JP2829052B2 - クロマトグラフイー用データ処理方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は液体クロマトグラフイー、ガスクロマトグラ
フイー、キヤピラリーゾーンエレクトロフオレシス（CZ
E）等のクラマトグラフイーのデータ処理方法に関す
る。

〔従来の技術〕

従来の臨床用分析装置は、測定結果を数字で出力し、
正常値範囲を表わす場合は測定結果に併記するものであ
つた。

また、クロマトグラフイー技術を用いた分析装置で
は、例えば特開昭56−63255号公報のようにクロマトグ
ラムを出力するだけであり、そのクロマトグラムと正常
値を直接比較できるようにはなつていなかつた。

この公知例では健常者の上限値と下限値にそれぞれ対
応するクロマトグラムを重ね描きしている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、上記従来技術では、クロマトグラフの
ピークが許容幅にあるのか視覚的に判断できなかった。

本発明の目的は、クロマトグラフを視るだけで許容内
か否か判別し得るクロマトグラフィー用データ処理方法
を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明では、濃度とピー
ク高さの関係を求め（ステップａ）、成分の上限濃度か
らステップａで求めた関係に基づいてピーク高さを求め
（ステップｂ）、ベースライン及びステップｂで求めた
ピーク高さに基づいて上限ピーク高さを求め（ステップ
ｃ）、上記成分の下限濃度からステップａで求めた関係
に基づいてピーク高さを求め（ステップｄ）、ベースラ
イン及びステップｄで求めたピーク高さに基づいて下限
ピーク高さを求め（ステップｅ）、試料を分析して得ら
れたクロマトグラフを表示し（ステップｆ）、ステップ
ｃで求めた上限ピーク高さ及び上記成分のピークの保持
時間を含みベースラインの傾きに沿った直線で保持時間
の許容範囲を表示し（ステップｇ）、ステップｅで求め
た下限ピーク高さ及び上記成分のピークの保持時間を含
みベースラインの傾きに沿った直線でベースラインより
ピーク側の少なくとも２個所でステップｆ表示のクロマ
トグラフと交差するように保持時間の許容範囲を表示す
る（ステップｈ）ように構成した。

〔作用〕

上記のように構成したので、ピーク高さ及び成分のピ
ークの保持時間を含みベースラインの傾きに沿った、保
持時間の許容範囲を表示する直線、及び、下限ピーク高
さ及び成分のピークの保持時間を含みベースラインの傾
きに沿ったベースラインよりピーク側の少なくとも２個
所でクロマトグラフと交差するよう保持時間の許容範囲
を表示する直線によって囲まれた部分により、視覚的に
ピークが許容範囲にあるか判別可能となる。

〔実施例〕

第２図は本発明の実施例に適用されるハード構成を示
す図である。図において、１はクロマトグラフ検出器、
２は信号のA/D変換器、３は中央処理器、４はパラメー
タ格納器、５は出力機器、６は周辺機器接続器である。
クロマトグラフによつて分離分析された混合物試料は各
成分ピークが順次クロマトグラフ検出器１に到達し、ク
ロマトグラムとしてのアナログ信号を生ずる。クロマト
グラフ検出器１からのアナログ信号はA/D変換器２を経
てデジタル信号に変換され、周辺機器接続器６を経て、
中央処理器３に入る。そして、所定の形式のデータに変
換され、出力機器８により出力される。そしてこの動作
がくり返される。中央処理器３は、この動作を所定の時
間で停止し、クロマトグラムを得る。次に中央処理器３
は各ピークの保持時間の許容範囲と各ピークの高さの正
常範囲をパラメータ格納容器４より呼び出し、このクロ
マトグラムの上に第１図のように保持時間の許容範囲と
ピーク高さの正常範囲を表わす平行四辺形を重ね描きす
る。（以下、単にこれを平行四辺形と呼ぶ。）以下本発
明の実施例を、図面を参照して説明する。

第３図は従来方法の一例である。カテコールアミンの
クロマトグラムとそのピークの面積か高さから計算され
た濃度が表示されている。従来ヒト血漿中の正常な濃度
範囲を示す場合は第３図のように計算された濃度と比較
できるように正常範囲の数値が併記されていた。

