JP2842389B2 - 乱数発生装置 - Google Patents

乱数発生装置

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JP2842389B2
JP2842389B2 JP8182252A JP18225296A JP2842389B2 JP 2842389 B2 JP2842389 B2 JP 2842389B2 JP 8182252 A JP8182252 A JP 8182252A JP 18225296 A JP18225296 A JP 18225296A JP 2842389 B2 JP2842389 B2 JP 2842389B2
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    • G06F2207/58Indexing scheme relating to groups G06F7/58 - G06F7/588
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は乱数発生装置および
乱数発生方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の乱数発生回路は、“000・・・
・000”から“111・・・・111”までの乱数を
発生するように構成されている。たとえば8ビットの乱
数発生回路は、“00000000”から“11111
111”までの数値を発生する。最上位ビットの左側を
小点数の位置とすると、十進数の表現では0から0.9
99・・・、すなわち0以上1未満の数値を出力してい
ることになる。後の説明のため、このような乱数を「振
幅1の乱数」と呼ぶことにする。
【0003】図5は乱数発生回路として非常によく用い
られるポリノミナルカウンタの例である。簡単のため4
ビットの場合を示している。図6のタイミングチャート
に示したように、クロック信号CKの立ち上がりに同期
して、R3,R2,R1,R0からなる4ビットの乱数
が順次更新される。この乱数は“0000”から“11
10”までの数値となる。“1111”が出力されない
のはポリノミナルカウンタの回路上の制約事項で、“1
111”が禁止状態だからである。“1111”を出力
しないように意図したものではない。同図から、“11
11”を除くすべての0,1の組み合わせが、それぞれ
1回ずつ発生してリセット直後の状態に戻ることが示さ
れる。一般に、乱数発生回路は、すべての0,1の組み
合わせを発生するように構成されている。すなわち振幅
1の乱数を発生する。
【0004】一方、乱数の応用では、常に振幅1の乱数
が必要とされるとは限らない。オーディオ信号処理にお
けるディザの例を説明する。ディザとは、微小振幅の信
号が、量子化によってノイズとなってしまうことを避け
るため、微小振幅の雑音を印加することである。図7の
ように最下位のビット(LSB)と同程度の振幅で変化
するような微小信号を量子化すると、同図(a)のよう
に、信号の変化に比べて量子化後の変化が大きくなって
しまう。これを同図(b)のように、あらかじめディザ
を付加して量子化すると、1ビット分の振幅に満たない
変化によっても符号が変化し、聴感上改善される。ディ
ザの使用目的から明かのように、ディザの振幅は、1ビ
ット分の振幅より小さい値が用いられる。また、ディザ
として印加する雑音が特定の音として認識されないよう
に、ホワイトノイズ、すなわち乱数が使用される。
【0005】具体的な例として、高能率オーディオ符号
化の1方式であるドルビーAC−3方式ではオーディオ
信号をmantissa(仮数)とexponent(指数)に分けて処
理するが、そのうちのmantissaへのビット割り当てが0
のとき、0の代わりにディザとして乱数を用いることが
示されている。このとき、+0.707〜−0.707
の値を乱数を用いることが指示されている(文献;Unit
ed States Advanced Television Systems Committee
“Digital Audio Compression (AC-3) ATSC STANDARD”
Doc. AC/52 10 Nov. 94, p66) 。すなわち振幅が0.7
07(1/2の平方根)の乱数が必要である。振幅0.
