JP2773431B2 - 光学記録媒体の光学読み取り装置 - Google Patents
光学記録媒体の光学読み取り装置Info
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- JP2773431B2 JP2773431B2 JP2506625A JP50662590A JP2773431B2 JP 2773431 B2 JP2773431 B2 JP 2773431B2 JP 2506625 A JP2506625 A JP 2506625A JP 50662590 A JP50662590 A JP 50662590A JP 2773431 B2 JP2773431 B2 JP 2773431B2
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/127—Lasers; Multiple laser arrays
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
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Description
【発明の詳細な説明】 この発明は光学記録媒体の光学読み取り装置、より詳
細には市場において“コンパクトディスク”、“ビデオ
ディスク”、または“デジタル光学ディスク”のような
用語で呼ばれている光学ディスクの読み取りヘッドに特
に使用することができる光学読み取り装置に関する。
細には市場において“コンパクトディスク”、“ビデオ
ディスク”、または“デジタル光学ディスク”のような
用語で呼ばれている光学ディスクの読み取りヘッドに特
に使用することができる光学読み取り装置に関する。
標準的な光学読み取りディスクにおいては、スプリッ
ト装置から生ずる反射ビームが抽出光ビームの通路に実
質的に垂直なラインに沿って、方向を定められるように
置かれたプリズムまたは半透鏡から光エネルギーを分割
するため通常用いられている装置が構成されている。従
って、寸法特に読み取り装置の幅が重要となる。これは
システム全体の寸法を小さくするのに障害となる。
ト装置から生ずる反射ビームが抽出光ビームの通路に実
質的に垂直なラインに沿って、方向を定められるように
置かれたプリズムまたは半透鏡から光エネルギーを分割
するため通常用いられている装置が構成されている。従
って、寸法特に読み取り装置の幅が重要となる。これは
システム全体の寸法を小さくするのに障害となる。
これらの欠点を解決するため、特にフランス特許出願
第2538580号にはパイオニア エレクトロニック コー
ポレーション（the Piooneer Electronic Corporatio
n）が関係した分野が、或いはフランス特許第2597249号
にはこの出願が関係した分野が提案されており、それに
使用されているスプリット装置は回折格子または複屈折
格子から構成されている。この場合、光学記録媒体の表
面で反射されるビームは感光検出装置の方向に反射され
るが、この装置は記録媒体の平面に直角な１つの同じ軸
にほぼ沿って発生源と共に並べられている。その結果得
られた光学読み取り装置は、従来の技術の装置よりかな
り小型のものとなる。しかし、媒体上で光ビームの垂直
サーボ制御を容易に行うため、回折格子は非点収差効果
を検出ビームに与えるように使用されている。この場
合、検出装置は光放射源の近くにあるディスクの平面と
共役な平面に接近している平面の中にある。この平面の
位置は非常に精密に決める必要がある。実際、システム
の焦点合わせが正確に行われる時、この平面は検出ビー
ムの焦点面に対応している。装置の位置は重要なので、
位置決めが行われる時、例えば読み取り装置の機械的変
形による変更はもはやできないと言うことが判る。
第2538580号にはパイオニア エレクトロニック コー
ポレーション（the Piooneer Electronic Corporatio
n）が関係した分野が、或いはフランス特許第2597249号
にはこの出願が関係した分野が提案されており、それに
使用されているスプリット装置は回折格子または複屈折
格子から構成されている。この場合、光学記録媒体の表
面で反射されるビームは感光検出装置の方向に反射され
るが、この装置は記録媒体の平面に直角な１つの同じ軸
にほぼ沿って発生源と共に並べられている。その結果得
られた光学読み取り装置は、従来の技術の装置よりかな
り小型のものとなる。しかし、媒体上で光ビームの垂直
サーボ制御を容易に行うため、回折格子は非点収差効果
を検出ビームに与えるように使用されている。この場
