JPS62103545A - 鮮映性測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、車体パネル等の塗装面、ガラス。

プラスチック、ゴム等の表面の写像鮮映性を測定する方
法に関する。

〔従来の技術〕

従来、上記のような各種試料の表面（以下「被測定面」
という）の鮮映性を測定する方法としては、一般に視力
検査に使用されるような順次大きさの異なる多数の文字
等が配列して印刷されたパネルを被測定面に対向させ、
そこに写った文字等を検査員が目視して、どの大きさの
文字等まで判読できるかによって鮮映性を判断する方法
がとられていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、上述のような測定方法では、検査時の照
度、試料の色、検査パネルと試料と検査員の目の位置関
係、検査員の視力や疲労度など、各種の条件によって測
定結果が異なってしまい、極めて大まかな判定しかでき
ないという問題点があった。

また、各種の検査が自動化される傾向にあり、鮮映性の
測定も自動化したいという要求がある。

この発明は、このような問題を解決して、上述のような
測定条件の影響を受けずに常に高精度で被測定面の鮮映
性を測定でき、しかも自動化も容易な鮮映性測定方法を
提供することを目的とする。

〔間層点を解決するための手段〕

そのため、この発明による鮮映性測定方法は。

スリット光源から被測定面に一定間隔で平行する一対の
スリット光を投射して、その各反射スリット光を該各ス
リット光と検出ラインが直交するように配置したライン
センサによって検出しながら。

前記スリット光源と被測定面とラインセンサのうちのい
ずれかを前記スリット光のスリット方向へ相対的に移動
させ、その間に前記ラインセンサによって検出される一
対の反射スリット光の検出位置間隔の変動量によって前
記被測定面の鮮映性を示すデータを得る。

〔作　用〕

被測定面に一定間隔で平行する一対スリット光を投射し
て反射させると、被測定面の細かい凹凸等によって各反
射スリット光がそれぞれスリット幅方向に若干振られて
ランダムなうねりを生じる。

したがって、この各反射スリット光を検出ラインがそれ
と直交するように配置したラインセンサによって検出し
ながら、スリット光源と被測定面とラインセンサのうち
のいずれかをスリット光のスリット方向へ移動させると
、ラインセンサによる一対の反射スリット光の検出位置
の間隔が上記うねりによって変動する。

この変動量が、被測定面の鮮映性の度合と極めてよく対
応することが実験により確認されたので、これを鮮映性
を示すデータとする。

〔実　施　例〕

以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は、この発明の一実施例を示す鮮映性測定装置の
概略構成図である。

この装置は、測定器１とロボット等の走査装置２と制御
盤３とからなり、測定器１から試料４の被測定面４ａに
一定間隔で平行な一対のスリット光Ｌｓｌ　、Ｌｓ２を
投射して、その反射光Ｌ　ｓ　１　’Ｌ　ｓ　２　’　
を後述するラインセンサで検出しながら。

走査袋＠２によってこの測定器１をスリット光Ｌｓｌ、
Ｌｓ２のスリット方向である矢示Ａ方向へ平行移動させ
、その間の検出信号を制御盤３内で処理して、その結果
による鮮映性を示すデータを表示部３ａに表示するよう
になっている。

なお、制御盤３は、測定器１内の光源及びラインセンサ
の制御と走査装置！２の制御も行なう。

第２図及び第３図は、第１図の測定器１内に設けられる
スリット光源とラインセンサの配置を試料との関係も含
めて示す配置図である。

スリット光源１０は、平行ビーム光を発生するレーザ発
振管等による一対の光源５ａ、５ｂと、一対の球面レン
ズ６ａ、　６ｂと、それぞれスリットａ、ｂを有する一
対のスリット板７ａ、７ｂと。

共通のシリンドリカルレンズ８とから構成され、第３図
に明示されるように、一定間隔ｄで互いに平行する一対
（２本）のスリット光Ｌｓｌ　、Ｌｓ２を形成して、そ
れをそれぞれ試料４の被測定面４ａに垂直な面内で所定
の入射角度で投射する。

一方、この一対のスリット光Ｌｓ１．Ｌｓ２が被測定面
４ａでそれぞれ反射された反射スリット光Ｌｓｌ　’　
、Ｌｓ２’を受光し得る位置に、検出ライン９ａがその
スリット光Ｌｓ１’　、Ｌｓ２’と直交するようにライ
ンセンサＳを配置している。

このラインセンサＳとしては、フォトダイオード・アレ
イあるいはＣＯＤラインセンサ等を用いる。

第４図に、第１図の制御盤３内の構成をこの測定器１の
構成と共に示す。

制御盤３内には、ラインセンサ９から出力されるビデオ
信号を二値化する二値化回路１１と、順次入力する各ビ
ットの二値化ビデオ信号のパルス間隔をカウントする位
置カウンタ１２と、その検出結果を演算処理するための
ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ及びＩ１０ポートを備えたマイ
クロコンピュータ１３と、このマイクロコンピュータ１
３からの出力データを表示部３ａにデジタル表示するた
めの表示回路１４等が設けられている。

