JP5198316B2 - Pll回路及び発振装置 - Google Patents

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Description

PLL回路及び発振装置に関するものである。
従来、電子機器には、信号処理を行う論理回路と、その論理回路が動作を行うためのクロック信号を生成するPLL回路が搭載されている。
図13は、従来のPLL回路50の一構成例を示す電気ブロック図である。
PLL回路50は、PLL部51、水晶発振回路52を有している。
PLL回路50は、水晶発振回路52が生成する基準信号Srを、PLL部51にて予め設定された周波数(目標周波数)のクロック信号Clkにして図示しない内部回路に出力する。
PLL部51は、第1及び第2分周器55,56、位相比較器57、チャージポンプ58、ループフィルタ59、クロック発振器としての電圧制御発振器(Voltage Controlled Oscillator:VCO)60を有している。
第1分周器55は、VCO60からクロック信号Clkが入力される。第1分周器55は、入力されたクロック信号Clkを予め設定された分周比にて分周し、帰還クロック信号Spとして位相比較器57に出力する。
つまり、第1分周器55は、図示しない外部回路としての論理回路に出力するためのクロック信号Clkをフィードバック制御するために帰還し、その帰還したクロック信号Clkを分周して位相比較器57に出力している。
第2分周器56は、水晶発振回路52から基準信号Srが入力される。第2分周器56は、入力された基準信号Srを、予め設定された分周比にて分周し、分周基準信号Srdとして位相比較器57に出力する。
位相比較器57は、第1分周器55から帰還クロック信号Spと、第2分周器56から分周基準信号Srdが入力される。位相比較器57は、入力された帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相を比較して位相差を検出し、その位相差に応じたパルス幅を持つアップ信号Sup及びダウン信号Sdoをチャージポンプ58に出力する。ここで、アップ信号Supは、後段のチャージポンプ58にHレベルの判定信号Sjを出力させ、反対に、ダウン信号Sdoは、後段のチャージポンプ58にLレベルの判定信号Sjを出力させるものをいう。
すなわち、帰還クロック信号Spの周波数が分周基準信号Srdの周波数と等しくなると、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差がない。このとき、位相比較器57は、アップ信号Sup及びダウン信号Sdoを出力しないようになっている。つまり、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差がないときは、クロック信号Clkが予め設定された周波数(目標周波数)になっている。このため、位相比較器57は、アップ信号Sup及びダウン信号Sdoを出力しない。
また、帰還クロック信号Spの周波数が分周基準信号Srdの周波数より低くなると、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差が生じる。このとき、位相比較器57は、その位相差に応じたパルス幅のアップ信号Supを出力する。
つまり、位相比較器57は、帰還クロック信号Spの周波数が分周基準信号Srdの周波数より低くなるほど、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差が大きく生じる。このとき、位相比較器57は、その位相差に応じた大きなパルス幅のアップ信号Supを出力する。
反対に、位相比較器57は、帰還クロック信号Spの周波数が分周基準信号Srdの周波数より低く、かつ、その両信号Sp,Srdの周波数が近くなるほど、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差が小さく生じる。このとき、位相比較器57は、その位相差に応じた小さなパルス幅のアップ信号Supを出力する。
また、帰還クロック信号Spの周波数が分周基準信号Srdの周波数より高くなると、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差が生じる。そして、位相比較器57は、その位相差に応じたパルス幅のダウン信号Sdoを出力する。
このように、位相比較器57は、帰還クロック信号Spの周波数が分周基準信号Srdの周波数より高くなるほど、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差が大きく生じる。そして、位相比較器57は、その位相差に応じた大きなパルス幅のダウン信号Sdoを出力する。
反対に、位相比較器57は、帰還クロック信号Spの周波数が分周基準信号Srdの周波数より高く、かつ、その両信号Sp,Srdの周波数が近くなるほど、帰還クロック信号Spと分周基準信号Srdの位相に差が小さく生じる。このとき、位相比較器57は、その位相差に応じた小さなパルス幅のダウン信号Sdoを出力する。
従って、位相比較器57は、帰還クロック信号Spを分周基準信号Srdに近づくためのアップ信号Sup及びダウン信号Sdoを出力し、クロック信号Clkを予め設定された周波数(目標周波数)に近づけるように動作している。
チャージポンプ58は、位相比較器57からアップ信号Sup及びダウン信号Sdoが入力される。チャージポンプ58は、入力されたアップ信号Sup及びダウン信号Sdoに基づいて判定信号Sjをループフィルタ59に出力する。詳述すると、チャージポンプ58は、アップ信号Supが入力されると、Hレベルの判定信号Sjを出力する。反対に、チャージポンプ58は、ダウン信号Sdoが入力されると、Lレベルの判定信号Sjを出力する。
従って、チャージポンプ58は、クロック信号Clkが予め設定された周波数(目標周波数)より低いと、Hレベルの判定信号Sjを出力し、反対に、チャージポンプ58は、クロック信号Clkが予め設定された周波数(目標周波数)以上になると、Lレベルの判定信号Sjを出力する。
ループフィルタ59は、チャージポンプ58から判定信号Sjが入力される。ループフィルタ59は、入力された判定信号Sjを平滑化して制御信号SlfとしてVCO60に出力する。そして、ループフィルタ59は、Hレベルの判定信号SjよりLレベルの判定信号Sjの出力された時間が長いと、制御信号Slfの電圧レベルを低くする。反対に、ループフィルタ59は、Hレベルの判定信号SjよりLレベルの判定信号Sjの出力された時間が短いと、制御信号Slfの電圧レベルを高くする。
従って、チャージポンプ58は、クロック信号Clkが予め設定された周波数(目標周波数)より低いと、制御信号Slfの電圧レベルを高くし、反対に、チャージポンプ58は、クロック信号Clkが目標周波数以上になると、制御信号Slfの電圧レベルを低くする。
VCO60は、ループフィルタ59から制御信号Slfが入力される。VCO60は、入力された制御信号Slfの電圧レベルに応じてクロック信号Clkの周波数を変化させて内部回路と第1分周器55に出力する。つまり、VCO60は、制御信号Slfの電圧レベルが高いほどクロック信号Clkの周波数を高くして出力する。反対に、VCO60は、制御信号Slfの電圧レベルが低いほどクロック信号Clkの周波数を低くして出力する。
すなわち、PLL部51は、上記の動作を繰り返すことにより、クロック信号Clkの周波数を予め設定された周波数(目標周波数)に一致(ロック)させるようにしている。
図14に示すように、水晶発振回路52は、水晶振動子65、帰還抵抗66、CMOSトランジスタからなる反転増幅回路67、バッファ回路68を有している。水晶振動子65及び帰還抵抗66は並列に接続されている。なお、水晶振動子65及び帰還抵抗66の接続点(ノードN10、ノードN11)のうち、ノードN10に反転増幅回路67の出力端子及びバッファ回路68の入力端子が接続され、一方、ノードN11に反転増幅回路67の入力端子が接続されている。
