JP2774029B2 - セラミックス直線抵抗体とそれを用いた遮断器 - Google Patents

セラミックス直線抵抗体とそれを用いた遮断器

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JP2774029B2 JP4319913A JP31991392A JP2774029B2 JP 2774029 B2 JP2774029 B2 JP 2774029B2 JP 4319913 A JP4319913 A JP 4319913A JP 31991392 A JP31991392 A JP 31991392A JP 2774029 B2 JP2774029 B2 JP 2774029B2
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  • Non-Adjustable Resistors (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)
  • Arc-Extinguishing Devices That Are Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、UHV送電用遮断器等
の開閉サージ吸収に好適なセラミックス直線抵抗体とそ
れを用いた遮断器に関する。
【0002】
【従来の技術】直線抵抗体は、オームの法則に従う電圧
−電流特性を持ち、近似的にlogI(電流)=αlog
〔V(電圧)/C(定数)〕で表した場合、α(非直線
指数)は1.3以下であることが望ましい。また、その
抵抗値もなるべく高く(例えば500Ωcm以上)、さ
らに抵抗の温度係数がゼロまたは正の値のものが、送電
用遮断器等の開閉サージ吸収に用いた場合、該装置を小
型化できる点で有利である。
【0003】こうした直線抵抗体の代表的なものとして
は、例えば、特開昭56−4206号公報に記載の炭素
−酸化アルミニウム−粘土系と、特開昭61−2567
01号公報に記載の酸化亜鉛を主成分としこれに他の酸
化物を添加した酸化亜鉛系がある。上記のうち前者は、
導電粒子として酸化物絶縁系に分散させた炭素の量とそ
の接触度合で抵抗値を調節している。また、後者は、基
本的には酸化亜鉛結晶粒と亜鉛スピネル結晶粒との複合
相からなり、その抵抗値はこれら結晶粒の体積比で調節
される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】近年、送電電圧の高圧
化に伴い、電力用遮断器に用いる直線抵抗体に対して
も、抵抗値、抵抗安定性などの仕様に厳しい条件が要求
されてきている。特に、UHV(Ultra High Volt
age)送電における抵抗体に対する条件は一層苛酷なも
のとなり、電界強度にして3〜5kV/cmが瞬間的に
印加され、また、それが繰返し印加されることが予想さ
れている。こうしたことから、当然、その抵抗体として
は高電界下においても高抵抗を示し、しかも長時間通電
や電界の変化に対して安定であることが求められる。
【0005】従来技術による抵抗体をそのまゝこうした
電界下に供した場合、本発明者らが確認した結果では、
例えば、炭素系抵抗体では抵抗率の低下、あるいは炭素
の酸化による特性の大きな変動を防ぐためには、抵抗体
寸法を大きくしたり、数を多くするなどして抵抗値を稼
ぐ必要がある。しかし、遮断器等の機器が必然的に大型
になるため設置面積が大きくなり、価格が高くなるなど
の問題が生ずる。
【0006】一方、酸化亜鉛系抵抗体は、特開昭61−
256701号公報に記載されているように、優れた直
線性と抵抗温度係数を有するが、約5kV/cmの高電
界が連続的、または、パルス的に印加されると、初期の
間こそその特性は維持されるが、長時間通電や繰返し印
加によって抵抗率が低下し、その他の特性の劣化が観測
され、しかも電界を取り除いても元に回復しないと云う
欠点があった。
