JP2783283B2 - 映像特性評価装置 - Google Patents
映像特性評価装置Info
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、陰極線管ディスプレイ装置等の表示画像
の特性を自動的に評価する映像特性評価装置に関するも
のである。 ［従来の技術］ 第６図は従来の映像特性評価装置を示す構成図であ
り、図において、（１）は陰極線管ディスプレイ装置等
の被測定装置、（２）は被測定装置（１）の画面の画像
を検出するカメラ、（３）はカメラ（２）を移動させる
カメラ駆動制御装置、（４）はカメラ（２）が検出した
画像の画像評価を行う検出画質評価装置、（５）は検出
画質評価装置（４）の出力を表示するモニタである。 次に動作について説明する。カメラ（２）によって検
出された被測定装置（１）の画面情報を検出画質評価装
置（４）に入力して判定処理する。その結果に基づいて
カメラ駆動制御装置（３）によってカメラ（２）を最適
位置にセットする。この時点のデータは検出画質評価装
置（４）により記憶される。ついで、カメラ駆動制御装
置（３）によってカメラ（２）を次の測定ポイントに移
動させ、検出した被測定装置（１）の画面情報を判定処
理し、データを記憶する。以下同様にして、各ポイント
の測定を行ってその判定処理を行った後、検出画像評価
装置（４）は記憶データを基に処理評価を行い、画像特
性の評価結果をモニタ（５）に表示する。 例えば、画面幅の測定を行う場合であれば、初期状態
において被測定装置（１）の測定すべき画面の一方の端
部に位置しているカメラ（２）を、当該画面の他方の端
部にまで移動させ、そのときのカメラ（２）の移動量に
基づいて画面幅を求める。 ［発明が解決しようとする問題点］ 従来の映像特性評価装置は以上のように構成されてい
るので、カメラ（２）の位置の移動に機械的制御を行わ
なければならず、測定精度を上げるにはかなりの技術を
必要とするばかりか、装置が大形化し、さらにコスト面
でも高価なものになるなどの問題点があった。 この発明は上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、測定に特殊な技術を必要とせず、小形で安
価な映像特性評価装置を得ることを目的とする。 ［問題点を解決するための手段］ この発明に係る映像特性評価装置は、透明部分に基準
目盛を有するベースの被測定装置との対向面に、ライン
状に配列された複数の半導体受光エレメントよりなる光
学的半導体センサを配し、この光学的半導体センサから
の測定データを演算処理する演算処理装置と、この演算
処理装置への指示、設定値等を入力する入力用スイッチ
群と、演算処理装置の演算処理結果を表示する表示器を
設けたものである。 ［作用］ この発明における映像特性評価装置は、基準目盛を用
いて正確な位置決めを行って光学的半導体センサを被測
定装置の画面と対向させ、その各半導体受光エレメント
が光を検知しているか否かをオン／オフ信号として取り
出し、演算処理装置にてその信号の数を計数して演算処
理することにより、機械的制御によってベースを移動さ
せることなく必要な測定データを得る。 ［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第
１図はこの発明の一実施例による映像特性評価装置を示
す図であり、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側面
図、同図（ｃ）は背面図である。図において、（６）は
支持装置、（７）は支持装置（６）に移動／固定自在に
支持されたベース、（８）は１ライン状に配列された多
数の半導体受光エレメントよりなり、前記ベース（７）
の背面に横方向に取り付けられた光学的半導体センサ、
（９）は支柱等でベース（７）に固定された演算処理装
置、（10）はベース（７）の表面に配されて、設定値、
測定結果等を表示する液晶表示器等の表示器、（11）は
測定原点を定めるためにベース（７）の透明部に設けら
れた基準目盛、（12）は入力用スイッチ群であり、この
入力用スイッチ群（12）は、測定項目選択のためのモー
ドキー（13）、“0"から“9"までのテンキー（14）、モ
ード終了のためのセットキー（15）、データ記憶のため
のデータキー（16）、次のセットに移るためのリセット
キー（17）、アドレスを進めるためのアドレスインクリ
メントキー（18）、データ転送のための転送キー（19）
