JPS62233712A - 鮮映性測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、車体パネル等の塗装面、ガラス。

プラスチック、ゴム等の表面の写像鮮映性を測定する方
法に関する。

〔従来の技術〕

従来、上記のような各種試料の表面（以下「被測定面」
という）の鮮映性を測定する方法としては、一般に視力
検査に使用されるような順次大きさの異なる多数の文字
等が配列して印刷されたパネルを被測定面に対向させ、
そこに写った文字等を検査員が目視して、どの大きさの
文字等まで判読できるかによって鮮映性を判断する方法
がとられていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、上述のような測定方法では、検査時の照
度、試料の色、検査パネルと試料と検査員の目の位置関
係、検査員の視力や疲労度など、各種の条件によって測
定結果が異なってしまい。

極めて大まかな判定しかできないという問題点があった
。

また、各種の検査が自動化される傾向にあり、鮮映性の
測定も自動化したいという要求がある。

この発明は、このような問題を解決して、上述のような
測定条件の影響を受けずに常に高精度で被測定面の鮮映
性を測定でき、しかも自動化も容易な鮮映性測定方法を
提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

そのため、この発明による鮮映性測定方法は、スリット
光源から被測定面に１条のスリット光を投射して、その
反射スリット光を該スリット光と検出ラインが直交する
ように間隔を置いて互いに平行に配置した２個のライン
センサによって検出しながら、被測定面との間で相対的
に平行移動させ、その間に前記ラインセンサによって検
出される反射スリット光受光位置の差の変動量によって
被測定面の鮮映性を示すデータを得る。

〔作　用〕

被測定面にスリット光を投射して反射させると。

被測定面の細かい凹凸等によって反射スリット光がスリ
ット幅方向に若干振られてうねりを生じる。

したがって、この反射スリット光を検出ラインがそれと
直交するように間隔を置いて互いに平行に配置した２個
のラインセンサによって検出しながら、被測定面との間
で相対的に平行移動させると、各ラインセンサによって
検出される反射スリット光受光位置が上記うねりによっ
て変動し、その差も変動する。

この変動量すなわち反射スリット光のうねりの幅が、鮮
映性の度合と極めてよく対応することが実験により確認
されたので、これを鮮映性を示すデータとする。

この場合、２個のラインセンサによる反射スリット光受
光位置の差を見るので、′ｆＲ定器と被測定面との間の
相対的な平行移動中に走査方向での振動などがあっても
、その影響を受けずに測定することができる。

〔実　施　例〕

以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は、この発明の一実施例を示す鮮映性測定方法の
説明図である。

パネル１の塗装面等の被測定面１ａの鮮映性を測定する
測定器に、レーザスリット光Ｌｓを発生するスリット光
源２と２個のラインセンサ３，４とを１図示のように所
定の角度をなして配設し、スリット光源２から被測定面
１ａに投射した１条のスリット光Ｌｓの反射スリット光
Ｌｓ’　を、受光素子列による検出ライン３．．４ａが
それぞれこの反射スリット光Ｌｓ’に直交するように間
隔を置いて互いに平行に配置された第１．第２のライン
センサ３，４によって検出する。このラインセンサ３，
４としてはフォトダイオードアレイあるいはＣＣＤライ
ンセンサ等を用いる。

このようにすると、スリット光Ｌｓを投射された被測定
面１ａの微小な凹凸により、反射スリット光Ｌｓ’　に
よるラインセンサ３，４上の像に図示のようなうねりが
生ずる（破線はラインセンサ３．４と同一面上にスクリ
ーンがあったと仮定した場合の像）。このうねりは被測
定面１ａの鮮映性が悪い程大きくなる。

そこで、この第１のラインセンサ３によるビデオ出力信
号ｖＳＩのピーク位置ｘ！と第２のラインセンサ４によ
るビデオ出力信号ｖＳ２のピーク位置ｘ２とが一般的に
等しくなくなり、スリット光発生器２と第１．第２のラ
インセンサ３，４を配設した測定器を被測定面１ａに対
して距離及び傾きを変えずに相対的に平行移動（レーザ
スリット光Ｌｓの幅方向又はそれに直交する方向に走査
）させた時のＤＣＩとｘ２の差の変動量も被測定面１ａ
の鮮映性が悪い程大きくなる。

この実施例では、このｘＩとｘ２の差 １”＋　　”ｚｌの変動量をもって鮮映度を示すデータ
とする。

第２図は、このような鮮映性測定のための信号処理回路
の一例を示すブロック図であり、それぞれ第１．第２の
ラインセンサ３，４に対応する２個ずつの２値化回路５
，６．カウンタ回路７，８゜及び受光位置演算回路日、
１０と、減算回路１１と、演算部１２とからなり、その
演算結果を表示部１３に表示し、測定結果送信部１４に
よって離れた場所へも測定結果を送信する。

この信号処理回路の作用を第３図乃至第６図を参照して
説明する。

第１のラインセンサ３から順次出力される。第３図（ａ
）に示すような例えば１０２４ビツトのビデオ出力信号
ｖＳ１を２値化回路５によって基準レベルＶｒと比較し
て、同図（ｂ）に示すような２値化ビデオ信号Ｄ　ｖ　
（とし、カウンタ回路７によってこの２値化ビデオ信号
ＤｖＩの立上りまでのビット数Ｔ１及び立上りから立下
りまでのビット数Ｔａを第１のラインセンサ３の読出し
クロックパルスによってカウントする。

