JPS6175237A - 塗装面測定装置 - Google Patents
塗装面測定装置Info
- Publication number
- JPS6175237A JPS6175237A JP59197706A JP19770684A JPS6175237A JP S6175237 A JPS6175237 A JP S6175237A JP 59197706 A JP59197706 A JP 59197706A JP 19770684 A JP19770684 A JP 19770684A JP S6175237 A JPS6175237 A JP S6175237A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- painted surface
- brightness
- output signal
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は塗装面の良否を定量的に測定する塗装面測定装
置に関するものである。
置に関するものである。
重両ボデー等の塗装面の良否は従来熟練工による目視等
の官能検査によっているため、その評価が主観に大きく
左右される上に生産工程を自動化する場合のネックとな
っている。
の官能検査によっているため、その評価が主観に大きく
左右される上に生産工程を自動化する場合のネックとな
っている。
ところで、塗装面の良否は光沢とゆず肌をその因子とし
ていることが知られており、光沢度が大きくかつゆず肌
度が小さいほど良い塗装面と言える。そこで、光沢度と
ゆず肌度をそれぞれ定量的に測定する装置が提案されて
いる（「計測と制御」ＶＯＬ、２３、Ｎｏ、３ （昭ｌ
０５９年３月）５４〜．５８ページ、計測自動制御学会
発行）。
ていることが知られており、光沢度が大きくかつゆず肌
度が小さいほど良い塗装面と言える。そこで、光沢度と
ゆず肌度をそれぞれ定量的に測定する装置が提案されて
いる（「計測と制御」ＶＯＬ、２３、Ｎｏ、３ （昭ｌ
０５９年３月）５４〜．５８ページ、計測自動制御学会
発行）。
これは塗装面に明暗のパターンを投影して、該パターン
の暗部から明部へ移る時の反射光量の変化度より光沢度
を算出し、また投影された格子パターンのゆがみ率より
ゆず肌度を算出する。
の暗部から明部へ移る時の反射光量の変化度より光沢度
を算出し、また投影された格子パターンのゆがみ率より
ゆず肌度を算出する。
上記装置においては、パターン板を移動せしめるＩＩＩ
ｍを必要とする点で構造がＷ唯であり、しかも鏡面デー
タによる校正を必要とする等測定にも手間を要する。
ｍを必要とする点で構造がＷ唯であり、しかも鏡面デー
タによる校正を必要とする等測定にも手間を要する。
発明者らは、塗装面の良否を定量的に測定する上で、上
記従来装置の如く必ずしも光沢度とゆず肌度を分離して
測定する必要はなく、むしろ塗装面の良否はこれら両者
の相乗効果であるから、上記両者の効果が混在した状態
においても正確に塗装面の良否が測定できることに想い
至った。
記従来装置の如く必ずしも光沢度とゆず肌度を分離して
測定する必要はなく、むしろ塗装面の良否はこれら両者
の相乗効果であるから、上記両者の効果が混在した状態
においても正確に塗装面の良否が測定できることに想い
至った。
かかる観点より、本発明はパターン移動Ｒ４Ｍや鏡面デ
ータによる校正を不要となして、構造簡単かつ簡易に塗
装面の仕上り度が測定できる塗装面測定装置を提供する
ことを目的とする。
ータによる校正を不要となして、構造簡単かつ簡易に塗
装面の仕上り度が測定できる塗装面測定装置を提供する
ことを目的とする。
本発明の測定装置は、第１図に示す如く、塗装面已に対
向して設けて塗装面Ｂとの対向面に地の明度と異なる明
度でかつ互いに幅の異なる複数のパターン部１２を間隔
をおいて形成したパターン板１と、塗装面Ｂにより反射
形成された上記パターン板１の反射像１−を結像して該
反射像１−の各パターン部１２において異なった値を示
ず明度に応じた出力信号Ｓを発するｍｔｓ手段と、出力
信号Ｓが所定のレベルを示した上記パターン部１２のパ
ターン幅より塗装面Ｂの仕上り度を検知する検知手段３
とを具備している。
向して設けて塗装面Ｂとの対向面に地の明度と異なる明
度でかつ互いに幅の異なる複数のパターン部１２を間隔
をおいて形成したパターン板１と、塗装面Ｂにより反射
形成された上記パターン板１の反射像１−を結像して該
反射像１−の各パターン部１２において異なった値を示