などにより形成されている。 第２図は、このような構成の映像特性評価装置の使用
状態を示す図で、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側
面図、同図（ｃ）は要部拡大図である。図において、
（１）は第６図に同一符号を付したものと同等の陰極線
管ディスプレイ装置等の被測定装置、（20）は被測定装
置（１）の蛍光体の端部を示すマークであり、測定時に
はベース（７）が固定された支持装置（６）を、基準目
盛（11）がこのマーク（20）に重なった位置に固定す
る。 第３図は前記演算処理装置（９）の構成を示すブロッ
ク図であり、図において、（21）は中央処理装置（以
下、CPUという）、（22）はこのCPU（21）の演算プログ
ラム等が格納されている読取専用メモリ（以下、ROMと
いう）、（23）は測定データ等が一時格納されるランダ
ムアクセスメモリ（以下、RAMという）、（24）は上位
計算機との間で通信を行うためのRS232Cインタフェー
ス、（25）は測定データ等を表示器（10）に決められた
フォーマットにて表示する表示器制御部、（26）は入力
用スイッチ群（12）からの信号を制御するキー入力制御
部、（27）は光学的半導体センサ（８）を制御するセン
サ入力制御部、（28）は光学的半導体センサ（８）から
の測定データを受け付けるセンサデータ入力部、（29）
は判定アラーム回路であり、これらは前記CPU（21）に
バス接続されている。 次に動作について説明する。第４図は処理の流れを示
すフローチャートである。電源が投入されると、まず、
ステップST1において各部の初期設定を行って、被測定
装置（１）の設定基準値の入力を待ち合わせる。この設
定基準値はオペレータの入力用スイッチ群（12）の操
作、あるいはRS232Cインタフェース（24）を介して上位
計算機より自動書き込みを行うことで設定される。この
とき、オペレータは被測定装置（１）のマーク（20）に
映像特性評価装置の基準目盛（11）を重ね合わせる。次
に、ステップST2にてモード選択が行われる。このモー
ド選択は、前記初期設定によってモード“0"に設定して
おき、以下、オペレータによるモードキー（13）の操作
によって測定モードを順次変更してゆく。この測定モー
ドとしては、例えば、 モード“1"画面サイズ モード“2"画面位置 モード“3"リニアリティ モード“4"PCC歪 モード“5"線の太さ モード“6"コンバーゼンス モード“7"ビームスポット モード“8"画面変動 などである。 ステップST3ではデータキー（16）が操作されると、
設定された測定モードでのデータ測定が開始され、さら
に光学的半導体センサ（８）からの測定データの演算処
理が行われる。即ち、センサ入力制御部（27）によって
制御された光学的半導体センサ（８）の各半導体受光エ
レメントが光を検知しているか否かを、オン／オフ信号
としてセンサデータ入力部（28）より取り出して、一旦
RAM（23）に記憶し、ROM（22）上の演算プログラムに基
づくCPU（21）の演算処理にて、オンあるいはオフの信
号の数を計数し、その計数値に光学的半導体センサ
（８）の特性によって決まる定数を積算して必要な部分
の値を算出し、それをRAM（23）へ格納する。このと
き、陰極線管デイスプレイのように被測定装置（１）の
画面が湾曲していて、光学的半導体センサ（８）との間
隔が一定でない場合には、その陰極線管のインチ数をパ
ラメータとする補正計算を行って、正しい値に補正す
る。 ステップST4では、設定値と許容値とに基づいて前記
ステップST3にて算出された値の判定を行い、表示器制
御部（25）を介して所定のフォーマットで表示する。表
示器（10）が液晶表示器である場合、その表示は例えば
第５図（ａ）のようになる。同図において、（31）は被
測定装置（１）のメモリアドレス数、（32）は実行され
ている測定モードとその内容、（33）は設定値、測定
値、誤差、判定等をまとめた表、（34）は設定値に対す
る公差の範囲を示す誤差レベルのレベル表示、（35）は
モード別に表示された測定内容のグラフ表示である。 オペレータは表示器（10）の表示をみながら、測定値
が許容範囲に入るように調整を行い、許容範囲に入った
ことを確認してセットキー（15）を押下する。ここで、
判定アラーム回路（29）は、例えば、測定値が許容公差
の範囲内に入ってきたら断続音を発生させ、設定値と一
致したら連続音を発生するもので、これによって調整情
