JP2815038B2 - 半導体集積回路のトリミング装置 - Google Patents

半導体集積回路のトリミング装置

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JP2815038B2
JP2815038B2 JP29256092A JP29256092A JP2815038B2 JP 2815038 B2 JP2815038 B2 JP 2815038B2 JP 29256092 A JP29256092 A JP 29256092A JP 29256092 A JP29256092 A JP 29256092A JP 2815038 B2 JP2815038 B2 JP 2815038B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路のトリミ
ング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路装置に内蔵される回路に
は、素子特性のばらつき、あるいは多くのアプリケーシ
ョンに調整せずに適応できるようにするため、トリミン
グ装置を必要とするものがある。このようなトリミング
装置を必要とする回路の一例としてバンドパスフィルタ
回路(以下「BPF」と略す。)がある。BPFの回路
構成の従来例を図3を用いて説明する。
【0003】図3においてBPF3は、第1および第2
のコンデンサC1とC2、第1および第2のバッファー
回路12と14、第1および第2の可変トランスコンダ
クタンスアンプ11と13、並びに電圧源113から構
成され、また第1のコンデンサC1の一端を入力端31
とし、第2のバッファー回路14の出力端を出力端32
とする。
【0004】第1のコンデンサC1はその一端が入力端
31に、また他端が第1のバッファー回路12の入力
端、および非反転入力端と反転入力端を有する第1の可
変トランスコンダクタンスアンプ11の出力端とに、そ
れぞれ接続される。第1のバッファー回路12の出力端
は、非反転入力端と反転入力端を有する第2の可変トラ
ンスコンダクタンスアンプ13の非反転入力端に接続さ
れる。第2の可変トランスコンダクタンスアンプ13の
出力端は、第2のバッファー回路14の入力端と第2の
コンデンサC2の一端とに接続される。第2のコンデン
サC2の他端は、GNDに接続される。第2のバッファ
ー回路14の出力端は、第1および第2の可変トランス
コンダクタンスアンプ11と13の反転入力端にそれぞ
れ接続される。第1の可変トランスコンダクタンスアン
プ11の非反転入力端は、電圧源113の正端子に接続
している。
【0005】図4に上記のBPF3に使用されている第
1、第2の可変トランスコンダクタンスアンプ11、1
3の実施例を示した。NPNトランジスタQ1のコレク
タは、ダイオードD1のカソード端とNPNトランジス
タQ4のベースと接続される。ダイオードD1のアノー
ド端は、ダイオードD2のアノード端、PNPトランジ
スタQ5のエミッタ、PNPトランジスタQ6のエミッ
タ、可変抵抗器R3の一端、並びに電圧源111の正端
子と接続される。ダイオードD2のカソード端は、NP
NトランジスタQ2のコレクタとNPNトランジスタQ
3のベースと接続される。NPNトランジスタQ2のエ
ミッタは、抵抗R2の一端と接続される。抵抗R2の他
端は、抵抗R1の一端と電流源I1の電流引き込み端子
と接続される。抵抗R1の他端は、NPNトランジスタ
Q1のエミッタと接続される。NPNトランジスタQ3
のコレクタは、PNPトランジスタQ5のコレクタとベ
ース、並びにPNPトランジスタQ6のベースと接続さ
れる。NPNトランジスタQ3のエミッタは、NPNト
ランジスタQ4のエミッタとカレントミラー回路19の
出力端192と接続される。PNPトランジスタQ6の
コレクタは、カレントミラー回路19の出力端193と
接続される。カレントミラー回路19の入力端191
は、可変抵抗器R3の他端と接続される。そして以上の
構成により、NPNトランジスタQ1のベースを非反転
入力端とし、NPNトランジスタQ2のベースを反転入
力端とし、またPNPトランジスタQ6のコレクタを出
力端とする、可変コンダクタンスアンプが構成される。
【0006】図4の可変コンダクタンスアンプにおい
て、抵抗R1、R2の値をともに同じREとし、また電
流源I1の引き込み電流をI1(以下「I1」と略
す。)とし、更にカレントミラー回路19の出力端19
2の引き込み電流をI2(以下「I2」と略す。)とす
ると、可変コンダクタンスアンプのgm(相互コンダク
タンス)は数1で示される。
【0007】
【数1】
【0008】数1において、I1を大きく(あるいはI
2を小さく)することでgmは小さくなり、またI1を
小さく(あるいはI2を大きく)することでgmは大き
くなる。以下、I1の引き込み端を可変コクダクタンス
アンプの負の制御端と、またI2の引き込み端を正の制
御端と、それぞれ称する。この可変トランスコンダクタ
ンスアンプの実施例では、電流源I1を適当な値に固定
し、また可変抵抗器R3の値を変化することで、I2の
値を可変し、gmを可変できるようにしている。
【0009】図3においてBPF3の同調周波数fo
(以下「fo」と略す。)は、コンデンサC1、C2の
容量値をC1、C2、可変トランスコンダクタンスアン
プ11,13のgmをgm1,gm2とすると、数2で
表わされる。
【0010】