合、検出装置は光放射源の近くにあるディスクの平面と
共役な平面に接近している平面の中にある。この平面の
位置は非常に精密に決める必要がある。実際、システム
の焦点合わせが正確に行われる時、この平面は検出ビー
ムの焦点面に対応している。装置の位置は重要なので、
位置決めが行われる時、例えば読み取り装置の機械的変
形による変更はもはやできないと言うことが判る。
この発明の目的はそれ故、垂直サーボ制御が容易に実
現できる光学記録媒体に対し、新規な光学読み取り装置
を提案することによりこれらの欠点を解決することであ
る。
現できる光学記録媒体に対し、新規な光学読み取り装置
を提案することによりこれらの欠点を解決することであ
る。
従って、この発明の目的は次のタイプのものから構成
される光学記録媒体の光学読み取り装置である： −光学主軸に沿った１番目の光ビームの放射源； −２番目の光学軸に沿って方向付けられた３番目のビー
ムを形成するため、１番目のビームを光学主軸に沿って
記録媒体の表面の方に方向付け、更に１番目のビームの
反射により記録媒体の表面に得られた２番目のビームを
分割するためのスプリット装置； −１番目のビームの焦点を前記表面の上に合わせるた
め、スプリット装置と記録媒体の表面の間に与えられて
いる焦点装置； −３番目のビームの少なくとも１部分を受け、しかも行
われた検出を表わす少なくとも１つの電気信号を与え、
更にマスクが光放射源の少なくとも１部分の外部表面か
ら構成されており、１番目のビームの焦点が正確に作ら
れている時、マスクか或いは３番目のビームの焦点面内
にあるようにするためスプリット装置の位置が決めら
れ、かつその装置が作られていることを特徴とする少な
くとも１つの検出装置。
される光学記録媒体の光学読み取り装置である： −光学主軸に沿った１番目の光ビームの放射源； −２番目の光学軸に沿って方向付けられた３番目のビー
ムを形成するため、１番目のビームを光学主軸に沿って
記録媒体の表面の方に方向付け、更に１番目のビームの
反射により記録媒体の表面に得られた２番目のビームを
分割するためのスプリット装置； −１番目のビームの焦点を前記表面の上に合わせるた
め、スプリット装置と記録媒体の表面の間に与えられて
いる焦点装置； −３番目のビームの少なくとも１部分を受け、しかも行
われた検出を表わす少なくとも１つの電気信号を与え、
更にマスクが光放射源の少なくとも１部分の外部表面か
ら構成されており、１番目のビームの焦点が正確に作ら
れている時、マスクか或いは３番目のビームの焦点面内
にあるようにするためスプリット装置の位置が決めら
れ、かつその装置が作られていることを特徴とする少な
くとも１つの検出装置。
好ましい実施態様によれば、光放射源は半導体チップ
内に作られたレーザにより構成される。従って、マスク
を構成しているのはチップの１つの前方の先端である
が、側面の先端の方が好ましい。マスクは更にチップの
１つにより低い角によっても構成される。
内に作られたレーザにより構成される。従って、マスク
を構成しているのはチップの１つの前方の先端である
が、側面の先端の方が好ましい。マスクは更にチップの
１つにより低い角によっても構成される。
更に、３番目のビームが光放射源の上部先端または後
部先端により隠されるのを防ぐために、３番目のビーム
の偏向角は光源から見える焦点装置の開口の半角より大
きい。
部先端により隠されるのを防ぐために、３番目のビーム
の偏向角は光源から見える焦点装置の開口の半角より大
きい。
［図面の簡単な説明］ 第１図はビームのスプリット装置として複屈折格子を
用いた従来の技術の光学読み取り装置の概略の断面図で
あり； 第２図はこの発明の実施態様による光学読み取り装置
の概略の断面図であり； 第３図は第２と同じ図で焦点システムの動作を示して
おり； 第４図と第５図は放射源に対する検出セルの位置決め
と誤り検出電子回路への接続を示す概略の平面図であ
る。
用いた従来の技術の光学読み取り装置の概略の断面図で
あり； 第２図はこの発明の実施態様による光学読み取り装置
の概略の断面図であり； 第３図は第２と同じ図で焦点システムの動作を示して
おり； 第４図と第５図は放射源に対する検出セルの位置決め
と誤り検出電子回路への接続を示す概略の平面図であ
る。
［実施例］ 以下、図面に基づきこの発明を更に詳しく説明する。
第１図に関しては、先ず従来の技術に基づいた光学読
み取り装置を記載しており、それはより詳細には、この
出願に関して提出されたフランス特許出願第2598249号
に記載された読み取り装置のタイプの実施態様である。
み取り装置を記載しており、それはより詳細には、この
出願に関して提出されたフランス特許出願第2598249号