このような構成により、水晶発振回路52は、水晶振動子65から出力される正弦波信号を反転増幅回路67にて増幅し、増幅信号Saとしてバッファ回路68に出力する。そして、水晶発振回路52は、入力された増幅信号Saをバッファ回路68を介して基準信号SrとしてPLL部51に出力している。
ところで、水晶発振回路52は、反転増幅回路67の駆動能力に応じた電圧レベルのノイズが基準信号Srにのってしまう。詳述すると、水晶発振回路52は、反転増幅回路67の駆動能力が大きいほど、基準信号Srのノイズが大きくなる。反対に、水晶発振回路52は、反転増幅回路67の駆動能力が小さいほど、基準信号Srのノイズが小さくなる。従って、PLL回路50は、ノイズがのった基準信号Srを基準としてクロック信号Clkを生成し、その立ち上がり及び立ち下がりの時間軸方向のばらつきであるクロック信号Clkのジッタ特性が悪くなるという問題があった。また、駆動能力が大きいほど、電源にノイズを載せてしまい、他の回路へ悪影響を与え、クロック信号Clkのジッタ特性が悪くなるという問題もあった。
その結果、クロック信号Clkのジッタ特性を低減するため、水晶発振回路52の反転増幅回路67の駆動能力を小さくし、水晶発振回路52から入力される基準信号Srにのるノイズを小さくする必要があった。しかし、水晶発振回路52の反転増幅回路67の駆動能力を小さくすると、水晶発振が開始されない。もしくは水晶発振回路52の水晶振動子65から出力される正弦波信号を増幅する時間がかかってしまう。つまり、水晶振動子65から正弦波信号が出力されない、もしくは水晶振動子65から出力される正弦波信号は、バッファ回路68が論理動作するために必要な電圧レベルにするために時間がかかる。このため、PLL回路50は、クロック信号Clkを予め設定された周波数(目標周波数)と一致しない、もしくは目標周波数と一致(ロック)させるのにかかる時間(ロックアップタイム)が長くなってしまう。
そこで、従来、水晶発振回路52は、水晶発振回路52が起動している起動時、及び、水晶発振回路52が一定の周波数の基準信号Srを出力している通常時に、反転増幅回路67の駆動能力を切替えていた。つまり、水晶発振回路52は、起動時に、反転増幅回路67の駆動能力を従来の駆動能力と等しくし、反対に、水晶発振回路52は、通常時に、反転増幅回路67の駆動能力を従来の駆動能力より小さくしていた(例えば、特許文献1)。
すなわち、起動時には、水晶発振回路52の反転増幅回路67の駆動能力を従来の駆動能力と等しくするため、PLL回路50は、クロック信号Clkを予め設定された周波数(目標周波数)と一致させる時間(ロックアップタイム)が従来と変わらない時間になっている。一方、水晶発振回路52は、通常時には、水晶発振回路52の反転増幅回路67の駆動能力を従来の駆動能力より小さくし、PLL回路50は、クロック信号Clkのジッタの特性を低減していた。
図15は、水晶発振回路52の反転増幅回路67から出力される増幅信号Saの電圧波形図である。
水晶発振回路52から出力される増幅信号Saは、反転増幅回路67の駆動能力が大きい(起動時)と、図15に示す波形70のように、立ち上がり及び立ち下がりが早くなる。反対に、増幅信号Saは、反転増幅回路67の駆動能力が小さい(通常時)と、図15に示す波形71のように、立ち上がり及び立ち下がりが遅くなる。そして、バッファ回路68に増幅信号Saが入力され、反転増幅回路67の駆動能力が大きい場合(起動時)と小さい場合(通常時)では大きな位相の差が生じてしまう。例えば、バッファ回路68の閾値電圧を電源電圧Vccの半分とすると、反転増幅回路67の駆動能力が大きい場合と小さい場合は、時間tbの差が生じる。
すなわち、水晶発振回路52中の反転増幅回路67から出力される増幅信号Saの電圧レベルは、水晶発振回路52中の反転増幅回路67の駆動能力に応じて、その立ち上がり及び立ち下がりの時間が変化する。
特開平11−308103号公報
PLL回路の起動時と通常時とにおいて、水晶発振回路の反転増幅回路の駆動能力を切替えると、位相が大きく変化するため、駆動能力の切替え前におけるクロック信号の周波数から大きく離れてしまう。つまり、再びクロック信号の周波数を駆動能力の切替え前の周波数に戻すのに時間がかかり、PLL回路がクロック信号を安定的に出力することができない。
開示のPLL回路は、発振部とPLL部を有し、前記発振部は、振動子からの生成される信号を増幅することにより基準信号を生成する駆動回路を有し、前記PLL部は、制御信号に基づいてクロック信号を出力するクロック発振器と、前記基準信号と、前記クロック信号に基づく帰還信号との位相を比較する位相比較器と、前記位相比較器の比較結果に基づいた判定信号を出力するチャージポンプと、前記判定信号を平滑して前記制御信号を生成するループフィルタとを有し、前記制御信号が前記クロック信号の周波数を増加させる方向に変化する場合に、前記駆動回路の駆動能力を低下させる
開示されたPLL回路及び発振装置は、クロック信号を安定的に生成することができる。
第1実施形態のPLL回路のブロック回路図である。 第1実施形態の水晶発振回路のブロック回路図である。 第1実施形態の電圧検出回路の回路図である。 第1実施形態の水晶発振部の回路図である。 本実施形態のPLL回路の動作を示す説明図である。 本実施形態の水晶発振回路の動作を示す説明図である。 第1実施形態の水晶発振回路の動作を示す説明図である。 第2実施形態の可変駆動回路の回路図である。 第3実施形態のPLL回路のブロック回路図である。 第3実施形態の電圧電流変換器の回路図である。 第3実施形態の電流検出回路の回路図である。 別例の水晶発振回路の動作を示す説明図である。 従来のPLL回路のブロック回路図である。 従来の水晶発振回路のブロック回路図である。 従来のPLL回路の動作を示す説明図である。
(第1実施形態)
以下、実施形態を図1〜図6に従って説明する。
図1は、本実施形態のPLL回路50aの電気ブロック回路を示す。尚、本実施形態で説明するPLL回路50aは、発振部としての水晶発振回路1に特徴を有し、PLL部51aが図13に示すPLL部51と同一の構成になっている。従って、説明の便宜上、水晶発振回路1について説明し、PLL部51aの構成は従来例と同一構成部分については、同一符号を付して説明の便宜上説明を省略する。
図2はPLL回路50aの水晶発振回路1の電気ブロック回路を示し、水晶発振回路1は、電圧検出回路2及び水晶発振部3を有している。
電圧検出回路2は、ループフィルタ59から制御信号Slfが入力される。そして、電圧検出回路2は、この入力された制御信号Slfの電圧Vlfを、N個の基準となる第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefNとそれぞれ比較し、そのN個の比較結果を第1〜第N設定信号Ss1〜SsNとして水晶発振部3に出力している。
図5は、第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefNと制御信号Slfの関係を示す図である。制御信号Slfの電圧Vlfは、時刻t0において、PLL回路50aが起動すると、0Vからクロック信号Clkを予め設定された周波数(目標周波数)にするための目標電圧値V1まで徐々に立ち上がり、この目標電圧値V1にて一定になる。
言い換えると、PLL回路50aは起動し、クロック信号Clkが目標周波数と一致(ロック)するまで徐々に周波数を上げ、目標周波数にて一定となる。
N個の第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefNは、0Vから目標電圧値V1より低い予め設定された第N基準電圧VrefNの間をN個に区分する基準電圧であって、本実施形態では、第N基準電圧VrefNが目標電圧値V1より低く、且つ、目標電圧値V1とほぼ同じ電圧値に設定されている。