ず明度に応じた出力信号Ｓを発するｍｔｓ手段と、出力
信号Ｓが所定のレベルを示した上記パターン部１２のパ
ターン幅より塗装面Ｂの仕上り度を検知する検知手段３
とを具備している。
（実施例〕
第１図において、測定対象たる塗装面Ｂにはパターン板
１が対向配設してあり、塗装面Ｂにより形成される上記
パターン板１の反射（１１−が撮像装置２のレンズ２１
によりこれに設けたＣＯＤイメージセンサ２２上に結像
せしめられる。イメージセンサ２２はこれに設けた多数
の受光画素より受光量に応じた出力信号Ｓを発する。上
記受光画素は反射１１１１′の中心線（図のＡ−Ａ−線
）に沿って一列に配しである。検知装置３は上記出力信
号Ｓを入力して塗装面の仕上り度を算出する。
１が対向配設してあり、塗装面Ｂにより形成される上記
パターン板１の反射（１１−が撮像装置２のレンズ２１
によりこれに設けたＣＯＤイメージセンサ２２上に結像
せしめられる。イメージセンサ２２はこれに設けた多数
の受光画素より受光量に応じた出力信号Ｓを発する。上
記受光画素は反射１１１１′の中心線（図のＡ−Ａ−線
）に沿って一列に配しである。検知装置３は上記出力信
号Ｓを入力して塗装面の仕上り度を算出する。
パターン板１の詳細を第２図に示す。パターン板１は例
えば長さｆ、の透明の板ガラスに、異なる幅ｄ、、ｄｉ
の複数のパターン部１１．１２を所定間隔！□で形
成すべくこの部分を除いてクロム等の金属を蒸着したも
のである。これによりパターン板１上には金属を蒸着し
た明度の低い地の部分１３と明度の高いパターン部１１
．１２が形成される。本実施例では、パターン部１１は
その幅ｄ１ を１０ＩｌｌＩ１１程度となして基準パ
ターン部としである。残るパターン部１２の幅ｄユ は
Ｑ、５ｍｍ〜９ｎｖの間で次第に小さくしである。これ
らは塗装面Ｂ上に投影されたパターン幅では０．２ｆｆ
ｌＩ１１〜５ｍｎ＋ どなっている。また ！昌！２
はそれぞれ２００ｍｍ、５ｍｍとしである。
えば長さｆ、の透明の板ガラスに、異なる幅ｄ、、ｄｉ
の複数のパターン部１１．１２を所定間隔！□で形
成すべくこの部分を除いてクロム等の金属を蒸着したも
のである。これによりパターン板１上には金属を蒸着し
た明度の低い地の部分１３と明度の高いパターン部１１
．１２が形成される。本実施例では、パターン部１１は
その幅ｄ１ を１０ＩｌｌＩ１１程度となして基準パ
ターン部としである。残るパターン部１２の幅ｄユ は
Ｑ、５ｍｍ〜９ｎｖの間で次第に小さくしである。これ
らは塗装面Ｂ上に投影されたパターン幅では０．２ｆｆ
ｌＩ１１〜５ｍｎ＋ どなっている。また ！昌！２
はそれぞれ２００ｍｍ、５ｍｍとしである。
第３図には検知装置３の構成を示す。検知装置３は、イ
メージセンサ２２の出力信号Ｓを増幅するアンプ３１．
１ｌｆｌされた出力信号Ｓをイメージセンサ２２からの
クロック信号ＣＬに同期してデジタルデータに変換する
とともに変換終了時に割込信号ＩＮＴを発するＡ／Ｄ変
換器３２、ＣＰＵ３３、該ＣＰＵ３３の処理タイミング
を決定するクロック信号を発するりＯツク信号発生回路
３４、ｉ、ＩＩ Ｉｌｌプログラム格納用ＲＯＭ３５、
ワークエリア用ＲＡＭ３６、出力ボート３７、表示器３
８よりなる。Ａ／Ｄ変換器３２、ＣＰＵ３３、ＲＯＭ３
５、ＲＡＭ３６、出力ボート３７はデータバス３９によ
って互いに接続されている。
メージセンサ２２の出力信号Ｓを増幅するアンプ３１．
１ｌｆｌされた出力信号Ｓをイメージセンサ２２からの
クロック信号ＣＬに同期してデジタルデータに変換する
とともに変換終了時に割込信号ＩＮＴを発するＡ／Ｄ変
換器３２、ＣＰＵ３３、該ＣＰＵ３３の処理タイミング
を決定するクロック信号を発するりＯツク信号発生回路
３４、ｉ、ＩＩ Ｉｌｌプログラム格納用ＲＯＭ３５、
ワークエリア用ＲＡＭ３６、出力ボート３７、表示器３
８よりなる。Ａ／Ｄ変換器３２、ＣＰＵ３３、ＲＯＭ３
５、ＲＡＭ３６、出力ボート３７はデータバス３９によ
って互いに接続されている。
以下、測定装置の作動を説明する。
第４図は、あらかじめ官能検査により３段階に評価した
塗装面試料Ｎｏ、１〜Ｎ０．３について、第２図のＡ−
Ａ−線に沿って設けたイメージセンサ２２の各画素の出
力信号Ｓの信号レベルを示すものである。図示の如く、
出力信号レベルは各パターン部１１．１２および地の部
分１３の明度に応じて変化する。図において、基準パタ
ーン部１１（第２図）に対応する出力信号レベルをＶｏ
となし、かつ基準パターン部１１に近いスリットバタ、
−ン部１２より順次番号を割り当ててｎ番目のパターン