に記載された読み取り装置のタイプの実施態様である。
この図では光学読み取り装置は、記録媒体または光デ
ィスクと同じく断面図で示されている。光ディスクの平
面は軸XX′にあり、ディスク上に記録される情報はこの
XX′軸に沿って走査される。更に第１図に示すように、
光学読み取り装置の種々の要素は記録媒体の平面に垂
直、すなわち軸XX′に垂直な軸YY′上に配列されてい
る。
ィスクと同じく断面図で示されている。光ディスクの平
面は軸XX′にあり、ディスク上に記録される情報はこの
XX′軸に沿って走査される。更に第１図に示すように、
光学読み取り装置の種々の要素は記録媒体の平面に垂
直、すなわち軸XX′に垂直な軸YY′上に配列されてい
る。
第１図に示すように、読み取り装置には次のものが含
まれる： −軸YY′上に置かれ、この軸に沿って線形偏光の１番目
のビームF1を放射するレーザのような光源１、 −偏光により動作し、２つの媒体22、23の間のインター
フェイスにある溝21を有した位相格子20により構成さ
れ、媒体の１つすなわち22は他の23が複屈折の時複屈折
でないビームスプリッタ２。このビームスプリッタ２が
垂直に置かれているビームF1は偏光の種類と方向により
変形なしに送信される。
まれる： −軸YY′上に置かれ、この軸に沿って線形偏光の１番目
のビームF1を放射するレーザのような光源１、 −偏光により動作し、２つの媒体22、23の間のインター
フェイスにある溝21を有した位相格子20により構成さ
れ、媒体の１つすなわち22は他の23が複屈折の時複屈折
でないビームスプリッタ２。このビームスプリッタ２が
垂直に置かれているビームF1は偏光の種類と方向により
変形なしに送信される。
−線形偏光のビームF1を受け、円形偏光ビームＦ′１の
形でこのビームを再送信する４分の１波長プレート3; −光学ディスク５の上に読み取りビームを発射するよう
にビームＦ″１の形でビームＦ′１の焦点を作る焦点レ
ンズ4; −光学ディスクの情報（参照番号50の下に示されてい
る）が読み取りビームＦ″１の下を通る光学ディスク5; −ディスク５の平面と共役でない平面Ｐ′にあり、レー
ザ源１の近くにあり、しかも軸YY′の両側にあり更に軸
XX′に平行、すなわち方向YY′に直角な方向に配列され
ている検出装置６と７。
形でこのビームを再送信する４分の１波長プレート3; −光学ディスク５の上に読み取りビームを発射するよう
にビームＦ″１の形でビームＦ′１の焦点を作る焦点レ
ンズ4; −光学ディスクの情報（参照番号50の下に示されてい
る）が読み取りビームＦ″１の下を通る光学ディスク5; −ディスク５の平面と共役でない平面Ｐ′にあり、レー
ザ源１の近くにあり、しかも軸YY′の両側にあり更に軸
XX′に平行、すなわち方向YY′に直角な方向に配列され
ている検出装置６と７。
ビームスプリッタ２は更にパイオニア社に関しフラン
ス特許出願第2538580号に記載されている単純回折格子
か、或いはウォラストン（Wollaston）プリズムのよう
な偏光スプリッタプリズムにより構成されている。
ス特許出願第2538580号に記載されている単純回折格子
か、或いはウォラストン（Wollaston）プリズムのよう
な偏光スプリッタプリズムにより構成されている。
第１図の場合、示してある複屈折格子には更に溝があ
り、検出ビームに非点収差の効果を得るようにエッチン
グされている。
り、検出ビームに非点収差の効果を得るようにエッチン
グされている。
光検出器６と７はシリコンで作られることが好ましい
１つの同じユニットすなわちチップ16にまとめられてい
る。光検出器６と７の役割は放射状で垂直な位置決め誤
りを検出することであり、更にディスクにより生じた信
号を読み出すことである。
１つの同じユニットすなわちチップ16にまとめられてい
る。光検出器６と７の役割は放射状で垂直な位置決め誤
りを検出することであり、更にディスクにより生じた信
号を読み出すことである。
第１図に示すようにレーザ源１の他に光検出器６と７
を含んだチップ16は、１つの同じパッケージの中に組み
立てられており、しかも互いに予め位置が決められてい
る。レンズ４は離されて取り付けられており、放射状で
垂直な誤りを探知するためアセンブリの残りの部分にし
っかり固定されている。
を含んだチップ16は、１つの同じパッケージの中に組み
立てられており、しかも互いに予め位置が決められてい
る。レンズ４は離されて取り付けられており、放射状で
垂直な誤りを探知するためアセンブリの残りの部分にし
っかり固定されている。
更に、レーザ源１と、光検出器６と７のようなチップ
16の要素は外部回路（図示していない）に電気的な接続
器11、12、13、14により接続されている。