図3は電圧検出回路2の電気回路を示し、電圧検出回路2は、第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefNに対応してそれぞれ設けられた、N個の第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNを有している。
第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNの非反転端子には、ループフィルタ59から制御信号Slfがそれぞれ入力される。一方、第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNの反転入力端子には、対応する第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefNが入力される。そして、各コンパレータ回路Co1〜CoNは、対応する第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefNと制御信号Slfの電圧Vlfとそれぞれ比較し、その比較結果を、それぞれ第1〜第N設定信号Ss1〜SsNとして水晶発振部3に出力する。
そして、第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNは、制御信号Slfの電圧Vlfがそれぞれ対応する第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefNより小さいとき、それぞれLレベルの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNを出力する。反対に、第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNは、制御信号Slfの電圧Vlfがそれぞれ対応する第1〜第N基準電圧Vref1〜VrefN以上のとき、それぞれHレベルの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNを出力する。
従って、図5に示すように、制御信号Slfの電圧Vlfが、0V〜目標電圧値V1まで徐々に立ち上がっていくとき、その時々で、第1コンパレータ回路Co1、第2コンパレータ回路Co2、・・・・・・、第Nコンパレータ回路CoNの順で、LレベルからHレベルとなる第1設定信号Ss1、第2設定信号Ss2、・・・・・・、第N設定信号SsNが出力される。
言い換えると、制御信号Slfの電圧Vlfが、0Vから目標電圧値V1まで徐々に立ち上がっていくとき、第1〜第N設定信号Ss1〜SsNが、第1設定信号Ss1、第2設定信号Ss2、・・・・・・、第N設定信号SsNの順番でLレベルからHレベルに順次反転していく。
図4は水晶発振部3の電気回路を示し、水晶発振部3は、従来のCMOS構造からなる反転増幅回路67の駆動能力を制御可能な可変駆動回路5を有している。
可変駆動回路5は、駆動部としての反転増幅回路67、インバータ回路8、第1駆動抵抗Rd1、第2駆動抵抗Rd2、及び、可変抵抗部として前記第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNに対応して設けられた調整部としてのN個の第1〜第N可変駆動部D1〜Dnを有している。
CMOSトランジスタよりなる反転増幅回路67は、上記の従来例と同様に、水晶振動子65及び帰還抵抗66と接続されている。反転増幅回路67は、電源電圧線L1との間に第1駆動抵抗Rd1を接続し、グランド線L2との間に第2駆動抵抗Rd2を接続している。つまり、反転増幅回路67は、従来例より駆動能力が第1駆動抵抗Rd1と第2駆動抵抗Rd2の抵抗値で、その駆動能力を下げている。
N個の第1〜第N可変駆動部D1〜Dnは、互いに同一の回路構成であって、第1及び第2抵抗R1,R2、PチャネルMOSトランジスタからなる第1トランジスタTr1、Nチャネルトランジスタからなる第2トランジスタTr2を含んでいる。
そして、各可変駆動部D1〜Dnの第1トランジスタTr1は、そのドレインが反転増幅回路67と第1駆動抵抗Rd1との接続点(ノードN3)とそれぞれ接続され、そのソースが第1抵抗R1を介して電源電圧線L1とそれぞれ接続されている。また、各可変駆動部D1〜Dnの第2トランジスタTr2は、そのドレインが反転増幅回路67と第2駆動抵抗Rd2との接続点(ノードN4)とそれぞれ接続され、そのソースが第2抵抗R2を介してグランド線L2とそれぞれ接続されている。
第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1トランジスタTr1のゲートには、それぞれ対応する第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNが入力される。また、第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第2トランジスタTr2のゲートには、インバータ回路8を介して、それぞれ対応する第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNの反転設定信号BSs1〜BSsNが入力される。
そして、第1〜第N可変駆動部D1〜Dnにおいて、対応する第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNからそれぞれHレベルの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNが出力されると、各可変駆動部D1〜Dnの第1及び第2トランジスタTr1,Tr2をオフする。反対に、第1〜第N可変駆動部D1〜Dnにおいて、対応する第1〜第Nコンパレータ回路Co1〜CoNからそれぞれLレベルの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNが出力されると、各可変駆動部D1〜Dnの第1及び第2トランジスタTr1,Tr2をオンする。
従って、制御信号Slfの電圧Vlfが第1基準電圧Vref1になると、第1設定信号Ss1がLレベルからHレベルになり、第1可変駆動部D1の第1及び第2トランジスタTr1,Tr2はオフする。その結果、電源電圧線L1とノードN3の間の抵抗値が、第1駆動抵抗Rd1と第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1抵抗R1との並列回路からなる抵抗値から、第1駆動抵抗Rd1と第2〜第N可変駆動部D2〜Dnの第1抵抗R1との並列回路からなる抵抗値と変化するとともに、グランド線L2とノードN4の間の抵抗値が、第2駆動抵抗Rd2と第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第2抵抗R2との並列回路からなる抵抗値から、第2駆動抵抗Rd2と第2〜第N可変駆動部D2〜Dnの第2抵抗R2との並列回路からなる抵抗値と変化する。
因みに、制御信号Slfの電圧Vlfが第3基準電圧Vref3以上で第4基準電圧Vref4未満になると、第1〜第3設定信号Ss1〜Ss3がHレベルになり、第1〜第3可変駆動部D1〜D3の第1及び第2トランジスタTr1,Tr2はそれぞれオフする。その結果、電源電圧線L1とノードN3の間の抵抗値は、第1駆動抵抗Rd1と第4〜第N可変駆動部D4〜Dnの第1抵抗R1との並列回路からなる抵抗値となる。また、グランド線L2とノードN4の間の抵抗値は、第2駆動抵抗Rd2と第4〜第N可変駆動部D4〜Dnの第2抵抗R2との並列回路からなる抵抗値となる。