【0007】即ち、従来の抵抗体は、こうした高電界に
おける連続通電や繰返し印加に対する特性とその安定性
に問題があることが分かった。
【0008】本発明の目的は、電力用遮断器の抵抗体と
して好適なセラミックス直線抵抗体およびそれを用いた
遮断器を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
本発明者らは検討を重ねた結果、高電界、例えば、3〜
5kVのもとで高抵抗(500Ωcm以上)を示す材料
は直線性が必ずしもよくないこと、また、抵抗温度係数
も負でその絶対値も比較的大きく、使用条件の変化に対
して抵抗値を一定に保つことが困難であることが分かっ
た。また、酸化亜鉛系のセラミックス抵抗体に酸化バリ
ウムを添加したものが、もともとの特性をそれほど損な
わないこと、さらに高電界の繰返し印加実験によっても
特性変動が極めて少ないことを見出し、本発明に至った
ものである。
【0010】本発明の直線抵抗体としては、特性として
は5kV/cmの電界が実質的に0.3秒間印加された
ときに500〜5000Ωcmの抵抗率を示し、かつ、
印加前の抵抗率に対してその低下率が30%以内のセラ
ミックス直線抵抗体にある。
【0011】上記の電界が実質的に0.3秒間印加と
は、連続通電やパルス状の電界が繰返し印加されること
を意味し、その電界は直流、交流のいずれにも適用され
る。
【0012】上記抵抗体は、それを構成するセラミック
スが酸化亜鉛、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム
と、これに酸化カルシウム、酸化ストロンチウム、酸
化バリウムから選ばれる一種以上を含む焼結体である。
【0013】上記酸化物の量としては、酸化亜鉛68〜
90モル%、酸化アルミニウム5〜20モル%、酸化マ
グネシウム3〜10モル%であり、酸化カルシウム,酸
化ストロンチウム,酸化バリウムの一種以上は全体で
0.5〜10モル%(但し、酸化カルシウム単独の場合
は1〜10モル%)が望ましい。
【0014】さらに、上記抵抗体に酸化ケイ素を0.1
〜5モル%添加することでセラミックス抵抗体の焼結性
が増加し、また、マンガン酸化物を0.1〜1重量%添
加することにより抵抗特性の安定化を図るに有効であ
る。
【0015】本発明のセラミックス直線抵抗体は、一般
の窯業的製法により焼結することができる。即ち、所定
量の酸化物粉末を秤量後、ボールミルなどを用いて十分
に混合し、これを800℃前後で仮焼きする。その粉砕
粉末にポリビニルアルコールなどの適当なバインダを加
えて造粒し、金型により成形する。成形体は電気炉で大
気中1000〜1400℃で焼成し、得られた焼結体の
電極形成端面を軽く研磨し、アルミニウム,金,白金、
パラジウム等を溶射して電極を形成することにより目的
の抵抗体を得る。
【0016】なお、この場合の抵抗体形状としては、特
開昭63−55904号公報に記載されるように、中心
部分に貫通孔を設けた構造であってもよい。
【0017】また、出発原料として前記酸化物の代わり
に、例えば炭酸塩などを用いても何等問題はない。
【0018】本発明の抵抗体を遮断器に用いた場合、抵
抗率が500Ωcmより小さいと機器の小型化にはあま
り有効でない。5000Ωcmより大きいと機器の使用
条件の変化に対する抵抗の直線性が不安定になり、抵抗
値調整が難しくなるので設計上からはこれ以下が好まし
い。
【0019】酸化亜鉛が68モル%より少ない場合は、
高抵抗相であるスピネル相が支配的になり、抵抗率の著
しい上昇と抵抗温度係数の低下を招くので好ましくな
い。また、酸化アルミニウムが20モル%を、また、酸
化マグネシウムが10モル%を超えても同様に好ましく
ない。
【0020】また、酸化亜鉛が90モル%を超えると抵
抗率が急減する。酸化アルミニウムが5モル%より少な
い場合や酸化マグネシウムが3モル%より少ない場合
は、抵抗温度係数が低くなり直線性が失われるなど、高
