JP2836090B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JP2836090B2 JP2836090B2 JP1082461A JP8246189A JP2836090B2 JP 2836090 B2 JP2836090 B2 JP 2836090B2 JP 1082461 A JP1082461 A JP 1082461A JP 8246189 A JP8246189 A JP 8246189A JP 2836090 B2 JP2836090 B2 JP 2836090B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample cell
- hole
- measurement
- sample
- cell holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/04—Batch operation; multisample devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、分光光度計、特にその試料室内に複数個の
試料セルを保持する移動可能な試料セルホルダの位置制
御を行うセルポジショナに関する。
試料セルを保持する移動可能な試料セルホルダの位置制
御を行うセルポジショナに関する。
[従来の技術] 従来のセルポジショナにおいては、第3図に示すよう
に、ホトインタラプタ5と位置検出板6とから成る位置
検出器を、試料セルホルダ1の駆動系(駆動モータ7か
らの電力伝達部8)に設け、位置検出板6がホトインタ
ラプタ5の光束をさえぎる点を原点として、試料セル2
の間隔1を既知とするオープンループの制御で、試料セ
ル2の位置検出制御をおこなっていた。
に、ホトインタラプタ5と位置検出板6とから成る位置
検出器を、試料セルホルダ1の駆動系(駆動モータ7か
らの電力伝達部8)に設け、位置検出板6がホトインタ
ラプタ5の光束をさえぎる点を原点として、試料セル2
の間隔1を既知とするオープンループの制御で、試料セ
ル2の位置検出制御をおこなっていた。
[発明が解決しようとする課題] 従来のセルポジショナにあっては、分光光度計の測定
光と試料セルの中心を一致させるためには、位置検出器
(ホトインタラプタと位置検出板)の取り付け位置を試
料セルホルダの移動方向に正確に調整する必要があった
が、この調整は試料セルホルダの停止位置と測定光の位
置とを確認しながら行わなければならなかったので、甚
だ面倒であったのみならず、分光光度計の光学系などの
調整誤差範囲内のバラツキによってはそれぞれの装置ご
とに再調整を行わなければならないという問題点があっ
た。
光と試料セルの中心を一致させるためには、位置検出器
(ホトインタラプタと位置検出板)の取り付け位置を試
料セルホルダの移動方向に正確に調整する必要があった
が、この調整は試料セルホルダの停止位置と測定光の位
置とを確認しながら行わなければならなかったので、甚
だ面倒であったのみならず、分光光度計の光学系などの
調整誤差範囲内のバラツキによってはそれぞれの装置ご
とに再調整を行わなければならないという問題点があっ
た。
本発明は、位置検出器を必要とせず、したがって同検
出器の位置調整が不要で、たとえ分光光度計の測定光束
の位置バラツキがあってもつねに正確にその光束位置に
試料セル(ホルダ)を位置決めすることができるセルポ
ジショナを得ることを目的としている。
出器の位置調整が不要で、たとえ分光光度計の測定光束
の位置バラツキがあってもつねに正確にその光束位置に
試料セル(ホルダ)を位置決めすることができるセルポ
ジショナを得ることを目的としている。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本発明のセルポジショナ
においては、試料セルホルダの側面に、各試料セル位置
に対応して穿設されている測定用穿孔より小径の位置検
出用透孔を穿設し、該穿孔を透過した測定光を測定用検
出器で測光するものである。
においては、試料セルホルダの側面に、各試料セル位置
に対応して穿設されている測定用穿孔より小径の位置検
出用透孔を穿設し、該穿孔を透過した測定光を測定用検
出器で測光するものである。
位置検出用透孔を穿設する位置は、試料セルホルダ側
面の適当な箇所とすることが可能であるが、測定用透孔
との間に十分な相対位置精度をもって穿設することが必
要であることは勿論である。
面の適当な箇所とすることが可能であるが、測定用透孔
との間に十分な相対位置精度をもって穿設することが必
要であることは勿論である。
位置検出用透孔の径は、各試料セルに対応して穿設さ
れた測定用透孔よりも十分小さくすることが望ましい。
れた測定用透孔よりも十分小さくすることが望ましい。
また、位置検出用透孔の数は、1個でも十分である
が、より正確を期するためには各測定用透孔(試料セ
ル)に対応して複数個設ければよい。
が、より正確を期するためには各測定用透孔(試料セ
ル)に対応して複数個設ければよい。
さらに、各径の異なる位置検出用透孔を複数個穿設す
れば、試料セルホルダの移動方向を検出することが可能
となり効果的である。
れば、試料セルホルダの移動方向を検出することが可能
となり効果的である。
そして、位置検出用透孔は、試料セルホルダをダイキ
ャスト成型、射出成型、機械加工等で成形することによ
り、あわせて精度よく加工することができる。
ャスト成型、射出成型、機械加工等で成形することによ
り、あわせて精度よく加工することができる。
[作 用] 上記のように構成されたセルポジショナを駆動して試
料セルホルダを移動させ、位置検出用透孔を透過した測
定光を測定用検出器で検出すれば、その位置を試料セル
ホルダの原点位置とする。
料セルホルダを移動させ、位置検出用透孔を透過した測
定光を測定用検出器で検出すれば、その位置を試料セル