部１２の出力信号レベルをＶｎとする。本実施例ではｎ
−８である。また、試料Ｎ０９１は仕上りの程度がもつ
とも良く、試料Ｎ０．３は最も悪い。図より知られる如
く、仕上り度の悪い塗装面はどパターン番号ｎの小さい
（すなわち、パターン幅ｄ２ の大きい）パターン部
１２までその出力信号レベルＶｎの低下が生じる。
塗装面試料Ｎｏ、１〜Ｎ０．３について、第２図のＡ−
Ａ−線に沿って設けたイメージセンサ２２の各画素の出
力信号Ｓの信号レベルを示すものである。図示の如く、
出力信号レベルは各パターン部１１．１２および地の部
分１３の明度に応じて変化する。図において、基準パタ
ーン部１１（第２図）に対応する出力信号レベルをＶｏ
となし、かつ基準パターン部１１に近いスリットバタ、
−ン部１２より順次番号を割り当ててｎ番目のパターン
部１２の出力信号レベルをＶｎとする。本実施例ではｎ
−８である。また、試料Ｎ０９１は仕上りの程度がもつ
とも良く、試料Ｎ０．３は最も悪い。図より知られる如
く、仕上り度の悪い塗装面はどパターン番号ｎの小さい
（すなわち、パターン幅ｄ２ の大きい）パターン部
１２までその出力信号レベルＶｎの低下が生じる。
なお、基準パターン部１１のパターン幅ｄ１ は測定
する塗装面試料Ｎ０．１〜Ｎ０．３の仕上り度によりそ
の反射像の明度が影響を受けることのない充分に大きな
幅としである。
する塗装面試料Ｎ０．１〜Ｎ０．３の仕上り度によりそ
の反射像の明度が影響を受けることのない充分に大きな
幅としである。
第５図、第６図にＣＰＬＩ３３ （第３図）のデータ処
理手順を示す、電源が投入されると処理が開始され、表
示器３８（第３図）をクリヤするための出力ボート３７
のリセットおよびメモリクリヤ等の初期化がなされる（
ステップ１０１．１０２）。ステップ１０３にて割込み
処理を可能となし、メモリフルフラグがセットされるま
で待つ（ステップ１０４）。この間にＡ／Ｄ変換器３２
からの割込み信号ＩＮＴがあると、第６図の割込みルー
チンが実行される。該別込みルーチンにおいて、Ａ／Ｄ
変換された出力信号データを入力してメモリにストアす
る（ステップ２０１．２０２＞。イメージセンサ２２（
第１図）の受光画素数と同数設けた上記メモリにすべて
データがストアされた場合にはメモリフルフラグをセッ
トし、割込みを禁止してリターンする（ステップ２０３
．２０５．２０６）。メモリ全部へのデータのストアが
終了していない場合にはメモリフルフラグをリセットし
てリターンするくステップ２０３，２０４）さて、メモ
リフルフラグがセットされると、上述の如くメモリにス
トアされた出力信号データのうちから基準パターン部１
１に対応する出力信号データを読出すとともにパターン
板１の地の部分１３に対応する出力信号データを読出し
くステップ１０５．１０６）、これらの差をとることに
より出力信号レベルＶ、を算出する（ステップ１０７）
。ステップ１０８ではカウンタｎを１にセットし、続い
てカウンタｎで指示されたスリットパターン部１２の出
力信号データを読出してこれと上記地の部分１３の出力
信号データとの差より出力信号レベル■ｎを算出する（
ステップ１０９．１１０）。ステップ１１１ではレベル
比Ｒｎ ＝Ｖｎ ／ＶＯを算出し、Ｒｎが所定値Ｒ’Ｏ
より大きければステップ１１３以降に進み、所定（ａＲ
ｏ以下ではステップ１１６以降に進む。
理手順を示す、電源が投入されると処理が開始され、表
示器３８（第３図）をクリヤするための出力ボート３７
のリセットおよびメモリクリヤ等の初期化がなされる（
ステップ１０１．１０２）。ステップ１０３にて割込み
処理を可能となし、メモリフルフラグがセットされるま
で待つ（ステップ１０４）。この間にＡ／Ｄ変換器３２
からの割込み信号ＩＮＴがあると、第６図の割込みルー
チンが実行される。該別込みルーチンにおいて、Ａ／Ｄ
変換された出力信号データを入力してメモリにストアす
る（ステップ２０１．２０２＞。イメージセンサ２２（
第１図）の受光画素数と同数設けた上記メモリにすべて
データがストアされた場合にはメモリフルフラグをセッ
トし、割込みを禁止してリターンする（ステップ２０３
．２０５．２０６）。メモリ全部へのデータのストアが
終了していない場合にはメモリフルフラグをリセットし
てリターンするくステップ２０３，２０４）さて、メモ
リフルフラグがセットされると、上述の如くメモリにス
トアされた出力信号データのうちから基準パターン部１
１に対応する出力信号データを読出すとともにパターン
板１の地の部分１３に対応する出力信号データを読出し