707の乱数を発生することが従来困難であったことは
公知で、同文献では、より実現容易な振幅である0.7
5または0.5で代用することが示唆されている。
【0006】ここで、理想値である0.707、代用値
であつ0.75および0.5の振幅を持つ乱数を発生す
る従来の方法を説明する。振幅0.707の乱数を発生
するには、図8のように、乱数発生回路101で発生し
た振幅1の乱数と、定数発生回路102で発生した定数
0.707とを、乗算回路103に入力して両者を乗じ
ることにより、振幅0.707の乱数を得る。この方法
では理想通りの振幅が得られる反面、乗算回路103が
必要であり、回路規模が極めて大きくなってしまう欠点
がある。
【0007】振幅0.75の乱数を発生するには、図9
のように、乱数発生回路201で発生した振幅1の乱数
を、シフト回路202,203で1ビットおよび2ビッ
ト右シフトしてそれぞれ振幅0.5および0.25と
し、加算回路204でこれらを加算して振幅0.75の
乱数とする。この方法では、理想値0.707に対し、
得られる振幅が0.75であり、約6%の誤差がある。
また、加算回路204を要するので、乗算回路ほどでは
ないが、回路規模が大きい。
【0008】振幅0.5の乱数は、図10のように乱数
発生回路301で発生した振幅1の乱数を、シフト回路
302で1ビット右シフトすることで得られる。この方
法では回路規模は小さいものの、理想値0.707に対
して、得られる振幅が0.5であり、約30%もの誤差
がある。
【0009】このように従来の乱数発生装置で、振幅1
以外の乱数を得るには、振幅1の乱数を発生する回路
と、乱数の振幅を変更する回路とを組み合わせて発生し
た。このとき、回路規模の縮小と振幅誤差の減少とは相
反する関係にあり、両者を共に改善することができなか
った。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
乱数発生装置では、振幅1の乱数をまず発生させ、これ
に演算を施すことによって所望振幅の乱数を得ていた。
任意の振幅を精度よく実現するためには大規模な演算回
路が必要であり、これを避けて演算回路を簡易なものに
すると振幅に誤差を生じる。回路規模を小さく、かつ振
幅の精度もよい乱数発生装置を構成することはできなか
った。
【0011】本発明は、演算回路を必要とせず、回路規
模が小さく、しかも、誤差のない所望の振幅の乱数を得
る方法と装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の乱数発生装置
は、クロックパルスに同期して動作し、要求信号にした
がって所定語長の乱数を発生する乱数発生装置におい
て、前記乱数発生装置が、1つの動作パルスの入力によ
って所定語長の乱数を1つ発生するための乱数発生回路
と、前記乱数が所定数より小さいか否かを判定し比較結
果信号を出力するための比較回路と、前記要求信号と、
前記比較結果信号と、前記クロックパルスとを入力し、
前記要求信号によって前記動作パルスを発生するととも
に、前記乱数が所定数より大きいか又は等しいときは比
較結果信号が偽となり前記クロックパルスによっても前
記動作パルスを発生するように構成した論理回路とを有
する。
【0013】そして、乱数発生回路が、所定語長と同数
の記憶素子を従属接続し、記憶素子の出力の組み合わせ
論理を、従属接続された記憶素子の最初の1つの素子の
入力にフィードバックするポリノミナルカウンタ回路で
ある乱数発生装置とすることができる。
【0014】さらに、論理回路が、比較結果信号の反転
論理とクロックパルスとの論理積を出力する論理積回路
と、論理積回路の出力と要求信号との論理和を出力する
論理和回路と、を含むことができる。
【0015】そしてさらに本発明は、所定語長の乱数を
発生する発生過程と、乱数が所定値より小さいか否かを
判定する判定過程と、判定過程における判定結果が偽の
ときは前記発生過程と前記判定過程とを繰り返す繰り返
し過程と、からなる乱数発生方法を提供するものであ
る。
【0016】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態を示す
ブロック図である。リセットパルス1は乱数発生回路6
を初期化する。要求パルス2は乱数の発生を要求するパ
ルスで、クロックパルス3が16回発生するごとに1回
ずつ発生する。
【0017】クロックパルス3はこの乱数発生装置を含
