JP2001336928A - 表面粗さ形状測定機の測定条件自動設定装置 - Google Patents

表面粗さ形状測定機の測定条件自動設定装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 表面粗さ形状測定の測定条件が容易に設定で
きる測定条件設定装置を安価に提供する。 【解決手段】 作業者が、測定種別と算出規格を指定す
る入力手段21と、該当する各種パラメータが表示され
る表示部と、その中から必要なパラメータを指定すると
そのパラメータが設定されるパラメータ設定部23と、
その後ワークを測定(仮測定)すると、指定されたパラ
メータと測定データから算出されたパラメータ値とによ
ってカットオフ値を自動設定するカットオフ値設定部2
6とを設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ワークの表面粗
さ、断面形状、うねり等(以下、まとめて「表面粗さ形
状」という。)を求める表面粗さ形状測定機の測定条件
自動設定装置に関する。
【従来の技術】
【0002】図3に一般的な表面粗さ形状測定機の測定
部40を示す。図3に示すように、ベース41に立設さ
れたコラム42に送り装置43が設けられ、触針45を
有し触針45のZ方向(鉛直方向)の変位を検出する検
出器44が、送り装置43にX方向(水平方向)移動自
在に設けられている。送り装置43には検出器44のX
方向の移動量を検出するスケールが内蔵されている。こ
れによって、ワークWの測定位置Waに触針45を当接
した状態で検出器44をX方向に移動させると、触針4
5のZ方向の変位が検出器44で検出され、検出器44
のX方向の移動量が送り装置43のスケールで検出され
て、ワークWの測定データが得られる。
【0003】この場合、図4に示すように、ワークWは
一般的に、解析し評価する部分である評価長さLnの前
後に予備駆動長さLpを加えた全測定長さLtが測定さ
れる。なお、図4に示した基準長さLは粗さ形状を計算
するときの基本単位となる長さで、評価長さLnは基準
長さLの整数倍に設定される。また、得られた評価長さ
Lnの部分の測定データは、後述する本発明の実施の形
態の中で説明するように、測定データ解析部で解析され
るが、解析結果は主としてパラメータを使用して表わさ
れる。パラメータは表面粗さ形状の特性を表すもので算
出規格ごとに各種設定されており、表面粗さは「Ra
5、Ry 15」等と表わす。本明細書では記号部分(R
a3Ry 等)を「パラメータ」、数値部分(5、15等)
を「その値」又は「パラメータ値」といい、両方をまと
めていうときは「パラメータ及びその値」と記述する。
【0004】ところで、表面粗さ形状測定機ではワーク
測定に当たって、また、測定して得られた測定データの
解析に際して各種の測定条件をあらかじめ設定しておく
必要がある。測定条件としては次のようなものがある。 (イ)測定種別(表面粗さ測定、断面形状測定、うねり
測定等) (ロ)算出規格(解析の基準となる規格で、本発明では
JIS、DIN、ISO、ANSIを対象とするが、特
にJISについては1982年版と1994年版の2種
類を対象とし、それぞれJIS−1982、JIS−1
994と表わす。) (ハ)パラメータの種類 (ニ)測定レンジ(検出器44のZ方向検出可能範囲) (ホ)測定速度(検出器44のX方向移動速度) (ヘ)カットオフ値(粗さとうねりを分けるための基準
波長) (ト)評価長さLn (チ)傾斜補正方法(最小二乗直線補正、最小二乗多項
式曲線補正、スプライン曲線補正等) (リ)カットオフフィルタの種類(JIS−1982で
は2CR(非補償)又は2CR(補償)、その他ではガ
ウシアン) (ヌ)短波長カットオフフィルタ(触針先端半径による
微細波長領域の誤差の影響を除去するもの)の内容 (ル)戻り速度(測定後の検出器44のX方向戻り速
度) (オ)リターン(触針45の当接位置から予備駆動長さ
分だけ戻って測定開始すること)設定の有無 (ワ)予備駆動長さLp
