JP2825078B2 - マイクロコンピュータ評価システムおよびこのシステムを用いた評価方法 - Google Patents

マイクロコンピュータ評価システムおよびこのシステムを用いた評価方法

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JP2825078B2 JP8041040A JP4104096A JP2825078B2 JP 2825078 B2 JP2825078 B2 JP 2825078B2 JP 8041040 A JP8041040 A JP 8041040A JP 4104096 A JP4104096 A JP 4104096A JP 2825078 B2 JP2825078 B2 JP 2825078B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロコンピュ
ータ評価システムおよびこのシステムを用いた評価方法
に係わり、特に評価対象のターゲットチップと同一CP
Uをもつダミーチップを併用することにより、外部メモ
リのアクセス内容を拡張して評価の効率化を図ったマイ
クロコンピュータ評価システムおよびこのシステムを用
いた評価方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の半導体素子の微細鍵術の進展に伴
ないマイクロコンピュータは1チップ上に複数の周辺機
能を内蔵することが可能となり、その機能が年々多様化
したマイクロコンピュータが開発されている。また、マ
イクロコンピュータの価格は、プロセス技術の進歩,近
年まれにみる価格競争により一層下落傾向にある。開発
者はこの状況に対応するために、コストを抑えようとす
る。例えば、周辺機能を極力少なくしたり、ピン数を極
力少なくすることで開発コストの低減や開発日程の短縮
を行ってきた。
【0003】このような状況下において、実際に開発し
たマイクロコンピュータをユーザに出荷するためには、
その開発した製品が開発者側の期待通りに動作している
かどうか実際のターゲットチップを用いてテストしなけ
るばならない。
【0004】このターゲットチップのテストは、内蔵R
OMを用いずに、外部のメモリに書かれているテストプ
ログラムを読み取り実行することにより得られた結果と
開発者側が期待していたとおりの結果を比較し、真偽を
判断するという方法がとられている。
【0005】従来のマイクロコンピュータをテストする
際の評価システムの構成について説明する。
【0006】こお種の従来の評価システムの一例の構成
図を示した図6を参照すると、このシステムの構成は、
ターゲットチップ513,評価装置501およびホスト
マシンとしてのパーソナルコンピュータ502である。
【0007】評価装置501は、外部メモリ503,タ
ーゲットクロック出力508,ターゲットリセット出力
509,パラレルインターフェイス510を含んで構成
されている。この評価装置501内では、ホストマシン
502から入出力されるデータと、パラレルインターフ
ェイス510から入出力されるデータが評価装置501
内の内部データバス511を介して接続されている。そ
の他の機能ブロックはここでは省略してある。
【0008】ターゲットチップ513は、外部メモリ5
03をアクセスするため、外部拡張モード、すなわち内
蔵メモリのプログラム空間は用いずに外部のメモリをア
クセスするモードに設定する。
【0009】ホストマシン502は、評価結果を判定す
るために用いる。
【0010】ターゲットチップ513および評価装置5
01の接続に関しては次の通りである。
【0011】評価装置501側のパラレルインターフェ
イス510をターゲットチップ513側の入出力ポート
520に接続する。また外部メモリ503をアクセスす
るために、ターゲットチップ513側のアドレス出力端
子516,データ入出力端子517を評価装置501側
の外部メモリ503のアドレス入力端子ADR506、
データ入出力端子DAT507にそれぞれ接続する。
【0012】同様に、ターゲットチップ513のリード
ストローブ信号514,ライトストローブ信号515を
評価装置501側の外部メモリ503のリードストロー
ブ入力RD504、ライトストローブ入力WR505に
それぞれ接続する。
【0013】評価装置501側のターゲットクロック出
力508,ターゲットリセット出力509をターゲット