つまり、制御信号Slfの電圧Vlfが、0Vから目標電圧値V1まで徐々に立ち上がっていくとき、第1〜第N設定信号Ss1〜SsNが、第1設定信号Ss1、第2設定信号Ss2、……、第N設定信号SsNの順番でLレベルからHレベルに順次反転していくと、第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1及び第2トランジスタTr1,Tr2が順番にオフしていく。
言い換えると、第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1及び第2トランジスタTr1,Tr2が順番にオフしていくことにより、電源電圧線L1とノードN3の間の合成抵抗値、及び、グランド線L2とノードN4の間の合成抵抗値は、徐々に変化していく。
そして、本実施形態は、第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1及び第2トランジスタTr1,Tr2が順番にオフしていくことにより可変駆動回路5の駆動能力は、より低くなっていく。
これは、第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1及び第2トランジスタTr1,Tr2が順番にオフしていくことにより、ノードN3と電源電圧線L1の間に並列に接続された第1抵抗R1の本数と、ノードN4とグランド線L2の間に並列に接続された第2抵抗R2の本数が減っていく。その結果、可変駆動回路5の出力ノードであるノードN10と電源電圧線L1の間の抵抗値、ノードN10とグランド線L2の間の抵抗値が大きくなって、可変駆動回路5の駆動能力が低くなったためである。
次に、上記のように構成したPLL回路50aの水晶発振回路1の動作を、図6に従って説明する。
さて、PLL回路50aが起動する前、基準信号Srは、水晶発振回路1の水晶振動子65に電源電圧Vccが印加されていないため、発振状態になっておらず、0Vになっている。また、制御信号Slfやクロック信号Clkは、基準信号Srに基づいて生成されるため、基準信号Srと同様に0Vになっている。
そして、時刻t0において、PLL回路50aに電源電圧Vccが供給されると、PLL回路50aが起動する。
詳述すると、水晶発振回路1の水晶振動子65に電源電圧Vccが供給され、発振状態になる。そして、水晶発振回路1の可変駆動回路5は水晶振動子65の正弦波信号を増幅する。これによって、可変駆動回路5から出力される増幅信号Saの振幅を大きくする。
また、制御信号Slfの電圧Vlfは、第1基準電圧Vref1より低いため、第1〜第N設定信号Ss1〜SsNは全てLレベルになっている。従って、反転増幅回路67は、電源電圧線L1との間には第1駆動抵抗Rd1と第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1抵抗R1が、また、グランド線L2との間には第2駆動抵抗Rd2と第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第2抵抗R2がそれぞれ接続されている。これによって、水晶発振回路1の可変駆動回路5の駆動能力は最も大きくなっている。
その結果、基準信号Srのノイズは大きい、つまり、クロック信号Clkのジッタ特性が悪いが、水晶振動子65の正弦波信号を増幅する増幅率が大きくなり早くバッファ回路68が動作を開始するようにしている。
換言すると、PLL回路50aの起動時には、可変駆動回路5の駆動能力が最も大きい状態にし、PLL回路50aのロックアップタイムを短くしている。
このとき、クロック信号Clkは、時刻t0における電源電圧Vccの供給より少し遅れて出力される。
やがて、時刻t1において、水晶発振回路1の可変駆動回路5から出力される増幅信号Saがバッファ回路68を動作させるために必要な電圧Vlfになると、バッファ回路68は、PLL部51aに基準信号Srを出力する。
そして、PLL部51aは、入力された基準信号Srを基準として動作し、制御信号Slfの電圧Vlfを上げていく。つまり、PLL部51aは、クロック信号Clkの帰還信号である帰還クロック信号Spの周波数が基準信号Srの周波数より低い。このため、PLL部51aは、帰還クロック信号Spの周波数を基準信号Srの周波数に近づけるように制御信号Slfの電圧Vlfを上げている。
そして、時刻t2において、制御信号Slfの電圧Vlfが第1基準電圧Vref1と等しくなると、可変駆動回路5の駆動能力が1段階小さくなる。
つまり、反転増幅回路67と電源電圧線L1との間に並列に接続された第1駆動抵抗Rd1と第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第1抵抗R1に対して第1可変駆動部D1の第1抵抗R1が、反転増幅回路67とグランド線L2との間に並列に接続された第2駆動抵抗Rd2と第1〜第N可変駆動部D1〜Dnの第2抵抗R2に対して第1可変駆動部D1の第2抵抗R2がそれぞれ切り離され、可変駆動回路5の駆動能力を第1及び第2抵抗R1,R2分小さくする。これによって、可変駆動回路5の駆動能力が1段階小さくなる前に比べて、基準信号Srのノイズは小さくなり、クロック信号Clkのジッタ特性は低減されている。
続いて、時刻t3において、制御信号Slfの電圧Vlfが第2基準電圧Vref2と等しくなると、可変駆動回路5の駆動能力をさらに1段階小さくなる。
つまり、反転増幅回路67と電源電圧線L1との間に並列に接続された第1駆動抵抗Rd1と第2〜第N可変駆動部D2〜Dnの第1抵抗R1に対して第2可変駆動部D2の第1抵抗R1が、反転増幅回路67とグランド線L2との間に接続された第2駆動抵抗Rd2と第2〜第N可変駆動部D2〜Dnの第2抵抗R2に対して第2可変駆動部D2の第2抵抗R2がそれぞれ切り離され、可変駆動回路5の駆動能力を第1及び第2抵抗R1,R2分小さくする。これによって、可変駆動回路5の駆動能力が1段階小さくなる前に比べて、基準信号Srのノイズは小さくなり、クロック信号Clkのジッタ特性は低減されている。
そして、制御信号Slfの電圧Vlfが第3〜第N基準電圧Vref3〜VrefNと順番に上昇していくと、可変駆動回路5の駆動能力がそれに伴って段階的に小さくなる。
つまり、第1駆動抵抗Rd1に対して並列に接続された第1抵抗R1の数、及び、第2駆動抵抗Rd2に対して並列に接続された第2抵抗R2の数が、それぞれ少なくなり、可変駆動回路5の駆動能力が第1及び第2抵抗R1,R2の増加にともなってさらに小さくなる。これによって、可変駆動回路5の駆動能力が1段階小さくなる前に比べて、基準信号Srのノイズは小さくなり、クロック信号Clkのジッタ特性は低減されている。
そして、時刻t4において、制御信号Slfの電圧Vlfが第N基準電圧VrefNと等しくなると、可変駆動回路5の駆動能力をさらに1段階小さくなる。
つまり、反転増幅回路67と電源電圧線L1の間に第1駆動抵抗Rd1、及び、反転増幅回路67とグランド線L2の間に第2駆動抵抗Rd2のみとなり、可変駆動回路5の駆動能力が第1及び第2抵抗R1,R2分さらに小さくなる。これによって、可変駆動回路5の駆動能力が1段階小さくなる前に比べて、基準信号Srのノイズは小さくなり、クロック信号Clkのジッタ特性は低減されている。
このとき、反転増幅回路67は、電源電圧線L1との間に第1駆動抵抗Rd1、及び、グランド線L2との間に第2駆動抵抗Rd2のみが接続されている。つまり、可変駆動回路5は、最も駆動能力が小さくなっている。これによって、クロック信号Clkが目標周波数と一致(ロック)しているとき、クロック信号Clkのジッタ特性は最も低減している。
従って、図6に示すように、可変駆動回路5は、制御信号Slfの電圧Vlfの上昇に伴い、段階的に駆動能力を下げている。この結果、可変駆動回路5の駆動能力を1段階小さくすると、基準信号Srの位相が小さく変化し、駆動能力の変更前のクロック信号Clkの周波数からわずかに離れ、すぐにクロック信号Clkの周波数を駆動能力変更前のクロック信号Clkの周波数に戻すことができる。つまり、PLL回路50aは、クロック信号Clkを安定的に出力することができる。