このカウント値Ｔ１とＴａから、受光位置演算回路Ｓが
第１のラインセンサ３による第１図の反射スリット光Ｌ
ｓ’の受光位ｔ　ｘ　ｔを。

ｘｌ　＝Ｔ１　＋Ｔａ／２　　の演算によって求める。

一方、第２のラインセンサ４から順次出力される第４図
（ａ）に示すようなビデオ出力信号Ｖ　Ｓ　２も、同様
に２値化回路６によって同図（ｂ）に示すような２値化
ビデオ信号ｐ　ｖ　２とし、カウンタ回路８によってこ
の２値化ビデオ信号Ｄ　ｖ　２の立上りまでのビット数
Ｔ２及び立上りから立下りまでのビット数Ｔｂをカウン
トし、受光位置演算回路１０がこのカウント値Ｔ２とＴ
ｂから ！２　＝Ｔ２　＋Ｔ　ｂ／　２　　（７）演ｎ　ヲ行ｆ
ｔ−）で、　反射スリット光Ｌｓ’の受光位置ｘ２を求
める。

測定器を被測定面１ａに対して走査しながら、このよう
にしてＱＣＩ、　ｘ２を逐次求めると、それぞれ第５図
（ａ）、（ｂ）に実線で示すように変動する。

減算回路１１は、Ｘ冨とｘ２の差１　？　（Ｚ　２を逐
次算出して演算部１２に入力する。この１”ｌ　　”２
１は第５図（ｃ）に示すように変動する。

この場合、走査中に測定器と被測定面１ａのいずれかが
振動するなどのために第１．第２のラインセンサ３，４
による反射スリット光Ｌｓ’の受光位置が全体的に変動
して、Ｚ　１　、　ｘ２が第５図（ａ）、（ｂ）に点線
で示すように変化したとしても、同図（ｃ）に示すｌ０
ｃｔ　　”２１の値はその影響を殆んど受けることがな
い。

演算部１２はこのｌｒｔ　　”２１の値をＮ個記憶して
その平均値ｌｚ、−”２１を算出し、記憶している各１
’ｃ＋　　”２１の値とこの平均値＋２’ｌ　　　’：
’２１　　１”ｌ　　　”２１（第す図（ｄ〕に示す）
の２乗平均値 を算出する。

このσの値が、第６図に示すように従来から用いられて
いる鮮映度の値と極めてよく対応しているので、このσ
の値をそのまま表示部１３に表示するようにしてもよく
、その場合にはその表示値が小さい程鮮映性がよく、大
きい程鮮映性が悪いことを示す。

あるいは、予め第６図に示すような鮮映度変換テーブル
を格納しておいて、そのテーブルによってσを鮮映度に
変換した数値を表示部１３に表示するようにしてもよい
。

なお、第２図における受光位置演算回路Ｓ。

１０、減算回路１１．および演算部１２の機能をマイク
ロコンピュータを用いて行なう場合には。

第７図に示すようなフローチャートに従ってマイクロコ
ンピュータを動作させればよい。

第７図中、ｘｉは各走査時点毎のｘｌとｘ２の差１”ｌ
　　”２１であり、ヨはそのＮ回の平均値、ΔＥｉは各
ｘｉの平均値；ゴに対する偏差であり、その他の符号及
び演算式は第３図乃至第６図によって前述した実施例と
同様であるので説明を省略する。

〔発明の効果〕

以上説明してきたように、この発明による鮮映性測定方
法は、被測定面にスリット光を投射した時に、その被測
定面の凸凹などによって反射スリット光が部分的に若干
偏向されて生ずる「うねり」による２個のラインセンサ
の受光位置の差の変動量を検出して、被測定面の鮮映性
を示すデータを得るようにしたので、測定条件、特に走
査中の測定器又は被測定面の振動等の影響をほとんど受
けずに、常に高精度で自動的に鮮映性の測定を行なうこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す鮮映性測定方法の説
明図、 第２図は同じくその２個のラインセンサによるビデオ出
力信号から映鮮度を示すデータを得るための信号処理回
路のブロック図。 第３図乃至第５図は第２図の信号処理回路の作用説明に
供する各種波形図。 第６図は演算によって求めた２乗平均値σと鮮映度との
関係を示す線図、 第７図はマイクロコンピュータを用いて第２図における
各種演算を行なう場合の動作を示すフロー図である。 １・・・パネル　　　　　１ａ・・・被測定面２・・・
スリット光線　　３・・・第１のラインセンサ４・・・
第２のラインセンサ　　５，６・・・２値化回路７．８
・・・カウンタ回路 ９．１０・・・受光位置演算回路　　１１・・・減算回
路１２・・・演算部 第１図 第２図 第４図　　　　　　　第３図 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １　スリット光源から被測定面に１条のスリット光を投
   射して、その反射スリット光を該スリット光と検出ライ
   ンが直交するように間隔を置いて互いに平行に配置した
   ２個のラインセンサによって検出しながら、前記被測定
   面との間で相対的に平行移動させ、その間に前記２個の
   ラインセンサによって検出される反射スリット光受光位
   置の差の変動量によって前記被測定面の鮮映性を示すデ
   ータを得ることを特徴とする鮮映性測定方法。