【0005】これらの中で、測定レンジ、測定速度、カ
ットオフ値、評価長さLnは、従来、次のようにして設
定していた。測定レンジは、大きい方が測定可能範囲が
広くなるが分解能が粗くなるため、あらかじめ手動で検
出器44を送りながら測定データの最大変位量を探り、
大きいレンジ(小さな倍率)から徐々に小さいレンジ
(大きい倍率)に切り替え設定する。また、測定速度
は、高速の方が測定時間が短くなるが、検出器44の検
出が追従できないと意味がないので、低速から徐々に速
度を上げていき、測定データの様子等から最適な速度を
設定する。
【0006】さらに、カットオフ値は、各算出規格で設
定方法が決められているが、いずれもパラメータ及びそ
の値によって設定されるものであり表面粗さ形状の大き
さがわからないと設定できないため、パラメータ及びそ
の値がわかっていないワークの場合は暫定的に測定し、
その測定データを見て設定する。そして、評価長さLn
は、一般的にカットオフ値を基準に設定されており、カ
ットオフ値の設定がされた後に設定する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】すなわち、表面粗さ形
状を正しく求めるためには、このように多くの測定条件
を設定しなければならない。表面粗さ形状測定に慣れた
熟練者にとっては問題はないことでも、不慣れな者にと
って、これらを理解し正確に設定するのはかなり困難な
作業である。測定条件の設定方法は通常、取扱説明書に
記載されているが、それを理解するのは簡単ではない。
熟練者が事細かに指導していくことが一般的である。し
たがって、不慣れな作業者が測定する場合には、測定条
件の設定に時間がかかったり、測定条件の設定が間違っ
たために測定のやり直しをしたりすることが多い。
【0008】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、表面粗さ形状測定の測定条件が容易に設定でき
る測定条件設定装置を安価に提供することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、作業者が測定の種別及び算出規格の指定等
をする入力手段と、前記入力手段で指定された測定種別
及び算出規格の両方に該当するパラメータの種類を抽出
するパラメータ抽出部と、前記抽出されたパラメータの
種類等を表示する表示部と、前記パラメータ抽出部で抽
出され前記表示部に表示されたパラメータの種類の中か
ら、作業者が前記入力手段で指定したパラメータの種類
を設定するパラメータ設定部と、あらかじめ設定された
仮の測定条件によってワークを測定し測定データを得る
測定部と、前記仮の測定条件及び設定された前記パラメ
ータの種類によって前記測定データを解析する測定デー
タ解析部と、前記解析された結果によって、あらかじめ
設定された「パラメータの種類とカットオフ値との関
係」の中から、設定された前記パラメータの種類及びパ
ラメータ値に該当するカットオフ値を選択し設定するカ
ットオフ値設定部と、から構成され、作業者が前記測定
種別及び算出規格を指定すると、指定された測定種別及
び算出規格の両方に該当するパラメータの種類を抽出し
て表示し、作業者が表示されたパラメータの種類の中か
ら使用するパラメータの種類を指定すると、指定された
パラメータの種類を設定し、作業者が予め設定されてい
る仮の測定条件でワークを測定すると、測定データを前
記仮の測定条件及び設定されたパラメータの種類で解析
し、該解析した結果によってカットオフ値を自動的に設
定することを特徴としている。即ち仮の測定条件で一度
ワークを測定し、その測定データを用いて正式な測定条
件を自動的に算出し設定するようにする。この場合、前
述した測定条件の中で、測定内容が変わるごとに設定し
直すことが多いのは測定レンジ、測定速度、カットオフ
値、評価長さLnで、この他の測定条件で傾斜補正方
法、カットオフフィルタの種類、短波長カットオフフィ
ルタの内容、戻り速度、リターン設定の有無、予備駆動
長さLpは変更することが少ない。
【0010】したがって、本発明では、測定レンジ、測