くステップ１０５．１０６）、これらの差をとることに
より出力信号レベルＶ、を算出する（ステップ１０７）
。ステップ１０８ではカウンタｎを１にセットし、続い
てカウンタｎで指示されたスリットパターン部１２の出
力信号データを読出してこれと上記地の部分１３の出力
信号データとの差より出力信号レベル■ｎを算出する（
ステップ１０９．１１０）。ステップ１１１ではレベル
比Ｒｎ ＝Ｖｎ ／ＶＯを算出し、Ｒｎが所定値Ｒ’Ｏ
より大きければステップ１１３以降に進み、所定（ａＲ
ｏ以下ではステップ１１６以降に進む。
ステップ１１３ではカウンタｎをインクリメントし、ス
テップ１１４にてｎ≦８であればステップ１０９以下を
繰り返す。ｎ＞８ではステップ１１５にて表示器３８（
第３図）上にオーバーフロー表示をする。ステップ１１
６ではＲｎ≦ＲＯとなった時のカウンタｎの値に対応す
るデータテーブル上のデータＱｎを読み出し、続いてこ
れを上記表示器３８上に表示する。データテーブルには
、あらかじめスリットパターン部１２のパターン幅ｄ２
が上記データＤｎとして順番にストアしである。
テップ１１４にてｎ≦８であればステップ１０９以下を
繰り返す。ｎ＞８ではステップ１１５にて表示器３８（
第３図）上にオーバーフロー表示をする。ステップ１１
６ではＲｎ≦ＲＯとなった時のカウンタｎの値に対応す
るデータテーブル上のデータＱｎを読み出し、続いてこ
れを上記表示器３８上に表示する。データテーブルには
、あらかじめスリットパターン部１２のパターン幅ｄ２
が上記データＤｎとして順番にストアしである。
ところで、上記レベル比Ｒｎは、パターン幅ｄユの異な
る各スリットパターン１２について、塗装面Ｂの仕上り
度によって第７図の如く変化する。
る各スリットパターン１２について、塗装面Ｂの仕上り
度によって第７図の如く変化する。
図中線ｙ１、ｙユ 、ｙ３ はこの順に仕上り度の良
い塗装面Ｂに対応する。
い塗装面Ｂに対応する。
図において、上記所定値ＲＯを０．７５とすると、Ｒｎ
≦ＲＯとなるパタ−ン番号 では１．７５１１１ｆｆｌ、線Ｖ、では２．６１１１ｆ
ｆ１１線ｙ３ では５．５ＩｌｌＩ１１である。すな
わち、塗装面Ｂの仕上り度が良い程、上記パターン幅ｄ
２ は小さくなる。
≦ＲＯとなるパタ−ン番号 では１．７５１１１ｆｆｌ、線Ｖ、では２．６１１１ｆ
ｆ１１線ｙ３ では５．５ＩｌｌＩ１１である。すな
わち、塗装面Ｂの仕上り度が良い程、上記パターン幅ｄ
２ は小さくなる。
しかして、上述の手順によって、Ｒｎ≦ＲＯとなるパタ
ーン幅データＱｎを表示することにより、測定した塗装
面Ｂの仕上り度を定量的に知ることができる。
ーン幅データＱｎを表示することにより、測定した塗装
面Ｂの仕上り度を定量的に知ることができる。
上記実施例において、レベル比Ｒｎを全てのスリットパ
ターン部１２について求めるようにすれば、上記パター
ン部１２は必ずしもパターン幅ｄ２の大きざに従って順
番に形成する必要はない。
ターン部１２について求めるようにすれば、上記パター
ン部１２は必ずしもパターン幅ｄ２の大きざに従って順
番に形成する必要はない。
また、ＣＯＤイメージセンサに代えてフォトダイオード
アレイ等を使用しても良く、かつライン型センサに代え
てエリア型センサを使用してそのライン毎にデータ処理
をしても同様の効果が得られる。そして、エリア型セン
サを使用した場合には、複数のラインについて出力信号
を得て、これらの平均値を算出すればより正確な測定結
果が得られる。
アレイ等を使用しても良く、かつライン型センサに代え
てエリア型センサを使用してそのライン毎にデータ処理
をしても同様の効果が得られる。そして、エリア型セン
サを使用した場合には、複数のラインについて出力信号
を得て、これらの平均値を算出すればより正確な測定結
果が得られる。
さらに、有限数（上記実施例では８）のスリットパター
ン部１２の互いに隣接するパターン部１２間の出力信号
を補間により算出すれば更に正確な測定が可能である。
ン部１２の互いに隣接するパターン部１２間の出力信号
を補間により算出すれば更に正確な測定が可能である。
上記実施例において、パターン板の後方より照明すれば
、地の部分とパターン部の明度差が大きくなって測定感
度が上昇する。
、地の部分とパターン部の明度差が大きくなって測定感
度が上昇する。
以上の如く、本発明の塗装面測定装置は、互いに幅の異
なる複数のパターン部を間隔をおいて形成したパターン
板を塗装面に対向して設けるとともに該塗装面により反
射形成される反射像を結像する備装手段を設け、反射像
