JP2751833B2 - 陰極線管の製造方法 - Google Patents

陰極線管の製造方法

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JP2751833B2
JP2751833B2 JP13403094A JP13403094A JP2751833B2 JP 2751833 B2 JP2751833 B2 JP 2751833B2 JP 13403094 A JP13403094 A JP 13403094A JP 13403094 A JP13403094 A JP 13403094A JP 2751833 B2 JP2751833 B2 JP 2751833B2
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  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、フェースパネル部表面
に導電性反射防止膜を被着形成した陰極線管の製造方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】陰極線管のフェースパネル外表面は、室
内照明灯などの外光が反射すると、表示画像が見づらく
なる。又、電源のオン、オフ時に静電気が発生し、観視
者が接近した時に放電して不快感を与えたり、ゴミが付
着し易くなる。そこで、フェースパネル外表面に導電性
薄膜と低屈折率薄膜を重ねて形成し、導電性反射防止膜
を設け、光の干渉によって反射光を減少させ、帯電を防
止することが従来より知られている。
【0003】上記薄膜形成の一例を、図2を参照して説
明する。まず図2(a)に示すように、バルブ(1)の
フェースパネル部(1a)の外表面にCVD法にて酸化ス
ズ(SnO2)を主成分とする導電性薄膜(2a)を形成
する。このCVD工程はバルブ(1)を450°C以上
に加熱するので、バルブ(1)内部を真空にする前に実
施される。次に、バルブ(1)の内部に電子銃を組み込
み、バルブ(1)内部を真空にして陰極線管(3)を形
成する。次に、図2(b)に示すように、導電性薄膜
(2a)の表面を水洗した後、ブラシ(4)で水分や汚れ
を拭き取って乾燥させる。そこで、図2(c)に示すよ
うに、バルブ(1)を40°C位で加熱してノズル
(5)からシリケート加水分解物の溶液(2ba)を導電
性薄膜(2a)上に滴下する。そして、図2(d)に示す
ように、バルブ(1)を回転させてフェースパネル部表
面の全面に溶液(2ba)を薄く塗布し、その後、低温
(例えば250°C)で焼成して低屈折率薄膜(2b)を
全面に被着形成して導電性反射防止膜(2)を得る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した方法では、低
屈折率薄膜(2b)を被着形成する際、シリケート加水分
解物と導電性薄膜(2a)の各々に含まれるOH基同士が
焼成工程で脱水反応して両者が接着するのであるが、導
電性薄膜(2a)中に含まれるOH基は比較的、少ないこ
と、及び膜分子間のミクロ的な間隙に空気が介在するこ
と等のため、膜の接着強度が低下して剥がれ易い点であ
る。この場合、溶液塗布後、350〜450°Cで高温
焼成すれば、OH基の反応が促進されて膜接着強度が向
上するが、内部が真空である陰極線管(3)を高温に加
熱すると、バルブ(1)の内壁に吸着していたガスが放
出されて電子銃に付着し、その電子放出特性が悪化する
ので、高温焼成が出来ず、十分な膜強度を得ることが出
来ない。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、フェースパネ
ル部表面に導電性薄膜を被着形成したバルブ内に電子銃
を封入して内部を真空とし、陰極線管を形成した後、上
記フェースパネル部表面を水洗及び乾燥させる工程と、
界面活性剤を加えたシリケート加水分解物の溶液をフェ
ースパネル部の導電性薄膜上に全面に均一に薄く塗布す
る工程と、上記溶液を低温焼成して低屈折率薄膜を硬化
し、フェースパネル部表面に上記導電性薄膜と低屈折率
薄膜とからなる導電性反射防止膜を被着形成する工程と
を含み、界面活性剤を加えたシリケート加水分解物の溶
液を250°C以下で低温焼成することを特徴とする。
【0006】
【作用】上記技術的手段によれば、シリケート加水分解
物の溶液に界面活性剤を加えて導電性薄膜上に低屈折率
薄膜を被着形成すると、界面活性剤を加えることにより
シリケート加水分解物の濡れ性が良くなるため、その溶
液が導電性薄膜の微細な間隙に入り込み、導電性薄膜と
シリケート加水分解物の各OH基同士が反応して接着に
係る反応面積が増加し、低屈折率薄膜が導電性薄膜と強
固に接着する。
【0007】
【実施例】
[実施例1]本発明に係る陰極線管の製造方法の実施例
1を図1を参照して以下に説明する。図2に示す部分と
同一部分には同一参照符号を付してその説明を省略す
る。相違する点は、低屈折率薄膜(2c)の形成材料溶液
であるシリケート加水分解物溶液中に界面活性剤、例え