【数2】
【0011】数2から、可変抵抗器R3によって可変コ
ンダクタンスアンプの正の制御端の引き込み電流I2を
制御することにより、foを調整することができる。
【0012】このようなBPFを半導体集積回路化した
場合、拡散上の変動が原因で抵抗やコンデンサの値がば
らつき、それがfoの値に影響を与える。抵抗の値が変
化すると回路を流れる電流が変化するが、上記数2にお
いてI1は抵抗R1、R2の値であるREと掛けている
ため、foの値を変化させる要因とはならない。ところ
が、I2の値のばらつきはfoの値を直接変化させてし
まう。そのため、I2を決定する可変抵抗器R3を半導
体上に設けず、半導体外の外付抵抗とし、foが半導体
内部の抵抗の拡散上のばらつきで変化しないように設計
されている。次にコンデンサがばらついた場合、コンデ
ンサC1、C2の値が変化するため、foは変化してし
まう。そのため抵抗R3を可変抵抗器とし、拡散・組立
後に可変抵抗器R3を調整することで、コンデンサC
1、C2によるfoの変動を補正している。最近では、
前述した可変抵抗器R3を調整するかわりに、半導体集
積回路のチップ上にトリミング装置を設け、ウエハ状態
であらかじめ調整を行うことが行なわれている。従来の
トリミング装置を図5を用いて説明する。
【0013】図5の回路では、図3の回路における可変
抵抗器R3のかわりに、抵抗R11,R12,R13,
R14の4つの抵抗を用い、またそれぞれの抵抗の交点
及び抵抗列の端にボンディングパッド10〜14を設け
ている。抵抗R11〜R14には並列にダイオードD1
1〜D14が接続されている。一般的には、抵抗R11
〜R14は抵抗値に重みがつけられ、例えば1:2:
4:8のように設定されている。そしてウエハ上でトリ
ミングを行う場合には、BPFのfoを測定しながら、
抵抗R11〜R14のそれぞれの両端にプローブ針を立
てて、抵抗を選択的に組合せて短絡し、foがちょうど
良い抵抗の組合せを予め探す。次に、短絡すべき抵抗の
両端に大きな電圧又は電流を印加して、並列に接続され
たダイオードのジャンクションを破壊することによりダ
イオードのジャンクションが短絡し、トリミングが行な
われる。ここでは抵抗R11〜R14の組合せは16通
りとなるが、もっと精度が必要な場合は、抵抗の数をさ
らに増やせば良いことになる。
【0014】ところで、上記のトリミングを行うのは、
ウエハ上だけでなく、モールド樹脂等で封止された後も
ありうる。これは、モールド樹脂封止した場合のピエゾ
効果による特性変動を防ぐためである。この場合は、ボ
ンディングパッド10〜14は外部端子に導出され、上
記と同じ方法でトリミングされる。またこの場合には、
トリミングを行なわず、ボンディングパッド10〜14
に接続された外部端子のうち、所望の端子間をプリント
基板上でジャンパ線等で短絡する方法も可能である。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】上記の通り、従来の半
導体集積回路のトリミング装置では、抵抗R11〜R1
4の両端にプローブ針を立てる必要がある。ところがこ
のため、抵抗の数が多い場合には多数のプローブ針を組
合せを変えて短絡することになり、更に短絡には例えば
リレーを用いる必要があることから、トリミング装置の
信頼性に問題があった。
【0016】また、上記短絡の際には高い電圧又は電流
を接地電位から浮かせたいわゆるフローティング状態で
電圧を印加する必要がある。このため、多数の電源を用
意するか、何度も接続し直して行う必要があった。更
に、上記のようにプリント基板上でジャンパ線等で短絡
する場合でも、外部端子間を接続させることになるた
め、プリント基板の設計がわずらわしくなるという欠点
もあった。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、複数の
入力端子を備え、該複数の入力端子の各々がオープン時
には論理0の入力を受け、前記複数の入力端子の各々が
接地された時には論理1の入力を受けたものとして動作
するD/Aコンバータを備え、前記D/Aコンバータの
前記複数の入力端子と接地との間にそれぞれトリミング
用ダイオードを接続し、前記D/Aコンバータの出力電
流を半導体集積回路の調整電流として使用することを特
徴とする半導体集積回路のトリミング装置が得られる。
【0018】
【作用】トリミング用ダイオードの一端を接地電位とし
たので、トリミング前にD/Aコンバータの入力端子を
交互に選択的に接地するのみでBPFのfoの測定が可
能となる。また接地を行うにはトランジスタによるスイ
ッチでも接地が可能となり、リレー等は不要となる。そ
して入力端子の組合せ決定後にダイオードを大電流等を
印加し短絡させる際には片側が常に接地された電源が使
用可能であり、このため電源の接続変更が簡略化され
る。更に、モールド樹脂封入後にプリント基板上でジャ
ンパ線等で短絡する場合でも、一端は接地電位であり、
接地電位の基板パターンは多いため、基板設計の自由度
が増す。
【0019】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面を参照して説明
する。実施例の半導体集積回路のトリミング装置を図1
に示した。図1において、AFC3並びにカレントミラ
ー回路19は、図3に示した従来例と同様なので、説明
は省略する。本発明の実施例の従来例との相違点はカレ
ントミラー回路19の入力端191に出力端子25を介