電界下での直線抵抗体としては問題がある。
【0021】本発明では上記基本成分に酸化カルシウ
ム、酸化ストロンチウム、酸化バリウムの一成分以上を
添加するが、この添加成分の総量は0.5〜10モル%
が望ましい(但し、酸化カルシウムが単独配合の場合は
1〜10モル%)。0.5モル%より少ない場合には結
晶格子への固溶の度合が小さいために特性改善効果が見
られず、また、10モル%より多い場合には、異相の出
現による特性劣化、焼結性の低下につながるなど焼結体
としても問題がある。
【0022】さらにまた、酸化ケイ素は磁器の焼結性を
高める効果がある。但し、5モル%より多くなると焼結
過程でガラス相を生成し、抵抗の直線性が悪くなる。ま
た、0.1モル%未満ではこれを添加した効果が得られ
ない。
【0023】これらの組成に対して少量のマンガン酸化
物の添加も効果がある。焼結体製造の際、成形体を4〜
5個積み重ねて焼成するが、この時空気の循環の不均一
性などが原因となって最下段、中ほど、最上段の試料間
で特性がバラツクことがある。マンガン酸化物はこのバ
ラツキを低減するのに有効である。但し、1重量%を超
えると焼結性が著しく低下するので好ましくない。ま
た、0.1重量%未満ではこれを添加した効果が得られ
ない。
【0024】なお、酸化亜鉛を主成分とする抵抗体とし
て、抵抗値が電圧に対して急激に変化するいわゆる非直
線抵抗体(バリスター)が知られているが、これは非直
線係数が普通10以上のものを指す。典型的なものとし
て避雷器があるが、これは抵抗が急変する性質を積極的
に利用したもので、本発明の直線抵抗体とは本質的に異
なるものである。
【0025】
【作用】従来の酸化亜鉛系抵抗体は、直線性に優れ、抵
抗範囲が広く、しかも正の抵抗温度係数を有するという
特長を備えている。これらの特性を損うことなく、か
つ、高電界下での長時間使用に耐え得るようにするに
は、焼結体構造を大きく変えることなく、抵抗値変化の
原因となる自由キャリアを抑制できるようにする。
【0026】抵抗体の結晶構造は酸化亜鉛結晶粒、亜
鉛、マグネシウム、アルミニウムのスピネル結晶の複合
相を構成し、その結晶格子は、結晶化学的に隙間の多い
構造となっているため他のイオンの固溶が可能である。
【0027】本発明の最も特徴的な点は、上記酸化亜鉛
系にカルシウム、ストロンチウム、バリウムなど比較的
イオン半径が大きい(1.1〜1.4Å)元素を添加した
ことである。また、これらの元素は電気陰性度が小さい
(約0.9)という特性を有している。
【0028】結晶構造の安定性と抵抗率等の電気的特性
は、各原子間の静電エネルギーの大小、格子間ポテンシ
ャルにより支配されるので、前記特性を有する元素を固
溶させることによって、結晶構造自体にそれほど大きな
変化を及ぼすことなく、しかも結晶格子内の各原子間の
結合をより強固なものに変えることができ、その結果、
結晶構造の安定性や自由キャリアの抑制に優れた効果が
あるものと考える。
【0029】
【実施例】以下に本発明を具体的実施例により説明す
る。
【0030】〔実施例1〕出発原料として酸化亜鉛(純
度99.9%)、酸化アルミニウム(純度99.99
%)、酸化マグネシウム(純度99.9%)、炭酸カル
シウム(純度99.99%)、炭酸ストロンチウム(純
度99.99%)、炭酸バリウム(純度99.99%)の
各粉末を、酸化物に換算して表1に示す組成となるよう
所定量秤量した。これらをジルコニアを玉石としボール
ミル混合(分散媒は純水)を20時間行い、この泥漿を
乾燥後、大気中800℃、4時間保持して仮焼きした。
【0031】得られた粉末100gに対して3重量%の
ポリビニルアルコール溶液を7ml加えて混練後、32
メッシュのふるいを通し造粒粉を得た。この造粒粉を金
型で直径20mm×厚さ1.5mmに成形し、大気中1
250℃、2時間本焼成した。得られた焼結体の上下端
面を約0.5mmずつ研磨し、そこに電極としてアルミ
ニウムを溶射し目的のセラミックス直線抵抗体を得た。