の各パターン部において異なった値を示す明度に応じて
上記ｍｓ手段より出力される信号レベルが所定のレベル
を示した上記パターン部のパターン幅より塗装の仕上り
度を知るようにしたもので、パターンを移動せしめる機
構を必要とせず、かつ鏡面データによる校正も不要で、
しかも比較的容易な演算によって正確に塗装面の測定を
することができる。
なる複数のパターン部を間隔をおいて形成したパターン
板を塗装面に対向して設けるとともに該塗装面により反
射形成される反射像を結像する備装手段を設け、反射像
の各パターン部において異なった値を示す明度に応じて
上記ｍｓ手段より出力される信号レベルが所定のレベル
を示した上記パターン部のパターン幅より塗装の仕上り
度を知るようにしたもので、パターンを移動せしめる機
構を必要とせず、かつ鏡面データによる校正も不要で、
しかも比較的容易な演算によって正確に塗装面の測定を
することができる。
上記実施例では、パターン板に基準パターン部を設けて
、反射像における該パターン部の出力信号とスリットパ
ターン部の出力信号の比をとっているから、塗装面に入
射する外乱光により測定精度が低下することはない。
、反射像における該パターン部の出力信号とスリットパ
ターン部の出力信号の比をとっているから、塗装面に入
射する外乱光により測定精度が低下することはない。
第１図は本発明の全体構成図、第２図はパターン板の正
面図、第３図は検知装置の構成を示すブロック図、第４
図は仕上り度の異なる塗装面を測定した場合の撮像装置
の出力信号レベルを示す図、第５図、第６図は検知装置
のデータ処理手順を示すプログラムフローチャート、第
７図は仕上り度の異なる塗装面についてスリットパター
ン幅とレベル比の関係を示す図である。 １・・・・・・パターン板 １１・・・・・・基準パタ
ーン部１２・・・・・・スリットパターン部（パターン
部）１′・・・・・・反射像 ２・・・・・・Ｗｉ像
装置２１・・・・・・レンズ ２２・・・・・・イメ
ージセンサ３・・・・・・検出装置 Ｂ・・・・・・
塗装面第１図 第２図
面図、第３図は検知装置の構成を示すブロック図、第４
図は仕上り度の異なる塗装面を測定した場合の撮像装置
の出力信号レベルを示す図、第５図、第６図は検知装置
のデータ処理手順を示すプログラムフローチャート、第
７図は仕上り度の異なる塗装面についてスリットパター
ン幅とレベル比の関係を示す図である。 １・・・・・・パターン板 １１・・・・・・基準パタ
ーン部１２・・・・・・スリットパターン部（パターン
部）１′・・・・・・反射像 ２・・・・・・Ｗｉ像
装置２１・・・・・・レンズ ２２・・・・・・イメ
ージセンサ３・・・・・・検出装置 Ｂ・・・・・・
塗装面第１図 第２図
Claims (6)
- （１）塗装面に対向する面に地の明度と異なる明度でか
つ互いに幅の異なる複数のパターン部を間隔をおいて形
成したパターン板と、塗装面により反射形成された上記
パターン板の反射像を結像して該反射像の各パターン部
において異なった値を示す明度に応じた出力信号を発す
る撮像手段と、出力信号が所定のレベルを示した上記パ
ターン部のパターン幅より塗装面の仕上り度を知る検知
手段とを具備する塗装面測定装置。 - （２）上記パターン板には、測定すべき塗装面の仕上り
度によつてはその明度が影響されない充分に大きなパタ
ーン幅の基準パターン部と、これよりも小さくかつ互い
に異なる所定のパターン幅の複数のスリットパターン部
とを具備せしめてある特許請求の範囲第１項記載の塗装
面測定装置。 - （３）上記撮像手段を、結像した反射像における各パタ
ーン部の幅方向の直線上での明度変化に応じた出力信号
を発するように設定した特許請求の範囲第１項記載の塗
装面測定装置。 - （４）上記撮像手段を、反射像を結像せしめるレンズと
、明度に応じた出力信号を発する受光画素を反射像のパ
ターン部の幅方向に一列に多数設けたイメージセンサと
により構成した特許請求の範囲第３項記載の塗装面測定
装置。 - （５）上記検知手段を、各スリットパターン部の出力信
号レベルと基準パターン部の出力信号レベルとの比の値
を算出して、これが所定値を示した上記スリットパター
ン部のパターン幅より塗装面の仕上り度を検知するよう
に設定した特許請求の範囲第２項記載の塗装面測定装置
。 - （６）上記スリットパターン部のパターン幅を塗装面に
投影されたパターン幅に換算して０．２ｍｍ〜５ｍｍに
