JP2817803B2 - シンク発生方法 - Google Patents
シンク発生方法Info
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Description
するものである。
号を送信する場合、複数のデータを1ブロックとして、
ブロック毎にシンクパターンと呼ばれる特定のパターン
を付加した形式の信号をシリアル信号にして送信する。
受信時にはこのシンクパターンを検出することによっ
て、シリアルパラレル変換のタイミングとブロック同期
のタイミングを再生する。
第4図において、Sはシンクパターン、DATAは複数のデ
ータを1ブロックにしたデータである。各ブロックのデ
ータの先頭にはシンクが付けられている。
るため、ブロック同期が取れないと全くデータが受信で
きない。すなわち、受信側のシンク検出能力がデータの
誤り率に大きく影響する。
る。シンク検出はパラレルデータを用いて行われるが、
第2図はデータをシリアルデータとして書いている。第
2図において、パラレルデータのビット長をrビットと
する。
3つの連続するrビットのパラレルデータであって、デ
ータにそれぞれ信号A,B,Cをつけている。以下、203〜20
7,208〜212および213〜217の3組に分けて説明を行う。
ータ長rビットの2倍の長さ、すなわち(2*r)ビッ
トを持っている。従って、パラレル処理でシンクを検出
する場合、最大3ワードにまたがる。すなわち、203に
示すようにシンクパターンがA,B,Cの3ワードにまたが
る場合、208に示すようにB,Cの2ワードにまたがる場
合、213に示すようにA,Bの2ワードにまたがる場合の3
通りがある。いずれの場合にもBのデータはシンクパタ
ーンに完全に含まれる。従って、シンク検出を行う場合
は、パラレルデータBがシンクパターンの一部であるか
どうかを判定した後に、その前後のパラレルデータすな
わちA,CがBがシンクターンと一致した部分以外のシン
クパターンの部分と一致しているかを判定してシンクを
検出することが可能である。
うかを判定するには、データBをシンクパターンから取
り出し得る連続するrビットのデータの全ての場合と比
較することにより行う。
ビットのデータの全ての場合について示した図である。
第5図ではrビットのパラレルデータを8ビットのパラ
レルデータとして例示した。従って、16ビットから成る
シンクパターンから連続する8ビットを取り出す。501
は16ビットのシンクパターンである。502〜510はシンク
パターンから取り出して連続する8ビットである。連続
する8ビットの取り出し方の全てとしては502に示すよ
うに、シンクパターンの1ビット目から8ビット目まで
を取り出す場合、503に示すように、2ビット目から9
ビット目までを取り出す場合、以下同様に1ビットずつ
ずらして取り出す場合があり、最後に9ビット目から16
ビット目までを取り出す場合の9通りである。
するrビットを取り出す場合は(r+1)通りある。
ンクターンのハッチング部分をBのデータと比較する。
すなわち、シンクパターンから取り出し得る連続するr
ビットのデータの全ての場合についてBのデータを比較
する。シンクパターンから取り出し得る連続するrビッ
トのデータとBのデータが一致している場合は、Bがシ
ンクパターンのどの部分と一致するかがわかる。以下の
説明において、Bシンクパターンのどの部分と一致して
いるかを示す情報を位相情報と言う。シンクパターンの
一部分とBのデータが一致する場合は、シンクパターン
のBのデータと一致している部分以外の部分がAおよび
Cのデータと一致しているかどうかを比較する。すなわ
ち、206のハッチング部分を206のハッチング部分と比較
し、一致しているかどうかを判定する。残りのビットが
シンクパターンと一致しているばシンクが検出されたこ
とになる。
場合はシンクパターンをBのデータと比較すると、すな
わち209のハッチング部分を210のハッチング部分と比較
することによりBのデータがシンクパターンの先頭部分
のrビットと一致しているという位相情報が得られるの
で、Cのデータをシンクパターンの後ろrビットすなわ
ち211のハッチング部分と212のハッチング部分とを比較
して、一致していればシンクが検出されたとする。
る。この場合はシンクパターンをBのデータを比較する
と、すなわち214のハッチング部分215のハッチング部分
と比較することによりBのデータがシンクパターンの後
ろrビットと一致しているという位相情報から得られる
ので、Aのデータがシンクパターンの先頭部分のrビッ
トすなわち216のハッチング部分と217のハッチング部分
とを比較して、一致していればシンクが検出されたとす
る。
を検出を行う。
すブロック図である。第3図において、307はシリアル
のデータをrビットのパラレルのデータに変換するシリ
アルパラレル変換回路、301,302および308はrビットパ
ラレルデータを1ワードクロック分遅延させる遅延回
路、303はrビットのパラレルデータがシンクの一部分
と一致しているか判定し、一致している場合には位相情
報を出力する位相検出回路、304は位相検出回路303でデ
ータが一致したシンクパターンの部分の残りの部分の
内、前の部分を比較する比較回路、305は位相検出回路3
03でデータが一致したシンクパターンの部分の残りの部
分の内、後ろの部分を比較する比較回路、306は位相検
出回路303,比較回路304および比較回路305から出力から