なお、電源回路、クロックパルス発生回路、ラインセン
サ駆動回路、及びキー入力回路等も設けられているが、
それらは図示を省略している。

マイクロコンピュータ１３は、測定器１内の光源用電源
１５を制御して測定開始時又はその前に光源５ａ、５ｂ
を点灯させ、スリット光源１０によって一対のスリット
光Ｌｓｌ　、Ｌｉ２を発生させる。

そして、その一対のスリット光Ｌｓｌ　、Ｌｉ２を試料
４の被測定面４ａに投射して、その反射スリット光Ｌｓ
１’＠Ｌｓ２’　をラインセンサ９に受光させ、このラ
インセンサＳから各ビットの受光量に応じたビデオ信号
を順次読み出すと、第５図（ａ）に示すように反射スリ
ット光ＬＳＩ’ｓＬ　ｓ　２　’　を受光した位置Ｃビ
ット）でそれぞれピークとなるビデオ信号Ｖｓが出力さ
れる。

このビデオ信号Ｖｓを二値化回路１１に入力して、所定
レベルの比較信号Ｖｒと比較し、Ｖ　ｓ　＞Ｖｒの時に
のみハイレベル゛Ｈ″となり、それ以外ではローレベル
゛Ｌ“どなるように二値化して、第５図（ｂ）に示すよ
うな二値化信号Ｄｖを出力する。

位置カウンタ１２は、この二値化信号Ｄｖを各ビット毎
にカウントして、最初にＨ“になってからＬ“に戻るま
でのカウント値Ｔ１．その後再びＨ”になるまでのカウ
ント値Ｔ２、及びその後−１”に戻るまでのカウント値
Ｔ３　　（第Ｓ図（ｂ）参照）を出力する。

次に、第４図のマイクロコンピュータ１３による処理動
作について、第６図のフローチャート及び第７図、第８
図も参照して説明する。

先ず、第６図のステップ■で、前述の位置カウンタ１２
によるカウント値ＴＩ　、”ｒ２．Ｔ３を読込み、ステ
ップ■で　Ｐ：Ｔ２　＋（ＴＩ　＋Ｔ３　）／　２の演
算を行なって、第５図（ａ）に示すビデオ信号Ｖｓの２
つのピーク点の間隔に相当するデータ。

すなわちラインセンサＳによる一対の反射スリット光の
検出位置間隔を示すデータＰを求めてそれを記憶する。

次に、ステップ■で記憶したデータＰが所要数Ｎ個にな
ったかどうかを判断し、Ｎ個になっていなければ、ステ
ップ■で走査装置２に起動信号を出力して、測定器１を
第１図の矢示Ａ方向へ１ピツチ移動させる。

そして、再びステップ■で新たなカウント値Ｔ、、”ｒ
２．’ｒ３を読込んで、ステップ２でデータＰを求めて
記憶する。このステップ■〜■の動作をデータＰの記憶
数がＮ個になるまで繰返し、Ｎ個になるとステップ■へ
進む。

反射スリット光Ｌｓ１　’　、Ｌｉ２　’は、被測定面
４ａの凹凸等によって若干偏向されて、第３図及び第４
図に示したようにそれぞれ不規則な「うねり」を生ずる
。また、測定器１と被測定面４ａとの相対位置が変化す
ると、ラインセンサＳによって受光される部分の各スリ
ット光の反射位置が変化する。

そのため、ラインセンサＳによって検出されるビデオ信
号Ｖｓの２つのピーク位置が不規則に偏位し、ステップ
■で算出する各回毎のピーク位置間隔を示すデータＰの
値も第７図（ａ）に示すようにそれぞれ若干具なる。

そこで、ステップ■では、ある回のデータＰをＰｉとす
ると、その前後Ｍ／２個づつ（合計Ｍ個）のデータを平
均して平均値Ｐｉ゛を算出する。但し、記憶したＮ個の
データのうち最初からＭ／２個と最後からＭ／２個（合
計Ｍ個）のデータについては。

前後Ｍ／２個づつの平均値算出用データがとれないので
、Ｎ−Ｍ個のデータＰｉについて平均値Ｐｉを算出する
。

次に、ステップ■で第７図（ｂ）に示すようにＮ−Ｍ個
の各データＰｉ毎の平均値に対する変動量（偏差）ΔＰ
ｉを、Δｐｉ＝Ｐｉ　　Ｐｉの演算を行なって求める。

そして、ステップ■で ｔｙ　＝　　Ｘ　Ａ　Ｐ　ｉ　”　／（Ｎ−Ｍ）　（Ｄ
演算ヲ行ナッテ二乗平均値σを求める。

このσの値が、第８図に示すように従来から用いられて
いる鮮映度の値と極めてよく対応しているので、このσ
の値をそのまま表示部３ａに表示するようにしてもよく
、その場合にはその表示値が小さい程鮮映性が良く、大
きい程鮮映性が悪いことを示す。