して接続されたD/Aコンバータ20である。
【0020】D/Aコンバータ20は、入力端子21〜
24がオープンの時は論理0として動作し、接地のとき
は論理1として動作する。即ち、入力端子21〜24を
全てオープンとした場合には出力端子25の出力電流は
ゼロとなり、また入力端子21〜24を全て接地した場
合には出力電流が最大となる。実施例の半導体集積回路
のトリミング装置では、このD/Aコンバータ20の出
力電流を調整電流として用いる。また、入力端子21〜
24と接地電位間にはそれぞれトリミング用ダイオード
D21〜D24が接続されている。
【0021】以上の回路構成であるため、トリミングを
行う前に予めD/Aコンバータ20の入力端子21〜2
4を交互に選択的に接地するのみで、BPF3のfoの
測定が可能となる。また接地を行うにはトランジスタに
よるスイッチでも可能なため、リレー等は不要となる。
また入力端子21〜24等の最適な組合せを決定した後
にダイオードD21〜D24を大きな電圧又は電流を印
加して短絡させる場合でも、片側が常に接地された電源
が使用可能であるため、電源の接続変更が簡略化され
る。更に、モールド樹脂封入された後にプリント基板上
でジャンパ線等で短絡する場合でも、一端は接地電位で
あり、一般的に接地電位の基板パターンは多く存在する
ため、基板設計の自由度が増す。
【0022】次に図1におけるD/Aコンバータ20の
具体的な構成例を図2に示した。図2において、トラン
ジスタQ21〜Q25は、ベースが共通化されている。
トランジスタQ21のコレクタは、抵抗R25を介して
電圧源111に接続される。またトランジスタQ21の
エミッタは、抵抗R26を介して接地されている。トラ
ンジスタQ22〜Q25のエミッタは、抵抗R21〜R
24を介して入力端子21〜24にそれぞれ接続され
る。トランジスタQ22〜Q25のコレクタは共通化さ
れ、トランジスタQ26とQ27で構成されているカレ
ントミラー回路を介して、出力端子25に接続される。
またトリミング用ダイオードD21〜D24は、それぞ
れ入力端子21〜24と接地電位間に接続される。
【0023】ここで、入力端子21〜24のいずれか、
または複数の組合せが接地された場合は、接地された入
力端子に対応したトランジスタとトランジスタQ21と
でカレントミラーの動作を行う。また抵抗R21〜R2
4に重みづけをしておけば、トランジスタQ22〜Q2
5のコレクタ電流に重みづけができる。そしてトランジ
スタQ22〜Q25のコレクタは共通化されているため
に、トランジスタQ22〜Q25の重みづけされたコレ
クタ電流が加算されて出力端子25に出力電流として取
出される。尚、トランジスタQ26,Q27によるカレ
ントミラーは出力電流の極性をそろえるために使用され
る。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体集
積回路のトリミング装置によれば、トリミングに要する
装置の簡略化が図れ、またプリント基板の設計の自由度
が増す等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体集積回路のトリミング装置の実
施例を示したブロック図である。
【図2】図1に示したD/Aコンバータの具体的な構成
例を示した回路図である。
【図3】バンドパスフィルタ回路のブロック図である。
【図4】図3のバンドパスフィルタに使用される可変ト
ランスコンダクタンスアンプを示した回路図である。
【図5】図3のバンドパスフィルタ回路における従来の
トリミング装置を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
3 バンドパスフィルタ 11 第1の可変トランスコンダクタンスアンプ 12 第1のバッファー回路 13 第2の可変トランスコンダクタンスアンプ 14 第2のバッファー回路 19 カレントミラー回路 20 D/Aコンバータ 21、22、23、24 入力端子 25 出力端子 31 入力端 32 出力端 111 電圧源 113 電圧源 191 入力端 192 出力端 193 出力端 194 出力端 C1 第1のコンデンサ C2 第2のコンデンサ D21、D22、D23、D24 トリミング用ダイ
オード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 27/04 H01L 21/82 H01L 21/822

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の入力端子を備え、該複数の入力端
    子の各々がオープン時には論理0の入力を受け、前記複
    数の入力端子の各々が接地された時には論理1の入力を
    受けたものとして動作するD/Aコンバータを備え、 前記D/Aコンバータの前記複数の入力端子と接地との
    間にそれぞれトリミング用ダイオードを接続し、前記D
    /Aコンバータの出力電流を半導体集積回路の調整電流
    として使用することを特徴とする半導体集積回路のトリ
    ミング装置。
JP29256092A 1992-10-30 1992-10-30 半導体集積回路のトリミング装置 Expired - Lifetime JP2815038B2 (ja)

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