めた系全体の動作クロック信号である。アンド回路4は
要求パルス2入力のアンド回路である。オア回路5は要
求パルス2入力のオア回路である。乱数発生回路6は4
ビットのポリノミナルカウンタで、従来例の図5と同じ
ものである。
【0018】比較回路7は、4ビットの比較回路で、X
3,X2,X1,X0の4ビットからなる入力値Xと、
Y3,Y2,Y1,Y0の4ビットからなる比較値Yと
を比較し、X≧Yのときは端子Qからハイレベル、X<
Yのときはロウレベルを比較結果信号線8に出力する。
本実施の形態では、比較値Yとして、0.707を2進
数に変換した定数“1011”を入力している。したが
って入力値Xが0.707以上のときは比較結果信号線
8がハイレベル、0.707より小さいときはロウレベ
ルとなる。
【0019】Dフリップフロップ9は、4ビットのDフ
リップフロップで、要求パルス2の立ち上がりエッジに
同期して乱数発生回路6の出力R3,R2,R1,R0
を取り込み、r3,r2,r1,r0の4ビットからな
る乱数10を出力する。オア回路11は要求パルス2入
力のオア回路である。
【0020】
【実施例】次に本発明の1実施例について詳細に説明す
る。まず図2はタイミングチャートを参照して乱数発生
装置の動作を説明する。時刻t=1から10まではリセ
ットパルス1が1で、オア回路11の出力が1に固定さ
れる。したがってアンド回路4は、クロックパルス3を
そのまま出力する。要求パルス2はロウレベルであり、
この結果オア回路5はクロックパルス3と同じものを出
力し、乱数発生回路6に供給する。この結果乱数発生回
路6が初期化され、(R3,R2,R1,R0)=“0
000”となる。この数値は比較回路7に入力され、
“1011”より小さいため比較信号線8は0となる。
【0021】時刻t=11に要求パルス2が入力され、
Dフリップフロップ9は(R3,R2,R1,R0)の
値“0000”を記憶して乱数10として出力する。ま
た要求パルス2はオア回路5を通して乱数発生回路6に
供給されるので、乱数発生回路6は乱数を更新し(R
3,R2,R1,R0)=“1000”となる。この数
値は“1011”より小さいので比較信号線8は0のま
まである。
【0022】時刻t=43に次の要求パルス2が入力さ
れる。t=11のときと同様にDフリップフロップ9は
“1000”を記憶して乱数10として出力する。要求
パルス2はオア回路5を通して乱数発生回路6に供給さ
れ、乱数(R3,R2,R1,R0)=“1100”に
更新する。ここで、“1100”は“1011”より大
きいので、比較結果信号が偽であるとして、比較結果信
号線8が1となり、オア回路11の出力が1となる。こ
のためアンド回路4、オア回路5を通してクロックパル
ス3が乱数発生回路6に供給される。このことにより時
刻t=45にも再び乱数発生回路6の乱数値が更新さ
れ、(R3,R2,R1,R0)=“1110”とな
る。
【0023】このとき“1110”は“1011”より
大きいので、比較結果信号が偽となり、比較結果信号線
8が1となり、クロックパルス3が乱数発生回路6に供
給される。このことにより時刻t=48にもまた、乱数
発生回路6の乱数値が更新され、(R3,R2,R1,
R0)=“0111”となる。これは“1011”より
小さいので、比較結果信号線8が0となる。このことに
よりアンド回路4の一方の入力が0となるクロックパル
ス3が乱数発生回路6に供給されなくなるので、乱数発
生回路6は(R3,R2,R1,R0)=“0111”
の状態を保持する。
【0024】時刻t=75に次の要求パルス2が入力さ
れ、Dフリップフロップ9は“0111”を記憶して乱
数10として出力する。要求パルス2はオア回路5を通
して乱数発生回路6に供給され、乱数(R3,R2,R
1,R0)=“1011”に更新する。この数値が比較
回路7で“1011”と比較され、値が等しいので偽と
なり比較結果信号線8は1となり、クロックパルス3が
乱数発生回路6に供給される。このため時刻t=77に
も乱数発生回路6の乱数値が更新され、(R3,R2,
R1,R0)=“1101”となる。この値は“101
1”より大きいので、上記と同様にして、時刻t=79
に再び更新されて“0110”となり、これは“101
1”より小さいので、この状態を保持する。
【0025】このように乱数発生回路6が発生した乱数
(R3,R2,R1,R0)が“1011”以上のとき