以上記述したように、本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)水晶発振回路1は、制御信号Slfの電圧Vlfが低いほど、可変駆動回路5の駆動能力を大きくしている。反対に、水晶発振回路1は、制御信号Slfの電圧Vlfが高いほど、可変駆動回路5の駆動能力を小さくしている。これに加え、可変駆動回路5は、駆動能力の増減を段階的に行っている。
このため、PLL回路50aは、起動時にはロックアップタイムを早くし、通常時にはクロック信号Clkのジッタ特性を低減している。さらに、PLL回路50aは、水晶発振回路1の可変駆動回路5の駆動能力を切替えるとき、段階的に駆動能力を増減しているため、水晶発振回路1から出力される基準信号Srは小さく位相が変動する。
詳述すると、図7は水晶発振回路1の可変駆動回路5から出力される増幅信号Saの電圧波形図である。なお、波形11〜波形16は、可変駆動回路5が段階的に駆動能力を増減したときの増幅信号Saの電圧波形をいう。本実施形態では、可変駆動回路5の駆動能力をN段階で増減している。図7では、説明の便宜上、可変駆動回路5の駆動能力を6段階で増減している。
つまり、波形11は可変駆動回路5の駆動能力が最も大きいときの増幅信号Saの電圧波形、波形12は可変駆動回路5の駆動能力が2番目に大きい増幅信号Saの電圧波形、波形13は可変駆動回路5の駆動能力が3番目に大きい増幅信号Saの電圧波形、波形14は可変駆動回路5の駆動能力が4番目に大きな増幅信号Saの電圧波形、波形15は可変駆動回路5の駆動能力が5番目に大きな増幅信号Saの電圧波形、波形16は可変駆動回路5の駆動能力が最も小さな増幅信号Saの電圧波形を示す。
従って、水晶発振回路1のバッファ回路68の閾値をVcc/2とすると、可変駆動回路5の駆動能力を1段階増減する毎に、基準信号Srは時間ta変動する。図15に示す従来の増幅信号Saの変動時間tbに比べ、この基準信号Srの変動時間taが1/5になっていることがわかる。
そして、PLL部51aの位相比較器57にて比較される分周基準信号Srdと帰還クロック信号Spとの位相差が小さくなる。これによって、PLL回路50aは、可変駆動回路5の駆動能力の切替えるとき、従来に比べてクロック信号Clkの周波数の変動を小さくすることができる。この結果、PLL回路50aは、クロック信号Clkを安定的に出力することができる。
(第2実施形態)
以下、第2実施形態を図8に従って説明する。
本実施形態では、上記の第1実施形態と相違して、水晶発振回路1(可変駆動回路5a)の駆動能力が、制御信号Slfの電圧Vlfに応じて連続的に増減する点に特徴を有している。そのため、説明の便宜上、可変駆動回路5aについて詳細に説明する。
図8に示すように、可変駆動回路5aは、電圧電流変換部23、出力部24、反転増幅回路67、PチャネルMOSトランジスタからなる第1トランジスタTr11、NチャネルMOSトランジスタからなる第2トランジスタTr12を有している。
電圧電流変換部23は、アンプ回路AMP1、PチャネルMOSトランジスタからなる第3トランジスタTr13、第1抵抗R11を有している。
アンプ回路AMP1は、非反転入力端子が第3トランジスタTr13と第1抵抗R11との接続点(ノードN7)に接続され、反転入力端子がPLL部51aから制御信号Slfが入力される。アンプ回路AMP1は、その出力端子から第3トランジスタTr13のゲートと出力部24に第1変換信号Sc1を出力する。
第3トランジスタTr13は、そのドレインが第1抵抗R11を介してグランド線L2と接続され、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。
このような構成により、電圧電流変換部23は、制御信号Slfの電圧Vlfに応じて第3トランジスタTr13のドレイン電流を増減する。つまり、電圧電流変換部23のアンプ回路AMP1は、制御信号Slfが大きいほど、第1変換信号Sc1の電圧が小さくなり、第3トランジスタTr13のドレイン電流を大きくする。反対に、アンプ回路AMP1は、制御信号Slfの電圧Vlfが小さいほど、第1変換信号Sc1の電圧が大きくなり、第3トランジスタTr13のドレイン電流を小さくする。換言すると、電圧電流変換部23は、制御信号Slfの電圧Vlfを第3トランジスタTr13のドレイン電流に電圧電流変換している。
出力部24は、PチャネルMOSトランジスタからなる第4〜第6トランジスタTr14〜Tr16、NチャネルMOSトランジスタからなる第7トランジスタTr17、定電流源A1を有している。
第4トランジスタTr14は、そのドレインが第5トランジスタTr15と定電流源A1との接続点(ノードN8)に接続される。第4トランジスタTr14は、そのソースが電源電圧線L1に接続され、そのゲートに出力部24から第1変換信号Sc1が入力される。
つまり、第4トランジスタTr14は、電圧電流変換部23の第3トランジスタTr13とで、カレントミラーを構成している。従って、第3及び第4トランジスタTr13,Tr14のドレイン電流は、第3及び第4トランジスタTr13,Tr14のサイズ比に基づく電流値になっている。例えば、第3及び第4トランジスタTr13,Tr14のサイズ比が1対1の場合には同じ電流値になる。
すなわち、第4トランジスタTr14のドレイン電流は、制御信号Slfの電圧Vlfを電圧電流変換された電流値になっている。従って、制御信号Slfの電圧Vlfが大きいほど、第4トランジスタTr14のドレイン電流が大きくなり、反対に、制御信号Slfの電圧Vlfが小さいほど、第4トランジスタTr14のドレイン電流が小さくなる。
第5トランジスタTr15は、そのゲート・ドレインがお互いに接続され、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。従って、第5トランジスタTr15のドレイン電流は、定電流源A1が流す定電流から第4トランジスタTr14のドレイン電流を引いた電流値になる。
すなわち、制御信号Slfの電圧Vlfに対する第5トランジスタTr15のドレイン電流の関係と、制御信号Slfの電圧Vlfに対する第4トランジスタTr14のドレイン電流の関係は逆になる。詳述すると、制御信号Slfの電圧Vlfが大きいほど、第5トランジスタTr15のドレイン電流が小さくなり、反対に、制御信号Slfの電圧Vlfが小さいほど、第5トランジスタTr15のドレイン電流が大きくなる。
第6トランジスタTr16は、そのドレインが第7トランジスタTr17のドレインと、第2及び第7トランジスタTr12,Tr17のゲートに接続され、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。第6トランジスタTr16は、そのゲートがノードN8(第4トランジスタTr14のドレイン、第5トランジスタTr15のゲート)に接続されている。第7トランジスタTr17は、そのゲート・ドレインがお互いに接続され、そのソースがグランド線L2に接続されている。
第5〜第7トランジスタTr15〜Tr17はカレントミラーを構成している。従って、第5〜第7トランジスタTr15〜Tr17のドレイン電流は、第5〜第7トランジスタTr15〜Tr17のサイズ比に基づく電流値になっている。例えば、第5〜第7トランジスタTr15〜Tr17のサイズ比が1対1の場合には同じ電流値になる。
すなわち、出力部24は、制御信号Slfの電圧Vlfが大きくなるほど、第5〜第7トランジスタTr15〜Tr17のドレイン電流を小さくする。反対に、出力部24は、制御信号Slfの電圧レベルが小さくなるほど、第5〜第7トランジスタTr15〜Tr17のドレイン電流を大きくする。