設定した特許請求の範囲第２項記載の塗装面測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59197706A JPS6175237A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 塗装面測定装置 |
| US06/777,680 US4636648A (en) | 1984-09-20 | 1985-09-19 | Coating quality measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59197706A JPS6175237A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 塗装面測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6175237A true JPS6175237A (ja) | 1986-04-17 |
| JPH049465B2 JPH049465B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=16379000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59197706A Granted JPS6175237A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 塗装面測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4636648A (ja) |
| JP (1) | JPS6175237A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63274847A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Kanto Auto Works Ltd | 塗面の光沢度測定方法 |
| JPH01141339A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 煙霧透過率計測装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4037273C2 (de) * | 1989-12-01 | 2003-07-31 | Leica Geosystems Ag | Einrichtung zur fotogrammetrischen Vermessung eines Objekts |
| CH682516A5 (de) * | 1991-02-13 | 1993-09-30 | Samro Bystronic Maschinen Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer Dimension eines Körpers und Anwendung dieses Verfahrens. |
| US5329810A (en) * | 1993-08-23 | 1994-07-19 | General Motors Corporation | Non-destructive test strip and method for measuring paint film build |
| US7707039B2 (en) * | 2004-02-15 | 2010-04-27 | Exbiblio B.V. | Automatic modification of web pages |
| DE102016101554A1 (de) * | 2016-01-28 | 2017-08-03 | Vorwerk & Co. Interholding Gmbh | Reinigungsgerät, insbesondere Feuchtwischgerät |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5271289A (en) * | 1975-12-11 | 1977-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | Surface inspection device |
| JPS5290988A (en) * | 1976-01-27 | 1977-07-30 | Nissan Motor | Method of checking surface defects of body |