チップ513側のターゲットクロック入力端子518,
ターゲットリセット入力端子519へそれぞれ接続す
る。
【0014】上述したマイクロコンピュータ評価装置の
テスト方法をフローチャートで示した図8を参照する
と、ステップ1は、ターゲットチップ513がリセット
解除と同時に外部メモリ503に書かれているテストプ
ログラムを読み出し,処理を実行する(図8−S20,
21)。
【0015】ステップ2は、ターゲットチップ513が
実行したプログラムの結果を自身の入出力ポート520
から評価装置501側のパラレルインターフェイス51
0に出力する(図8−S22)。
【0016】ステップ3は、評価装置501側のパラレ
ルインターフェイス510のデータをその評価装置50
1内の内部データバス511を通してホストマシン50
2にデータを格納する(図8−S23)。
【0017】ステップ3は、評価装置501内のホスト
マシン502で、格納したデータとあらかじめ設定され
ている期待値を比較しテスト結果を判断する(図8−S
24)。
【0018】ステップ4は、次のテストプログラムを読
み取り、処理を実行する(図8−S25する)。
【0019】ステップ4は、ステップ 1に戻りテスト
を繰り返す(図8−S25する)。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のマイク
ロコンピュータのように、1つのチップに複数の周辺機
能が内蔵されているマイクロコンピュータでは、汎用入
出力ポートおよび周辺機能の入出力端子をそれぞれ兼用
している。このマイクロコンピュータを評価するとき
に、1つのプログラムで多くの機能についてテストする
には、入出力ポート520を1つでも多く評価装置側の
パラレルインターフェイスに接続する必要があるしか
し、ターゲットチップ513から外部メモリに記憶させ
たテストプログラムをアクセスするには、テスト用端子
として、アドレス出力端子515、データ入出力端子5
17、リードストローブ信号端子514、ライトストロ
ーブ信号端子515を必ず設けなければならない。
【0021】ここで、外部拡張モードでターゲットマイ
コン513をテストするときに必ず設けなければならな
い端子、すなわち上述したアドレス出力、データ入出
力、リードストローブ信号およびライトストローブ信号
を極力少なくするために、アドレス出力の端子数を減ら
していた。アドレス出力端子516が少ないということ
は、アクセスできるプログラム領域が限られてくるとい
う問題点がある。すなわちテストプログラムのサイズを
小さくしなくてはならなくなるという欠点が生じる。
【0022】本発明の目的は、上述した欠点に鑑みなさ
れたものであり、外部のメモリ空間をアクセスすること
が出来る外部拡張モードでテストをする際、少ないテス
ト端子でもアドレスの制限なくテストプログラムを実行
出る評価システムを提供することにある。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明のマイクロコンピ
ュータ評価システムの特徴は、評価対象のターゲットチ
ップと外部メモリを有する評価装置と前記ターゲットチ
ップの出力データを期待値と比較するホストマシンとを
備えるマイクロコンピュータ評価システムにおいて、前
記ターゲットチップと同一の演算処理ユニットをもち同
一の命令を実行可能なダミーチップとを有し、前記外部
メモリのメモリ空間をアクセス出来る外部拡張モードで
テストを実行するときに、これら2つのチップを同一ク
ロック信号および同一のリセット信号で動作させるとと
もに、前記ダミーチップは前記評価装置のパラレルイン
タフェース端子を除く全ての入出力端子が割り当てら
れ、前記ターゲットチップは前記外部メモリのデータ入
出力および前記パラレルインタフェース端子のみが割り
当てられて、前記外部メモリの全アドレス空間をアクセ
スするアドレスの拡張と前記パラレルインタフェースの
拡張とが出来るようにしたことにある。
【0024】また、前記外部メモリから読み出されるデ
ータは前記ターゲットチップおよび前記ダミーチップに
それぞれ供給されて処理され、それぞれの処理結果のデ
ータのうち前記ダミーチップの出力データは前記評価装
置のデータバスへの出力が遮断され、前記ターゲットチ
ップの出力データのみ前記データバスへ出力させる出力
制御手段を有する。
【0025】さらに、前記ダミーチップからの出力デー
タを遮断する制御信号は前記外部メモリからのデータの