反転増幅回路67は、第1実施形態と同様に、CMOSトランジスタよりなり、水晶振動子65及び帰還抵抗66と並列に接続されている。反転増幅回路67は、電源電圧線L1との間にPチャネルMOSトランジスタからなる第1トランジスタTr11を介在し、グランド線L2との間にNチャネルMOSトランジスタからなる第2トランジスタTr12を介在している。
第1トランジスタTr11は、そのドレインが反転増幅回路67に接続され、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。第1トランジスタTr11のゲートは、出力部24が有するノードN8(第4トランジスタTr14のドレイン、第5及び第6トランジスタTr15,Tr16のゲート)に接続されている。
第2トランジスタTr12は、そのドレインが反転増幅回路67に接続され、そのソースがグランド線L2に接続されている。第2トランジスタTr12のゲートは、出力部24が有する第6トランジスタTr16のドレイン(第7トランジスタTr17のドレイン及びゲート)に接続されている。
このような構成により、第1トランジスタTr11が第5及び第6トランジスタTr15,Tr16とカレントミラーを構成する。従って、第1、第5及び第6トランジスタTr11,Tr15,Tr16のドレイン電流は、第1、第5及び第6トランジスタTr11,Tr15,Tr16のサイズ比に基づく電流値になっている。例えば、第1、第5及び第6トランジスタTr11,Tr15,Tr17のサイズ比が1対1の場合には同じ電流値になる。
従って、可変駆動回路5aは、制御信号Slfの電圧Vlfが小さくなるほど、第1及び第2トランジスタTr11,Tr12のドレイン電流を大きくする。反対に、可変駆動回路5は、制御信号Slfの電圧Vlfが大きくなるほど、第1及び第2トランジスタTr11,Tr12のドレイン電流を小さくする。
換言すると、可変駆動回路5aは、制御信号Slfの電圧Vlfが低い(起動時)には、駆動能力を大きくし、早く水晶振動子65から出力される正弦波信号を増幅する。反対に、可変駆動回路5aは、制御信号Slfの電圧Vlfが高い(通常時)には、駆動能力を小さくし、バッファ回路68から出力される基準信号Srにのるノイズを小さくする。
以上記述したように、本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)可変駆動回路5aは、制御信号Slfの電圧Vlfに応じて、駆動能力を増減する。
このため、可変駆動回路5aは、第1実施形態と比べて、駆動能力を増減したときの水晶発振回路1から出力される基準信号Srの変動を小さくすることができる。つまり、第1実施形態では、可変駆動回路5は、段階的に駆動能力を増減していた。第2実施形態では、可変駆動回路5aは、連続的に駆動能力を増減しているため、第1実施形態に比べて、駆動能力を増減したときの水晶発振回路1から出力される基準信号Srの変動を小さくすることができる。
さらに、第1実施形態では、電圧検出回路2において、可変駆動回路5の駆動能力の可変数分、コンパレータ数が必要になる。第2実施形態では、電圧検出回路2は必要ないため、回路規模を削減することができる。
(第3実施形態)
以下、第3実施形態を図9〜図11に従って説明する。
上記の第1実施形態では、PLL回路50aは、クロック信号Clkの周波数をVCO60にて制御していた。第3実施形態では、PLL回路50bは、クロック信号Clkの周波数を電流制御発振器(ICO)30にて制御している。
このため、図9に示すように、PLL部51bは、ループフィルタ59から出力される制御信号Slfの電圧Vlfを電流値に変換し、その変換された同じ値の電流値の第1及び第2出力電流Io1,Io2をICO30及び水晶発振回路1にそれぞれ出力する電圧電流変換器31を設けている。この変更に伴い、本実施形態の水晶発振回路1では、電圧検出回路2を電流検出回路32に変更している。
上記の構成以外は、第1実施形態と同じ構成になっているため、説明の便宜上、説明を省略する。
図10に示すように、電圧電流変換器31は、アンプ回路AMP2、PチャネルMOSトランジスタからなる第1〜第3トランジスタTr21〜Tr23、第1抵抗R21を有している。
アンプ回路AMP2は、非反転入力端子が第1トランジスタTr21と第1抵抗R21との接続点(ノードN21)に接続され、反転入力端子がループフィルタ59から制御信号Slfが入力される。アンプ回路AMP2は、その出力端子から第1〜第3トランジスタTr21〜Tr23のゲートに第2変換信号Sc2を出力する。
第1トランジスタTr21は、そのドレインが第1抵抗R21を介してグランド線L2と接続され、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。第2トランジスタTr22は、そのドレインがICO30と接続され、そのドレイン電流(第1出力電流Io1)をICO30に出力している。第2トランジスタTr22は、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。
第3トランジスタTr23は、そのドレインが電流検出回路32と接続され、そのドレイン電流(第2出力電流Io2)を電流検出回路32に出力している。第3トランジスタTr23は、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。
そして、第1〜第3トランジスタTr21〜Tr23はカレントミラーを構成している。従って、第1〜第3トランジスタTr21〜Tr23のドレイン電流は、第1〜第3トランジスタTr21〜Tr23のサイズ比に基づく電流値になっている。例えば、第1〜第3トランジスタTr21〜Tr23のサイズ比が1対1の場合には同じ電流値になる。
電圧電流変換器31は、制御信号Slfの電圧Vlfに応じて第1及び第2出力電流Io1,Io2を流している。つまり、電圧電流変換器31は、制御信号Slfの電圧Vlfが大きいほど、第1及び第2出力電流Io1,Io2を大きくする。反対に、電圧電流変換器31は、制御信号Slfの電圧Vlfが小さいほど、第1及び第2出力電流Io1,Io2を小さくする。
換言すると、電圧電流変換器31は、制御信号Slfの電圧Vlfを第1及び第2出力電流Io1,Io2に電圧電流変換し、その第1出力電流Io1をICO30に出力し、第2出力電流Io2を電流検出回路32に出力している。従って、第1及び第2出力電流Io1,Io2は、図5に示す制御信号Slfと同じように、PLL回路50aが起動すると、0Aからクロック信号Clkを予め設定された周波数(目標周波数)にするための目標電流値まで徐々に立ち上がり、この目標電流値にて一定になる。
図11に示すように、電流検出回路32は、PチャネルMOSトランジスタからなる第5トランジスタTr25、NチャネルMOSトランジスタからなる第6トランジスタTr26、定電流源A2、N個の第1〜第N電流出力部E1〜Enを有している。
第5トランジスタTr25は、そのドレイン及びゲートが接続され、そのドレイン及びゲートが定電流源A2を介してグランド線L2に接続されている。また、第5トランジスタTr25のソースが電源電圧線L1に接続されている。このような構成により、第5トランジスタTr25のドレイン電流は、定電流源A2が流す定電流と電流値が同じになっている。
第6トランジスタTr26は、そのドレイン及びゲートが接続され、そのドレイン及びゲートに電圧電流変換器31から第2出力電流Io2が入力される。また、第6トランジスタTr26のソースがグランド線L2に接続されている。このような構成により、第6トランジスタTr26のドレイン電流は、入力される第2出力電流Io2と同じ電流値になっている。
第1〜第N電流出力部E1〜Enは、PチャネルMOSトランジスタからなる第7トランジスタTr27、NチャネルMOSトランジスタからなる第8トランジスタTr28、インバータ回路35をそれぞれ有している。