定速度、カットオフ値、評価長さLnを自動的に設定す
ることにした。これで通常の測定には十分効果があり、
これらに絞ることによって前記の目的を安価に解決する
ことができる。また、パラメータについてはかなり多く
の種類があり、その選定にも時間がかかるので、本発明
では測定種別及び算出規格が指定されると両方に該当す
るパラメータのみを表示し、その中から作業者が指定で
きるようにする。なお、パラメータ及びその値は測定し
ようとするワークの図面に記載されているものを用いる
と、測定結果から直ちにワークの評価をすることができ
る。
【0011】さて、本発明では、作業者は、測定種別と
算出規格を指定するとともに、その結果抽出表示される
各種パラメータの中から必要なパラメータを選択して指
定し、その後ワークを測定(仮測定)する。すると、測
定データの最大変位量から測定レンジが、測定データの
最大傾斜から測定速度が設定される。また、パラメータ
及びその値からカットオフ値が設定され、設定されたカ
ットオフ値から評価長さLnが算出される。なお、パラ
メータの指定とともにその値も入力するとその値がカッ
トオフ値の算出等に使用されるが、パラメータ値を入力
しないと測定データからパラメータ値が算出される。
【0012】各測定条件は次のようにして設定する。 (イ)測定レンジは、あらかじめ設定された幾種類かの
測定レンジの中から、測定データの最大変位量(Z方
向)の2倍が測定可能で、最小のものを選択する。 (ロ)測定速度は、測定データの最大傾斜を求めるとと
もに、あらかじめ設定された速度をその最大傾斜で割っ
た値を算出し、その値以下で、あらかじめ設定された幾
種類かの測定速度の中から最大のものを選択する。 (ハ)カットオフ値は、あらかじめ設定された「パラメ
ータとカットオフ値との関係(パラメータをその値によ
っていくつかに区分し、各々にカットオフ値を設定した
もの)」の中から、設定されたパラメータ及びその値が
該当する値を選択する。パラメータが複数指定されてい
るときは、あらかじめ決められた優先順に従ってその最
も高いパラメータを用いる。 (ニ)評価長さLnは、算出規格がJIS−1994、
DIN、ISO、ANSIの場合は、設定されたカット
オフ値の5倍とする。また、算出規格がJIS−198
2の場合は、カットオフ値の3倍又は基準長さLの3倍
のいずれか長い方とする。
【0013】なお、本発明では、その他の測定条件(測
定レンジ、測定速度、カットオフ値、評価長さ以外)
は、あらかじめ設定された内容が仮測定時に使用される
とともに、正式な測定条件でもそのままの内容が用いら
れる。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明に係る測定条件設定装置の
実施の形態のブロック図を図2に示す。図2に示すよう
に、この実施の形態では、作業者が測定条件の指定等を
する入力手段21、入力手段21で指定された測定種別
及び算出規格の両方に該当するパラメータを抽出するパ
ラメータ抽出部22、パラメータ抽出部22で抽出され
表示部(図示省略)に表示されたパラメータの中から、
作業者が入力手段21で指定したパラメータを設定する
パラメータ設定部23が設けられている。
【0015】また、あらかじめ設定された幾種類かの測
定レンジの中から、測定データの最大変位量の2倍が測
定可能で、最小のものを選択し設定する測定レンジ設定
部24、測定データの最大傾斜を求めるとともに、あら
かじめ設定された速度をその最大傾斜で割った値を算出
し、その値以下で、あらかじめ設定された幾種類かの測
定速度の中から最大の測定速度を選択し設定する測定速
度設定部25、あらかじめ設定された「パラメータとカ
ットオフ値との関係」の中から、設定されたパラメータ
及びその値が該当するカットオフ値を選択し設定するカ
ットオフ値設定部26、あらかじめ設定された「カット
オフ値と評価長さとの関係」の中から、カットオフ値に
該当する評価長さLnを選択し設定する評価長さ設定部
27が設けられている。
【0016】さらに、従来と同様であるが、前述した測