表1,2に同様にして作製した組成の異なるセラミック
ス直線抵抗体の抵抗率と直線性を示す。
【0032】なお、抵抗率は直流5kV/cmを0.3
秒間印加したときの電流から求めた。また、直線性は直
流10V/cmと5kV/cmとの抵抗率を比較し抵抗
減少率が30%以内の場合を○、それより大きい場合を
×で示した。
【0033】
【表1】
【0034】
【表2】
【0035】図1は上記抵抗体の電界強度−抵抗率特性
を示す。表1,2および図1から明らかなように、本発
明のセラミックス直線抵抗体は高電界が印加した場合で
も高抵抗率を示し、しかも直線性が優れ、電界の大小に
よる抵抗の差も小い。このことは、例えば、遮断器等へ
の応用に極めて有利である。
【0036】上記に対し、従来組成の酸化亜鉛系抵抗体
では、抵抗率の急激な減少が目立っている。また、基本
成分(酸化亜鉛、酸化アルミニウム、酸化マグネシウ
ム)が最適組成範囲から外れると、例えば、試料番号2
1、27、28に見られるように、高抵抗値は示すが直
線性が悪くなり、遮断器用の抵抗体としては好ましくな
い。
【0037】また、添加成分(酸化カルシウム、酸化ス
トロンチウム、酸化バリウム)の量が最適組成範囲を逸
脱すると、特性の他に磁器としての焼結性が低下し、耐
圧や信頼性の点でも問題となる。
【0038】〔実施例2〕図2に実施例1で得た抵抗体
試料を用いて測定した直流5kV/cm印加直後からの
抵抗率の時間変化を示す。本実施例品では抵抗率の低下
はほとんど認められない。しかし、従来品は約0.05
秒程度でまでは初期の抵抗率を保持できるが、その後は
急激に低下する。
【0039】図3に交流4kV/cmで30ミリ秒の電
圧パルスを10回印加した場合の抵抗率の変化を示す。
本実施例品はパルスの印加回数にかかわらず、ほぼ一定
値を維持しているが、従来品では1〜2回のパルス印加
で抵抗が急激に低下し、元の状態に戻らない。このこと
は、遮断器に用いたとき一回の遮断で3〜5回の投入動
作があるので従来の抵抗体では信頼性が全く保障できな
いが、本実施例品ではパルスの繰返し印加による抵抗変
動が少く、遮断器用抵抗体として好適である。
【0040】〔実施例3〕実施例1のものに二酸化ケイ
素(純度99.9%)を添加し焼結温度を変えた場合に
ついて検討した。評価は、破断面観察(画像解析)によ
る気孔率および実施例1と同じく電圧−電流特性から得
られた抵抗率の直線性で比較した。結果を表3に示す。
【0041】
【表3】
【0042】試料番号36に見られるように二酸化ケイ
素を微量添加することで、焼結温度を1250℃から約
100℃低い1150℃で焼結しても、その気孔率は6
%程度で、磁器としての焼結性も十分である。しかも電
気的特性への影響もほとんどない。しかし、添加量が5
モル%を超えると、試料番号41に見られるように直線
性が悪くなる。これは粒界部にガラス相が生成して、キ
ャリア抑制の効果がなくなることに起因するものと推定
される。
【0043】〔実施例4〕実施例1の組成に二酸化マン
ガン(純度99.9%)を添加し、直径50mm×厚さ
20mmの抵抗体2を作製した。これを図4に示すよう
にアルミナ基板1上に乗せ、各抵抗体間に酸化亜鉛粉3
を敷いて4段に積み重ね、電気炉で1250℃、2時間
焼成した。該抵抗体の抵抗特性を表4に示す。
【0044】二酸化マンガンを添加しない場合は、上部
と下部とでは、抵抗値が20%程度異なるが、二酸化マ
ンガンの添加により特性の変動は極めて少なく、安定し
た製品を製造することができる。しかし、過剰な添加は
逆に焼結性を阻害することになり好ましくない。
【0045】
【表4】
【0046】〔実施例5〕本発明の組成による抵抗体
(直径100mm×厚さ25mm、抵抗値20Ω)を7
45枚製造し、5並列方式で組み込んだ電力用遮断器を
試作した。これに100MV正弦波を印加し、連続10
回の遮断投入動作を行なった結果、試験中、試験後共に
抵抗特性や遮断器には異常は見られなかった。