各電流出力部E1〜Enの第7トランジスタTr27は、そのドレインが第8トランジスタTr28のドレインとインバータ回路35の入力端子に接続され、そのソースが電源電圧線L1に接続されている。第7トランジスタTr27は、そのゲートが第5トランジスタTr25のゲートと、他の全ての電流出力部E1〜Enの第7トランジスタTr27のゲートに接続されている。
各電流出力部E1〜Enの第8トランジスタTr28は、そのソースがグランド線L2に接続されている。第8トランジスタTr28は、そのゲートが第6トランジスタTr26のゲートと、他の全ての電流出力部E1〜Enの第8トランジスタTr28のゲートに接続されている。
このような構成により、第5及び第7トランジスタTr25,Tr27がカレントミラーを構成している。従って、第5及び第7トランジスタTr25,Tr27のドレイン電流は、第5及び第7トランジスタTr25,Tr27のサイズ比に基づく電流値になっている。例えば、第5及び第7トランジスタTr25,Tr27のサイズ比が1対1の場合には同じ電流値になる。また、第6及び第8トランジスタTr26,Tr28もカレントミラーを構成している。従って、第6及び第8トランジスタTr26,Tr28のドレイン電流は、第6及び第8トランジスタTr26,Tr28のサイズ比に基づく電流値になっている。例えば、第6及び第8トランジスタTr26,Tr28のサイズ比が1対1の場合には同じ電流値になる。
各電流出力部E1〜Enのインバータ回路35は、第7及び第8トランジスタTr27,Tr28の接続点(ノードN22)の電位を反転して図2に示す可変駆動回路5にそれぞれ第1〜第N設定信号Ss1〜SsNとして出力する。詳述すると、インバータ回路35は、第7トランジスタTr27のドレイン電流が第8トランジスタTr28のドレイン電流以上のとき、ノードN22の電位がHレベルになり、Lレベルの第1設定信号Ss1を出力する。反対に、インバータ回路35は、第7トランジスタTr27の第8トランジスタTr28のドレイン電流より小さいと、ノードN22の電位がLレベルになり、インバータ回路35はHレベルの第1設定信号Ss1を出力する。
このように、各電流出力部E1〜Enは、第7トランジスタTr27のドレイン電流と、第8トランジスタTr28のドレイン電流を比較し、その比較結果に応じて各電流出力部E1〜Enのインバータ回路35から出力される第1〜第N設定信号Ss1〜SsNの論理値を決定している。
つまり、各電流出力部E1〜Enは、第7トランジスタTr27のドレイン電流が第8トランジスタTr28のドレイン電流以上のとき、ノードN22の電位がHレベルになり、各インバータ回路35はそれぞれLレベルの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNを出力する。各電流出力部E1〜Enは、第7トランジスタTr27のドレイン電流が第8トランジスタTr28のドレイン電流より小さいと、ノードN22の電位がLレベルになり、各インバータ回路35はそれぞれHレベルの第1〜第N設定信号Ss1〜SsNを出力する。
なお、ここで、第1〜第N電流出力部E1〜Enにおいて、第7トランジスタTr27以外のトランジスタは、そのトランジスタサイズが全て同じサイズになっている。そして、第1〜第N電流出力部E1〜Enの第7トランジスタTr27のゲートサイズは、第1〜第N電流出力部E1〜Enの順にて大きくなっている。
詳述すると、第1〜第N電流出力部E1〜Enの順にて第7トランジスタTr27のドレイン電流が大きくなるように、そのゲートサイズをそれぞれ設定している。本実施形態では、第1〜第N電流出力部E1〜Enの第7トランジスタTr27のドレイン電流は、順番に、第1電流出力部E1の第7トランジスタTr27のドレイン電流の整数倍になっている。
例えば、第2電流出力部E2の第7トランジスタTr27のドレイン電流は、第1電流出力部E1の第7トランジスタTr27のドレイン電流の2倍になる。第3電流出力部E3の第7トランジスタTr27のドレイン電流は、第1電流出力部E1の第7トランジスタTr27のドレイン電流の3倍になる。さらに、第N電流出力部Enの第7トランジスタTr27のドレイン電流は、第1電流出力部E1の第7トランジスタTr27のドレイン電流のN倍になる。
そして、第1〜第N電流出力部E1〜Enから出力される第1〜第N設定信号Ss1〜SsNは、第2出力電流Io2が増大していくと、それに相対して、第1設定信号Ss1から順番に、LレベルからHレベルに反転していくようにしている。
つまり、電流検出回路32は、第2出力電流Io2が大きくなるほど、Lレベルとなる第1〜第N設定信号Ss1〜SsNの数が少なくなる。反対に、電流検出回路32は、第2出力電流Io2が小さくなるほど、Lレベルとなる第1〜第N設定信号Ss1〜SsNの数が多くなる。
この結果、第2出力電流Io2が大きくなるほど、図2に示す可変駆動回路5の駆動能力が小さくなり、水晶発振回路1から出力される基準信号Srにのるノイズの電圧レベルを小さくしている。反対に、第2出力電流Io2が小さくなるほど、可変駆動回路5の駆動能力が大きくなり、水晶発振回路1の水晶振動子65が出力する正弦波信号を早く増幅している。
以上記述したように、本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)上記のように制御信号Slfの電圧Vlfを電圧電流変換された電流値に応じてクロック信号Clkの周波数を増減するICO30を有する構成でも、第1実施形態と同じ効果を得ることができる。
尚、上記実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
・上記第1実施形態において、電圧検出回路2は、クロック信号Clkが予め設定された周波数(目標周波数)になるための目標電圧値V1より低く、且つ、ほぼ目標電圧値V1と同じ電圧値をN個に区分し、どの区分にそのときの制御信号Slfの電圧レベルが入っているかを検出していた。これに限らず、電圧検出回路2は、図12に示すように、制御信号Slfが急激に立ち上がる部分をN個に区分し、どの区分にそのときの制御信号Slfの電圧Vlfが入っているかを検出してもよい。
これによって、電圧検出回路2は、クロック信号Clkが目標周波数と一致(ロック)した状態において、可変駆動回路5の駆動能力の切替えによる制御信号Slfの電圧変動などの小さな制御信号Slfの電圧変動に対して、検出した区分を変更しない。この結果、PLL回路50aは、クロック信号Clkの周波数を目標周波数と一致(ロック)した状態を維持することができる。
・上記第3実施形態において、電流検出回路32は、クロック信号Clkが予め設定された周波数(目標周波数)になるための目標電流値より低く、且つ、ほぼ目標電流値と同じ電圧値をN個に区分し、どの区分にそのときの制御信号Slfの電流値が入っているかを検出していた。これに限らず、電流検出回路32は、第1出力電流Io1が急激に立ち上がる部分をN個に区分し、制御信号Slfの電流値が入っているかを検出してもよい。
これによって、電流検出回路32は、クロック信号Clkが目標周波数と一致(ロック)した状態において、可変駆動回路5の駆動能力の切替えによる第1出力電流Io1の小さな電流変動などに対して、検出した区分を変更しない。この結果、PLL回路50bは、クロック信号の周波数を目標周波数と一致(ロック)した状態を維持することができる。
・上記実施形態において、PLL部51a,51bは、電源電圧Vccが供給されると、動作を開始していた。これに限らず、PLL部51a,51bは、電源電圧Vccが供給されると、予め定めた時間経過後に、動作を開始してもよい。
詳述すると、PLL部51a,51bは、水晶発振回路1から出力される基準信号Srをカウントする周知な回路構成のカウンタを有している。カウンタは、PLL部51a,51bに電源電圧Vccが供給されると、基準信号Srのカウントを開始し、予め設定された時間、例えば10ms経過した後に、PLL部51a,51bの動作を開始するようにしてもよい。