この実施例では、予め第８図に示すような鮮映度変換テ
ーブルを格納しておいて、ステップ■でそのテーブルに
よってσを鮮映度に変換した数値を表示部３ａに表示す
るようにしている。

なお、この実施例によれば、上述のようにラインセンサ
による一対の反射スリット光の検出位置間隔の変動量に
よって鮮映性を示すデータを得るようにし、且つ各デー
タＰｉの変動量（偏差）ΔＰｉを、各データの前後所定
個づつのデータの平均値との差によって求めるようにし
たので、ｍ定器１と試料４との相対的な傾き等によって
１反射スリット光の検出位置が全体的に変化したような
場合にもその影響を受けることなく、常に精度の良い鮮
映性測定ができる。

また、この実施例では試料４を固定して測定器１を移動
させるようにしたが、測定器１を固定して試料４をスリ
ット光のスリット方向に移動させるようにしてもよいし
、測定器１内のスリット光源１０又はラインセンサ９を
スリット光のスリット方向に移動させるようにしてもよ
い。

要するに、スリット光源１０と被測定面４ａとラインセ
ンサ９のうちのいずれかを、スリット光のスリット方向
（長手方向）へ相対的に移動させながら上述の測定を行
なえばよいのである。

〔発明の効果〕

以上説明してきたように、この発明による鮮映性測定方
法は、被測定面に一対の平行なスリット光を投射した時
に、その被測定面の凸凹などによって各反射スリット光
が部分的に若干偏向されて生ずる「うねり」を１両反射
スリット光をそれに直交する方向に配置したうインセン
サで検出した時の検出点間隔の変動量によって検出して
、その変動量から被測定面の鮮映性を示すデータを得る
ようにしたので、測定条件の影響をほとんど受けずに、
常に高精度で自動的に鮮映性の測定を行なうことができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す鮮映性測定装置の概
略構成図、 第２図は第１図の測定器１内に設けられるスリット光源
とラインセンサの配置を試料との関係も含めて示す配置
図、 第３図は同じくその斜視配置図、 第４図は制御盤３の内部構成を測定器１と共に示すブロ
ック構成図、 第５図はラインセンサＳから出力されるビデオ信号波形
及びその二値化信号波形を示す波形図、 第６図は第４図のマイクロコンピュータ１３が実行する
処理動作のフロー図、 第７図はマイクロコンピュータ１３によるデータＰの平
均値百及び変動量ΔＰの算出方法及び算出結果を示す説
明図、 第８図は演算によって求めた二乗平均値σと鮮映度との
関係を示すＳ図である。 １・・・測定器　　　２・・・走査装置　　　３・・・
制御盤３ａ・・・表示部　　４・・・試料　　　４ａ・
・・被測定面Ｓ・・・ラインセンサ　　１０・・・スリ
ット光源１３°・・マイクロコンピュータ 第１図 第２図 ４臥軒 第３図 ｑα 第７図　　　　　　第５図 第８図 第６図 ５ＴＡＲＴ ■“１′・０゜ 読込み 測定器を ■Ｉｅｙｆ＠よ ■Ｐ−Ｔ２　　□ ■ ＮＯＮデータ ｅｓ ■　”酊−′ 均Ｐｉ ■ ΣΔｐ１２ ■　　　□ −Ｍ グ鮮映度 ・′８）　　　変換テーブル 手続補正書（自発） 昭和６１年１月２１日 特許庁長官　宇　賀　道　部　殿 １、事件の表示 特願昭６０−２４３６２１号 ２、発明の名称 鮮映性測定方法 ３、補正をする者 事件との関係　　特許出願人 神奈川県横浜市神奈用区宝町２番地 （３９９）日産自動車株式会社 ４、代理人 東京都豊島区東池袋１丁目２０番地５ ５、補正の対象

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １　スリット光源から被測定面に一定間隔で平行する一
   対のスリット光を投射して、その各反射スリット光を該
   各スリット光と検出ラインが直交するように配置したラ
   インセンサによって検出しながら、前記スリット光源と
   被測定面とラインセンサのうちのいずれかを前記スリッ
   ト光のスリット方向へ相対的に移動させ、その間に前記
   ラインセンサによって検出される一対の反射スリット光
   の検出位置間隔の変動量によって前記被測定面の鮮映性
   を示すデータを得ることを特徴とする鮮映性測定方法。