号を用いた場合
を記載した図である。
【0027】先ず、構成について説明する。図14記載
の構成は、パワーアップ信号が起動される際に一定の周
期のパルスを生成させるオシレータ42と、電圧発生装
置45の基本作動周期を決定するオシレータ42の出
力、及び一連の信号に従って適切なタイミングを発生さ
せるタイミング発生器46と、オシレータ42からのパ
ルス信号が前記タイミング発生器46から発生した一定
周期のパルス信号により制御され、電圧発生装置45が
一定の位相で動作するよう制御する電圧段駆動装置44
と、電荷を第3の電位に昇圧させ出力する電圧発生装置
45と、タイミング発生器46のカウンティングにより
電圧発生装置45の動作が完了したにも拘らず第3の電
位がまだ低い時に、タイミング発生器46をしてタイミ
ング信号を1パルス長程更に長い信号として出力するよ
う制御する電位検出器95とを備える。
【0028】次に、作用について説明する。
【0029】タイミング信号が第1の電位にあり、電位
検出器95の出力により第3の電位が高い状態であるこ
とが示された場合、タイミング信号は第2の電位に戻っ
て終る。カウンティングが完了したにも拘らず、電位検
出器95の出力により第3の電位がまだ低い状態である
ことが示された場合、タイミング信号は1パルス長程更
に長い周期の信号を出力する。この方法は速やかな反応
速度と安定性を得るため用いることができる。
【0030】以上のように、第2の実施の形態では、半
導体装置の内部電圧発生装置が、パワーアップ信号が起
動される時、一定の周期のパルスを生成させるオシレー
タを備え、また、内部電圧発生装置内の電圧発生装置の
基本作動周期を決定するオシレータの出力及び信号群に
従い適切なタイミングを発生させることにより、オシレ
ータからのパルス信号を、その適切なタイミングにより
発生した一定周期のパルス信号により制御して電圧発生
装置が一定な位相を有して動作するようにし、その電位
を第3の電位に昇圧して出力すること、また、電圧発生
装置の動作が完了したにも拘らず第3の電位がまだ低い
際に、タイミング発生手段によりタイミング信号を1パ
ルス長程長い周期の信号として出力することにより、よ
り速やかな反応速度と安定性をもって、内部電圧の周期
を調節して時間遅延による発生信号の変動幅を低減する
ことができるようになる。
【0031】
【発明の効果】請求項1乃至3記載の発明によれば、半
導体装置の内部電圧の周期を調節して時間遅延による発
生信号の変動幅を低減することができるようになる効果
がある。
【0032】請求項4記載の発明によれば、より速やか
な反応速度と安定性をもって、半導体装置の内部電圧の
周期を調節して時間遅延による発生信号の変動幅を低減
することができるようになる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】負荷容量が付いた従来の内部電圧発生装置の構
成図。
【図2】多数の負荷容量が付いた従来の他の内部電圧発
生装置の構成図。
【図3】電位検出器によるフィードバックを利用した従
来の電圧発生装置の構成図。
【図4】従来の電位検出器による動作波形図。
【図5】本発明の第1実施例による内部電圧発生装置の
構成図。
【図6】第1実施例で用いられたタイミング発生器の第
1構成図。
【図7】第1実施例で用いられたタイミング発生器の第
2構成図。
【図8】図6及び図7に示すデコーダのデコーディング
マトリクスのレイアウト図。
【図9】第1実施例で用いられたタイミング発生器の第
3構成図及び動作タイミング図。
【図10】第1実施例で用いられたタイミング発生器の
第4構成図及び動作タイミング図。
【図11】第1実施例で用いられたタイミング発生器の
第5構成図。
【図12】第1実施例で用いられたタイミング発生器の
第6構成図。
【図13】第1実施例で用いられたタイミング発生器の
第7構成図。
【図14】本発明の第2実施例による内部電圧発生装置
の構成図。
【符号の説明】
11 電圧発生装置 12 電圧発生装置 13 ロードドライバ 21 電圧発生装置 22 電圧発生装置 23 ロードドライバ 24 ロードドライバ 31 電圧発生装置 32 オシレータ 33 電圧段駆動装置 34 電圧発生装置 35 電位検出器 41 電圧発生装置 42 オシレータ 44 電圧段駆動装置 45 電圧発生装置 46 タイミング発生器 51 N−ビットバイナリカウンタ 52 論理制御回路 53 デコーダ 61 N−ビットバイナリカウンタ 62 論理制御回路 63 デコーダ 71 トグルレジスタ 72 エッジディテクター 73 カウンタ 74 デコーダ 81 トグルレジスタ 82 トグルレジスタ 83 エッジディテクター 84 カウンタ 85 デコーダ 91 n−ビットカウンタ 92 論理制御回路 93 コンパレータ 95 電位検出器