読み出しを制御するリードストローブ信号および前記外
部メモリへのデータの書き込みを制御するライトストロ
ーブ信号のみを用いる。
【0026】本発明のマイクロコンピュータ評価システ
ムを用いた評価方法の特徴は、評価対象のターゲットチ
ップと外部メモリを有する評価装置と前記ターゲットチ
ップの出力データを期待値と比較するホストマシンとを
備えるマイクロコンピュータ評価システムを用いる評価
方法において、前記ターゲットチップと同一の演算処理
ユニットをもち同一の命令を実行可能なダミーチップと
を用いて、リセット解除と同時に前記ダミーチップおよ
び前記ターゲットチップを同時に動作開始させ、前記ダ
ミーチップは前記外部メモリにアドレスを出力させ、こ
のアドレスのテストプログラムを前記ダミーチップはバ
ス制御回路を介して、前記ターゲットチップは直接にそ
れぞれ入力させることによって、前記ダミーチップと前
記ターゲットチップに前記テストプログラムを実行させ
る第1のステップと、前記ターゲットチップには前記テ
ストプログラムの実行結果を自身の入出力ポートから前
記評価装置側のパラレルインターフェイスに出力させ、
前記ダミーチップは前記プログラムの実行結果を出力さ
せない第2のステップと、前記パラレルインターフェイ
スに出力させた前記プログラムの実行結果を前記評価装
置内の内部データバスを通してホストマシンに格納させ
る第3のステップと前記ホストマシン内に格納された前
記プログラムの実行結果とあらかじめ格納された期待値
とを比較させ、前記テスト結果の良否を判断する第4の
ステップと、全てのテストプログラムの比較が終了して
いなければ前記第1ステップに戻して次のテストプログ
ラムを読み込ませてテストを繰り返し、比較が終了して
いれば評価を終了させる第5のステップとからなる。
【0027】
【発明の実施の形態】まず、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。図1は本発明のマイクロコン
ピュータ評価システムの構成図であり、図2はバス制御
回路の構成図である。図1および図2を参照すると、本
発明の評価システムは、ターゲットチップ122とダミ
ーチップ115(ターゲットチップ122と同一CPU
のもの)の2チップ構成であり、さらに評価装置101
とホストマシン102(パーソナルコンピュータ)の4
ユニットで構成されている。
【0028】評価装置101は、ホストマシン102、
外部メモリ103、クロック110、リセット109、
パラレルインターフェイス111、バス制御回路108
を含んで構成されている。また、評価装置101内の内
部データバス113を介してホストマシン102とパラ
レルインターフェイス111が接続されている。
【0029】パーソナルコンピュータを用いたホストマ
シン102は、評価結果を判定するために用いる。
【0030】また、2つのチップ、すなわちダミーチッ
プ115とターゲットチップ122)の役割は次の通り
である。
【0031】(イ)ダミーチップ115 ダミーチップ115は外部のメモリ空間を拡張できる外
部拡張モードで動作させる。まずリセット解除と同時に
動作を開始する。ダミーチップ115は、評価装置10
1内の外部メモリ103からデータをフェッチするため
に、テスト用端子として、アドレス出力端子118、リ
ードストローブ信号116、ライトストローブ信号11
7、データ入出力端子119を備えている。
【0032】これらの端子を用いてダミーチップ115
から評価装置101へアドレスを出力し、データを読み
とる。ダミーチップ115は、このデータに基づき演算
処理を実行し周辺機能に動作を行わせるが、この結果得
られたデータは評価には用いない。あくまでもターゲッ
トチップ122を評価するためである。
【0033】(ロ)ターゲットチップ122 ターゲットチップ122はダミーチップ115と同じく
外部拡張モードで動作させる。ダミーチップ115と同
じリセット信号109およびクロック信号110を受け
て動作を開始する。しかし、ターゲットチップ122
は、テスト端子であるアドレス出力端子118、リード
ストローブ信号116、ライトストローブ信号117は
備えない。ダミーチップ115が出力したアドレスの外
部メモリ103のデータをアクセスするためのデータ入
出力端子125のみ備えている。
【0034】実際の処理結果の評価として使用するデー