| US4522497A (en) * | 1981-06-17 | 1985-06-11 | Ciba Geigy Ag | Web scanning apparatus |
| JPS5897608A (ja) * | 1981-12-05 | 1983-06-10 | Nippon Paint Co Ltd | 表面性状測定方法および装置 |
-
1984
- 1984-09-20 JP JP59197706A patent/JPS6175237A/ja active Granted
-
1985
- 1985-09-19 US US06/777,680 patent/US4636648A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63274847A (ja) * | 1987-05-06 | 1988-11-11 | Kanto Auto Works Ltd | 塗面の光沢度測定方法 |
| JPH0545903B2 (ja) * | 1987-05-06 | 1993-07-12 | Kanto Jidosha Kogyo Kk | |
| JPH01141339A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 煙霧透過率計測装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049465B2 (ja) | 1992-02-20 |
| US4636648A (en) | 1987-01-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103383360B (zh) | 一种薄带连铸坯表面缺陷正弦光栅相移检测装置及检测方法 | |
| JP3246021B2 (ja) | 二次元測色計 | |
| US5650844A (en) | LCD panel image quality inspection system and LCD image presampling method | |
| AU608807B2 (en) | Apparatus for monitoring bloodstream | |
| US4993835A (en) | Apparatus for detecting three-dimensional configuration of object employing optical cutting method | |
| JPS6175236A (ja) | 塗装面測定装置 | |
| JPS6175237A (ja) | 塗装面測定装置 | |
| JPS63117206A (ja) | 塗装面測定装置 | |
| JPH0621776B2 (ja) | 鮮映性測定方法 | |
| JP4191953B2 (ja) | レ−ザ走査型寸法測定機の校正方法 | |
| JPH03235007A (ja) | スペックル測長計 | |
| JP2001099708A (ja) | 色面検査方法 | |
| JPH03216768A (ja) | 像処理法および像処理装置 | |
| GB2143700A (en) | Object location | |
| JP3319666B2 (ja) | エッジ検出装置 | |
| JPS623609A (ja) | 測距装置 | |
| JP2568879Y2 (ja) | スペックル測長計に於けるモニター装置 | |
| JP3264488B2 (ja) | 像処理法および像処理装置 | |
| JPS6112527B2 (ja) | ||
| SU1182275A1 (ru) | Способ определени характеристик спектрофотометра | |
| JPH02296185A (ja) | 視程計校正装置 | |
| SU938018A1 (ru) | Бесконтактный измеритель геометрических размеров или перемещений изделий | |
| SU958977A2 (ru) | Телевизионный измеритель скорости перемещающихс объектов | |
| JP3100141B2 (ja) | 像処理法および像処理装置 | |
| GB2159621A (en) | Fast response gauging system |