ホルダの原点位置とする。
そして、同原点位置から最寄りの試料セルまでの間隔
及び試料セル間隔が予め分かっているので、試料セルホ
ルダを移動して試料セルを測定光中心と一致させて位置
決めすることは容易である。
及び試料セル間隔が予め分かっているので、試料セルホ
ルダを移動して試料セルを測定光中心と一致させて位置
決めすることは容易である。
[実施例] 実施例について図面を参照して説明すると、第1図に
おいて、セルポジショナは遮蔽された試料室内に4個の
角型試料セル2を保持する試料セルホルダ1と、試料セ
ルホルダ1の底部に固定され、試料室前板3から突出し
た動力伝達部8を介して試料セルホルダ1を矢印A方向
に駆動する駆動モータ7とから成り、試料セルホルダ1
の側面には、各試料セル2に対応して穿設した測定用透
孔12の他に位置検出用透孔11を穿設する。
おいて、セルポジショナは遮蔽された試料室内に4個の
角型試料セル2を保持する試料セルホルダ1と、試料セ
ルホルダ1の底部に固定され、試料室前板3から突出し
た動力伝達部8を介して試料セルホルダ1を矢印A方向
に駆動する駆動モータ7とから成り、試料セルホルダ1
の側面には、各試料セル2に対応して穿設した測定用透
孔12の他に位置検出用透孔11を穿設する。
この位置検出用透孔11の径は、測定用透孔12の径より
も十分小さくする。こうすることにより、試料セルホル
ダ1を矢印A方向に移動させながら位置検出用透孔11及
び測定用透孔12を透過した分光光度計の測定光を測定用
検出器4で受光測定すると、第2図に示すとおり、位置
検出用透孔11については時間幅T1,t1で出力値P1とし
て、測定用透孔12については時間幅T2,t2で出力値P2と
してそれぞれ測光出力が得られ、時間幅または/及び出
力値を比較することにより2種の透孔11,12を容易に判
別することができる。
も十分小さくする。こうすることにより、試料セルホル
ダ1を矢印A方向に移動させながら位置検出用透孔11及
び測定用透孔12を透過した分光光度計の測定光を測定用
検出器4で受光測定すると、第2図に示すとおり、位置
検出用透孔11については時間幅T1,t1で出力値P1とし
て、測定用透孔12については時間幅T2,t2で出力値P2と
してそれぞれ測光出力が得られ、時間幅または/及び出
力値を比較することにより2種の透孔11,12を容易に判
別することができる。
試料セルホルダ1の原点位置は、位置検出用透孔11を
検出した位置に定めるが、より正確には該透孔11からの
測光出力時間幅t1の中間点を求めるのがよい。
検出した位置に定めるが、より正確には該透孔11からの
測光出力時間幅t1の中間点を求めるのがよい。
試料セルホルダ1は例えばダイキャスト成型で成型す
るならば、測定用透孔12との間に(間隔l2)十分な相対
位置精度をもって位置検出用透孔11を穿設することがで
きる。
るならば、測定用透孔12との間に(間隔l2)十分な相対
位置精度をもって位置検出用透孔11を穿設することがで
きる。
なお、試料セルホルダ1の原点位置検出のための上記
した測定用検出器4からの測光出力の比較、原点位置の
算出、試料セルホルダ1の駆動などは、分光光度計の制
御部10に通常内蔵されている測光用の高度のA/D変換
器、データ処理機能などを利用する。
した測定用検出器4からの測光出力の比較、原点位置の
算出、試料セルホルダ1の駆動などは、分光光度計の制
御部10に通常内蔵されている測光用の高度のA/D変換
器、データ処理機能などを利用する。
[発明の効果] 本発明は、以上説明したように構成されているので、
たとえ分光光度計の光束位置にバラツキがあっても、そ
の測定光の位置に試料セルホルダを正確に位置決めする
ことができる。勿論、そのために、特別の位置検出器を
必要とせず、したがって位置検出器の調整も不要であ
る。
たとえ分光光度計の光束位置にバラツキがあっても、そ
の測定光の位置に試料セルホルダを正確に位置決めする
ことができる。勿論、そのために、特別の位置検出器を
必要とせず、したがって位置検出器の調整も不要であ
る。
第1図は本発明のセルポジショナを示すもので、(A)
は平面図、(B)は側面図、第2図は検出器の測光出力
を示す図、第3図は従来のセルポジショナを示すもの
で、(A)は平面図、(B)は側面図である。 1……試料セルホルダ、2……試料セル、4……測定用
検出器、7……駆動モータ、8……動力伝達部、10……
分光光度計の制御部、11……位置検出用透孔、12……測
定用透孔
は平面図、(B)は側面図、第2図は検出器の測光出力
を示す図、第3図は従来のセルポジショナを示すもの
で、(A)は平面図、(B)は側面図である。 1……試料セルホルダ、2……試料セル、4……測定用
検出器、7……駆動モータ、8……動力伝達部、10……
分光光度計の制御部、11……位置検出用透孔、12……測
定用透孔
Claims (1)
- 【請求項1】遮蔽された試料室内に複数個の試料セルを
保持する移動可能な試料セルホルダの側面に、各試料セ
ル位置に対応して穿設された測定用透孔より小径の位置
検出用透孔を穿設し、該穿孔を透過した測定光を分光光
度計が本来有する分光測定用の測定用検出器で測光し
て、試料セルホルダの位置を検出制御することを特徴と
する分光光度計。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1082461A JP2836090B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 分光光度計 |
US07/500,972 US5059025A (en) | 1989-03-31 | 1990-03-29 | Spectrophotometer |
EP90106162A EP0390192B1 (en) | 1989-03-31 | 1990-03-30 | Spectrophotometer |