況が表示器（10）への可視表示だけでなく、断続音、連
続音による可聴表示も行われるため、調整作業の能率向
上がはかれる。 ステップST5でセットキー（15）の押下が検出される
と、ステップST6にてその調整結果がRAM（23）上に登録
される。調整結果の登録が終了するとステップST7によ
って処理はステップST2へ戻され、以下、ステップST7が
全てのモードの処理終了を検出するまでこれを繰り返
す。全モードの処理が終了した後、アドレスインクリメ
ントキー（18）が押下されると、ステップST8にて各モ
ードの測定データがRAM（23）内に設定された統計処理
用バッファメモリに記録され、ついでステップST9によ
る次のセットの測定準備に入る。ステップST9において
は、統計処理用バッファメモリのアドレスを次のセット
用に進めて統計処理の下準備をし、ステップST10にて転
送キー（19）によるデータ転送要求が無いこと、さらに
ステップST11にて統計処理用バッファメモリが容量オー
バーとなっていないことを識別した上で、処理をステッ
プST2へ戻し、次のセットの処理を開始する。 ここで、ステップST11において統計処理用バッファメ
モリの容量オーバーが検出された場合には、まず、ステ
ップST12にて判定アラーム回路（29）によって警報を出
力させるとともに、ステップST13によって統計処理用バ
ッファメモリ内の測定データを処理して、第５図（ｂ）
に示すような統計処理データを作成し、表示器制御部
（25）を介して表示器（10）に表示する。ここで、第５
図（ｂ）は表示器（10）として液晶表示器を用いた場合
の表示例を示すものであり、図において、（36）は被測
定装置（１）のサンプル数、（37）は測定モードとその
内容、（38）は設計中心、公差、３σ（σは標準偏
差）、平均値、不良数等をまとめた表、（39）は設計中
心に対するサンプルデータの分布のグラフ表示である。
次に、ステップST14にてバッファメモリ内の測定データ
をRS232Cインタフェース（24）を介して上位の計算器へ
送出し、処理をステップST2へ戻す。また、ステップST1
0において転送キー（19）によるデータ転送要求が検出
された場合には、ステップST13にて第５図（ｂ）に示さ
れる前記統計処理データの表示、及びステップST14によ
る測定データの上位計算器への送出を実行して、処理を
ステップST2へ戻す。 なお、上記実施例ではNO・GO判定によって判定表示を
行うものを示したが、調整スピードを早めるために誤差
の大きさを表示してもよく、さらに、上記実施例のごと
くセットを基準値に調整する場合だけでなく、調整済み
のセットの評価に利用してもよい。 また、上記実施例では、光学的半導体センサとして１
ラインのものを用い、表示器として液晶表示器を、上位
計算器とのインタフェースとしてRS232Cインタフェース
を用いた場合について説明したが、光学的半導体センサ
としては半導体受光エレメントを複数のライン上に配列
した形式のものであってもよく、表示器としても発光ダ
イオード表示器、エレクトロルミネッセンス表示器等の
利用が可能であり、インタフェースもデータ転送速度の
速いパラレル出力のものであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。 ［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば基準目盛を用いて正
確な位置決めを行った光学的半導体センサの、各半導体
受光エレメントが検知した非測定装置の画面の発光情況
をオン／オフ信号として取り出し、演算処理装置にてそ
の信号の数を計数して演算処理することによって必要な
測定データを得るように構成したので、機械的制御によ
って光学的半導体センサを搭載したベースを移動させる
必要がなくなり、測定に特殊な技術を必要としなくなる
ため、操作の簡易化、測定精度の向上がはかれ、装置の
小形化、低価格化が可能となるなどの効果がある。ま
た、画面の発光状態（明暗）を光学的半導体センサで静
的に検出するため、高感度、応答速度の早い高価のセン
サを必要とせず、残光の補正の必要もない。また、５〜
７ドット/mm程度のラインセンサを応用して、その各ド
ットのON/OFF状態を見ることによって、高精度の計測が
可能であり、しかも高速のクロックは必要でないという
効果がある。
の特性を自動的に評価する映像特性評価装置に関するも
のである。 ［従来の技術］ 第６図は従来の映像特性評価装置を示す構成図であ