16の要素は外部回路（図示していない）に電気的な接続
器11、12、13、14により接続されている。
このように記載された光学読み取り装置の動作は、読
み取りビームＦ′１がビームF2の形でディスクにより反
射されるのと同じである。ディスク５に情報がなけれ
ば、レンズ４により伝達されたビームF2,4分の１波長プ
レート３およびスプリッタ２により生ずる２つの回折ビ
ームF3、Ｆ′３は軸YY′に対し対称であり、そのビーム
の組が適当に焦点を作るならば強度は同じである。これ
らのビームは、ある量の光を検出する検出器６と７にあ
るチップ16に到達する。垂直サーボ制御内で誤りを検出
するために、光検出器７は平面Ｐ′に十字形に配置され
ている４つの光検出器により構成されている。従って、
ディスク５がレンズ４から右側に離れているならば、す
なわちビームＦ″１が適当に焦点を作るならば、回折ビ
ームＦ′３は円形に４つの光検出器に到達し各検出器を
等しく照射する。しかし、ディスク５からレンズ４まで
の距離が前述の場合と異なれば、またはレンズ４が軸Y
Y′によりシフトされているならば、ビームＦ′３は光
検出器に楕円形の像を投影し、しかも誤り制御はこの楕
円イメージから得られる。この信号を利用することがで
きるようにするため、チップ16はそれ故レーザ源１に対
して正確に置く必要があり、それらの距離は変更しない
ようにする必要がある。
み取りビームＦ′１がビームF2の形でディスクにより反
射されるのと同じである。ディスク５に情報がなけれ
ば、レンズ４により伝達されたビームF2,4分の１波長プ
レート３およびスプリッタ２により生ずる２つの回折ビ
ームF3、Ｆ′３は軸YY′に対し対称であり、そのビーム
の組が適当に焦点を作るならば強度は同じである。これ
らのビームは、ある量の光を検出する検出器６と７にあ
るチップ16に到達する。垂直サーボ制御内で誤りを検出
するために、光検出器７は平面Ｐ′に十字形に配置され
ている４つの光検出器により構成されている。従って、
ディスク５がレンズ４から右側に離れているならば、す
なわちビームＦ″１が適当に焦点を作るならば、回折ビ
ームＦ′３は円形に４つの光検出器に到達し各検出器を
等しく照射する。しかし、ディスク５からレンズ４まで
の距離が前述の場合と異なれば、またはレンズ４が軸Y
Y′によりシフトされているならば、ビームＦ′３は光
検出器に楕円形の像を投影し、しかも誤り制御はこの楕
円イメージから得られる。この信号を利用することがで
きるようにするため、チップ16はそれ故レーザ源１に対
して正確に置く必要があり、それらの距離は変更しない
ようにする必要がある。
これらの欠点を解決するため、第２図に示すように上
述のようないかなる非点収差効果もない回折格子を使用
し、回折ビームＦ′３の中に非対称を生ずるマスクを使
用することが提案されている。この発明によれば、その
マスクは光放射源１自体、すなわちレーザ源から構成さ
れる。より詳細には、そのマスクはこの光放射源の低い
先端の１つから構成されており、この光放射源は放射源
１により放射されたビームが第２図に示すようなディス
ク５の上に正確に焦点を作る時、ビームＦ′３の焦点に
あるようにする必要がある。マスクとして放射源１を使
用することができるようにするため、スプリット装置２
は特別な方法で位置が決められ、更に作られる必要があ
る。スプリット装置２は焦点レンズ４が取り付けられる
前に位置が決められる。スプリット装置２により回折さ
れたビームF1のウィークパート（Weak part）から生ず
る虚像は、スプリット装置の転位と回転によりレーザ源
の先端１′で回折される。
述のようないかなる非点収差効果もない回折格子を使用
し、回折ビームＦ′３の中に非対称を生ずるマスクを使
用することが提案されている。この発明によれば、その
マスクは光放射源１自体、すなわちレーザ源から構成さ
れる。より詳細には、そのマスクはこの光放射源の低い
先端の１つから構成されており、この光放射源は放射源
１により放射されたビームが第２図に示すようなディス
ク５の上に正確に焦点を作る時、ビームＦ′３の焦点に
あるようにする必要がある。マスクとして放射源１を使
用することができるようにするため、スプリット装置２
は特別な方法で位置が決められ、更に作られる必要があ
る。スプリット装置２は焦点レンズ４が取り付けられる
前に位置が決められる。スプリット装置２により回折さ
れたビームF1のウィークパート（Weak part）から生ず
る虚像は、スプリット装置の転位と回転によりレーザ源
の先端１′で回折される。
この場合、チップ16の中に作られた検出装置７はレー
ザ源１に対して非常に正確に位置付けられる必要がな