タは、このターゲットチップ122のデータを用いる。
ダミーチップ115とターゲットチップ122の処理に
関しては、同一CPU、同一クロック信号、および同一
リセット信号を用いているので、基本的には同じ動作を
する。
【0035】ダミーチップ115とターゲットチップ1
22と評価装置101との接続に関しては次の通りであ
る。
【0036】評価装置101側のパラレルインターフェ
イス111をターゲットチップ122側の入出力ポート
126に接続し、また評価装置101内のリセット10
9を、ダミーチップ115側のターゲットリセット入力
端子120とターゲットチップ122側のターゲットリ
セット入力端子124へ接続する。
【0037】評価装置101内のクロック110をダミ
ーチップ115側のターゲットクロック入力端子121
とターゲットチップ122側のターゲットクロック入力
端子123にそれぞれ接続させる。外部メモリ103を
アクセスするために、ダミーチップ115側のアドレス
出力端子118を評価装置101内の外部メモリ103
のアドレス入力ADR106に接続する。同様にダミー
チップ115側のリードストローブ信号116およびラ
イトストローブ信号117を評価装置101内の外部メ
モリ103のリードストローブ入力RD104、ライト
ストローブ入力WR105に向けてそれぞれ出力する。
【0038】また、評価装置101内の外部メモリ10
3の入出力データ端子DAT107をダミーチップ11
5のデータ入出力端子119とターゲットチップ122
のデータ入出力端子125に対しそれぞれ接続する。こ
の時、外部メモリ103およびダミーチップ115間の
データバス上にバス制御回路108を介して、ダミーチ
ップ115および部メモリ103間のデータ入出力端子
を接続する。
【0039】次に、バス制御回路108について説明す
る。図2を参照すると、テストプログラムを実行中に外
部メモリ103に対し書き込み(ライト)処理をする場
合は、ダミーチップ115からのライトデータではな
く、ターゲットチップ122からのライトデータを外部
メモリ103にライトするようにする。すなわち、ライ
ト動作時は、ダミーチップ115から送られてくるライ
トデータをカットする制御が必要になる。この役割りを
バス制御回路108が果している。
【0040】バス制御回路108の具体的な構成は次の
通りである。すなわち、ダミーチップ115と評価装置
101内の外部メモリ103間のデータバスにトライス
テートバッファ212を置き、ダミーチップ115と評
価装置101内 の外部メモリ103間のデータバスを
切断できるようにする。トライステートバッファ212
の向きは、バッファ出力OUT211をダミーチップ2
16のデータ入出力119に向ける方向である。
【0041】ダミーチップ115から出力されるリード
ストローブ信号116をセット・リセット付きフリップ
フロップ205のセット側(S206側)に接続し、ま
た、ライトストローブ信号をリセット側(R207側)
に接続し、フリップフロップ205の出力信号Q208
をダミーチップ115および外部メモリ103間のデー
タバス上にあるトライステートバッファ212の開閉信
号SIG209として使用する。
【0042】この時、リードストローブ信号116とラ
イトストローブ信号117は同時にハイレベルにはなら
ない。すなわちリードとライトは同時には起こらない。
【0043】このデータライト時のバス制御回路108
の制御を説明するための信号接続図を注連した図3
(a)、およびそのタイミングチャートを示した図
(b)を参照しながら動作を説明する。
【0044】テストプログラムを読み出すデータリード
時、評価装置101内の外部メモリ103のデータ端子
DAT107からのリードデータ1は、ダミーチップ1
15およびターゲットチップ122を共有する。すなわ
ち、ダミーチップ115のデータ入出力119およびタ
ーゲットチップ122のデータ入出力125へはリード
ストローブ信号116に同期してリードデータ1がそれ
ぞれ入力される。
【0045】また、評価装置101内の外部メモリ10
3からのリードデータ2の場合も同様に、リードストロ
ーブ信号116に同期してダミーチップ115のデータ
入出力119とターゲットチップ122のデータ入出力
125にリードデータ2が入力される。
【0046】しかし、データライト時は、バス制御回路
108内のS−Rフリップフロップ回路205の出力Q