り、図において、（１）は陰極線管ディスプレイ装置等
の被測定装置、（２）は被測定装置（１）の画面の画像
を検出するカメラ、（３）はカメラ（２）を移動させる
カメラ駆動制御装置、（４）はカメラ（２）が検出した
画像の画像評価を行う検出画質評価装置、（５）は検出
画質評価装置（４）の出力を表示するモニタである。 次に動作について説明する。カメラ（２）によって検
出された被測定装置（１）の画面情報を検出画質評価装
置（４）に入力して判定処理する。その結果に基づいて
カメラ駆動制御装置（３）によってカメラ（２）を最適
位置にセットする。この時点のデータは検出画質評価装
置（４）により記憶される。ついで、カメラ駆動制御装
置（３）によってカメラ（２）を次の測定ポイントに移
動させ、検出した被測定装置（１）の画面情報を判定処
理し、データを記憶する。以下同様にして、各ポイント
の測定を行ってその判定処理を行った後、検出画像評価
装置（４）は記憶データを基に処理評価を行い、画像特
性の評価結果をモニタ（５）に表示する。 例えば、画面幅の測定を行う場合であれば、初期状態
において被測定装置（１）の測定すべき画面の一方の端
部に位置しているカメラ（２）を、当該画面の他方の端
部にまで移動させ、そのときのカメラ（２）の移動量に
基づいて画面幅を求める。 ［発明が解決しようとする問題点］ 従来の映像特性評価装置は以上のように構成されてい
るので、カメラ（２）の位置の移動に機械的制御を行わ
なければならず、測定精度を上げるにはかなりの技術を
必要とするばかりか、装置が大形化し、さらにコスト面
でも高価なものになるなどの問題点があった。 この発明は上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、測定に特殊な技術を必要とせず、小形で安
価な映像特性評価装置を得ることを目的とする。 ［問題点を解決するための手段］ この発明に係る映像特性評価装置は、透明部分に基準
目盛を有するベースの被測定装置との対向面に、ライン
状に配列された複数の半導体受光エレメントよりなる光
学的半導体センサを配し、この光学的半導体センサから
の測定データを演算処理する演算処理装置と、この演算
処理装置への指示、設定値等を入力する入力用スイッチ
群と、演算処理装置の演算処理結果を表示する表示器を
設けたものである。 ［作用］ この発明における映像特性評価装置は、基準目盛を用
いて正確な位置決めを行って光学的半導体センサを被測
定装置の画面と対向させ、その各半導体受光エレメント
が光を検知しているか否かをオン／オフ信号として取り
出し、演算処理装置にてその信号の数を計数して演算処
理することにより、機械的制御によってベースを移動さ
せることなく必要な測定データを得る。 ［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第
１図はこの発明の一実施例による映像特性評価装置を示
す図であり、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側面
図、同図（ｃ）は背面図である。図において、（６）は
支持装置、（７）は支持装置（６）に移動／固定自在に
支持されたベース、（８）は１ライン状に配列された多
数の半導体受光エレメントよりなり、前記ベース（７）
の背面に横方向に取り付けられた光学的半導体センサ、
（９）は支柱等でベース（７）に固定された演算処理装
置、（10）はベース（７）の表面に配されて、設定値、
測定結果等を表示する液晶表示器等の表示器、（11）は
測定原点を定めるためにベース（７）の透明部に設けら
れた基準目盛、（12）は入力用スイッチ群であり、この
入力用スイッチ群（12）は、測定項目選択のためのモー
ドキー（13）、“0"から“9"までのテンキー（14）、モ
ード終了のためのセットキー（15）、データ記憶のため
のデータキー（16）、次のセットに移るためのリセット
キー（17）、アドレスを進めるためのアドレスインクリ
メントキー（18）、データ転送のための転送キー（19）
などにより形成されている。 第２図は、このような構成の映像特性評価装置の使用
状態を示す図で、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側
面図、同図（ｃ）は要部拡大図である。図において、
（１）は第６図に同一符号を付したものと同等の陰極線
管ディスプレイ装置等の被測定装置、（20）は被測定装
置（１）の蛍光体の端部を示すマークであり、測定時に