い。この場合実際には、この光検出器により取り出され
る光の強度は離れているフィールドで調べられている
が、焦点においては調べられていない。
ザ源１に対して非常に正確に位置付けられる必要がな
い。この場合実際には、この光検出器により取り出され
る光の強度は離れているフィールドで調べられている
が、焦点においては調べられていない。
更に、第２図に示すように回折ビームＦ′３が放射源
の上方の先端により隠れるのを防ぐため、ビームＦ′３
の偏光角αは光源１から見える焦点装置４の開口角の半
角βより大きい。
の上方の先端により隠れるのを防ぐため、ビームＦ′３
の偏光角αは光源１から見える焦点装置４の開口角の半
角βより大きい。
第２図の光学装置の概略図を示す第３図のマスクに対
する動作を次に説明する。第２図と第３図に示すよう
に、この場合検出装置７を構成している少なくとも２つ
の検出セル70、71はYY′に平行な平面に対し対称であ
り、チップ16に対しては垂直であり、更に２番目の光学
軸02により決められる交点、Y1を通る。このように、読
み出されるディスク５の平面が位置ａで示される正確な
垂直位置にあるならば、直線で表わされる屈折ビーム
Ｆ′３はＡで焦点を結び、更にこの場合、２つの検出器
70と71は等量の光線を受ける。焦点ずれがある時、およ
びディスク面が位置ｂ内にある時は、反射ビームF2と屈
折ビームＦ′３は点線で示された通路を通る。この場合
は、ビームＦ′３はＢで焦点を結び、光源１により構成
されたマスクは検出器71の方向に向かうビームＦ′３の
一部分をさえぎる。反対に、トラックの平面が位置ｃ内
にあるならば、反射ビームF2と屈折ビームＦ′３は一点
鎖線で示された通路を通る。ビームＦ′３はＣで焦点を
結び、検出器70の方に動く光線はマスクによりさえぎら
れる。２つの検出器70と71から生ずる信号を処理する場
合、当業者によく知られた方法のサーボ制御により焦点
を修正するため焦点を合わされた誤り信号を得ることが
できる。
する動作を次に説明する。第２図と第３図に示すよう
に、この場合検出装置７を構成している少なくとも２つ
の検出セル70、71はYY′に平行な平面に対し対称であ
り、チップ16に対しては垂直であり、更に２番目の光学
軸02により決められる交点、Y1を通る。このように、読
み出されるディスク５の平面が位置ａで示される正確な
垂直位置にあるならば、直線で表わされる屈折ビーム
Ｆ′３はＡで焦点を結び、更にこの場合、２つの検出器
70と71は等量の光線を受ける。焦点ずれがある時、およ
びディスク面が位置ｂ内にある時は、反射ビームF2と屈
折ビームＦ′３は点線で示された通路を通る。この場合
は、ビームＦ′３はＢで焦点を結び、光源１により構成
されたマスクは検出器71の方向に向かうビームＦ′３の
一部分をさえぎる。反対に、トラックの平面が位置ｃ内
にあるならば、反射ビームF2と屈折ビームＦ′３は一点
鎖線で示された通路を通る。ビームＦ′３はＣで焦点を
結び、検出器70の方に動く光線はマスクによりさえぎら
れる。２つの検出器70と71から生ずる信号を処理する場
合、当業者によく知られた方法のサーボ制御により焦点
を修正するため焦点を合わされた誤り信号を得ることが
できる。
一般に、光源１は半導体レーザにより作られる。この
場合、チップは結晶の軸に沿って切断されている場合が
ある。これにより先端は完全に直線的となりきずのない
マスクが得られる。更に第４図および第５図に示すよう
に、レーザの側面の先端１′であることが好ましいが、
前方の先端はマスクとして使用される場合があるが、し
かしマスクとして１つの前方のかど１″を使用すること
もできる。この場合は反射スポットが半分であるかわ
り、容易に隠れた部分の４分の１となり、これにより大
きな感度を検出器に有することができる。
場合、チップは結晶の軸に沿って切断されている場合が
ある。これにより先端は完全に直線的となりきずのない
マスクが得られる。更に第４図および第５図に示すよう
に、レーザの側面の先端１′であることが好ましいが、
前方の先端はマスクとして使用される場合があるが、し
かしマスクとして１つの前方のかど１″を使用すること
もできる。この場合は反射スポットが半分であるかわ
り、容易に隠れた部分の４分の１となり、これにより大
きな感度を検出器に有することができる。
更に第４図と第５図に示すように、検出器７は十字形
に取り付けられた４つの光感度セル72、73、74、75から
構成されることが好ましい。この場合、交点Y1の中央は
チップ16の平面と２番目の光学軸02との合流点にある。
これにより、検出器から生ずる信号は焦点合わせのサー
ボ制御信号、すなわち垂直サーボ制御信号と同様に、放