定部40の測定動作を制御する測定駆動制御部31、測
定部40から出力される触針45の変位量と検出器44
の移動量を電気信号に変換する信号変換部32、その電
気信号による測定データを解析する測定データ解析部3
3が設けられている。そして、その他の測定条件の中
の、戻り速度、リターン設定の有無、予備駆動長さの
「測定動作に係わる」条件設定部34、傾斜補正方法、
カットオフフィルタの種類、短波長カットオフフィルタ
の内容の「解析に係わる」条件設定部35が設けられて
いる。
【0017】なお、仮の測定動作の指示は前述した入力
手段21から行われる。また、表示部は図示しないが、
抽出されたパラメータ、各測定条件、測定データの解析
結果等が表示される。また、図2で、ブロック間の実線
の接続線は本発明に直接係わる測定条件設定の流れを主
として表し、破線の接続線は測定条件設定後の流れを主
として表している。
【0018】次に、図1に示すフローチャートを用いて
作用を説明する。まず、測定種別及び算出規格を作業者
が指定する(ステップ11)と、指定された測定種別及
び算出規格の両方に該当するパラメータが表示される
(ステップ12)。例えば、測定種別が「表面粗さ」
で、算出規格が「JIS−1994」であったとする
と、算術平均粗さ、最大高さ、十点平均粗さ、凹凸の平
均間隔、局部山頂の平均間隔等のパラメータが表示され
る。算出規格が「JIS−1982」であると、中心線
平均粗さ、最大高さ、十点平均粗さのパラメータが表示
される。
【0019】次に、作業者は、表示されたパラメータの
中から該当するパラメータを指定し(ステップ13)、
該当ワークについてパラメータ値(許容値)が分かって
いてその値を指定する場合(ステップ14)はその値を
入力して(ステップ15)から、ワークを測定する(ス
テップ16)。すると、得られた測定データがあらかじ
め設定された仮の測定条件及び指定されたパラメータ
(及びその値)で解析されて、測定レンジ、測定速度、
カットオフ値、評価長さが次のように算出され設定され
る(ステップ17)。
【0020】測定レンジは、あらかじめ設定された幾種
類かの測定レンジの中から、仮測定で得られた測定デー
タの最大変位量の2倍が測定可能で最小のものが選択さ
れる。例えば、図5に示すように、測定データDの最大
変位量Zpが25μmで、あらかじめ設定されている測
定レンジが±4μm、±40μm、±400μmである
場合、±40μmのレンジが選択される。また、最大変
位量Zpの中間が零点に設定される。
【0021】測定速度Vxは、測定データの最大傾斜を
求めるとともに、あらかじめ設定された速度をその最大
傾斜で割った値を算出し、その値以下で、あらかじめ設
定された幾種類かの測定速度の中から最大のものに設定
される。測定データの傾斜θとは、触針45の変位量△
Zを検出器44の移動量△Xで割った値であるが、1点
おき(隣り同士)に採ると測定誤差等が大きい場合に実
際より大きな傾斜になるので、実際には図6に示すよう
に何点かおきに採る。そして、その中の最大傾斜θmax
を求め、あらかじめ設定したZ方向の許容速度Vz(例
えば6.28μm/sec)を最大傾斜θmax で割った値以
下で、あらかじめ設定された幾種類かの測定速度の中か
ら最大のものが選定される。これを式で表わすと次のよ
うになる。 θa=|△Za/△X|…(1) θb=|△Zb/△X|…(2) Vx≦Vz/θmax …(3)
【0022】カットオフ値は、あらかじめ設定された
「パラメータとカットオフ値との関係」の中から、指定
されたパラメータ及びその値が該当する値に設定される
が、算出規格及びパラメータ値の設定方法(作業者によ
って入力されるか、測定データから算出されるか)によ
って方法の細部は異なる。
【0023】算出規格がJIS−1982の場合は、パ
ラメータ値の設定方法に関係なく、パラメータとして
「中心線平均粗さ」を用いて(このパラメータが作業者
によって入力されていなければ、測定データから算出し
て)設定する。そして、パラメータ値(例えば、12.