シンクが検出されているかどうかを判定する判定回路、
309は判定回路306からシンクを受け、シリアルパラレル
変換回路307でシンクに関係のないタイミングでパラレ
ルにされたデータを、シンクに同期したrビットパラレ
ルデータに変換する変換回路である。
定回路306についてさらに詳しく説明する。位相検出回
路303はrビットのパラレルデータがシンクの一部分と
一致しているか判定し、判定回路306にその結果を出力
する。すなわち第2図において、204と205、あるいは20
9と210、あるいは214と215を比較した結果を出力する。
判定した結果としては完全にシンクパターンの連続する
rビットと一致する場合、1ビットエラーである場合
(rビット中(r−1)ビットが一致)および一致しな
い場合の3つの場合があり、判定情報を2ビットで出力
する。すなわち、位相情報をsビットで出力し、比較回
路304および比較回路305に送る。比較回路304では位相
検出回路303から位相情報sを受け、位相検出回路303で
データと一致したシンクパターンの部分の残りの部分の
内、前の部分がデータと一致しているかどうかを比較す
る。すなわち第2図において、206と207のA、あるいは
216と217を比較した結果を出力する。結果としては完全
にシンクパターンの連続するrビットと一致する場合、
1ビットエラーである場合(rビット中(r−1)ビッ
トが一致)および一致しない場合の3つの場合があり、
判定情報を2ビットで出力する。比較回路305では位相
検出回路303から位相情報sを受け、位相検出回路303で
データと一致したシンクパターンの部分の残りの部分の
内、後ろの部分がデータと一致しているかどうかを比較
する。すなわち、第2図において、206と207のC、ある
いは211と212を比較した結果を出力する。結果としては
完全にシンクパターンの連続するrビットと一致する場
合、1ビットエラーである場合(rビット中(r−1)
ビットが一致)および一致しない場合の3つの場合があ
り、判定情報を2ビットで出力する。判定回路306は位
相検出回路303,比較回路304および比較回路305の出力か
らシンクが検出されているかどうかを判定し、検出され
ていればシンクパルスを出力する。本発明の実施例では
シンク検出をする場合に1ビットのエラーまでを認め
る。従って、判定回路306では、位相検出回路303,比較
回路304および比較回路305の出力より、エラーの数が1
ビット以下である場合、シンクが検出されたものとして
シンクを出力する。
伝送する場合、従来はシンクパターンとして8ビットの
データを2つ組み合わせた 「0000110010101111」 をシンクパターンとして用いていた。
うな問題点があった。
行おうとすると、例えば8ビットパラレル信号でシンク
パターンと比較する場合、シンクパターンから取り出し
得る連続する8ビットのデータは以下に示すa〜iの9
通りがある。
い。従って、データの伝送系でシンク部分に1ビットの
エラーが生じた場合、例えばgの1ビット目がエラーと
なったりするとデータは「10101011」となる。これはg
の1ビット目の「0」が「1」に誤ったデータである
か、あるいはiの6ビット目の「1」が「0」に誤った
データであるか判定できないために位相情報が得られな
い。従って、通信経路で起こるエラーを考慮したシンク
検出が不可能であるという問題点を有していた。これは
解決しなければならない重要な課題である。
で、シンクをパラレルで検出する場合にエラーが起こっ
ても確実にシンク検出が可能となるシンクパターンを提
供することを目的とする。
クパターンを含みシリアルで送られてくる信号を、p
(p<m)ビットのパラレル信号に変換した後に、pビ
ット単位の複数の比較結果からシンクを検出する場合の
シンクパターンの発生方法であって、シンクを検出する
際、mビットのシンクパターン中で許す誤りをqビット
としたとき、mビットのシンクターン中の任意の連続す
るpビットのデータ各々で、異なるビット数が(2*q
+1)以上である、mビットのシンクパターンを発生す
るシンク発生方法である。
なすpビットパラレルの通信データをシンクパターンか
ら取り出し得るpビットの連続するビットのデータと比
較した時に、シンクパターンの一部をなすpビットパラ
レルの通信データにqビットの誤りが起こっても、他の
シンクパターンから取り出し得るpビットの連続するビ
ットのデータとは必ず(q+1)ビット以上異なってい
るので、シンクパターンから取り出し得るpビットの連
続するデータのどれが誤ったものであるか、すなわち位
相情報を得ることができるのでシンク検出が可能とな
る。
クパターンの設定はビット数が多いほど、シンクパター
ンから取り出し得るpビットの連続するビットのデータ
の全ての場合を比較した時に、pビットの連続するビッ
トのデータ相互の異なるビット数が大きく取れるので、
エラーに対して強くなり、確実にシンクパターンが検出
可能となる。本発明の実施例では8ビットのデータを14
ビットのデータに変換して通信を行う場合を考え、14ビ
ットのデータに対して、28ビットのシンクパターンを用
いる。シンク検出においては、1ビットエラーまで認め
る。すなわち、請求項1のmビットのシンクパターンを
28ビット、pビットのパラレル信号を14ビット、qビッ
トまでの誤りを1ビットとすると、シンクパターンから
取り出し得るpビットの連続するビットのデータ相互の
異なるビット数は3ビット以上となる。
を示すブロック図である。第1図において、101はシン