208がインアクティブなので、ダミーチップ115側
からのライトデータ1を殺し、ターゲットチップ122
側からのライトデータ2が外部メモリ103のデータ入
出力DAT107へ入力される。
【0047】次に本発明のマイクロコンピュータ評価シ
ステムを用いた評価方法のフローチャートを示した図4
を参照して説明する。
【0048】ステップ1は、リセット解除と同時にダミ
ーチップ115およびターゲットチップ122は同時に
動作を開始し、ダミーチップ115は外部メモリ103
に向けてアドレスを出力し、出力されたアドレスのテス
トプログラムをダミーチップ115はバス制御回路10
8を介して、ターゲットチップ122直接にそれぞれ入
力し、ダミーチップ115とターゲットチップ122は
プログラムを実行する(図4−S01〜S03)。
【0049】ステップ2は、ターゲットチップ122は
実行したプログラムの結果を自身の入出力ポート126
から評価装置101側のパラレルインターフェイス11
1に出力する。ダミーチップ115側でも同じプログラ
ムを実行するが、評価の対象外ということで評価装置1
01側へは出力しない(図4−S03)。
【0050】ステップ3は、評価装置101側のパラレ
ルインターフェイス111のデータをその評価装置10
1内の内部データバス113を通してホストマシン10
2にデータを格納する(図4−S04)。
【0051】ステップ4は、評価装置101内のホスト
マシン102内で格納したデータと期待値を比較し、テ
スト結果を判断する(図4−S13)。
【0052】ステップ5は、次のテストプログラムを読
みとり、処理を実行する(図4−S05)。
【0053】ステップ6は、ステップ1に戻りテストを
繰り返す(図4−S12)。
【0054】
【発明の効果】この発明では、マイクロコンピュータの
評価システムを2チップ構成、すなわちダミーチップと
ターゲットチップにして、ダミーチップは評価装置のパ
ラレルインタフェースを除く全ての入出力端子が割り当
てられ、ターゲットチップは外部メモリのデータ入出力
およびパラレルインタフェースの端子のみが割り当てら
れて、外部メモリの全アドレス空間をアクセスするアド
レスの拡張とパラレルインタフェースの拡張とが出来る
ようにしたので、テストプログラムのアドレス空間の制
限をなくしフルアドレス空間をアクセスすることがで
き、さらにターゲットチップは外部拡張モードのテスト
時に使用するアドレス出力端子、リードストローブ端
子、ライトストローブ端子を確保する必要がなくなり大
幅にテストに使用する端子を減らすことができる。この
ことにより、マイクロコンピュータの開発期間を短縮
し、生産コストを削減することができる。また、テスト
プログラムのアドレス空間の制限がなくなったことで、
1つのプログラムで多くの機能をテストすることがで
き、信頼性の向上にもつながる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態のシステム構成図であ
る。
【図2】本発明のダミーチップおよび外部メモリ間のデ
ータバス制御回路の構成図である。
【図3】(a)本発明のライト動作時における信号接続
図である。 (b)そのライト動作説明用のタイミングチャートであ
る。
【図4】評価時のデータの動きを説明するための構成図
である。
【図5】本発明におけるマイクロコンピュータ評価装置
の評価方法のフローチャートである。
【図6】従来の評価システムの一例を示す構成図であ
る。
【図7】従来例の評価方法におけるデータの動きを説明
するための構成図である。
【図8】従来例におけるマイクロコンピュータ評価装置
の評価方法のフローチャートである。
【符号の説明】
101,501 評価装置 102,502 ホストマシン 103,503 外部メモリ 104,504 RD端子 105,505 WR端子 106,506 ADR端子 107,507 DAT端子 108 バス制御回路 109 リセット端子 110 クロック信号 111,510 パラレルインフォメーション(パラ
レルI/F) 113,512 内部データバス 115 ダミーチップ 116,514 リードストローブ信号 117,515 ライトストローブ信号 118,516 アドレス出力端子 119,125,517 517 データ入出力