これによって、水晶発振回路1は、電源電圧Vccが供給された初期状態において、基準信号Srが不安定になっているため、この不安定の期間が経過してからPLL部51a,51bの動作を開始することができる。この結果、PLL回路50a,50bは、クロック信号Clkを安定的に出力することができる。
・上記実施形態において、PLL回路50a,50bは、クロック信号Clkの周波数を予め設定された周波数(目標周波数)と一致(ロック)した後でも、水晶発振回路1の可変駆動回路5,5aの駆動能力を切替えることができた。これに限らず、PLL回路50a,50bは、クロック信号Clkの周波数を目標周波数と一致(ロック)した場合、その後に水晶発振回路1の可変駆動回路5の駆動能力を一定にしてもよい。
詳述すると、PLL回路50a,50bは、位相比較器57から出力されるアップ信号Sup及びダウン信号Sdoに基づいて、クロック信号Clkの周波数が目標周波数と一致(ロック)を検出する周知な回路構成のロック検出器を有している。ロック検出器は、ロックを検出すると、水晶発振回路1の可変駆動回路5の駆動能力を一定にしてもよい。
これによって、PLL回路50a,50bは、クロック信号Clkの周波数を目標周波数と一致(ロック)した場合、制御信号Slfの電圧Vlfの瞬時低下などによって、制御信号Slfの電圧レベルが瞬時低下しても、制御信号Slfの電圧Vlfを維持することができる。この結果、PLL回路50a,50bは、クロック信号Clkの周波数と目標周波数と一致(ロック)した状態を維持することができる。
・上記実施形態において、水晶発振回路1は、可変駆動回路5の駆動能力を変更して水晶振動子65から出力される正弦波信号の増幅率を変更していた。水晶発振回路1は、帰還抵抗66の抵抗値を変更して水晶振動子65から出力される正弦波信号の増幅率を変更してもよい。
・上記実施形態において、反転増幅回路67は、CMOSトランジスタで構成されていたが、これに限らず、バイポーラトランジスタで構成してもよい。
上述する実施形態によれば、クロック発振器に入力される制御信号に応じて、発振部の駆動回路の駆動能力を制御することができる。このため、PLL回路のクロック信号の周波数が所定の周波数から離れているとき、駆動回路の駆動能力を大きくし、PLL回路のクロック信号の周波数が所定の周波数に近いとき、駆動回路の駆動能力を小さくする。この結果、PLL回路のクロック信号の周波数が所定の周波数に近いとき、基準信号にのるノイズを低減することができる。さらに、駆動回路の駆動能力を制御するときに、基準信号の位相のずれを低減する。この結果、PLL回路は、基準信号に基づいてクロック信号を生成するため、クロック信号を安定的に生成することができる。
1 発振部(水晶発振回路)
2,23 検出部(電圧検出回路、電流検出回路)
5,5a 駆動回路(可変駆動回路)
50,50a PLL回路
51,51a PLL部
55 分周器(第1分周器)
57 位相比較器
58 チャージポンプ
59 ループフィルタ
30,60 クロック発振器(VCO、ICO)
67 駆動部(反転増幅回路)
Clk クロック信号
D1〜Dn 調整部(第1〜第N可変駆動部)
Slf,Io1 制御信号(第1出力電流)
Sp 帰還信号(帰還クロック信号)
Sr 基準信号

Claims (9)

  1. 発振部とPLL部を有し、
    前記発振部は、
    振動子からの生成される信号を増幅することにより基準信号を生成する駆動回路を有し、
    前記PLL部は、
    制御信号に基づいてクロック信号を出力するクロック発振器と、
    前記基準信号と、前記クロック信号に基づく帰還信号との位相を比較する位相比較器と、
    前記位相比較器の比較結果に基づいた判定信号を出力するチャージポンプと、
    前記判定信号を平滑して前記制御信号を生成するループフィルタと
    を有し、
    前記制御信号が前記クロック信号の周波数を増加させる方向に変化する場合に、前記駆動回路の駆動能力を低下させることを特徴とするPLL回路。
  2. 発振部とPLL部を有し、
    前記発振部は、
    振動子からの生成される信号を増幅することにより基準信号を生成する駆動回路を有し、
    前記PLL部は、
    制御信号に基づいてクロック信号を出力するクロック発振器と、
    前記基準信号と、前記クロック信号に基づく帰還信号との位相を比較する位相比較器と、
    前記位相比較器の比較結果に基づいた判定信号を出力するチャージポンプと、
    前記判定信号を平滑して前記制御信号を生成するループフィルタと
    を有し、
    前記発振部は、
    予め設定された電圧値を区分し、前記制御信号の電圧値がどの区分に入るかを検出する検出部を備え、
    前記検出部が検出する区分に応じて前記駆動回路の駆動能力を段階的に低下させることを特徴とするPLL回路。
  3. 発振部とPLL部を有し、
    前記発振部は、
    振動子からの生成される信号を増幅することにより基準信号を生成する駆動回路を有し、
    前記PLL部は、
    制御信号に基づいてクロック信号を出力するクロック発振器と、
    前記基準信号と、前記クロック信号に基づく帰還信号との位相を比較する位相比較器と、
    前記位相比較器の比較結果に基づいた判定信号を出力するチャージポンプと、
    前記判定信号を平滑して前記制御信号を生成するループフィルタと
    を有し、
    前記発振部は、
    予め設定された電流値を区分し、前記制御信号の電流値がどの区分に入るかを検出する検出部を有し、
    前記検出部が検出する区分に応じて前記駆動回路の駆動能力を段階的に低下させることを特徴とするPLL回路。
  4. 請求項1〜3のいずれか一項に記載のPLL回路であって、
    前記発振部はカウンタを有し、
    前記カウンタは、前記基準信号をカウントし、前記発振部の動作安定後に前記駆動回路の駆動能力を制御することを特徴とするPLL回路。
  5. PLL回路における発振部への入力であって基準信号に基づいて生成され前記発振部の出力の周波数を制御する入力を検出する検出部と、
    振動子に接続され、前記振動子を駆動して前記PLL回路に前記基準信号を出力する駆動部と、
    前記検出部の検出結果に基づいて、前記駆動部の駆動能力を調整する調整部と
    を有し、
    前記調整部は、前記発振部への入力が前記発振部の出力信号の周波数を増加させる方向に変化する場合に、前記駆動能力を低下させることを特徴とする発振装置。
  6. 請求項5に記載の発振装置であって、
    前記調整部は、前記振動子に並列接続する抵抗部を有し、前記抵抗部の抵抗値を増加させることにより前記駆動能力を低下させることを特徴とする発振装置。
  7. 請求項5又は6に記載の発振装置であって、
    前記調整部は、前記振動子に並列接続するバッファを有し、前記バッファの駆動能力を低下させることにより前記駆動能力を低下させることを特徴とする発振装置。
  8. PLL回路における発振部への入力であって基準信号に基づいて生成され前記発振部の出力の周波数を制御する入力を検出する検出部と、
    振動子に接続され、前記振動子を駆動して前記PLL回路に前記基準信号を出力する駆動部と、
    前記検出部の検出結果に基づいて、前記駆動部の駆動能力を調整する調整部と
    を有し、
    前記検出部は、複数の検出値に基づいて前記発振部への入力を検出し、
    前記調整部は、前記検出部が検出する前記複数の検出値に対応した検出結果に基づいて前記駆動能力を段階的に低下させることを特徴とする発振装置。
  9. 請求項5〜8のいずれか1項に記載の発振装置であって、
    前記発振部への入力は、前記PLL回路における位相比較結果に基づくアナログ信号であることを特徴とする発振装置。
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