5μm)を境として2区分に分け、2種類のカットオフ
値(例えば、0.8mmと2.5mm)のいずれかに設
定する。
【0024】算出規格がJIS−1994、DIN、I
SO、ANSIの場合で、パラメータ値として、「算術
平均粗さ」の値、「最大高さ」の値、「十点平均粗さ」
の値、「凹凸の平均間隔」の値、「局部山頂の平均間
隔」の値のいずれか1つでも作業者によって入力されて
いるときは、その値を用いて設定する。複数のパラメー
タについてその値が入力されているときは、それらの中
から、「算術平均粗さ、最大高さ、十点平均粗
さ、凹凸の平均間隔、局部山頂の平均間隔」の優先
順で選定したパラメータを用いる。そして、パラメータ
値の5区分(例えば、「算術平均粗さ」の場合は、境界
値が、0.02μm、0.1μm、2μm、10μm)
によって、5種類のカットオフ値(例えば、0.08m
m、0.25mm、0.8mm、2.5mm、8mm)
のいずれかに設定する。
【0025】算出規格がJIS−1994の場合で、パ
ラメータ値として、「算術平均粗さ」の値、「最大高
さ」の値、「十点平均粗さ」の値、「凹凸の平均間隔」
の値、「局部山頂の平均間隔」の値のいずれもが作業者
によって入力されていないときは、作業者が指定したパ
ラメータについてその値を測定データから算出して用い
る。
【0026】算出規格がDIN、ISO、ANSIの場
合で、パラメータ値として、「算術平均粗さ」の値、
「最大高さ」の値、「十点平均粗さ」の値、「凹凸の平
均間隔」の値、「局部山頂の平均間隔」の値のいずれも
が作業者によって入力されていないときは、まず、測定
データのパワーグラフから周期性が判別される。測定デ
ータのパワーグラフは図7に示すように、横軸に周波数
F、縦軸に粗さ曲線の全振幅Gをプロットしたもので、
粗さ波形の周期性を判別するものである。周期性がある
かどうかは、全振幅Gが最大の部分の全振幅Gaと、そ
の他の全振幅Gkの二乗和の平方根との比で判別され、
次の式(4)で表わされる条件の場合は周期性があると
判別する。その他の全振幅Gkの二乗和を「Σ( Gk)
2」とし、「Σ( Gk) 2」の平方根をMとおくと、 Ga≧M/2…(4)
【0027】その結果、周期性がないと判断された場合
は、作業者が指定したパラメータの中から、算術平均粗
さ、最大高さ、十点平均粗さのいずれかを選出し、その
パラメータ値を測定データから算出する。複数のパラメ
ータについてその値が入力されているときは、それらの
中から、「算術平均粗さ、最大高さ、十点平均粗
さ」の優先順で選定したパラメータを用いる。そして、
パラメータ値の5区分(例えば、「十点平均粗さ」の場
合は、境界値が、0.1μm、0.5μm、10μm、
50μm)によって、5種類のカットオフ値(例えば、
0.08mm、0.25mm、0.8mm、2.5m
m、8mm)のいずれかに設定する。
【0028】測定データのパワースペクトラムから周期
性があると判断された場合は、作業者が指定したパラメ
ータの中から、凹凸の平均間隔、局部山頂の平均間隔の
いずれかを選出し、そのパラメータ値を測定データから
算出する。複数のパラメータについてその値が入力され
ているときは、それらの中から、「凹凸の平均間隔、
局部山頂の平均間隔」の優先順で選定したパラメータ
を用いる。そして、パラメータ値の5区分(例えば、
「凹凸の平均間隔」の場合は、境界値が、0.032μ
m、0.1μm、0.32μm、1.0μm)によっ
て、5種類のカットオフ値(例えば、0.08mm、
0.25mm、0.8mm、2.5mm、8mm)のい
ずれかに設定する。
【0029】なお、算出規格がJIS−1994、DI
N、ISO、ANSIの場合は、パラメータの種類は非
常に多くあり、前述した以外のパラメータが指定される
こともあるが、その場合は、これら5つのパラメータの
中で、指定されたパラメータとの関係が最も深いパラメ
ータを選定し、その値を測定データから算出して前述し
たように用いる。その場合の優先順位は前述した例と同
じである。例えば、5つのパラメータの中で「算術平均
粗さ」が指定されていないが、それに関係の深いパラメ
ータが指定されている場合は、「算術平均粗さ」の値が
測定データから算出され、その値がカットオフ値の設定
に使用される。
【0030】評価長さLnは、算出規格がJIS−19
82の場合は、カットオフ値の3倍又は基準長さLの3
倍のいずれか長い方に設定される。この場合、基準長さ
Lは、パラメータ値として「最大高さ」の値又は「十点