DE69006528T DE69006528T2 (de) | 1989-03-31 | 1990-03-30 | Spektrophotometer. |
CN90101894A CN1021848C (zh) | 1989-03-31 | 1990-03-31 | 分光光度计 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1082461A JP2836090B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 分光光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02259547A JPH02259547A (ja) | 1990-10-22 |
JP2836090B2 true JP2836090B2 (ja) | 1998-12-14 |
Family
ID=13775146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1082461A Expired - Lifetime JP2836090B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 分光光度計 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5059025A (ja) |
EP (1) | EP0390192B1 (ja) |
JP (1) | JP2836090B2 (ja) |
CN (1) | CN1021848C (ja) |
DE (1) | DE69006528T2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0678978B2 (ja) * | 1990-05-25 | 1994-10-05 | スズキ株式会社 | 凝集パターン検出装置 |
JPH087137B2 (ja) * | 1990-10-24 | 1996-01-29 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
JPH0592701U (ja) * | 1992-04-22 | 1993-12-17 | 株式会社キング製作所 | 分光分析用セル |
GB9618923D0 (en) * | 1996-09-11 | 1996-10-23 | Holley John E F | Scanning device |
EP0863395B1 (en) * | 1997-02-07 | 2005-06-15 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Surface plasmon sensor |
DE29800213U1 (de) | 1998-01-09 | 1998-03-05 | Jeske, Uwe, 73635 Rudersberg | Vorrichtung zum Kalibrieren und zur Kalibrierkontrolle für Photometer-Prozeßmeßtechnik |
WO1999041578A1 (en) * | 1998-02-12 | 1999-08-19 | Hamilton Thorne Research | Colorimeter and assay device |
US7510681B2 (en) | 2003-10-28 | 2009-03-31 | BIO MéRIEUX, INC. | Transport system for test sample carrier |
JP4211034B2 (ja) * | 2003-11-27 | 2009-01-21 | 孝雄 津田 | インジェクター |
JP3885058B2 (ja) | 2004-02-17 | 2007-02-21 | 株式会社日立製作所 | 植物成育解析システム及び解析方法 |
CN103185696B (zh) * | 2011-12-27 | 2015-07-22 | 国家纳米科学中心 | 一种固体样品载物台、分光光度计及lspr检测方法 |
US9927336B2 (en) * | 2012-06-04 | 2018-03-27 | Cornell University | Apparatus and methods for low temperature small angle X-ray scattering |
CN103630497A (zh) * | 2012-08-21 | 2014-03-12 | 杭州希玛诺光电技术有限公司 | 一种用于水质分析仪表的移动式参比光路装置 |
CN103115883B (zh) * | 2013-01-24 | 2016-03-02 | 重庆大学 | 微型生化检测仪样品检测系统 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3523737A (en) * | 1964-12-16 | 1970-08-11 | Gilford Instr Labor Inc | Cuvette positioning device for optical density analytical apparatus |
US3544225A (en) * | 1967-12-13 | 1970-12-01 | Berkeley Scient Lab Inc | Peak reading optical density measuring system |
DE2655969A1 (de) * | 1976-12-10 | 1978-06-22 | Thomae Gmbh Dr K | Automatisches biophotometer zur kontinuierlichen messung photometrisch erfassbarer prozesse |