はベース（７）が固定された支持装置（６）を、基準目
盛（11）がこのマーク（20）に重なった位置に固定す
る。 第３図は前記演算処理装置（９）の構成を示すブロッ
ク図であり、図において、（21）は中央処理装置（以
下、CPUという）、（22）はこのCPU（21）の演算プログ
ラム等が格納されている読取専用メモリ（以下、ROMと
いう）、（23）は測定データ等が一時格納されるランダ
ムアクセスメモリ（以下、RAMという）、（24）は上位
計算機との間で通信を行うためのRS232Cインタフェー
ス、（25）は測定データ等を表示器（10）に決められた
フォーマットにて表示する表示器制御部、（26）は入力
用スイッチ群（12）からの信号を制御するキー入力制御
部、（27）は光学的半導体センサ（８）を制御するセン
サ入力制御部、（28）は光学的半導体センサ（８）から
の測定データを受け付けるセンサデータ入力部、（29）
は判定アラーム回路であり、これらは前記CPU（21）に
バス接続されている。 次に動作について説明する。第４図は処理の流れを示
すフローチャートである。電源が投入されると、まず、
ステップST1において各部の初期設定を行って、被測定
装置（１）の設定基準値の入力を待ち合わせる。この設
定基準値はオペレータの入力用スイッチ群（12）の操
作、あるいはRS232Cインタフェース（24）を介して上位
計算機より自動書き込みを行うことで設定される。この
とき、オペレータは被測定装置（１）のマーク（20）に
映像特性評価装置の基準目盛（11）を重ね合わせる。次
に、ステップST2にてモード選択が行われる。このモー
ド選択は、前記初期設定によってモード“0"に設定して
おき、以下、オペレータによるモードキー（13）の操作
によって測定モードを順次変更してゆく。この測定モー
ドとしては、例えば、 モード“1"画面サイズ モード“2"画面位置 モード“3"リニアリティ モード“4"PCC歪 モード“5"線の太さ モード“6"コンバーゼンス モード“7"ビームスポット モード“8"画面変動 などである。 ステップST3ではデータキー（16）が操作されると、
設定された測定モードでのデータ測定が開始され、さら
に光学的半導体センサ（８）からの測定データの演算処
理が行われる。即ち、センサ入力制御部（27）によって
制御された光学的半導体センサ（８）の各半導体受光エ
レメントが光を検知しているか否かを、オン／オフ信号
としてセンサデータ入力部（28）より取り出して、一旦
RAM（23）に記憶し、ROM（22）上の演算プログラムに基
づくCPU（21）の演算処理にて、オンあるいはオフの信
号の数を計数し、その計数値に光学的半導体センサ
（８）の特性によって決まる定数を積算して必要な部分
の値を算出し、それをRAM（23）へ格納する。このと
き、陰極線管デイスプレイのように被測定装置（１）の
画面が湾曲していて、光学的半導体センサ（８）との間
隔が一定でない場合には、その陰極線管のインチ数をパ
ラメータとする補正計算を行って、正しい値に補正す
る。 ステップST4では、設定値と許容値とに基づいて前記
ステップST3にて算出された値の判定を行い、表示器制
御部（25）を介して所定のフォーマットで表示する。表
示器（10）が液晶表示器である場合、その表示は例えば
第５図（ａ）のようになる。同図において、（31）は被
測定装置（１）のメモリアドレス数、（32）は実行され
ている測定モードとその内容、（33）は設定値、測定
値、誤差、判定等をまとめた表、（34）は設定値に対す
る公差の範囲を示す誤差レベルのレベル表示、（35）は
モード別に表示された測定内容のグラフ表示である。 オペレータは表示器（10）の表示をみながら、測定値
が許容範囲に入るように調整を行い、許容範囲に入った
ことを確認してセットキー（15）を押下する。ここで、
判定アラーム回路（29）は、例えば、測定値が許容公差
の範囲内に入ってきたら断続音を発生させ、設定値と一
致したら連続音を発生するもので、これによって調整情
況が表示器（10）への可視表示だけでなく、断続音、連
続音による可聴表示も行われるため、調整作業の能率向
上がはかれる。 ステップST5でセットキー（15）の押下が検出される
と、ステップST6にてその調整結果がRAM（23）上に登録
される。調整結果の登録が終了するとステップST7によ
って処理はステップST2へ戻され、以下、ステップST7が
全てのモードの処理終了を検出するまでこれを繰り返