は比較結果信号が偽となりクロックパルス3を乱数発生
回路6に供給して乱数を更新し、そうでない場合は保持
する。保持した数値を次の要求パルス2の入力時に記憶
して、これを乱数10として出力する。この結果乱数1
0は必ず“1011”より小さい。すなわち振幅0.7
07の乱数が得られた。図3は時刻t=460までの動
作タイミング図である。乱数10が“1011”より小
さい値、すなわち振幅0.707の乱数となっているこ
とが示される。
【0026】上述のように本発明では、乱数発生回路6
にわずかな論理回路を追加するだけで、振幅0.707
の乱数を発生でき、従来例のように大規模な演算回路を
追加したり、大きな振幅誤差を容認したりする必要はな
い。
【0027】なお、図1における比較回路7は、一般的
な比較回路の構成でもよいが、“1011”との大小を
判定する回路として図4の構成でもよい。比較回路7の
構成が極めて簡単であることが示される。
【0028】本実施例では振幅0.707の乱数を発生
する例を述べたが、比較回路7における比較値“101
1”を変更することで、他の振幅が実現できることは明
らかである。また簡単のため4ビットの乱数を発生する
例を述べたが、任意のビット数に応用できる。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明の乱数発生装
置は、乱数発生回路から出力される乱数のうち、所望振
幅より小さいものだけを選択するようにしたので、必ず
所望振幅の乱数が得られ、振幅誤差はない。また、演算
を施して振幅を変更することはないので、演算回路を必
要とせず、そのため回路規模が小さい。したがって、回
路規模が小さく、誤差のない所望振幅の乱数が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の乱数発生装置の1実施の形態を示すブ
ロック図。
【図2】本発明の1実施例の動作タイミングチャート。
【図3】本発明の1実施例の動作タイミングチャート。
【図4】本発明の1実施例の比較回路の構成例。
【図5】ポリノミナルカウンタのブロック図。
【図6】ポリノミナルカウウンタの動作タイミングチャ
ート。
【図7】(a),(b)ディザの説明図。
【図8】従来例のブロック図。
【図9】従来例のブロック図。
【図10】従来例のブロック図。
【符号の説明】
1 リセットパルス 2 要求パルス 3 クロックパルス 4 アンド回路 5 オア回路 6 乱数発生回路 7 比較回路 8 比較結果信号線 9 Dフリップフロップ 10 乱数 11 オア回路 101 乱数発生回路 102 定数発生回路 103 乗算回路 201 乱数発生回路 202 シフト回路 203 シフト回路 204 加算回路 301 乱数発生回路 302 シフト回路

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロックパルスに同期して動作し、要求
    信号にしたがって所定語長の乱数を発生する乱数発生装
    置において、 前記乱数発生装置が、1つの動作パルスの入力によって
    所定語長の乱数を1つ発生するための乱数発生回路と、
    前記乱数が所定数より小さいか否かを判定し比較結果信
    号を出力するための比較回路と、前記要求信号と、前記
    比較結果信号と、前記クロックパルスとを入力し、前記
    要求信号によって前記動作パルスを発生するとともに、
    前記比較結果信号が偽のときは前記クロックパルスによ
    っても前記動作パルスを発生するように構成した論理回
    路とを有することを特徴とする乱数発生装置。
  2. 【請求項2】 乱数発生回路が、前記所定語長と同数の
    記憶素子を従属接続し、前記記憶素子の出力の組み合わ
    せ論理を、従属接続された前記記憶素子の最初の1つの
    素子の入力にフィードバックするポリノミナルカウンタ
    回路であることを特徴とする請求項1記載の乱数発生装
    置。
  3. 【請求項3】 論理回路が、比較結果信号の反転論理と
    クロックパルスとの論理積を出力する論理積回路と、 前記論理積回路の出力と要求信号との論理和を出力する
    論理和回路と、 を含むことを特徴とする請求項1または2記載の乱数発
    生装置。
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