クパターンを記憶するシンクパターン記憶回路、102は1
4ビットのパラレルデータを1ブロック分記憶する記憶
回路、103はシンクパターン記憶回路101に記憶されたシ
ンクパターンあるいは記憶回路102に記憶された1ブロ
ック分のデータのどちらを読み出すかを選択して読み出
す選択回路、104は選択回路103がどちらの選択を行うか
を制御する選択回路制御回路、105は14ビットパラレル
で出力される選択回路103の出力をシリアルデータに変
換するパラレルシリアル変換回路である。
ターン記憶回路101を選択させる。選択回路103はシンク
パターン記憶回路101のROMに記憶されている14ビットで
2ワードのシンクパターンを読み出す。シンクパターン
記憶回路101のROMの中には、以下に示す28ビットのシン
クパターンが書込まれている。
として読み出される。選択回路制御回路104は、次に選
択回路103に記憶回路102を選択させる。選択回路103は
記憶回路102に記憶されている1ブロック分のデータを
読み出す。選択回路制御回路104は選択回路103に上記の
動作を繰り返させる。選択回路103によって読み出され
たパラレルデータはパラレルシリアル変換回路105によ
りシリアルデータに変換され、第4図に示すように各ブ
ロックのデータの先頭にはシンクが付けられたシリアル
の通信データとなる。
出する場合について説明する。
従って、送信データ中のシンクもエラーとなる場合があ
るので、シンク検出をする場合もエラーに対する余裕を
取らなければならない。本発明の実施例ではシンク検出
をする場合に、1ビットのエラーまでを認める。
原理と同様であり、シンクパターン28ビット、パラレル
データは14ビットである。
クを検出する回路の構成は第3図においてrビットが14
ビット、sビットが4ビットとなる。
ターンを検出する。次に、第2図と第3図を用いて本発
明の一実施例によって通信されたデータからシンクを検
出する回路を詳細に説明する。
し得る14ビットの連続するビットのデータは15通りあ
り、それらがBのデータとなる可能性がある。シンクパ
ターンから取り出し得る14ビットの連続するビットのデ
ータの15通りを(1)〜(15)に示す。
ーン(1)〜(15)の内、任意の2つを比較すると必ず
4ビット以上異なっている。従って、1ビットのエラー
が起こった場合でも、Bのデータとパターン(1)〜
(15)とを比較した場合の不一致ビット数が1であるも
のが1ビットのエラーをしたものであると判断すること
により、Bのデータがパターン(1)〜(15)のどれが
1ビット誤ったデータであるか必ず判定可能となる。
行う。位相検出回路303には28ビットのシンクパターン
が内蔵のメモリに書き込んであり、シンクパターンの
内、連続する14ビットすなわちパターン(1)〜(15)
とBのデータとを比較する。位相検出回路303の出力
は、完全にシンクパターンの連続する14ビットと一致す
る場合、1ビットエラーである場合(14ビットの内13ビ
ット一致)および一致しない場合の3つの場合を2ビッ
トで出力し、判定回路に送る。同時にパターン(1)〜
(15)のどの14ビットと一致したか、すなわち位相情報
sを比較回路304および比較回路305に4ビットで送る。
回路304では第2図に示す206と207のAのデータとの比
較を行う。比較回路304には28ビットのシンクパターン
の内、前半の14ビットのパターンすなわち(1)のパタ
ーンがメモリに書き込んであり、位相検出回路303から
の位相情報sによりBで比較された以外の部分のシンク
パターンを比較して判定する。例えば位相情報sが、B
のデータがパターン(7)と一致しているという情報で
あれば、パターン(1)のデータの前6ビットすなわち 「001100」 とAのデータの後ろ6ビットとを比較する。比較回路30
4の出力は、比較したデータが完全にシンクパターンと
一致する場合、1ビットエラーである場合および一致し
ない場合の3つの場合を2ビットで出力し、判定回路に
送る。
回路305では第2図に示す206と207のCのデータとの比
較を行う。比較回路305には28ビットのシンクパターン
の内、後半の14ビットのパターンすなわち(15)のパタ
ーンがメモリに書き込んであり、位相検出回路303から
の位相情報sによりBで比較された以外の部分のシンク
パターンを比較して判定する。例えばBのデータが、パ
ターン(7)と一致しているという位相情報であれば、
パターン(15)の後ろ8ビットすなわち 「10001111」 とCのデータの前8ビットとを比較する。
ンクパターンと一致する場合、1ビットエラーである場
合および一致しない場合の3つの場合を2ビットで出力
し、判定回路に送る。
タが一致した番号をnとすると、比較回路304において
(1)のパターンの前(n−1)ビットとAの後ろ(n
−1)ビットとを比較し、比較回路305において(15)
のパターンの後ろ(15−n)ビットとCの前(15−n)
ビットとを比較する。
比較回路305の出力から、A,B,Cのデータをシンクパター
ンと比較した結果エラーの数が1ビット以下である場
合、シンクが検出されたものとしてシンクパルスを出力
する。ただし、第2図に示す208の場合は比較回路304の
出力は無視し、第2図に示す213の場合は比較回路305の
出力は無視する。ここで、208は213の1クロック後に現
れるので一つのシンクに対して2度シンクを検出するこ
とになる。判定回路306では208の場合はシンクであるこ