す。全モードの処理が終了した後、アドレスインクリメ
ントキー（18）が押下されると、ステップST8にて各モ
ードの測定データがRAM（23）内に設定された統計処理
用バッファメモリに記録され、ついでステップST9によ
る次のセットの測定準備に入る。ステップST9において
は、統計処理用バッファメモリのアドレスを次のセット
用に進めて統計処理の下準備をし、ステップST10にて転
送キー（19）によるデータ転送要求が無いこと、さらに
ステップST11にて統計処理用バッファメモリが容量オー
バーとなっていないことを識別した上で、処理をステッ
プST2へ戻し、次のセットの処理を開始する。 ここで、ステップST11において統計処理用バッファメ
モリの容量オーバーが検出された場合には、まず、ステ
ップST12にて判定アラーム回路（29）によって警報を出
力させるとともに、ステップST13によって統計処理用バ
ッファメモリ内の測定データを処理して、第５図（ｂ）
に示すような統計処理データを作成し、表示器制御部
（25）を介して表示器（10）に表示する。ここで、第５
図（ｂ）は表示器（10）として液晶表示器を用いた場合
の表示例を示すものであり、図において、（36）は被測
定装置（１）のサンプル数、（37）は測定モードとその
内容、（38）は設計中心、公差、３σ（σは標準偏
差）、平均値、不良数等をまとめた表、（39）は設計中
心に対するサンプルデータの分布のグラフ表示である。
次に、ステップST14にてバッファメモリ内の測定データ
をRS232Cインタフェース（24）を介して上位の計算器へ
送出し、処理をステップST2へ戻す。また、ステップST1
0において転送キー（19）によるデータ転送要求が検出
された場合には、ステップST13にて第５図（ｂ）に示さ
れる前記統計処理データの表示、及びステップST14によ
る測定データの上位計算器への送出を実行して、処理を
ステップST2へ戻す。 なお、上記実施例ではNO・GO判定によって判定表示を
行うものを示したが、調整スピードを早めるために誤差
の大きさを表示してもよく、さらに、上記実施例のごと
くセットを基準値に調整する場合だけでなく、調整済み
のセットの評価に利用してもよい。 また、上記実施例では、光学的半導体センサとして１
ラインのものを用い、表示器として液晶表示器を、上位
計算器とのインタフェースとしてRS232Cインタフェース
を用いた場合について説明したが、光学的半導体センサ
としては半導体受光エレメントを複数のライン上に配列
した形式のものであってもよく、表示器としても発光ダ
イオード表示器、エレクトロルミネッセンス表示器等の
利用が可能であり、インタフェースもデータ転送速度の
速いパラレル出力のものであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。 ［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば基準目盛を用いて正
確な位置決めを行った光学的半導体センサの、各半導体
受光エレメントが検知した非測定装置の画面の発光情況
をオン／オフ信号として取り出し、演算処理装置にてそ
の信号の数を計数して演算処理することによって必要な
測定データを得るように構成したので、機械的制御によ
って光学的半導体センサを搭載したベースを移動させる
必要がなくなり、測定に特殊な技術を必要としなくなる
ため、操作の簡易化、測定精度の向上がはかれ、装置の
小形化、低価格化が可能となるなどの効果がある。ま
た、画面の発光状態（明暗）を光学的半導体センサで静
的に検出するため、高感度、応答速度の早い高価のセン
サを必要とせず、残光の補正の必要もない。また、５〜
７ドット/mm程度のラインセンサを応用して、その各ド
ットのON/OFF状態を見ることによって、高精度の計測が
可能であり、しかも高速のクロックは必要でないという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例による映像特性評価装置を
示す図で、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側面図、
同図（ｃ）は背面図であり、第２図はその使用状態を示
す図で、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側面図、同
図（ｃ）は要部拡大図であり、第３図は演算処理装置の
構成を示すブロック図、第４図は処理の流れを示すフロ