端子 120,123 ターゲットリセット入力端子 121,124 ターゲットリセット入力端子 122,513 ターゲットチップ 126,520 入出力ポート 205 R−Sフリップフロップ 212 トラステートバッファ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 評価対象のターゲットチップと外部メモ
    リを有する評価装置と前記ターゲットチップの出力デー
    タを期待値と比較するホストマシンとを備えるマイクロ
    コンピュータ評価システムにおいて、前記ターゲットチ
    ップと同一の演算処理ユニットをもち同一の命令を実行
    可能なダミーチップとを有し、前記外部メモリのメモリ
    空間をアクセス出来る外部拡張モードでテストを実行す
    るときに、これら2つのチップを同一クロック信号およ
    び同一のリセット信号で動作させるとともに、前記ダミ
    ーチップは前記評価装置のパラレルインタフェース端子
    を除く全ての入出力端子が割り当てられ、前記ターゲッ
    トチップは前記外部メモリのデータ入出力および前記パ
    ラレルインタフェース端子のみが割り当てられて、前記
    外部メモリの全アドレス空間をアクセスするアドレスの
    拡張と前記パラレルインタフェースの拡張とが出来るよ
    うにしたことを特徴とするマイクロコンピュータ評価シ
    ステム。
  2. 【請求項2】 前記外部メモリから読み出されるデータ
    は前記ターゲットチップおよび前記ダミーチップにそれ
    ぞれ供給されて処理され、それぞれの処理結果のデータ
    のうち前記ダミーチップの出力データは前記評価装置の
    データバスへの出力が遮断され、前記ターゲットチップ
    の出力データのみ前記データバスへ出力させる出力制御
    手段を有する請求項1記載のマイクロコンピュータ評価
    システム。
  3. 【請求項3】 前記ダミーチップからの出力データを遮
    断する制御信号は前記外部メモリからのデータの読み出
    しを制御するリードストローブ信号および前記外部メモ
    リへのデータの書き込みを制御するライトストローブ信
    号のみを用いる請求項2記載のマイクロコンピュータ評
    価システム。
  4. 【請求項4】 評価対象のターゲットチップと外部メ
    モリを有する評価装置と前記ターゲットチップの出力デ
    ータを期待値と比較するホストマシンとを備えるマイク
    ロコンピュータ評価システムを用いる評価方法におい
    て、前記ターゲットチップと同一の演算処理ユニットを
    もち同一の命令を実行可能なダミーチップとを用いて、
    リセット解除と同時に前記ダミーチップおよび前記ター
    ゲットチップを同時に動作開始させ、前記ダミーチップ
    は前記外部メモリにアドレスを出力させ、このアドレス
    のテストプログラムを前記ダミーチップはバス制御回路
    を介して、前記ターゲットチップは直接にそれぞれ入力
    させることによって、前記ダミーチップと前記ターゲッ
    トチップに前記テストプログラムを実行させる第1のス
    テップと、 前記ターゲットチップには前記テストプログラムの実行
    結果を自身の入出力ポートから前記評価装置側のパラレ
    ルインターフェイスに出力させ、前記ダミーチップは前
    記プログラムの実行結果を出力させない第2のステップ
    と、 前記パラレルインターフェイスに出力させた前記プログ
    ラムの実行結果を前記評価装置内の内部データバスを通
    してホストマシンに格納させる第3のステップと前記ホ
    ストマシン内に格納された前記プログラムの実行結果と
    あらかじめ格納された期待値とを比較させ、前記テスト
    結果の良否を判断する第4のステップと、 全てのテストプログラムの比較が終了していなければ前
    記第1ステップに戻して次のテストプログラムを読み込
    ませてテストを繰り返し、比較が終了していれば評価を
    終了させる第5のステップとからなるマイクロコンピュ
    ータ評価システムを用いた評価方法。
JP8041040A 1996-02-28 1996-02-28 マイクロコンピュータ評価システムおよびこのシステムを用いた評価方法 Expired - Fee Related JP2825078B2 (ja)

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