とを検出するが、変換回路309にシンクは送らずに213の
場合だけシンクを送ることにより二度シンクを検出する
ことを避けている。
け、シリアルパラレル変換回路307でシンクに関係のな
いタイミングでパラレルにされたデータを、シンクに同
期した14ビットパラレルデータにする。
により、以上のように確実にシンクを検出することが可
能になる。
て入れ換えたシンクパターン、すなわち、 「1100110001100111110001110000」 も有効であることは言うまでもない。
レル検出で行う場合について説明したが、そのほかに12
ビットパラレル検出あるいは8ビットパラレル検出など
のその他のビット数でパラレル検出を行う場合にも有効
である。また、シンクパターンのビット数は14ビットパ
ラレル検出に対して2ワードから成るシンクパターンす
なわち28ビットのシンクパターンを用いて説明したが、
シンクパターンのビット数は、パラレル検出ビット数の
2ワード分とは限らず3ワード分などパラレル検出ビッ
ト数よりも大きいビット数であれば有効である。
データをパラレルでシンク検出を行う装置において、通
信データにエラーが起こっても、シンク検出時にエラー
を考慮したシンク検出が確実に行われるシンクパターン
を提供している。従って、ディジタル信号の通信におい
て特に効果が高く、本発明の実用上の効果は大きい。
例として説明したが、ディジタル信号を記録再生するデ
ィジタルVTRについても有効であることは言うまでもな
い。
示すブロック図、第2図はシンク検出の原理を示すタイ
ミング図、第3図はシンク検出をパラレルで行う場合の
構成を示すブロック図、第4図は伝送されるシリアルデ
ータを示す模式図、第5図はシンクパターンから取り出
し得る連続するrビットのデータの全ての場合について
示した模式図である。 101……シンクパターン記憶回路、102……記憶回路、10
3……選択回路、104……選択回路制御回路、105……パ
ラレルシリアル変換回路、301,302,308……遅延回路、3
03……位相検出回路、304,305……比較回路、306……判
定回路、307……シリアルパラレル変換回路、309……変
換回路。
Claims (2)
- 【請求項1】mビットのシンクパターンを含みシリアル
で送られてくる信号を、p(p<m)ビットのパラレル
信号に変換した後に、pビット単位の複数の比較結果か
らシンクを検出する場合の前記シンクパターンの発生方
法であって、 シンクを検出する際、前記mビットのシンクパターン中
で許す誤りをqビットとしたとき、 前記mビットのシンクパターン中の任意の連続するpビ
ットのデータ各々で、異なるビット数が(2*q+1)
以上である、前記mビットのシンクパターンを発生する
シンク発生方法。 - 【請求項2】m=28,p=14,q=1とした場合に、28ビッ
トのシンクパターンを少なくとも、 「0011001110011000001110001111」 または、 「1100110001100111110001110000」 とした請求項1記載のシンク発生方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2328410A JP2817803B2 (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | シンク発生方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2328410A JP2817803B2 (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | シンク発生方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04369984A JPH04369984A (ja) | 1992-12-22 |
JP2817803B2 true JP2817803B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=18209952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2328410A Expired - Lifetime JP2817803B2 (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | シンク発生方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2817803B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3792408B2 (ja) | 1998-09-01 | 2006-07-05 | セイコーエプソン株式会社 | シリアルパラレル変換装置、半導体装置、電子機器及びデータ伝送システム |
CN102983936B (zh) * | 2011-06-09 | 2016-12-07 | 株式会社巨晶片 | 接收设备 |
-
1990
- 1990-11-27 JP JP2328410A patent/JP2817803B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04369984A (ja) | 1992-12-22 |
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