平均粗さ」の値が作業者によって入力されている場合
は、その値(両方が入力されている場合は「最大高さ」
の値)によって、入力されていない場合は測定データか
ら「最大高さ」の値を算出して、その値の5区分(例え
ば、「最大高さ」の場合は、境界値が、0.8μm、
6.3μm、25μm、100μm)によって、5種類
の基準長さ(例えば、0.25mm、0.8mm、2.
5mm、8mm、25mm)のいずれかに設定される。
【0031】算出規格がJIS−1994、DIN、I
SO、ANSIの場合は、評価長さLnはカットオフ値
の5倍に設定される。
【0032】なお、仮測定時には、例として、各測定条
件が次のように設定されている。 (イ)測定レンジ……±400μm (ロ)測定速度Vx……1.5mm/sec (ハ)カットオフ値……0.8(パラメータ値が入力さ
れている場合はその値から設定する) (ニ)評価長さLn……自動設定と同じ方法でカットオ
フ値等により設定 (ホ)傾斜補正方法……最小二乗曲線補正 (ヘ)カットオフフィルタの種類……JIS−1982
の場合は2CR(非補償)、その他の場合はガウシアン (ト)短波長カットオフフィルタ……カットオフ値の3
00分の1 (チ)戻り速度……6mm/sec (リ)リターン設定……無 (ヌ)予備駆動長さL……カットオフ値の半分
【0033】また、前述したように、この他の測定条件
で傾斜補正方法、カットオフフィルタの種類、短波長カ
ットオフフィルタの内容、戻り速度、リターン設定の有
無、予備駆動長さは変更することが少ないが、変更が必
要な場合は従来どおり、入力手段21によって設定すれ
ばよい。
【0034】なお、以上説明した実施の形態では表面粗
さ測定についてであったが、これに限らず、うねり測
定、断面形状測定についても本発明を同様に適用するこ
とが可能である。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、作
業者が、測定種別と算出規格を指定するとともに、その
結果抽出表示される各種パラメータの中から必要なパラ
メータを選択して指定し、その後ワークを測定(仮測
定)すると、測定条件のうち、測定内容が変わるごとに
設定し直すことが比較的多い「測定レンジ、カットオフ
値、評価長さ、測定速度」について自動的に設定される
ようにした。したがって、表面粗さ形状測定の測定条件
が容易に設定できる測定条件設定方法及びその装置を安
価に提供することができる。また、算出規格がDIN、
ISO、ANSIの場合、周期性の判別は従来ワークを
目視して行っていたが、パワーグラフを用いて自動的に
判別するようにしたので、正確に処理することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る測定条件設定方法の実施の形態の
フローチャート
【図2】本発明に係る測定条件設定装置の実施の形態の
ブロック図
【図3】一般的な表面粗さ形状測定機の測定部外観図
【図4】 測定長さ関係の説明図
【図5】測定レンジ設定の説明図
【図6】測定データの傾斜算出の説明図
【図7】測定データのパワーグラフ
【符号の説明】
11…測定種別/算出規格指定ステップ、12…パラメ
ータ表示ステップ、13…パラメータ指定ステップ 、
14…パラメータ値指定有無判別ステップ、15…パラ
メータ値入力ステップ、16…仮測定ステップ、17…
測定条件設定ステップ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】作業者が測定の種別及び算出規格の指定等
    をする入力手段と、 前記入力手段で指定された測定種別及び算出規格の両方
    に該当するパラメータの種類を抽出するパラメータ抽出
    部と、 前記抽出されたパラメータの種類等を表示する表示部
    と、 前記パラメータ抽出部で抽出され前記表示部に表示され
    たパラメータの種類の中から、作業者が前記入力手段で
    指定したパラメータの種類を設定するパラメータ設定部
    と、 あらかじめ設定された仮の測定条件によってワークを測
    定し測定データを得る測定部と、 前記仮の測定条件及び設定された前記パラメータの種類
    によって前記測定データを解析する測定データ解析部
    と、 前記解析された結果によって、あらかじめ設定された
    「パラメータの種類とカットオフ値との関係」の中か
    ら、設定された前記パラメータの種類及びパラメータ値
    に該当するカットオフ値を選択し設定するカットオフ値