射状のサーボ制御信号として使用できる。S2、S3、S4、
S5はそれぞれ72、73、74、75のセルから生ずる信号に与
えられる参照記号であり、放射状のサーボ制御信号は次
の関数を計算することにより得られる： Er＝（S2＋S3）−（S4＋S5） 更に焦点合わせ、すなわち垂直サーボ制御誤り信号は
次の関数を計算することにより得られる Ev＝（S3＋S4）−（S2＋S5） 次の関数を計算することにより検出器７から読み出し
信号HFを得ることができる： Ｓ＝S2＋S3＋S4＋S5 これらの関数は当業者に知られた方法で、特に第４図
と第５図に示す演算増幅器の中で信号を加算したり減算
することにより計算される。
に取り付けられた４つの光感度セル72、73、74、75から
構成されることが好ましい。この場合、交点Y1の中央は
チップ16の平面と２番目の光学軸02との合流点にある。
これにより、検出器から生ずる信号は焦点合わせのサー
ボ制御信号、すなわち垂直サーボ制御信号と同様に、放
射状のサーボ制御信号として使用できる。S2、S3、S4、
S5はそれぞれ72、73、74、75のセルから生ずる信号に与
えられる参照記号であり、放射状のサーボ制御信号は次
の関数を計算することにより得られる： Er＝（S2＋S3）−（S4＋S5） 更に焦点合わせ、すなわち垂直サーボ制御誤り信号は
次の関数を計算することにより得られる Ev＝（S3＋S4）−（S2＋S5） 次の関数を計算することにより検出器７から読み出し
信号HFを得ることができる： Ｓ＝S2＋S3＋S4＋S5 これらの関数は当業者に知られた方法で、特に第４図
と第５図に示す演算増幅器の中で信号を加算したり減算
することにより計算される。
第５図に示すように、垂直サーボ制御は検出セル73と
75から生ずる信号を簡単に使用することにより、更に次
式の差を得ることにより行われる： Ev＝S3−S5 第２図はあらゆる４分の１波長プレートがない場合を
示している。しかし当業者に対しては、この種のプレー
トが例えばスプリット装置２とレンズの間に、必要なら
ばレーザ源における雑音を減少させるように使われてい
ることが明らかになっており、この雑音は偏光の同じ光
がレーザに送られるのを防ぐためである。
75から生ずる信号を簡単に使用することにより、更に次
式の差を得ることにより行われる： Ev＝S3−S5 第２図はあらゆる４分の１波長プレートがない場合を
示している。しかし当業者に対しては、この種のプレー
トが例えばスプリット装置２とレンズの間に、必要なら
ばレーザ源における雑音を減少させるように使われてい
ることが明らかになっており、この雑音は偏光の同じ光
がレーザに送られるのを防ぐためである。
上述の装置の機械的安定度は高い。実際には、レーザ
源により作られたマスクとリターンイメージは光学読み
取り装置が機械的変形を受ける場合には同じ時間シフト
される。
源により作られたマスクとリターンイメージは光学読み
取り装置が機械的変形を受ける場合には同じ時間シフト
される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/09 G11B 7/135
Claims (10)
- 【請求項１】光学主軸（01）に沿った１番目の光ビーム
（F1）の半導体チップレーザによる放射源（１）と、 光学主軸に沿って１番目のビームを記録媒体（５）の表
面に向かって方向を決め、更に２番目の光学軸に沿って
方向付けられた３番目のビーム（F3）を形成するため、
記録媒体の表面で１番目のビームの反射により得られる
２番目のビーム（F2）を分割するためのスプリット装置
（２）と、 １番目のビームの焦点を前記表面の上に合せるため、ス
プリット装置と記録媒体の表面の間に与えられている焦
点装置（４）、 １番目のビーム（F1）が記録媒体の上に正しく焦点を結
ばないとき、３番目のビームに非対称性を与える前記半
導体チップの先端で形成されるマスク（１′、１″）
と、 ３番目のビーム（Ｆ′３）の少なくとも１部分を受け、
第１のビームの記録媒体での焦点の状態をあらわす少な
くともひとつの電気信号を与える少なくともひとつの検
出装置（７）とを有し、 マスク（１′、１″）は光放射源（１）の外部表面の少
なくとも１部から構成され、第３のビーム（Ｆ′３）の
焦点が光学読取ビーム（F1）が記録媒体に正しく焦点を
結ぶとき、第３のビーム（Ｆ′３）の焦点が前記光源の
前記外部表面部分にあるように、前記スプリット装置
（２）が位置決めされることを特徴とする、光学記録媒
体の光学読み取り装置。 - 【請求項２】光放射源（１）が半導体チップの中に作ら
れたレーザにより構成され、マスク（１′）がチップの
側面の先端の１つにより構成されていることを特徴とす