ーチャート、第５図は表示器への表示例を示す説明図、
第６図は従来の映像特性評価装置を示す構成図である。 （１）は非測定装置、（７）はベース、（８）は光学的
半導体センサ、（９）は演算処理装置、（10）は表示
器、（11）は基準目盛、（12）は入力用スイッチ群。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
示す図で、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側面図、
同図（ｃ）は背面図であり、第２図はその使用状態を示
す図で、同図（ａ）は正面図、同図（ｂ）は側面図、同
図（ｃ）は要部拡大図であり、第３図は演算処理装置の
構成を示すブロック図、第４図は処理の流れを示すフロ
ーチャート、第５図は表示器への表示例を示す説明図、
第６図は従来の映像特性評価装置を示す構成図である。 （１）は非測定装置、（７）はベース、（８）は光学的
半導体センサ、（９）は演算処理装置、（10）は表示
器、（11）は基準目盛、（12）は入力用スイッチ群。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．被測定装置に位置決めマークに合わせて画面との正
確な位置決めを行うための基準目盛を透明部に有するベ
ースと、前記ベースの前記被測定装置の画面と対抗する
面にライン上に配列され該画面の発光状態を検知する複
数の半導体受光エレメントよりなる光学的半導体センサ
と、前記ベース上に設けられ、前記光学的半導体センサ
が読み取った前記画像の発光領域の測定データを演算処
理する演算処理装置と、前記ベース上に設けられ、前記
演算処理装置への各種の指示値、測定値を入力する入力
用スイッチ群と、前記ベース上に設けられ、前記演算処
理装置の演算処理結果を表示する表示器とを備えた映像
特性評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62148002A JP2783283B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 映像特性評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62148002A JP2783283B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 映像特性評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63312795A JPS63312795A (ja) | 1988-12-21 |
| JP2783283B2 true JP2783283B2 (ja) | 1998-08-06 |
Family
ID=15442914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62148002A Expired - Lifetime JP2783283B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 映像特性評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2783283B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI594017B (zh) * | 2014-10-11 | 2017-08-01 | 深圳超多維光電子有限公司 | 立體顯示裝置的校正設備 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5311165B2 (ja) * | 1972-11-27 | 1978-04-19 | ||
| JPS6150191A (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-12 | 株式会社光電製作所 | 直線化画像表示装置 |
-
1987
- 1987-06-16 JP JP62148002A patent/JP2783283B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63312795A (ja) | 1988-12-21 |
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