DE3405292A1 (de) * | 1984-02-15 | 1985-09-05 | Eppendorf Gerätebau Netheler + Hinz GmbH, 2000 Hamburg | Verfahren zum durchfuehren von probenanalysen sowie rack zur durchfuehrung des verfahrens |
JPS6111631A (ja) * | 1984-06-28 | 1986-01-20 | Fuji Photo Film Co Ltd | 化学分析スライド収納カ−トリツジの停止位置検出装置 |
FR2608281B1 (fr) * | 1986-12-11 | 1989-02-17 | Commissariat Energie Atomique | Procede de mesure de rayonnement lumineux |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1082461A patent/JP2836090B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-03-29 US US07/500,972 patent/US5059025A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-30 DE DE69006528T patent/DE69006528T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-30 EP EP90106162A patent/EP0390192B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-31 CN CN90101894A patent/CN1021848C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02259547A (ja) | 1990-10-22 |
DE69006528T2 (de) | 1994-09-29 |
CN1021848C (zh) | 1993-08-18 |
CN1046041A (zh) | 1990-10-10 |
EP0390192A1 (en) | 1990-10-03 |
EP0390192B1 (en) | 1994-02-09 |
US5059025A (en) | 1991-10-22 |
DE69006528D1 (de) | 1994-03-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2836090B2 (ja) | 分光光度計 | |
EP0422545B1 (en) | Sheet thickness measuring apparatus | |
KR890005596A (ko) | 가동부재의 제한된 영역상의 위치 조정 피드백 방법 및 장치 | |
JPH0513445B2 (ja) | ||
US3779647A (en) | Interferometric device for indicating displacement along one dimension during motion along another dimension | |
US5164896A (en) | Positioning system | |
JPH0687067B2 (ja) | 磁気検出装置 | |
EP0499778A2 (en) | Image processing apparatus | |
JPS60169706A (ja) | 表面形状測定装置 | |
JPH1026515A (ja) | 段差測定装置 | |
JPH11281319A (ja) | 光学素子の位置設定装置、及び光学素子の位置設定方法 | |
JPH07294201A (ja) | センサ配置間隔設定治具 | |
US5337147A (en) | Methods and control systems for registering a datum position between two relatively movable components of a machine tool | |
JP2859655B2 (ja) | ウェーハ検出装置 | |
JP3168283B2 (ja) | 回転量検出装置 | |
CN117537732A (zh) | 一种方形钢构件挠度激光测量工装及检测方法 | |
JP2002148074A (ja) | 光学式位置検出装置 | |
SU1490471A1 (ru) | Устройство дл контрол несоосности цилиндра относительно базового отверсти | |
US3815999A (en) | Dynamic load force calibrating system and a method for its use in a motion test system | |
JPS60176110U (ja) | 位置計測装置 | |
JPH033176B2 (ja) | ||
JPH02112724A (ja) | エンコーダ | |
SU1232945A1 (ru) | Фотоэлектрическое устройство дл контрол внутреннего диаметра обечаек | |
SU1164755A1 (ru) | Устройство дл учета деталей перемещаемых конвейером | |
JPS5822086Y2 (ja) | 金属板の幅変位検出装置 |