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置の内部電圧発生装置におい
    て、 パワーアップ信号が起動される時、一定の周期のパルス
    を発生させるオシレータと、 前記内部電圧発生装置内の電圧発生装置の基本作動周期
    を決定するオシレータの出力、及び入力信号群に従い適
    切なタイミングを発生させるタイミング発生手段と、 前記オシレータからのパルス信号が、前記タイミング発
    生手段から発生した一定周期のパルス信号により制御さ
    れて電圧発生装置が一定の位相を有して動作するよう制
    御する電圧制御手段と、 電位を第3の電位まで昇圧させて出力する電圧出力手段
    と、 を備えることを特徴とする内部電圧発生装置。
  2. 【請求項2】 前記タイミング発生手段は、 動作タイミングをプログラムするため、接点及び導体配
    列の接触状態に従い別のタイミングを発生する論理回路
    で構成されたこと、 を特徴とする請求項1記載の内部電圧発生装置。
  3. 【請求項3】 前記タイミング発生手段は、 動作タイミングをプログラムするため、ディレイ値を替
    えることができる多段階遅延回路及び論理回路で構成さ
    れた半導体装置を用いたこと、 を特徴とする請求項1記載の内部電圧発生装置。
  4. 【請求項4】 半導体装置の内部電圧発生装置におい
    て、 パワーアップ信号が起動される時、一定の周期のパルス
    を生成させるオシレータと、 内部電圧発生装置内の電圧発生装置の基本作動周期を決
    定するオシレータの出力、及び信号群に従い適切なタイ
    ミングを発生させるタイミング発生手段と、 前記オシレータからのパルス信号が、前記タイミング発
    生手段から発生した一定周期のパルス信号により制御さ
    れ電圧発生装置が一定な位相を有して動作するよう制御
    する電圧制御手段と、 電位を第3の電位に昇圧させ出力する電圧発生装置と、 前記タイミング発生手段のカウンティングにより前記電
    圧発生装置の動作が完了したにも拘らず第3の電位がま
    だ低い時、前記タイミング発生手段によりタイミング信
    号を1パルス長程長い周期の信号として出力するよう制
    御する電位検出手段と、 を備えることを特徴とする内部電圧発生装置。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100520138B1 (ko) * 2002-11-28 2005-10-10 주식회사 하이닉스반도체 펌핑전압 발생장치
JP5142504B2 (ja) * 2005-09-29 2013-02-13 エスケーハイニックス株式会社 内部電圧発生回路
KR100871390B1 (ko) 2007-10-23 2008-12-02 주식회사 하이닉스반도체 전원 생성 장치 및 그에 적용 가능한 발진 회로
KR100939169B1 (ko) 2007-11-30 2010-01-28 주식회사 하이닉스반도체 전압 발생 장치
JP2010109606A (ja) * 2008-10-29 2010-05-13 Mitsumi Electric Co Ltd カウンタ回路

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4438346A (en) * 1981-10-15 1984-03-20 Advanced Micro Devices, Inc. Regulated substrate bias generator for random access memory
KR960005387Y1 (ko) * 1992-09-24 1996-06-28 문정환 반도체 메모리의 번 인 테스트(Burn-In Test) 장치
KR960000837B1 (ko) * 1992-12-02 1996-01-13 삼성전자주식회사 반도체 메모리장치
US5394320A (en) * 1993-10-15 1995-02-28 Micron Semiconductor, Inc. Low voltage charge pump circuit and method for pumping a node to an electrical potential
US5677649A (en) * 1994-08-17 1997-10-14 Micron Technology, Inc. Frequency-variable oscillator controlled high efficiency charge pump

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Publication number Publication date
GB2314979B (en) 2000-07-19
KR100228766B1 (ko) 1999-11-01
US5847596A (en) 1998-12-08
KR980005002A (ko) 1998-03-30
GB9712283D0 (en) 1997-08-13
TW329051B (en) 1998-04-01
DE19727443A1 (de) 1998-01-02
GB2314979A (en) 1998-01-14
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