ばエチレンオキサイドプロピレンオキサイドブロック重
合体(商品名:プルロニック)を加えたことである。即
ち、従来同様、まず図1(a)に示すように、バルブ
(1)のフェースパネル部(1a)の表面にCVD法で、
導電性薄膜である酸化スズ(SnO2)薄膜(2a)を1
6nmの厚さで被着形成して内部に電子銃を組み込み、
内部を真空にして陰極線管(3)を形成する。次に、図
1(b)に示すように、酸化スズ薄膜(2a)の表面を水
洗及び拭いて乾燥させた後、図1(c)に示すように、
バルブ(1)を40°C位で加熱し、酸化スズ薄膜(2
a)上にエチルシリケート加水分解物のエタノール溶液
(シリカ固形分1.3重量%)に対してプルロニックを
0.01重量%加えた溶液(2ca)をノズル(5)から
滴下する。そこで、図1(d)に示すように、バルブ
(1)を150rpmで1分間回転させてフェースパネ
ル部表面の全面に溶液(2ca)を薄く塗布し、その後、
180°Cで20分間焼成して低屈折率薄膜(2c)を全
面に125nmの厚さで被着形成して導電性反射防止膜
(2)を得る。
【0008】上記構成によれば、プルロニックを加える
ことによりシリケート加水分解物の溶液(2ca)の濡れ
性が良くなるため、図1(e)に示すように、フェース
パネル部(1a)の表面に被着形成した酸化スズ薄膜(2
a)の微細な間隙(S)に溶液(2ca)が入り込む。そう
すると、酸化スズ薄膜(2a)と低屈折率薄膜(2c)の接
触面積が増加するので、強固に接着し、膜接着強度が向
上する。又、酸化スズ薄膜(2a)上に油状汚れ等があっ
ても界面活性剤は親油性を持つため、低屈折率薄膜(2
c)との馴染みが良く、膜質が向上し、且つ、外観不良
が減って特に外観の歩留まりが向上する。測定によれ
ば、従来よりも約3倍の耐摩擦性があること、即ち膜接
着強度が約3倍に向上したことを確認した。
【0009】[実施例2]実施例1と相異する点は、界
面活性剤を加えたエチルシリケート加水分解物溶液(2c
a)をスプレー法により塗布したことである。実施例1
と同様、250°Cで20分間焼成して、従来よりも約
3倍の膜強度を得た。
【0010】
【発明の効果】本発明によれば、陰極線管のフェースパ
ネル部表面の導電性薄膜上に、界面活性剤を加えたシリ
ケート加水分解物からなる溶液を塗布して低屈折率薄膜
を形成したから、低温焼成で低屈折率薄膜と導電性薄膜
とが強固に接着して十分な膜接着強度が得られ、又、低
屈折率薄膜と導電性薄膜との馴染みも良く、膜質が向上
し、且つ、特に外観の歩留まりも向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)(b)(c)(d)は本発明に係る陰極
線管の製造方法の実施例を示す各工程図で、ある。
(e)は本発明の動作例を示すフェースパネル部表面の
要部拡大断面図である。
【図2】(a)(b)(c)(d)は従来の陰極線管の
製造方法の一例を示す各工程図である。
【符号の説明】
1 バルブ 1a フェースパネル部 2 導電性反射防止膜 2a 導電性薄膜(酸化スズ薄膜) 2c 低屈折率薄膜 3 陰極線管

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フェースパネル外表面に形成された導電
    性薄膜の上にシリケート加水分解物溶液を塗布後、加熱
    して低屈折率薄膜を形成する工程を有する陰極線管の製
    造方法において、前記シリケート加水分解物の溶液に界
    面活性剤を加えて塗布後、加熱することを特徴とする陰
    極線管の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記導電性薄膜が酸化スズ(SnO2
    又は酸化インジウム (In23)を主成分とすることを
    特徴とする請求項1記載の陰極線管の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記導電性薄膜をCVD法によって形成
    することを特徴とする請求項2記載の陰極線管の製造方
    法。
  4. 【請求項4】 界面活性剤を加えたシリケート加水分解
    物の溶液を塗布後、250°C以下の温度で加熱するこ
    とを特徴とする請求項1記載の陰極線管の製造方法。
  5. 【請求項5】 シリケート加水分解物溶液のシリカ固形
    分に対して界面活性剤を0.1〜5.0重量%含有する
    ことを特徴とする請求項1記載の陰極線管の製造方法。
JP13403094A 1994-06-16 1994-06-16 陰極線管の製造方法 Expired - Lifetime JP2751833B2 (ja)

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JPH087756A JPH087756A (ja) 1996-01-12
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