る請求項１に記載の光学読み取り装置。 - 【請求項３】マスクがチップの前方の側面の先端の１つ
から構成されることを特徴とする請求項２に記載の光学
読み取り装置。 - 【請求項４】光放射源（１）が半導体チップの中に作ら
れたレーザから構成されており、マスク（１″）がチッ
プの前方の角の先端から構成されていることを特徴とす
る請求項１に記載の光学読み取り装置。 - 【請求項５】半導体チップが結晶の軸に沿って揃えられ
ていることを特徴とする請求項２から４のいずれかに記
載の光学読み取り装置。 - 【請求項６】３番目のビームの偏向角（α）が光源から
見た焦点装置の開口（β）の半角より大きいことを特徴
とする請求項１から５のいずれかに記載の光学読み取り
装置。 - 【請求項７】検出装置が記録媒体の平面に平行な平面で
支柱の両側の平面の上に置かれ、平行な平面と２番目の
光学軸（02）との合流点を通過している少なくとも２つ
の光検出セル（70、71）により作られていることを特徴
とする請求項１から６のいずれかに記載の光学読み取り
装置。 - 【請求項８】検出装置が、媒体の平面に平行な平面で十
字形に配置された４つの光学セル（72、73、74、75）に
より構成されており、十字の中心（Y1）が平行な平面と
２番目の光学軸（02）との合流点にあることを特徴とす
る請求項１から７のいずれかに記載の光学読み取り装
置。 - 【請求項９】スプリット装置（２）が回折格子、複屈折
格子またはウォラストンプリズムのような偏光プリズム
で構成されていることを特徴とする請求項１から８のい
ずれかに記載の光学読み取り装置。 - 【請求項１０】スプリット装置（４）と記録媒体（５）
の間に置かれた４分の１波長プレートを更に含むことを
特徴とする請求項１から９のいずれかに記載の光学読み
取り装置。
Applications Claiming Priority (2)
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| FR8905451A FR2646245B1 (fr) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | Dispositif de lecture optique pour support d'enregistrement optique |
| FR89/5451 | 1989-04-25 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03505646A JPH03505646A (ja) | 1991-12-05 |
| JP2773431B2 true JP2773431B2 (ja) | 1998-07-09 |
Family
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Family Applications (1)
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Country Status (7)
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| EP (1) | EP0423295B1 (ja) |
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| FR (1) | FR2646245B1 (ja) |
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-
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-
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- 1990-04-10 JP JP2506625A patent/JP2773431B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1990-04-10 EP EP90907095A patent/EP0423295B1/fr not_active Expired - Lifetime
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- 1990-04-10 KR KR1019900702665A patent/KR0158448B1/ko not_active IP Right Cessation
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