    設定部と、から構成され、 前記測定種別及び算出規格が指定されると、指定された
    測定種別及び算出規格の両方に該当するパラメータの種
    類を抽出して表示し、表示されたパラメータの種類の中
    から使用するパラメータの種類が指定されると、指定さ
    れたパラメータの種類を設定し、予め設定されている仮
    の測定条件でワークが測定されると、測定データを前記
    仮の測定条件及び設定されたパラメータの種類で解析
    し、該解析した結果によってカットオフ値を自動的に設
    定することを特徴とする表面粗さ形状測定機の測定条件
    自動設定装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004101503A (ja) * 2002-07-18 2004-04-02 Mitsutoyo Corp 信号処理方法、信号処理プログラム、この信号処理プログラムを記録した記録媒体および信号処理装置
EP2017572A3 (en) * 2007-07-18 2009-03-18 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring device, surface texture measuring method and surface texture measuring program
JP2009069067A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd 形状解析装置及び形状解析プログラム
JP2009128167A (ja) * 2007-11-22 2009-06-11 Olympus Corp 光学式3次元計測装置及びフィルタ処理方法
CN102998312A (zh) * 2012-11-29 2013-03-27 哈尔滨东安发动机(集团)有限公司 钛合金叶轮表面完整性检测方法
DE102014111247A1 (de) * 2014-08-07 2016-02-11 Breitmeier Messtechnik Gmbh Verfahren zur Adoption wenigstens einer Eigenschaft eines Rauheitsmessgeräts

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004101503A (ja) * 2002-07-18 2004-04-02 Mitsutoyo Corp 信号処理方法、信号処理プログラム、この信号処理プログラムを記録した記録媒体および信号処理装置
EP2017572A3 (en) * 2007-07-18 2009-03-18 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring device, surface texture measuring method and surface texture measuring program
US8196457B2 (en) 2007-07-18 2012-06-12 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring device, surface texture measuring method and surface texture measuring program
JP2009069067A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd 形状解析装置及び形状解析プログラム
JP2009128167A (ja) * 2007-11-22 2009-06-11 Olympus Corp 光学式3次元計測装置及びフィルタ処理方法
CN102998312A (zh) * 2012-11-29 2013-03-27 哈尔滨东安发动机(集团)有限公司 钛合金叶轮表面完整性检测方法
DE102014111247A1 (de) * 2014-08-07 2016-02-11 Breitmeier Messtechnik Gmbh Verfahren zur Adoption wenigstens einer Eigenschaft eines Rauheitsmessgeräts

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