【0047】
【発明の効果】本発明のセラミックス直線抵抗体は、高
電界下における抵抗率の安定性が従来の抵抗体に比べ
て、少なくとも3倍は優れており、UHV送電用遮断器
の信頼性および寿命を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】試料抵抗体の印加電圧と抵抗率との関係を示す
グラフである。
【図2】直流電圧の印加時間に対する抵抗率の変化を示
すグラフである。
【図3】パルス電圧の繰返し印加と抵抗率の変化を示す
グラフである。
【図4】実施例4における抵抗体の焼成方法を示す模式
図である。
【符号の説明】
1…アルミナ基板、2…抵抗体、3…酸化亜鉛粉。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山田 誠一 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株式会社日立製作所 日立研究所内 (72)発明者 庄司 守孝 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株式会社日立製作所 日立研究所内 (56)参考文献 特開 昭61−256701(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01C 7/00 H01C 7/10 H01H 33/16

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電圧−電流特性が直線であるセラミック
    ス直線抵抗体において、該抵抗体を構成するセラミック
    スが、酸化亜鉛,酸化アルミニウムおよび酸化マグネ
    シウムと、これに酸化カルシウム,酸化ストロンチウ
    ム,酸化バリウムから選ばれる一種以上を含む焼結体で
    あって、前記酸化亜鉛68〜90モル%、前記酸化アル
    ミニウム5〜20モル%、前記酸化マグネシウム3〜1
    0モル%であり、前記酸化カルシウム,酸化ストロンチ
    ウム,酸化バリウムの一種以上の合計が0.5〜10モ
    ル%(但し、酸化カルシウムが単独配合の場合は1〜1
    0モル%)含むことを特徴とするセラミックス直線抵抗
    体。
  2. 【請求項2】 前記抵抗体を構成するセラミックスが
    0.1〜5モル%の酸化ケイ素を含んでいる請求項1に
    記載のセラミックス直線抵抗体。
  3. 【請求項3】 前記抵抗体を構成するセラミックスがマ
    ンガン酸化物を0.1〜1重量%含んでいる請求項1ま
    たは2に記載のセラミックス直線抵抗体。
  4. 【請求項4】 絶縁性ガスを封入したタンク内に遮断部
    と、該遮断部に並列に挿入された抵抗体を有する電力用
    の遮断器において、前記抵抗体が、酸化亜鉛,酸化ア
    ルミニウムおよび酸化マグネシウムと、これに酸化カ
    ルシウム,酸化ストロンチウム,酸化バリウムから選ば
    れる一種以上を含むセラミックス焼結体で構成され、前
    記酸化亜鉛68〜90モル%、前記酸化アルミニウム5
    〜20モル%、前記酸化マグネシウム3〜10モル%で
    あり、前記酸化カルシウム,酸化ストロンチウム,酸化
    バリウムの一種以上の合計が0.5〜10モル%(但
    し、酸化カルシウムが単独配合の場合は1〜10モル
    %)含むセラミックス直線抵抗体の1個以上で構成した
    ことを特徴とする遮断器。
  5. 【請求項5】 前記抵抗体を構成するセラミックスが
    0.1〜5モル%の酸化ケイ素を含んでいる請求項4に
    記載の遮断器。
  6. 【請求項6】 前記抵抗体を構成するセラミックスがマ
    ンガン酸化物を0.1〜1重量%含んでいる請求項4ま
    たは5に記載の遮断器。
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