本発明では数値により正常範囲を示す以外に第１図の
ようにクロマトグラム上にも正常範囲を表示し、視覚的
に各検体が正常か異常か即座に判断することができる。
つまり各ピークの頂点がそれぞれ平行四辺形に入つてい
れば正常である。ここで、平行四辺形は次のように求め
る。平行四辺形の高さについてはまず、濃度既知の標準
試料により各成分の濃度対各ピーク高さの関係を表わす
検量線をそれぞれ求める。各成分の正常値の上限濃度を
対応するピークの高さと下限濃度を示すそれはそれぞれ
の検量線に基づき換算される。実際プロツトされる上限
と下限の平行四辺形の高さはベースラインにこの検量線
から換算様れた上限と下限の高さを加えたものになる
（第４図）。次に平行四辺形の小平成分の長さは標準試
料の保持時間を中心にして保持時間の許容範囲を用い
る。（第４図）平行四辺形は垂直の辺を省略し第４図の
ように表わすこともできる。第１図に示した平行四辺
形、第４図に示したような線分による表わし方以外に、
第５図のように各線分を破線で接続する表示方法や、第
６図のように各線分を滑らかな曲線で接続し正常範囲に
斜線を引く方法等がある。またピークの頂点が正常域に
入つていない場合には、ピークの頂点等に＊等のマーク
を入れることもできる。（第６図） 第７図では上下限の線分を標準試量の保持時間のとこ
ろで垂直な直線で結んだ場合である。第８図は標準試料
から求まる上下限の高さのピーク形を保持時間の許容範
囲内で左右に変動させた時にできる軌跡の輪郭を破線で
表わした場合である。第９図は保持時間として実際のピ
ークの保持時間をそのまま採用し、ピーク高さの上下限
だけを標準試料のピーク形を用いて破線により表示した
場合である。

最後に内部標準物質等保持時間t_Rとピーク高さｈがあ
る値に期待できる場合は、それらの値t_Rとｈを中心とし
てそれぞれの標準偏差±σ_ｔと±σ_ｈで囲まれる平行四
辺形をクロマトグラムに重ねて描くことができる。さら
に±２σ_ｔと２±σ_h,3σ_ｔと３±σ_ｈで囲まれる平行
四辺形も描くことができる。（第10図）このクロマトグ
ラムでは、測定された実際のピークがどの程度変位して
いるかわかる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、クロマトグラムに不慣れな人にも、
そのピークの意味を伝えることができる効果がある。

また、図によりピークの範囲を表示できるので、数量
的に視覚的にその意味を理解することに役立つ効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のクロマトグラムを示す図、
第２図は本発明の各実施例に適用されるハード構成を示
す図、第３図は従来のクロマトグラム例を示す図、第４
図はリテンシヨンタイムの許容範囲とピーク高さの正常
範囲を示した図、第５図から第８図は本発明の実施例の
クロマトグラムを示す図、第９図はピーク高さの上下限
のみをピークの形を用いて表わした図、第10図は期待さ
れるピークの大きさが一定の場合に標準偏差を用いてピ
ークの変位を示した図である。 １……クロマトグラフ検出器、２……A/D変換器、３…
…中央処理器、４……パラメータ格納器、５……出力機
器、６……周辺機器接続器。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】以下の（ａ）から（ｈ）のステップを有す
   ることを特徴とするクロマトグラフィー用の処理方法、 （ａ）濃度とピーク高さの関係を求めるステップ； （ｂ）成分の上限濃度からステップａで求めた関係に基
   づいてピーク高さを求めるステップ； （ｃ）ベースライン及びステップｂで求めたピーク高さ
   に基づいて上限ピーク高さを求めるステップ； （ｄ）上記成分の下限濃度からステップａで求めた関係
   に基づいてピーク高さを求めるステップ； （ｅ）ベースライン及びステップｄで求めたピーク高さ
   に基づいて下限ピーク高さを求めるステップ； （ｆ）試料を分析して得られたクロマトグラフを表示す
   るステップ； （ｇ）ステップｃで求めた上限ピーク高さ及び上記成分
   のピークの保持時間を含みベースラインの傾きに沿った
   直線で保持時間の許容範囲を表示するステップ； （ｈ）ステップｅで求めた下限ピーク高さ及び上記成分
   のピークの保持時間を含みベースラインの傾きに沿った
   直線で、ベースラインよりピーク側の少なくとも２個所
   でステップｆ表示のクロマトグラフと交差するように、
   保持時間の許容範囲を表示するステップ。